RU2156437C2 - Устройство для определения шероховатости поверхности - Google Patents

Устройство для определения шероховатости поверхности Download PDF

Info

Publication number
RU2156437C2
RU2156437C2 RU96113841A RU96113841A RU2156437C2 RU 2156437 C2 RU2156437 C2 RU 2156437C2 RU 96113841 A RU96113841 A RU 96113841A RU 96113841 A RU96113841 A RU 96113841A RU 2156437 C2 RU2156437 C2 RU 2156437C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
mirror
roughness
photodetector
component
focus
Prior art date
Application number
RU96113841A
Other languages
English (en)
Other versions
RU96113841A (ru
Inventor
С.В. Стариков
Original Assignee
Стариков Сергей Владимирович
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Стариков Сергей Владимирович filed Critical Стариков Сергей Владимирович
Priority to RU96113841A priority Critical patent/RU2156437C2/ru
Publication of RU96113841A publication Critical patent/RU96113841A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2156437C2 publication Critical patent/RU2156437C2/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п. Высокая точность определения обеспечивается регистрацией фотоприемниками интегральных интенсивностей диффузной и зеркальной компонент отраженного света. Зондирующий пучок от лазера падает на поверхность образца в первом фокусе эллипсоидального зеркала. Диффузная компонента фокусируется зеркалом на фотоприемнике, установленном в его втором фокусе, а зеркальная выводится через отверстие на другой фотоприемник. 1ил.

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного оптического определения шероховатости сверхгладких поверхностей, например поверхностей зеркал, полупроводниковых или металлических подложек, прецезионных изделий.
Известен рефлектометр, содержащий лазер, первый фотоприемник, расположенный под углом зеркального отражения, второй фотоприемник, установленные в плоскости падения и соединенные с электронно-измерительным блоком /1/. Известное устройство характеризуется недостаточной точностью и чувствительностью определения шероховатости, что обусловлено малой долей излучения диффузно отраженной компоненты света, попадающей во второй фотоприемник, необходимостью измерения угла отражения, отличного от зеркального, и выбора этого угла в зависимости от свойств поверхности с целью установки второго фотоприемника, сильной чувствительностью к анизотропии шероховатости, небольшим отклонением от плоскостности. Это искажает результаты измерений шероховатости подобных поверхностей.
Известно устройство для контроля шероховатости зеркальных поверхностей, содержащее лазер, собирающее зеркало и два фотоприемника /2/. Известное устройство имеет недостаточную точность определения шероховатости, поскольку часть диффузно отраженного излучения не фокусируется на фотоприемнике. Кроме того, известное устройство не достаточно автоматизировано, что ограничивает производительность контроля шероховатости.
Наиболее близким к заявляемому является устройство для определения шероховатости поверхности, содержащее лазер, эллипсоидальное зеркало, первый фокус которого расположен на оси зондирующего лазерного пучка, а выходное отверстие размещено на оси зеркально отраженной компоненты света, фотоприемник, установленный во втором фокусе эллипсоидального зеркала и электрически соединенный с блоком обработки информации /3/. В известном устройстве в качестве эллипсоидального зеркала используют эллипсоид вращения, что позволяет использовать устройство как для контроля качества поверхности, так и для определения шероховатости по измерению суммарной (интегральной) интенсивности диффузно отраженной компоненты света. Необходимость калибровки устройства по эталонным образцам шероховатости, с одной стороны, ограничивает диапазон измерения шероховатости параметрами эталонных образцов, а с другой - вносит погрешности, обусловленные погрешностями эталонов. Нестабильность интенсивности источника излучения также не учитывается при измерении интенсивности диффузной компоненты, внося погрешности в определение шероховатости. Указанные факторы ограничивают точность определения шероховатости сверхгладких поверхностей.
Согласно изобретению предлагается устройство для определения шероховатости поверхностей, обеспечивающее повышение точности определения шероховатости сверхгладких поверхностей.
Достижение указанного технического результата обеспечивается тем, что в устройство для определения шероховатости поверхности, содержащее лазер, эллипсоидальное зеркало, первый фокус которого расположен на оси зондирующего лазерного пучка, а выходное отверстие расположено на оси зеркально отраженной компоненты света, первый фотоприемник, установленный во втором фокусе эллипсоидального зеркала, блок обработки информации, электрически соединенный с первым фотоприемником, дополнительно содержит второй фотоприемник, установленный на оптической оси зеркальной компоненты отраженного света и оптически сопряженный с выходным отверстием зеркала, причем второй фотоприемник электрически соединен с блоком обработки информации.
В соответствии с изобретением второй фотоприемник обеспечивает измерение интегральной интенсивности зеркальной компоненты отраженного света. Это позволяет одновременно измерять интегральные интенсивности диффузной и зеркальной компонент отраженного света, а по отношению последних - шероховатость поверхности. Одновременное измерение интегральных интенсивностей исключает влияние нестабильности источника излучения на определение шероховатости поверхности.
Шероховатость поверхности может быть определена по формуле
Figure 00000002

где Iд - интегральная интенсивность диффузной компоненты отраженного света;
Iз - интегральная интенсивность зеркальной компоненты отраженного света;
RZ - средняя высота неровностей профиля;
C - постоянная, зависящая от длины волны зондирующего излучения и от угла падения, значения которой могут быть определены как экспериментально, так и теоретически.
Благодаря этому нет необходимости градуировать заявляемое устройство по известным эталонным образцам. В силу вышеизложенного известное устройство впервые обеспечивает наиболее полно и точно измерение интегральных интенсивностей диффузно и зеркально отраженных компонент света, а по ним в соответствии с формулой (1) - высокую точность определения шероховатости поверхности.
На чертеже изображена схема предлагаемого устройства (сечение в плоскости падения).
Устройство содержит лазер 1, эллипсоидальное зеркало 2, первый фокус 3 которого расположен на оси зондирующего лазерного пучка, а выходное отверстие 4 размещено на оси зеркально отраженной компоненты света, первый фотоприемник 5, установленный чувствительной поверхностью во втором фокусе 6 эллипсоидального зеркала 2 и ориентированный на выходное отверстие 4, второй фотоприемник 7, установленный на оси зеркально отраженной компоненты и оптически связанный с отверстием 4, причем электрические выходы фотоприемников 5, 7 соединены с блоком обработки информации 8. Позицией 9 отмечена контролируемая поверхность, совмещенная с фокусом 3. При этом эллипсоидальное зеркало 2 является частью эллипсоида вращения. Стрелками обозначены направления распространения зондирующего пучка и отраженного излучения, причем крайние стрелки характеризуют ширину индикатриссы рассеяния диффузной компоненты.
Устройство работает следующим образом. Пучок монохроматического света от лазера 1 падает под острым углом на контролируемую поверхность 9 и, отразившись от неровностей профиля поверхности, разделяется на зеркальную и диффузную составляющие (компоненты) отраженного света. Диффузная составляющая фокусируется эллипсоидальным зеркалом 2 на чувствительной поверхности фотоприемника 5, регистрирующего суммарную (интегральную) интенсивность диффузной компоненты, а зеркальная компонента отраженного света выводится через отверстие 4 и попадает на чувствительную поверхность фотоприемника 7, регистрирующего суммарную (интегральную) интенсивность зеркальной компоненты. Сигналы с фотоприемников 5, 7 поступают в блок 8 обработки информации, осуществляющий определение шероховатости в соответствии с формулой (1). При этом отверстием 4 обеспечивается разделение диффузной и зеркальной компонент отраженного света, а эллипсоидальным зеркалом - наиболее полная концентрация диффузной компоненты. При необходимости зондирующий лазерный пучок сканируют по поверхности изделия 9, перемещая изделие или устройство (средства сканирования на фигуре не показаны). Одновременное наличие сигналов от фотоприемников 5, 7 свидетельствует о совмещении фокуса 3 и поверхности 9, о плоскопараллельности поверхности и отсутствии дефектов в точках контроля, т.е. о готовности к измерению шероховатости в них, что используется для увеличения достоверности и точности измерений шероховатости. В качестве блока 8 может быть использована ЭВМ либо специализированный блок, состоящий, например, из узла измерения отношения сигналов, логарифмического усилителя и регистрирующего прибора.
Источники информации:
1. Рефлектометр для измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей. Авторское свидетельство СССР N 987381, МПК G 01 B 11/30, 1963.
2. Устройство для контроля шероховатости зеркальных поверхностей. Патент США N 3771880, МПК G 01 N 21/48, 1973.
3. Устройство для определения качества поверхности. Заявка ФРГ N 3626724, МПК G 01 B 11/30, опубл. 1988 (прототип).

Claims (1)

  1. Устройство для определения шероховатости поверхности, включающее лазер, эллипсоидальное зеркало, первый фокус которого расположен на оси зондирующего лазерного пучка, а выходное отверстие размещено на оси зеркально отраженной компоненты света, первый фотоприемник, установленный во втором фокусе эллипсоидального зеркала, и блок обработки информации, электрически соединенный с первым фотоприемником, отличающееся тем, что оно дополнительно содержит второй фотоприемник, установленный на оптической оси зеркальной компоненты отраженного света, оптически сопряженный с выходным отверстием эллипсоидального зеркала и электрически соединенный с блоком обработки информации.
RU96113841A 1996-07-09 1996-07-09 Устройство для определения шероховатости поверхности RU2156437C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU96113841A RU2156437C2 (ru) 1996-07-09 1996-07-09 Устройство для определения шероховатости поверхности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU96113841A RU2156437C2 (ru) 1996-07-09 1996-07-09 Устройство для определения шероховатости поверхности

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU96113841A RU96113841A (ru) 1998-10-27
RU2156437C2 true RU2156437C2 (ru) 2000-09-20

Family

ID=20183015

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU96113841A RU2156437C2 (ru) 1996-07-09 1996-07-09 Устройство для определения шероховатости поверхности

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2156437C2 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2710009C1 (ru) * 2019-05-21 2019-12-23 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "ОРЛОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ имени И.С. ТУРГЕНЕВА" (ОГУ им. И.С. Тургенева) Устройство для определения влагообеспеченности лиственных растений
CN111288936A (zh) * 2020-03-03 2020-06-16 深圳市海翔铭实业有限公司 一种圆柱齿轮啮合接触面粗糙度的测量评定方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Оптика шероховатых поверхностей. - Л.: Машиностроение, Ленинградское отд., 1988, с.21, рис.5. *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2710009C1 (ru) * 2019-05-21 2019-12-23 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "ОРЛОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ имени И.С. ТУРГЕНЕВА" (ОГУ им. И.С. Тургенева) Устройство для определения влагообеспеченности лиственных растений
CN111288936A (zh) * 2020-03-03 2020-06-16 深圳市海翔铭实业有限公司 一种圆柱齿轮啮合接触面粗糙度的测量评定方法
CN111288936B (zh) * 2020-03-03 2021-02-09 深圳市海翔铭实业有限公司 一种圆柱齿轮啮合接触面粗糙度的测量评定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5923423A (en) Heterodyne scatterometer for detecting and analyzing wafer surface defects
KR100571863B1 (ko) 대상물의 막 두께를 측정하는 장치, 대상물의분광반사율을 측정하는 장치 및 방법과, 대상물상의이물을 검사하는 장치 및 방법
US4859062A (en) Optoelectrical measuring system and apparatus
US4049350A (en) Process and apparatus for detecting inclusions
KR100245064B1 (ko) 광학적차분윤곽측정장치및방법
EP0397388A2 (en) Method and apparatus for measuring thickness of thin films
JPH03267745A (ja) 表面性状検出方法
US6885454B2 (en) Measuring apparatus
US20070046943A1 (en) System and method for self-referenced SPR measurements
JPS63193005A (ja) 面検査用装置
JP3706265B2 (ja) 表面プラズモンセンサー
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
EP0612977B1 (en) Method and apparatus for determining the fiber orientation of paper
JP2004527741A (ja) 全反射分光法のための装置および方法
RU2156437C2 (ru) Устройство для определения шероховатости поверхности
US6947145B2 (en) Measuring apparatus
WO2014038601A1 (ja) 塗膜の表面粗度分布測定装置
JPH01145504A (ja) 光学測定装置
RU2180429C2 (ru) Устройство для определения шероховатости поверхности
JP3276577B2 (ja) 光学式表面粗さ計測装置
US6804007B2 (en) Apparatus for multiplexing two surface plasma resonance channels onto a single linear scanned array
SU654853A1 (ru) Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов
SU1642326A1 (ru) Способ исследовани распределени параметров рассеивающих частиц
RU2051376C1 (ru) Способ фотометрического определения дефектов и устройство для его осуществления
KR100409204B1 (ko) 금속표면의 확산계수 측정장치 및 그 측정방법