JPH0359404A - 光ビームの位置測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） この発明は、例えばレーザプリンタ等に使用される光源
から発生さ、れる光ビームの位置をＡ−１定する先ビー
ムの位置ａｐ１定装置に関する。

（従来の技術〉 例えばレーザプリンタに使用される光源装置は、半導体
レーザおよびコリメータレンズ、プリズム等によって構
成され、半導体レーザから発生されたレーザ光はコリメ
ータレンズ、プリズムを介して外部に出力されるように
なっている。

ところで、上記光源装置から出力されるレーザ光は、レ
ーザプリンタに設けられた感光体ドラムの所定位置に照
射される必要がある。

しかし、光源装置は例えば振動試験等の環境試験を行っ
た場合、前記プリズムの位置関係等がずれることがあり
、この場合、光源装置から出力されるレーザ光の方向が
ずれ、感光体ドラムにχ１する照１１位置が所定位置か
らずれることがある。

従来、光源装置から出力されるレーザ光の感光体ドラム
にχ１する照射位置は、光源装置をレーザプリンタに組
込んだ状態で、ある位置を基準としてスケールにより目
視によって測定していた。このため、測定稍度が低いも
のであった。

（発明が解決しようとする課題） この発明は、上記のように、従来は光ビームの照１・１
位置をスケールを使用して目視によりａｌｌ定していた
ため、ａ−１定精度が低いという課題を解決するもので
あり、その目的とするところは、光源装置から出力され
る光ビームの位置を高情度に測定することがｈＩ能な光
ビームの位置測定装置を堤供しようとするものである。

〔発明の構成〕

（課題を解決するための手段） この発明は、上記課題を解決するため、基体と、この基
体に対して移動自在に設けられた移動体と、この移動体
に設けられ光ビームを受光する受光手段と、前記基体と
移動体の相互間に介在され、前記受光手段が光ビームを
受光した状態における基体と移動体の距離を測定するこ
とによって先ビームの照射位置を測定する７１１１定手
段とを設けている。

（作　用〉 この発明は、受光手段を有する移動体と基体の相！ｉ出
Ｉに移動体と基体の距離をｄｐ１定する肺１定手段を介
７Ｅシ、この測定手段によって、受光手段が光ビームを
受光した状態におけるＵ体と移動体の位置関係から光ビ
ームの照射位置を測定することにより、光源装置から出
力される先ビームの照９１位置を高精度に測定可能とし
ている。

（実施例） 以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。

第１図において、光ビームの位置測定装置１０は、ベー
ス１１に載置され、この位置測定装置１０に対向して、
例えばレーザプリンタの光源装置１２が設けられている
。この光源装置１２は、保持台１３を介在してベース１
１に載置されている。

第２図は、上記光源装置１２を示すものである。

この光源装置１２は、半導体レーザ２１、コリメータレ
ンズ２２、プリズム２３．２４によって構成されており
、前記半導体レーザ２１から出力されたレーザ光ＬＢは
、コリメータレンズ２２、プリズム２３．２４を順次２
って光源装置１２の外部に出力される。

第３図乃至第５図は、上記位置測定装置１０を示すもの
である。

この位ｆ１１ａｌｌ定装置１０において、Ｘ方向ステー
ジを構成する第１の基体３１には、第１の移動体３２が
移動可能に設けられている。この第１の移動体３２には
、保持体３３が設けられ、この保１ｊ体３３にはｙ方向
テスージを＋＃或する第２の基体３４が設けられている
。この第２の基体３４には第２の移動体３５が移動可能
に設けられている。

この第２の移動体３５には、基板３６が設けられ、この
基板３６の中央部には、例えば差動フオトダ・ｆオード
によって構成された受光素子としての４分割センサ３７
が設けられている。

この４分割センサ３７は、第６図（ａ）に示すごと＜、
例えばレーザ光ＬＢの中心がセンサ３７の中央に位置し
、各センサ素子３７ａ〜３７ｄに均等にレーザ光ＬＢが
照射されている場合、電気信号が出力され、同図（ｂ）
に示すごとく、レーザ光ＬＢの中心が４分割センサ３７
の中央からずれているは場合、電気信号が出力されない
構成とされている。

一方、第１の移動体３２には、第１のマイクロメータヘ
ッド３８のシンプル３８ａが保持体３２ａによって取着
され、この第１のマイクロメータヘッド３８のスピンド
ル３８ｂの先端は、第１の基体３１に設けられた保持体
３１ａの突起３１ｂに当接されている。したがって、第
１のマイクロメータヘッド３８のつまみ３８ｃを回転す
ると、スピンドル３８ｂがシンプル３８　ａ　１．：χ
１して出入するため、これに応じて第１の移動体３２が
第１の基体３１に対して移動される。

また、第２の移動体３５には、第２のマイクロメータヘ
ッド３９のシンプル３９ａか保持体３５ａによって取着
され、この第２のマイクロメータヘッド３９のスピンド
ル３９ｂの先端は、第２のＵ体３４に設けられた保持体
３４ａの突起３４ｂに当接されている。したがって、第
２のマイクロメータヘッド３９のつまみ３９ｃを回転す
ると、スピンドル３９ｂがシンプル３９ａに対して出入
するため、これに応じて第２の移動体３５が第２の基体
３４に対して移動される。

上記構成において、位置測定装置１０を使用して光源装
置１２から出力されるレーザ光の照射位置を測定する動
作について説明する。

先ず、光源装置１２を保持台１３に裁置し、この光源装
置１２と位置測定装置１０の位置関係を、例えばレーザ
プリンタ内部における光源装置１２と感光体ドラムの位
置関係に対応させる。

この状態において、第１のマイクロメータヘッド３８の
つまみ３８ｃ１および第２のマイクロメータヘッド３９
のつまみ３９ｃを操作して第１、第２の移動体３２．３
５を第１、第２の基体３１．３４に対して移動し、４分
割センサ３７の中央をレーザ光ＬＢの中心位置に移動す
る。すなわち、４分割センサ３７から電気信号が出力さ
れる位置に、第１、第２の移動体３２．３５を移動する
。

そして、４分割センサ３７から電気信号が出力された状
態において、その位置における第１のマイクロメータヘ
ッド３８、および第２のマイクロメータヘッド３９の目
盛りを読取ることにより、レーザ光の照射位置を７ｉｐ
１定することができる。

上記実施例によれば、ｘ、ｙステージを構成する第１、
第２の移動体３２．３５を第１のマイクロメータヘッド
３８、および第２のマイクロメータヘッド３９によって
移動し、４分割センサ３７から電気信号が出力された状
態において、その位置における第１のマイクロメータヘ
ッド３８、および第２のマイクロメータヘッド３９の目
盛りを読取ることにより、レーザ光の照射位置を測定し
ている。したがって、従来のようなスケールを使用した
目視による８−１定に比べて、レーザ光の照射位置を高
精度に測定することができるものである。

また、４分割センサ３７の出力信号を使用してレーザ光
の位置を測定しているため、レーザ光の中央の位置を測
定することができる。したがって、測定精度が高いもの
である。

さらに、上記位置ＡＨ定装置１０を使用することにより
、光源装置！１２から出力されるレーザ光の照射位置を
レーザプリンタとは別に、光源装置１２１１を独で帥１
定することができるものである。

なお、上記実施例では、Ｘｓ　’／ステージを使用する
とともに、４分割センサを使用したが、これに駆足され
るものではなく、ｘあるいはｙステージの一方のみを使
用し、４分割センサに代えて２分割センサを使用するこ
とも可能である。

その他、この発明の要旨を変えない範囲において、種々
変形実施可能なことは勿論である。

〔発明の効果〕

以上、詳述したようにこの発明によれば、受光手段を有
する移動体と基体の相互間に７１−１定手段を介在し、
この１ｌｌｊ定手段によって、受光手段が光ビームを受
光した状態における基体と移動体の位置関係から光ビー
ムの位置を測定することにより、光源装置から出力され
る先ビームの照射位置を高精度に測定することが可能な
光ビームの位置測定装置を促供できる。

【図面の簡単な説明】

ｍ１図はこの発明の一実施例を示す斜示図、第２図は第
１図の光源装置を示す側断面図、第３図乃至第５図はそ
れぞれ第１図の位置測定装置を承すものであり、第３図
は正面図、第４図は側向図、第５図は上面図、第６図は
４分割センサの動作を説明するために示す図である。 １０・・・位置測定装置、１２・・・光源装置、３１．
３４・・・ＴＳｌ、第２の基体、３２．３５・・・第１
、第２の移動体、３７・・・４分割センサ、３８．３９
・・・第１、第２のマイクロメータヘッド。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 基体と、 この基体に対して移動自在に設けられた移動体と、 この移動体に設けられ光ビームを受光する受光手段と、 前記基体と移動体の相互間に介在され、前記受光手段が
   光ビームを受光した状態における基体と移動体の距離を
   測定することによって光ビームの照射位置を測定する測
   定手段と、 を具備したことを特徴とする光ビームの位置測定装置。