JPS6392902A - 鏡およびリングレーザジヤイロスコープ - Google Patents

鏡およびリングレーザジヤイロスコープ

Info

Publication number
JPS6392902A
JPS6392902A JP62220572A JP22057287A JPS6392902A JP S6392902 A JPS6392902 A JP S6392902A JP 62220572 A JP62220572 A JP 62220572A JP 22057287 A JP22057287 A JP 22057287A JP S6392902 A JPS6392902 A JP S6392902A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
polarized light
layer
multilayer dielectric
reflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62220572A
Other languages
English (en)
Inventor
ウオルター・スコット・カーター
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BAE Systems PLC
Original Assignee
British Aerospace PLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by British Aerospace PLC filed Critical British Aerospace PLC
Publication of JPS6392902A publication Critical patent/JPS6392902A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3025Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
    • G02B5/3033Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/58Turn-sensitive devices without moving masses
    • G01C19/64Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
    • G01C19/66Ring laser gyrometers
    • G01C19/68Lock-in prevention

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、銃に関し、詳述すわば、リングレーザジャ
イロスコープに使用される鏡とそのリングレーザジャイ
ロスコープとに関する。
この発明の背景について説明すれば、平面偏光が面から
反射されるときに、偏光の2つの主要なモードが得られ
る。これらモードは、入射光の電気ベクトル(Eベクト
ル)と入射面の間の関係によって定義される。バッタワ
ース(Butterworth )斜字出版によってl
り55年に出版されたオー−ニス・ヘブン(0,S、 
Heaven )による「固体薄膜の光学特性(0pt
ical Properties of Th1n S
olidFilms ) Jで与えられた慣例を使用す
ると、p偏光は、入射面の中にEベクトルを有するもの
として定義され、日偏光は、入射面に直交するEベクト
ルを有するものとして定義される。一般に、入射する放
射がp偏光または日偏光しているとすると、反射光の偏
向面は変化しない。しかしながら、面が磁気光学的に活
性な物質で作られているとすると、このことは成立たな
い。でらに、入射する偏光が、反射面以外のいずれかの
面の中で偏向しているとすると、反射された放射の偏向
面は、一般に、反射によって回転するであろう。
リングレーザジャイロスコープは、「ロックイン」の現
象を示し、低い回転率では、一つの反対方向に回転する
ビームは、同じ振動数に固定δれ、成る高い回転率に達
するまでは、振L・数の差は観測されない。「ロックイ
ン」は、二つのレーザビームの間の相互作用によるもの
であって、成る尚い回転率の上方でも、2つのビームの
間の相互作用の影響は、これらが目盛係数を非LJJ的
にすることによって示される。「ロックイン」の影11
t−t、実際的には、バイアス機構を提供することによ
って克服できる。このバイアス機構を提供する最も普辿
に使用される方法は、現在では、リングレーザジャイロ
スコープに震え振動数を加えることである。しかしなが
ら、震えの代シとなるいくつかの非楼械的な方法が、す
でに提案され、その中で最も注目すべきは、いわゆる「
磁気鏡」である。
これは米国特許第、3、s !; /、? 73号で提
供され、これには、電磁スペクトルの赤外領域における
純鉄の磁気光学的特性の使用が曲水される。強磁性ガー
ネット材料を使用する代フの「磁気鏡」は、英国特許第
2oobttsb号および米国特許第3.9コク、94
6号の明細(に開示されている。
磁気鏡は、横向きカー効果によって、反対方向に回転す
るビームに微分位相変移を与えるが、それは、ビームが
p偏光しているときだけである。
故に、この現象を利用するには、リングレーザジャイロ
スコープにp偏光モードのレーザビームすることが、本
質的な点である。こ名は、偏光のモードが出力管におけ
るブルースター角の窓の配向によって定められるような
、レーザを使用するモジュラ空洞では、難なく達成され
る。しかしながら、一体のレーザ使用空洞では、リング
レーザジャイロスコープ企て現在採用される鏡が、p偏
光に対してよシもe偏光に対して大きな反射係数を示す
ので、8偏光モードのレーザが、優先的に使用される。
界面を形成する2つの誘電材料に対して、界面における
反射係数Rは、第4図に示すように、8偏光に対するも
のR8がp偏光に対するものRpよシ大きい。この差は
、比Rp / Reか常にlよ)小はくなるように、異
なる屈折率を有するコつの誘を材料の7つ置きの層で作
られた、リングレーザジャイロスコープに使用される花
類の多層誘電鈍によって、増強される。しかしながら、
直角入射では、2つの偏光の間に区別は存しない。吸収
損失を考慮に入れると、Rp/Reの比は、lよシ小ぜ
いものにとどまるが、両方の偏光に対する反射率は、層
の数が増大するときに漸近的限界に到達する。これは、
コツベルマン限界として知られ、n−コ、3およびに一
!;X/(f’の高屈折率損失物質とn−/、ダ6の低
屈折率非損失物質と?有する積重ねに対して、かつQj
’の入船角に対して、第1Q図に図示される。
第io図のグラフは、特定の値の反射率が必要なときに
1 p偏光モードの反射のだめの鏡を形成する場合に、
多くの層の使用が必要であることを強調する。
この発明は、高および低○屈折率をそn−(れ有し低い
吸収率を共に有する、二つの誘を材料の7つ置きの層を
備えた、多峯誘%J(MLD )反射積重ねの使用を包
含する。鏡を、形成するため、各層は、放射の入船角を
考慮して、反射すべき放射の1/4波長の九芋的厚さを
有するように作られる。
良く知られているように、かかる配備によれば、p偏光
およびθ偏光の双方に対して、論シ合う鳳・の昇面から
反射されるビームが強まシ、充分な数の層が使用されれ
ば、極めて高い反射率が得られる。鈍は、典型的r(は
、ゼロドア(Zerodur )の基体の上に二酸化チ
タン(T10□)と二酸化シリコン(Si O2)の7
つ置きの腸を積層することKよって、作ることができる
。屈折率の典型的な値は、Ti O2に対してユ3から
コ、り、Si O2に対して/、l16である。損失係
数、複素屈折率(n−1k)のに1はそれそrtsから
10X10  およびlから3X10  である。
一般にかかる鏡は、最外方のTi O□代の頂部上に8
10.のユ/2波被覆ヲ有する。この層は、光学的には
何もせず、成る場合には不在層として知られる。その目
的は、下方のTlO2層を環境から保膿することにある
。かかる層は、以下のト明では考慮に入れず、これは、
問題の設計のいす1にも必要に応じ付加できると考えら
れる。
p偏光モードのレーザy、 &先約に使用する鏡を作る
ために提案された方法は、偏光に鋭敏な反射防止被栓の
使用を包含する(アイ・エム・ミンコフ(工、 M、 
Minkov、 )光スはクトル(0pticalSp
ectroscopy ) 、米国、第33巻第二号/
75−13gページ)。このように提案された多層訪亀
鏡は、日偏光モードに対してよシもp偏光モードに対し
て多くの反射をする三層反射防止被覆の繰返しを備える
。しかしなから、かかる鋭の層における光の吸収の形管
によって、提案は勢゛際的でなくなる。
この発明によれは、多尽誘[(M LD )反射積重ね
を有し、8偏光の反射に対してp偏光の反射を増強させ
るように設計された、鏡か提供される。
かくして、この発明によれは、空洞がp偏光モードのレ
ーザを優先的に使用し、故Kp向き磁気光学カー効果か
、反対方向に回転するビームのロックインの生起を防止
するFC利用できるような、リングレーザジャイロスコ
ープが提供できる。
この発明による銑は、望ましくは、p偏光の吸収に対し
て8偏光の吸収を増強させるように設計される。
この判°色は、酩牝付か軽い吸収性を有し、特に、高い
トi札率を有するものか、一般に、低い誘霜率を有する
ものよシ高い吸収率を有する、という奪東を使用する。
光学的振11数において、透磁率を/とすtlは、材料
の訪雷率は、El折率の平方にほぼ等しい。p偏光放射
に対して高い反射率を得るためには、吸収が優先的にS
偏光成分に対して増大して、これが反射率の水準を低減
宴せるようになシ、これかp偏光取分に対するものよシ
小でぐなるように、MLD設計が変型される。
M L D反射積重ねの1つまたは多くの&・の厚さは
、k連の反射率から外れるように選択できる。
これは、高い屈折率の1/4波の最外方の層、低い屈折
率の1/2波を有する次の層および/4波の残シの層全
備えた、MLD積重ねを作ることによって、申分なく達
成できる。その代シのものでは、最外方の層が高い屈折
率の1/2波にされ、残シが1/4波にされる。
代力に、針は、p偏光の透過に対して8偏元の透過を増
強させるように設計できる。この場合に、鏡は、制御誘
電層およびMLD反射積重ねの下方に位置する金属層を
備えることができる。別の実施例において、鏡は、制御
語↑しJ畑お:びMLD反躬反射重ねの下方紀位甑する
非同調MLDを係jえる。
以下、図面を参照しながら、この発り11の実施例につ
いて説明する。
g /図に示される鏡は、ファブリ・ベロフィルタの形
をなし、これにおいて、基体/の上&(は、金または銀
の膜層;が揖ル)される。薄れ二の上には、誘電材料の
制御&・3が形成される。制御Rう3の上には、誘電膜
材料で作られた交互/′4波層を備えた多層防電積重ね
qが形成される。多危誘電体の最下方の層は、1/2波
スに一すとして作用し、残シの1は、第1図に示される
ように、1/波反射積重ねを作る。かかるフィルタに対
し、第2図に示されるように(161重ねダの誘電膜層
における損失は無視して)、通過帯域(すなわち透過ピ
ーク)は、p偏光モードと6偏光モードとで相異なる。
かくして、制御層3の浮さを選択すれば、第一図に垂直
の点線で示されるように、S偏光の透過がp偏光のそれ
に対して増強でき、これによって、p偏光の反射率が8
偏光に対して増大する。
第1図のフィルタは、制御層3の厚さを極めて正確に制
御しなければならないという欠点を有する。
第3図の実施例においては、金属層コの代シに一〇N多
層誘電体が採用され、こtは、θ°とisooの間の成
る場所で位相変移が得られるような非同調になっている
。非同調多層誘電体の使用によって、鏡の配備に依存す
る偏光が与えられる。
第3図の積重ねは基体SS−有し、これの上に、非同調
であるコO層多層誘電体6が形成される。
この誘電体の上に形成される厚さ可変の層7は、ガーネ
ット(Ti O,)の層からなる。lダ層多層誘電体8
は、可変層りの上に形成されるーこの層は同調である。
層7の厚さに対してプロットした反射係数(R)が、p
偏光モードおよびS偏光モードの双方に対して、第7図
に図示される。図から明らかなように、ダ5°の入船角
に対して、p偏光に対する反射係数は一定であるが、8
偏光に対する反射率は、R8(Rp O波帯域を6.5
Aのまわシに作るように低下する。この配備でも、同調
の8偏光に対する通常帯域を得ることが実際上困難であ
るという、欠点を受ける。第7図でも、吸収損失に対す
る補償は、何ら包含されない。損失を考慮すると、第3
菌の積重ねの帯域の幅は増大し、設計は実際的になる。
積重ねの第1層または第2層ヲ17波長の厚さにするこ
とによって、Rp)Rs  f有する多層誘電体が設計
できる。35N積重ねが第S図に図示され、ここで積重
ねは、多層誘電体?、二酸化シリコン(Si O2)の
1/2波層IQおよびガーネットのシ、波Nlノで形成
され、これらすべては、基体lコの上に積層される。こ
の積重ねの応答は第6図に図示され、これによれば、優
先的にp (lliii光モードのレーザを使用するレ
ーザ空洞を作る、よシ実際的な解決が提供される。
この実施例は、8偏光の吸収をp偏光のそれに対して増
強妊せることによって働く、と考えられる。p偏光と8
偏光は、MLD反を、積重ねの中に異なる形式の定常波
を作る。eQij光に対する定常波は、連続した比較的
節単な正弦形であるが、p偏光に対するそれは、非連続
で複M、な形のものである。この発明によるこの実施例
において、この差異は、鏡が8偏光に最大に作用する場
所で、すなわちθ偏光定常波の強度が最大のところで、
吸収が増強されるように、鏡を配2することによって、
見出された。
実際に見出されたところによれは、ガーネット材料のよ
うな適当′fX醜気元気光学層に含まれるときに、S偏
光の吸収を最大にすることは、反射方向に回転するレー
ザビームに力口えられる微分位相変移を最大にすること
をも援ける。
MLD反射積重ねにおける層を少なくすることによって
、第7図に示されるような透過鏡が製造でき、これにお
いて、MLD/jは、基体lμに取付けられたコアの層
からなる。高い屈折率のl/′λ波長誘電層l!がML
D/3に重ねられ、その最上方の層は、低い屈折率の/
7’μ波層である。
その結果は第r図に図示され、これは、約620からA
 & jt nm の波帯域でR,>R,となることを
示す。
見出されたところによれば、透過鏡のためのMLD積重
ねの下方にさらに//′−波長層を使用すると、p偏光
とS偏光の反射率の間に、゛大きな差を得ることができ
るが、そnは比較的せまい波帯域に渉ってだけである。
上述した結果は、MLD装置に対して標進のコンピュー
タプログラムを使用して得られた。
第2図、第弘図、第6図および第g図に示される結果は
、弘j0の入船角に対するものであるが、勿論、使用さ
れる誘電材料における吸収の変化を考慮してグラフを対
応して変化させることによつて、他の入船角も可能であ
る。
簡単な場合に対する解析的アプローチを示す以下の追記
は、MLD反射積重ねの上に低屈折率のl/′2波長層
を組込んだ効果を示す。
追記 リプル(Lidde 11 ”)の記号を使用すれば、
27軍の光学的厚さを有し損失のないl対の誘電体に対
すとなる。ここで、 S偏光に対してμ−neoSθ (、=屈折率) 添字りは「低」を意味し、 添字Hは「高」を意味する。
q対に対し、行列は次のようになる。
q−+■のときには、U →Oであシ、積重ねの最外方
の層が、小さいと仮定された、損失のないλ/′μ層で
あるとすると、行列は、次のように表わすことができる
これは、位相厚さを次のよう置くことによって得られる
λ ここで、(n−ik)は複素屈折率、 dは実際の厚さ、 θは層の中のビームの角!、 λは自由空間の波長である。
上述の式は次のように書くことができる。
Q coa δ=coa(−iΔ ) λ kが小さいとき、同様に、 sinδ = sin  (−−i d  )λ 二 l 最外方の損失層および次のl/′λ波層を備える積重ね
のための行列は、次のように書くことができる。
最終行列が頂部に5i02の77軍波を備えた積重ねを
表わすから、RH8における第2の行列は、//筆波層
のための行列である。
これは次の式を与える。
標準の記号を使用すると、MLDの前方のE場は次の式
で与えられる。
ここで、E および頌−は、正(入射)方向および負(
反射)方向の、界面に平行な電場の成分である。添字A
およびSは、空気および基体にそれぞれ関する。Mを置
き換えると、次の式になる。
故に、 (q+/) E ++E ”−=(−/)    μLUE8+相−
(1)A      A および (q+/) μE+−μE−一(−/)   μLUFSΔ (2)
AA   AA (1)に〃よを掛けて、(2)を引くと、μ■( (1)にμ1、を掛けて、(2)を加えると、μI] 反射係数は次のようになる。
、=五−、、、 −J″H E+  μ +4μm A       A μmは、実際は複素数(=μH’ −IJjH’ )で
あるから、 μ+Δμ′−1Δμイ H 反射率R,=rr  は、次の式で与えられる。
μ、/  [す る。これてよれば、次の式が得られる。
Δが小さくて二次項以上を無視できるときには、良好な
近似として、次の式が得られる。
μH R=  / −μΔ□ μA μH 故に、損失L=/ −R=μΔ− μ人 θ 〉θ であるから、cosθ (cosθ□A  
   )I                    
  A故に、p偏光に対する損失は、S偏光に対するも
のより小さい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明による鏡の図解的線図である。第2
図は、第1図の鏡に対するp偏光および3偏光の双方の
、位相厚さに対する鏡損失のグラフである。第3図は、
この発明の第2実施例による鏡の図解的線図である。第
μ図は、第3図の鏡のための、制御層の厚さに対する反
射係数のグラフである。第3図は、この発明の第3実施
例による鏡の図解的線図である。第6図は、第3図の鏡
に対する、波長に対する鏡損失のグラフである。 第7図は、この発明の第≠実施例の図解的線図である。 第2図は、第7図の鏡による、波長に対する鏡損失のグ
ラフである。第り図は、誘電体の界面におけるp偏光お
よびS偏光の反射係数を示すグラフである。第10図は
多層構造の鏡損失をp偏光およびS偏光について示すグ
ラフである。 図面において、lは基体、コは金属層、3は制御層、μ
は多層誘電積重ね、!は基体、6は二〇層多層誘電体、
7は可変層、gは/4を多層層誘電体、りは多層誘電体
、IOは//゛2波層、llはl/′μ波層、llは基
体、13は多層誘電体、14Aは基体、ljは//’2
波長誘電層を示す。 図面の浄書(内容に変更なし) Fig、9 Fig、6 鏡損出 Fig、8

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、s偏光の反射に対してp偏光の反射を増強させるよ
    うに設計された、多層誘電反射積重ねを備える鏡。 2、p偏光の吸収に対してs偏光の吸収を増強させるよ
    うに設計された、特許請求の範囲第1項に記載の鏡。 3、多層誘電反射積重ねの1つまたは多くの層の厚さが
    、最適の反射率から外れるように選択される、特許請求
    の範囲第2項に記載の鏡。 4、前記の1つまたは多くの層が、予め定められた入船
    角の入射放射の1/2波長の光学厚さを有する、特許請
    求の範囲第3項に記載の鏡。 5、前記の1つまたは多くの層が、多層誘電反射積重ね
    の頂部またはその近くに位置する、特許請求の範囲第3
    項または第4項に記載の鏡。 6、前記の1つまたは多くの層が、多層誘電反射積重ね
    の頂部から離れたところに位置する、特許請求の範囲第
    3項または第4項に記載の鏡。 7、p偏光の透過に対してs偏光の透過を増強させるよ
    うに設計された、特許請求の範囲第2項に記載の鏡。 8、制御誘電層および多層誘電反射積重ねの下方に金属
    層を有する、特許請求の範囲第7項に記載の鏡。 9、金属が金または銀である、特許請求の範囲第8項に
    記載の鏡。 10、制御誘電層および多層誘電反射積重ねの下方に非
    同調多層誘電体を備える、特許請求の範囲第7項に記載
    の鏡。 11、磁気光学層を有する特許請求の範囲第1項から第
    10項のいずれか1項に記載の鏡。 12、磁気光学層がガーネット材料からなる、特許請求
    の範囲第11項に記載の鏡。 13、s偏光の反射に対してp偏光の反射を増強させる
    ように設計された、多層誘電反射積重ねを備える鏡が、
    レーザを使用する空洞の境界に位置する、リングレーザ
    ジャイロスコープ。
JP62220572A 1986-09-06 1987-09-04 鏡およびリングレーザジヤイロスコープ Pending JPS6392902A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB8621510 1986-09-06
GB868621510A GB8621510D0 (en) 1986-09-06 1986-09-06 Ring laser gyroscopes

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6392902A true JPS6392902A (ja) 1988-04-23

Family

ID=10603787

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62220572A Pending JPS6392902A (ja) 1986-09-06 1987-09-04 鏡およびリングレーザジヤイロスコープ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4900137A (ja)
EP (1) EP0267672B1 (ja)
JP (1) JPS6392902A (ja)
DE (1) DE3787869T2 (ja)
GB (1) GB8621510D0 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0383923B1 (en) * 1988-02-26 1997-05-28 Fujitsu Limited Polarizing isolation apparatus and optical isolator using the same
US4968136A (en) * 1988-09-02 1990-11-06 Northrop Corporation Ring laser gyro and magnetic mirror therefor
US5009920A (en) * 1990-03-30 1991-04-23 Honeywell Inc. Method for applying optical interference coating
US5137358A (en) * 1991-02-05 1992-08-11 Northrop Corporation Ring laser gyro having two magnetic mirrors
US5548602A (en) * 1994-06-30 1996-08-20 Honeywell Inc. Method and structure for reflecting 633 nm radiation while eliminating 650 nm radiation in ring laser gyro mirrors
US5646780A (en) * 1994-08-24 1997-07-08 Honeywell Inc. Overcoat method and apparatus for ZRO2 mirror stacks
US5926317A (en) * 1996-11-06 1999-07-20 Jds Fitel Inc. Multilayer thin film dielectric bandpass filter
US6665120B2 (en) * 1998-09-16 2003-12-16 Canon Kabushiki Kaisha Reflective optical element
JP2004507781A (ja) * 2000-08-21 2004-03-11 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 損失強化型反射光フィルタ
JP2004088049A (ja) * 2002-03-08 2004-03-18 Mitsubishi Electric Corp 光半導体装置
EP1431824A1 (en) * 2002-12-18 2004-06-23 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby
KR20050001425A (ko) * 2003-06-27 2005-01-06 아사히 가라스 가부시키가이샤 고반사경
US9389080B2 (en) * 2014-01-08 2016-07-12 Honeywell International Inc. Ring laser gyroscope with integrated polarization
US20190324175A1 (en) * 2018-04-18 2019-10-24 Honeywell International Inc. Methods for enhancing the durability and manufacturability of multilayer interference mirrors
US11962118B2 (en) 2020-10-27 2024-04-16 Honeywell International Inc. Ultraviolet filter for ring laser gyroscope mirrors
CN113359220B (zh) * 2021-06-10 2022-04-19 浙江大学 一种基于三维环状结构的光谱滤光片及应用
CN114114488B (zh) * 2021-11-10 2023-09-12 中国科学院上海技术物理研究所 一种偏振灵敏度可调控的可见近红外金属薄膜反射镜

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59172176A (ja) * 1983-03-22 1984-09-28 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 磁気光学再生装置
JPS60169804A (ja) * 1984-02-14 1985-09-03 Fujitsu Ltd 偏光分離膜

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3427089A (en) * 1965-03-12 1969-02-11 Webb James E Ultraviolet filter
US3927946A (en) * 1968-03-21 1975-12-23 Sperry Rand Corp Ring laser frequency biasing mechanism
US3851973A (en) * 1972-01-03 1974-12-03 Sperry Rand Corp Ring laser magnetic bias mirror compensated for non-reciprocal loss
DE2400346C2 (de) * 1974-01-04 1983-02-17 Sperry Corp., 10019 New York, N.Y. Ringlaser sowie magnetischer Vorspannungsspiegel zur Verwendung als reflektierendes Bauteil des optischen Hohlraumes eines Ringlasers
US4009933A (en) * 1975-05-07 1977-03-01 Rca Corporation Polarization-selective laser mirror
GB2006456B (en) * 1977-10-04 1983-06-02 Sperry Rand Ltd Magneto-optical phase modulatiing devices
US4195908A (en) * 1978-05-15 1980-04-01 Sperry Corporation Magnetic mirror for imparting non-reciprocal phase shift
JPS5546706A (en) * 1978-09-29 1980-04-02 Canon Inc Phase difference reflecting mirror
DE3207730A1 (de) * 1982-03-04 1983-09-08 Teldix Gmbh, 6900 Heidelberg Ringlaser

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59172176A (ja) * 1983-03-22 1984-09-28 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 磁気光学再生装置
JPS60169804A (ja) * 1984-02-14 1985-09-03 Fujitsu Ltd 偏光分離膜

Also Published As

Publication number Publication date
US4900137A (en) 1990-02-13
EP0267672A2 (en) 1988-05-18
DE3787869D1 (de) 1993-11-25
GB8621510D0 (en) 1986-10-15
DE3787869T2 (de) 1994-02-10
EP0267672B1 (en) 1993-10-20
EP0267672A3 (en) 1988-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6392902A (ja) 鏡およびリングレーザジヤイロスコープ
US7268946B2 (en) Universal broadband polarizer, devices incorporating same, and method of making same
CA2220291C (en) Multilayer thin film dielectric bandpass filter
JP2627864B2 (ja) 選択された周波数の光を反射するためのミラーおよびそれを形成するための方法
JPH02500466A (ja) 光フアイバ偏光器
US20130188254A1 (en) Thin film optical filters with an integral air layer
JPH01315704A (ja) 誘電性積層偏光器
FR2459986A1 (fr) Lentille de fresnel integree
CN109491001B (zh) 基于覆盖折射率匹配层的偏振无关光栅及其制备方法
Willey Practical Design of Optical Thin Films
Cantwell et al. Optical coatings for improved contrast in longitudinal magneto-optic Kerr effect measurements
CN112526656B (zh) 一种四方位消偏振分光棱镜及其制备方法
US3887261A (en) Low-loss reflection coatings using absorbing materials
Zhang et al. Pyramid-shaped ultra-stable gold-helix metamaterial as an efficient mid-infrared circular polarizer
EP0845111B1 (en) Thin film polarizing device
JP2957399B2 (ja) ビームスプリッタおよび光分岐回路
JP2003043193A (ja) 多層膜反射鏡及び多層膜反射鏡の製造方法
JPH06174897A (ja) 多層膜x線ミラーおよび多層膜x線光学系
JP2862423B2 (ja) 偏光ビームスプリッター
JPH08146218A (ja) 偏光ビームスプリッター
JPH04256904A (ja) 偏光素子
Cowan Surface plasmon holography
JPH08286034A (ja) 偏光ビームスプリッター
JPS63266402A (ja) 反射防止膜
JPS6242101A (ja) 反射防止膜