JPS638836A - 故障診断辞書作成方式 - Google Patents

故障診断辞書作成方式

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Publication number
JPS638836A
JPS638836A JP61151222A JP15122286A JPS638836A JP S638836 A JPS638836 A JP S638836A JP 61151222 A JP61151222 A JP 61151222A JP 15122286 A JP15122286 A JP 15122286A JP S638836 A JPS638836 A JP S638836A
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package
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eif
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JP61151222A
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English (en)
Inventor
Tadanobu Hakuba
白馬 忠信
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Priority to FR8709048A priority patent/FR2600796B1/fr
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318371Methodologies therefor, e.g. algorithms, procedures
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レジスタやゲート回路などの論理装置の機能
に必要な部品に加え、チェック回路及びこのチェック回
路のエラー検出に応じてセットされるエラーインディケ
ータフリップフロップを部品として搭載したパッケージ
を複数個有する論理装置において、障害が発生したとき
にセントされるエラーインディケータフリップフロップ
により障害の発生が予測されるパッケージを指摘する故
障診断辞書を作成する方式に関する。
〔従来の技術〕
中央処理装置、入出力制御装置等の論理装置において障
害が発生したとき、その原因究明を容易にすると共に速
やかな修理を可能とするために、論理装置を互いに独立
して交換可能なパッケージという単位で構成し、各パッ
ケージ内に所定個数のチェック回路とこのチェック回路
のエラー検出に応じてセントされるエラーインディケー
タフリップフロップ(以下II、IFと称す)とを設け
、障害が発生したときに論理装置のクロックを停止し、
何れのEIFがセントされたかを検出し、そのセットさ
れたEIFにより故障診断辞書を索引して故障箇所を含
むパッケージを求め、このパッケージを交換することに
より障害部分の修理を行なうことが行なわれている。
ところで、上記故障診断辞書には、あるEIFがセット
されたとき、どのパッケージに障害が発生したものと予
測されるかについての情報が格納されているものであり
、従来は、EIFをセットする要因となる障害の起こり
得るパッケージを、論理装置の回路図を参照して人手に
より求めて上記故障診断辞書を作成していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、故障診断辞書を人手により作成する方式
では、論理装置の構成が複雑な大規模情報処理装置にお
いてはどうしても指摘もれや誤指摘を発生し易く、また
その作成に多大な時間を必要とするという問題点がある
本発明はこのような従来の問題点を解決したもので、そ
の目的は、故障診断辞書を自動的に作成し得るようにし
て、人手による場合の如き指摘もれや誤指摘をなくし、
また作成時間の短縮を可能とすることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上記目的を達成するために、レジスタ。
チェック回路および該チェック回路のエラー検出に応じ
てセットされるEIFを部品として搭載したパッケージ
を複数個有する論理装置において障害が発生したときに
セントされる前記ELFと障害の発生が予測されるパッ
ケージとの対応情報を示す故障診断辞書を作成する方式
において、論理装置を構成する複数のパッケージ間の接
続情報、各パッケージを構成する部品間の接続情報およ
び各部品の入出力構成情報を含む論理装置設計情報を格
納する設計情報格納手段と、咳設計情報格納手段の格納
MI報に従い、各ElFの入力信号線をレジスタが見つ
かるまで逆方向に探索し、検出したレジスタと、該レジ
スタを含むパッケージと、前記レジスタを検出するまで
に通過した部品を含むパッケージとを抽出するパッケー
ジ・レジスタ抽出手段と、 前記設計情報格納手段の格納情報に従い、前記パッケー
ジ・レジスタ抽出手段で抽出された各レジスタの人力信
号線を逆方向に探索し、前記パッケージ・レジスタ抽出
手段で他のEIFに関し抽出された他のレジスタの一つ
と同一のレジスタが見つかるまでに通過した部品を含む
パッケージを抽出するパッケージ抽出手段と、 一つのEIFに対し前記パッケージ・レジスタ抽出手段
で抽出されたパッケージと、前記一つのEIFに対し前
記パッケージ・レジスタ抽出手段で抽出されたレジスタ
に関して前記パッケージ抽出手段で抽出されたパッケー
ジとの双方のパッケージを、前記一つのEIFにより障
害発生が予測されるパッケージとして選択する処理を、
各EIFに関して行なう選択手段とを備える。
〔作用〕
本発明の原理と作用を、その理解を容易とする為に、後
述する実施例で参照する第8図の論理装置の構成例を用
いて説明する。
論理装置に含められたEIFをセットするパリティチェ
ック回路等のチェック回路は、第8図のチェック回路C
a、Cb、Ccにも示すように、レジスタの出力に接続
されるのが一般的である。従って、そのチェック回路に
よってセントされるErF例えばEIF[!bの入力信
号線を逆方向に探索してレジスタRCを見つけた場合、
そのレジスタRCおよび ゛その通過経路にある部品に
障害が発生するとこのEIFEbがセットされるから、
そのレジスタRCおよび通過経路上の部品を含むパッケ
ージ(同図の場合パッケージY)はEIFEbによって
障害発生が予測されるパッケージとなる。これが、パッ
ケージ・レジスタ抽出手段で抽出されるパッケージであ
る。また、同様にして第8図のEIF[!aの場合、レ
ジスタRAとそれまでの通過経由上の部品とが含まれる
パッケージがそのEIFEaによって障害発生の予測さ
れるパッケージとなり、これがパッケージ・レジスタ抽
出手段で抽出される。
他方、レジスタReの如く、パッケージ・レジスタ抽出
手段で抽出されない部品を含むパッケージXもEIFI
!bによって障害発生が予測されるパッケージである。
このようなパッケージは、パッケージ・レジスタ抽出手
段で抽出したレジスタRCを出発点としてその入力信号
線を逆方向に探索したとき、別のEIFEaについてパ
ッケージ・レジスタ抽出手段で抽出されたレジスタRA
に遭遇する手前までの経路上に現れる部品を含むパッケ
ージとして抽出することができ、これを行なうのがパッ
ケージ抽出手段である。
選択手段はパッケージ・レジスタ抽出手段で抽出された
パッケージと、パッケージ抽出手段で抽出されたパッケ
ージとを総合してそのEIFによって障害発生が予測さ
れるパッケージとして故障診断辞書に登録する動作を行
なう。
〔実施例〕
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の故障診断辞書作成方式の機能ブロック
図であり、パッケージ間接続情報1009部品間接続情
報200および部品の入出力構成情報300を含む論理
装置設計情報を格納する設計情報格納手段1と、設計情
報格納手段1の格納情報に従い、論理装置設計情報中の
各EIFの入力信号線をレジスタが見つかるまで逆方向
に探索し、検出したレジスタと、そのレジスタを含むパ
ッケージと、そのレジスタを検出するまでに通過した部
品を含むパッケージとを抽出してパッケージ・レジスタ
情報400を得るパッケージ・レジスタ抽出手段2と、
設計情報格納手段1の格納情報に従い、パッケージ・レ
ジスタ抽出手段2で抽出されたパッケージ・レジスタ情
報400中の各レジスタの入力信号線を逆方向に探索し
、パッケージ・レジスタ抽出手段2で抽出されたパッケ
ージ・レジスタ情報400中の他のレジスタの一つと同
一のレジスタが見つかるまでに通過した部品を含むパッ
ケージを抽出してパッケージ情報500を得るパッケー
ジ抽出手段4と、一つのEIFに対しパッケージ・レジ
スタ抽出手段2で抽出されたパッケージと、その一つの
EIFに対しパッケージ・レジスタ抽出手段2で抽出さ
れたレジスタに関してパッケージ抽出手段4で抽出され
たパッケージとの双方のパッケージを、その一つのEr
Fにより障害発生が予測されるパッケージとして選択し
て故障診断辞書600に書込む処理を、全てのEIFに
関して行なう選択手段6とから構成されている。
第2図は本発明の一実施例のブロック図であり、70は
中央処理装置、71は入出力装置、72はインクフェイ
ス、73は論理装置設計情報を格納するファイル装置、
74は故障診断辞書600を格納するファイル装置、7
5は主記憶装置である。この主記憶装置75上には、パ
ッケージ・レジスタ抽出手段2を実現するパッケージ・
レジスタ抽出ルーチンR2゜パッケージ抽出手段4を実
現するパッケージ抽出ルーチンR4,選択手段6を実現
する選択ルーチンR6およびその他の制御プログラムが
格納されていると共に、パッケージ・レジスタ情報40
0格納用の領域El、パッケージ情報500格納用の領
域E2とが設けられている。
第3図はパッケージ・レジスタ抽出ルーチンR2の内容
例を示す流れ図であり、部品の入出力構成情報300中
において未だチェックされていない未チェ7りEIFを
探索する処理21と、この処理21で見つけられた未チ
ェックEIFの未だチェックされていない入力信号線を
探索する処理22と、この処理22で探索された入力信
号線をレジスタが見つかるまで探索する為に後述するレ
ジスタ探索処理Aを起動する処理23と、ステップ21
で探索されたEIFに未だチェックされていない入力信
号線があるか否かを判定する処理24と、この処理24
で未チェック入力信号線無しと判定されたときに部品の
入出力構成情報300中において未だチj−’7りされ
ていないEIFが残っているか否かを判定する処理25
とから構成され、EIF未チェック入力信号線判定処理
24で未チェック入力信号線有りと判定されたときはス
テップ22に戻ってその未チェック入力信号線について
の処理を行ない、未チェックEIF判定処理25で未チ
ェックETF有りと判定されたときはステップ21に戻
ってその未チェックEIFについての処理を行ない、未
チェックEIF無しと判定されると、パッケージ・レジ
スタ抽出ルーチンR2が終了する構成となっている。
第4図は第3図のレジスタ探索処理A起動処理によって
起動されるレジスタ探索処理Aの一例を示す流れ図であ
り、そのとき対象となっている人力信号線の出力穴を探
索する処理31と、この処理で探索された部品がレジス
タか否かを判定する処理32と、処理32でレジスタ以
外の部品と判定されたときに実行され、その部品の情報
を抽出する処理33と、処理33で抽出された部品情報
に従ってその部品の未チェック人力信号線を探索する処
理35と、この処理35で探索された入力信号線を逆方
向に探索する本レジスタ探索処理Aを再起動する処理3
6と、この処理36によって起動されたレジスタ探索処
理Aの終了後にステップ35で探索された部品に未だチ
ェックされていない入力信号線が残っているか否かを判
定する処理37と、ステップ32でレジスタと判定され
たときに実行され、そのレジスタの情報を抽出する処理
34とから構成され、ステップ37で未チェック入力信
号線有りと判定されたときはステップ35に戻ってその
未チェック入力信号線についての処理を行なうように構
成されている。
第5図はパッケージ抽出ルーチンR4の処理内容例を示
す流れ図であり、この処理はパッケージ・レジスタ抽出
ルーチンR2の処理完了後に実行される。この実施例の
パッケージ抽出ルーチンR4は、パッケージ・レジスタ
情報400中において未だチェックされていないEIF
を探索する処理41と、この処理41で探索されたEI
Fに関して未だチェックされていないレジスタを探索す
る処理42と、この処理42で探索されたレジスタの未
だチェ、りされていない入力信号線を探索する処理43
と、この処理43で探索された人力信号線を逆方向に探
索する後述するレジスタ探索処理Bを起動する処理44
と、ステップ43で探索されたレジスタに未だチェック
されていない入力信号線が残っているか否かを判定する
処理45と、この処理45で未チェック入力信号線無し
と判定されたときに実行され、ステップ41で探索され
たEIFに関して未だチェックされていないレジスタが
残っているか否かを判定する処理46と、この処理46
で未チェックレジスタ無しと判定されたときに実行され
、パッケージ・レジスタ情報400中に未だチェックさ
れていないEIFが残っているか否かを判定する処理4
7とから構成され、処理45で未チェック入力信号線有
りと判定されたときはステップ43に戻ってその未チェ
ック人力信号線についての処理を行ない、処理46で未
チェックレジスタ有りと判定されたときは処理42に戻
ってその未チェックレジスタについての処理を行ない、
処理47で未チェックEIFありと判定されたときは処
理41に戻ってその未チェックEIFについて処理を行
なうように構成されている。
第6図は第5図のレジスフ探索処理B起動処理44によ
って起動されるレジスタ探索処理Bの−例を示す流れ図
であり、そのとき対象となっている入力信号線の出力元
を探索する処理51と、この処理51によって探索され
た出力元の部品がパッケージ・レジスタ抽出ルーチンR
2によって抽出されたレジスタと等しいレジスタか否か
を判定する処理52と、この処理52によってパッケー
ジ・レジスタ抽出ルーチンR2によって抽出されたレジ
スタ以外と判定されたときに実行され、その判定対象と
なった部品の情報を抽出する処理53と、この処理53
で抽出された情報からその部品の未チェック入力信号線
を探索する処理54と、この処理54で探索された入力
信号線について本レジスタ探索処理Bを再起動する処理
55と、処理55の終了後に処理53で抽出された情報
によりその部品に未だチェックされていない入力信号線
が残っているか否かを判定する処理56とから構成され
、処理52でパッケージ・レジスタ抽出ルーチンR2で
抽出されたレジスタと等しいレジスタと判定されたとき
は今回のレジスタ探索処理Bを終了し、処理56で未チ
ェック入力信号線有りと判定されたときは処理54に戻
ってその未チェック入力信号線についての処理を行なう
ように構成されている。
第7図は選択ルーチンR6の処理例を示す流れ図であり
、このルーチンR6は、パッケージ・レジスタ情報40
0あるいはパッ°ケージ情報500中に未だ処理されて
いないEIFがあるか否かを探索する処理61と、この
処理61で探索されたEIFについて未だ処理されてい
ないパッケージがあるか否かを探索する処理62と、こ
の処理62で探索されたパッケージが同−PIFに対応
して既に故障診断辞書600に登録されているか否かを
判定する処理63と、この処理63により未登録パッケ
ージと判定されたときに実行され、そのパッケージを故
障診断辞書に登録する処理64と、この処理64の後あ
るいは処理63で登録済パッケージと判定されたときに
実行され、処理61で探索されたEIFについて未だ処
理されていないパッケージが残っているか否かを判定す
る処理65と、この処理65で未処理パッケージ無しと
判定されたときに実行され、未だ処理されていない他の
EIFがあるか否かを判定する処理66とで構成され、
処理65で未処理パッケージ有りと判定されたときは処
理62に戻って楚のみ処理パッケージについて処理を行
ない、処理66で未処理EIF有りと判定されたときは
処理61に戻ってその未処理EIFについて処理を行な
うように構成されている。
第8図は論理装置の一部分を示すブロック図であり、二
つのパッケージX、Yとから構成されている。パッケー
ジXは、入力RAILと出力RAOIとを有するレジス
タRA、入力RBIIと出力RBOIとを有するレジス
タRB、入力Ca1lと出力Ca1lとを存するチェッ
ク回路Ca、入力Hallと出力Earlとを有するE
IFEa、出力端子XOIを含み、パッケージYは、入
力端子Yll 、入力RCIIと出力RCOIとを有す
るレジスタRC,入力RD[1と出力RDOIとを有す
るレジスタRD、入力Cb[1と出力Cb01とををす
るチェック回路cb、入力Ca1lと出力Ce1lとを
有するチェック回路Cc、入力Eb11と出力EbO1
とを有するE I FEb。
入力Ecllと出力Ec01とを有するEIFEcを含
んでいる。そして、その接続関係は、パッケージXの出
力端子XOIがパッケージYの入力端子Y11に接続さ
れ、パッケージX内においては、レジスタRAの出力R
AOIがチェック回路Caの入力Ca1lとレジスタR
Bの入力RBIIに接続され、チェック回路Caの出力
Ca1lがEIFEaの入力Ea11に接続され、レジ
スタRBの出力11BOIがパッケージXの出力端子X
OIに接続されている。また、パッケージY内において
は、入力端子YllがレジスタRCの入力RC11に接
続され、レジスタRCの出力11COIがチェックcb
の入力Cb、+1とレジスタR[lの入力11[111
に接続され、チェック回路cbの出力cbotがEIF
[!bの入力Eb[1に接続され、レジスタRDの出力
R001がチェック回路Ccの入力Ccrlに接続され
、チェック回路Ccの出力CcO1がEIFEcの入力
E+jlに接続されている。
第8図に示したような構成の論理装置に関する故障診断
辞書を作成しようとする場合、部品の入出力構成情報3
00としては例えば第9図に示すような内容を、部品量
接続情報としては例えば第1O図に示すような内容を、
パッケージ間接続情報としては例えば第11図に示すよ
うな内容をそれぞれファイル装置73に格納しておく。
即ち、部品の入出力構成情報300としては、第9図に
示すように、各パッケージX、Yにどのような部品が含
まれているか、その部品はどのような機能の部品か(同
図ではレジスタはREG、チェック回路はCHK、 E
 I Fはf!IF、端子はEXTで示している)、そ
して各部品は幾つの入力と幾つの出力とを有しているか
(本実施例では説明の便宜上各部品は一つの入力と一つ
の出力を有するものとしている)についての情報が設定
される。また、部品量接続情報としては、第10図に示
すように、各パッケージX、Y内において、各部品間が
どのように接続されているかの情報が設定され、パッケ
ージ間接続情報としては第11図に示すようにパッケー
ジXとパッケージYとの接続関係が設定されている。
次に、第9図乃至第10図に示される設計情報に基づい
て、第8図のブロック図で示される論理装置の一部分に
関する故障診断辞書600の一部分を作成する場合を例
にして本実施例の動作を説明する。
第2図において、入出力装置71から故障診断辞書の作
成指示が入力されると、中央処理装置70は先ずパッケ
ージ・レジスタ抽出ルーチンR2を実行してパッケージ
・レジスタ情報400を生成し、その実行を終えると次
にパッケージ抽出ルーチンR4を実行してパッケージ情
報500を生成し、最後に選択ルーチンR6を実行する
。以下、場合を分けて説明する。
[パッケージ・レジスタ情報400の生成]パッケージ
・レジスタ抽出ルーチンR2が起動されると、第3図に
示すように、先ず未チェックEIF探索処理21によっ
てファイル装置73中の第9図に示す部品の入出力構成
惰@300から機能がEIFであるEIFEaが見つけ
られ、次のEIF未チェック入力信号線探索処理22に
よって部品の入力構成情報300からETFEaの入力
[!allが見つけられ、レジスタ探索処理A起動処理
23によって第4図のレジスタ探索処理Aが起動される
レジスタ探索処理Aが開始されると、第4図に示すよう
に入力信号線出力元探索処理31によって、ファイル装
置73の第1O図の部品量接続情報200からEIFE
aの入力Ba11の信号出力元としてチェック回路Ca
が見つけられ、レジスタ判定処理32によって部品の入
出力構成情報300からチェック回路Caはレジスタ以
外であると判定される。この判定の結果、次に部品情報
抽出処理33が実行され、部品の入出力構成情報300
からそのチェック回路Caが含まれるパッケージXがE
IFEaに対応するレジスタ以外のパッケージとして、
主記憶装置75の格納領域E1へ第12図に示すように
抽出される。
また、部品未チェック入力信号線探索処理35によって
、部品の入出力構成情報300からチェック回路Caの
入力Ca1lが見つけられ、レジスタ探索処理A起動処
理36によってレジスタ探索処理Aが再び起動される。
このとき起動されるレジスタ探索処理Aでは、先ず、そ
の人力信号線出力穴探索処理31によって、第1O図の
部品量接続情報200からチェック回路Caの入力Ca
1lの信号出力元としてレジスタRAが見つけられ、レ
ジスタ判定処理32によって、第9図の部品の入出力構
成情報300からレジスタRAはレジスタであると判定
され、レジスタ情報抽出処理34によって、部品の入出
力構成情報300からレジスタRAおよびレジスタRA
を含むパッケージXが、EIFEaに対応するレジスタ
およびパッケージとして、格納領域Elに第12図に示
すように抽出され、これで再起動されたレジスタ探索処
理Aが終了する。
再起動されたレジスタ探索処理Aが終了すると、第4図
の処理37に移り、この部品未チェック入力信号線判定
処理によって、部品の入出力構成情報300からチェッ
ク回路Caに対する未チェック入力信号線無しと判定さ
れ、これでレジスタ探索処理Aが終了し、第3図の処理
24が実行される。
この処理24は、処理21で探索された未チェックEI
F (今の場合EIFEa)について未だチェックされ
ていない人力信号線があるか否かを判定する処理であり
、EIF[!aは一つの入力しか持たないため、ここで
未チェック入力信号線無しと判定され、これでEIFE
aに対するパッケージ・レジスタの抽出処理が終了する
続いて、未チェックEIF判定処理25が実行され、部
品の入出力構成情報300から未チェックEIF有りと
判定され、未チェックEIF探索処理21によって部品
の入出力構成情!Ia300から機能がEIFである残
りのEIFEbが見つけられ、以下EIFEaと同様に
してE[FEbに対するパッケージ・レジスタ情報が抽
出されて第12図に示すように格納領域E1に格納され
、以下EIFEa、EIFEbと同様にして部品の入出
力構成情報300で機能がEIFである全てのEIFに
対するパッケージ・レジスタ情報が生成され、格納領域
E1に格納される。
[パッケージ情報500の生成] 第2図の中央処理装置70は上記パッケージ・レジスタ
情報400の生成終了後、第5図のパッケージ抽出ルー
チンR4を実行する。
このルーチンR4においては、先ず、未チェックEIF
探索処理41によって、第12図に示したパッケージ・
レジスタ情報400中から機能がEIFであるEIF[
Ebが見つけられ、EIF未チェックレジスタ探索処理
42によって第12図のパッケージ・レジスタ情報40
0から機能がレジスタであるレジスタRCが見つけられ
、レジスタ未チェック入力信号線探索処理43によって
、第9図の部品の入出力構成情報300からレジスタR
Cの入力PC11が見つけられ、レジスタ探索処理B起
動処理44によって第6図のレジスタ探索処理Bが起動
される。
レジスタ探索処理Bが起動されると、先ず、人力信号線
出力元探索処理51によって第1O図の部品量接続情報
200および第11図のパッケージ間接続情報100か
らレジスタRCの入力PC11はパッケージYの外部入
力用端子Y11に接続され、パッケージYの外部入力用
端子YIIはパッケージXの外部出力用端子XOIに接
続され、更にパッケージXの外部出力用端子XOIはレ
ジスタRBに接続されることにより、レジスタRCの入
力1?C[1の信号出力元としてレジスタRBが見つけ
られ、レジスタ判定処理52によって第12図のパッケ
ージ・レジスタ情報400からレジスタRBはパッケー
ジ・レジスタ抽出ルーチンR2により抽出されたレジス
タ以外であると判定される。従って、次には処理53が
実行され、この部品情報抽出処理53によって、第9図
の部品の入出力構成情報300からレジスタRBを含む
パッケージXが、E I F、Ebに対応するパッケー
ジとして抽出されて第13図に示すように格納領域E2
に格納される。そして、部品未チェック入力信号線探索
処理54によって、第9図の部品の入出力構成情報30
0からレジスタRBの入力RB11が見つけられ、レジ
スタ探索処理Bが再起動される。
この再起動されたレジスタ探索処理Bにおいては、先ず
入力信号出力元探索処理51によって第10図の部品量
接続情報200からレジスタRBの人力11811の信
号出力元としてレジスタR^が見つけられ、レジスタ判
定処理52によって格納領域E1に格納された第12図
に示すようなパッケージ・レジスタ情I[400からそ
のレジスタRAはパッケージ・レジスタ抽出ルーチンR
2によって抽出されたレジスタと判定され、この再起動
されたレジスタ探索処理B−PJ<終了し、レノスタ探
索処理B起動処理55直後の部品未チェック入力信号線
判定処理56の実行に移る。今の例では、レジスタRB
は一つの入力しか持たないので、処理56では部品の入
出力構成情報300からレジスタIIBに対する未チェ
ック人力信号無しと判定され、レジスタ探索処理Bが終
了し、第5図のレジスタ探索処理B起動処理44直後の
レジスタ未チェック入力信号線判定処理45の実行に移
る。
この処理45では、部品の入出力構成情報300からレ
ジスタIIcの未チェック人力信号線無しと判定され、
EIF未チェックレジスタ判定処理46によって第12
図のパッケージ・レジスタ抽出情報からEIFEbの未
チェンクレジスタ無しと判定され、E[FEbに対する
パッケージ情報の抽出処理がこれで終了する。
続いて、未チェックEIF判定処理47によって第12
図のパッケージ・レジスタ情報400から未チェックE
IF有りと判定され、未チェックEIF探索処理41に
よって第12図のパッケージ・レジスタ情報400から
i能がEIFであるEIFEcが見つけられ、以下EI
FEbと同様にして、ErFEcに対するパッケージ情
報が抽出されて格納領域E2に格納され、以下E I 
FEb、  E I FEcと同様にして全てのEIF
に対するパッケージ情報が抽出されて格納領域E2に格
納される。
[選択ルーチンR6による故障診断辞書の生成]中央処
理装置70はパッケージ抽出ルーチンR4の実行を終了
すると、次に選択ルーチンR6を実行し、以下のように
してパッケージ・レジスタ情報400とパッケージ情報
500とから故障診断辞書600を生成する。
選択ルーチンR6が実行されると、第7図に示すように
、先ず未処理EIF探索処理6Iによって、第12図の
パッケージ・レジスタ情報400からEIFl!bが見
つけられ、EIF未処理パッケージ探索処理62によっ
て第12図のパッケージ・レジスタ情報400からレジ
スタ以外のパッケージYが見つけられ、パッケージ判定
処理63によってパッケージYは故障診断辞書600に
未だ登録されていない未登録パッケージと判定される。
この結果、次のパッケージ登録処理64が実行され、E
TFEbにより障害発生が予測されるパッケージとして
パッケージYが第13図に示すように故障診断辞書60
0に登録される。
次に、EIF未処理パッケージ判定処理65が実行され
ると、第12図のEIFEbについてのレジスタRCを
含むパッケージYについての処理が残っているので未処
理パッケージ有りと判定され、次にEIF未処理パッケ
ージ探索処理62によって第12図のパッケージ・レジ
スタ情報400からレジスタRCを含むパッケージYが
見つけられ、パッケージ判定処理63によって、パッケ
ージYは第14図に既にEIFEbと対応して登録され
ているので、登録済パッケージと判定され、これで第1
2図のEIFEbについての処理が終わる。但し、第1
3図のEIFEbについたの処理が残っているので、次
のErF未処理パッケージ判定処理65によって未処理
パッケージ有りと判定され、EIF未処理パッケージ探
索処理62によって、第13図のパッケージ情報からパ
ッケージXが見つけられ、パッケージ判定処理63によ
ってパッケージXは未登録パッケージと判定され、パッ
ケージ登録処理64によってEIFl!bにより障害発
注が予測されるパッケージとしてパッケージXが第14
図に示すように故障診断辞書600に登録される。そし
て、次のEIF未処理パッケージ判定処理65によって
未処理パッケージ無しと判定されることから、EIFE
bに対する故障診断辞書の作成が終了する。
続いて、未処理EIF判定処理66が実行されると、未
処理EIF有りと判定され、未処理EIF探索処理61
によって、第12図のパッケージ・レジスタ情報400
からEIFEcが見つけられ、以下EIFEbと同様に
してEIFEcにより障害発生が予測されるパッケージ
が故障診断辞書600に登録され、E I FEb、 
 E r FEcと同様にして全てのE【Fに対し、各
々のEIFにより障害発生が予測されるパッケージが故
障診断辞書600に登録され、その登録終了により、論
理装置の故障診断辞書の作成が終了する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、論理装置の各パッケー
ジがどのように接続されているかを示すパッケージ間接
続情報、各パッケージ内にどのような入出力構成と機能
とを持った部品が含まれているかを示す部品の入出力構
成情報、および各パッケージ内の各部品がどのように接
続されているかを示す部品量接続情報を含む論理装置設
計情報を設計情報格納手段に格納しておき、パッケージ
・レジスタ抽出手段によって、上記論理装置設計情報に
基づいて、各EIFの入力信号線をレジスタが見つかる
まで逆方向に探索し、検出したレジスタと、そのレジス
タを含むパッケージと、そのレジスタを検出するまでに
通過した部品を含むパッケージとを抽出してパッケージ
・レジスタ情報を生成し、パッケージ抽出手段によって
、前記論理装置設計情報に基づいて、前記パッケージ・
レジスタ抽出手段で抽出された各レジスタの入力信号線
を逆方向に探索し、前記パッケージ・レジスタ抽出手段
で抽出された他のレジスタの一つと同一のレジスタが見
つかるまでに通過した部品を含むパッケージを抽出して
パッケージ情報を生成し、選択手段によって、一つのE
IFに対し前記パッケージ・レジスタ抽出手段で抽出さ
れたパッケージと、その一つのETFに対し前記パッケ
ージ・レジスタ抽出手段で抽出されたレジスタに関して
前記バフケージ抽出手段で抽出されたパッケージとの双
方のパッケージを、その一つのEIFにより障害発生が
予測されるパッケージとして選択する処理を、各EIF
に関して行なうことにより、故障診断辞書を自動的に作
成することができ、人手によって作成していたような検
出もれや誤検出を少なくすることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の機能ブロック図、第2図は本
発明の実施例のブロック図、第3図はパッケージ・レジ
スタ抽出ルーチンの処理例の流れ図、 第4図はレジスタ探索処理Aの処理例の流れ図、第5図
はパッケージ抽出ルーチンの処理例の流れ図、 第6図はレジスタ探索処理Bの処理例の流れ図、第7図
は選択ルーチンの処理例の流れ図、第8図は論理装置の
一部分を示すブロック図、第9図は部品の入出力構成情
報の一例を示す図、第10図は部品量接続情報の一例を
示す図、第11図はパッケージ間接続情報の一例を示す
図、第12図はパッケージ・レジスタ情報の一例を示す
図、 第13図はパッケージ情報の一例を示す図および、第1
4図は故障診断辞書の一部分の内容例を示す図である。 図において、l・・・設計情報格納手段、2・・・バフ
ケージ・レジスタ抽出手段、4・・・パッケージ抽出手
段、6・・・選択手段、70・・・中央処理装置、7L
・・・入出力装置、72・・・インタフェイス、73.
74・・・ファイル装置、75・・・主記憶装置、10
0・・・パッケージ間接続情報、200・・・部品量接
続情報、300・・・部品の入出力構成情報、400・
・・パッケージ・レジスタ情報、500・・・パッケー
ジ情報、600・・・故障診断辞書、El・・・パッケ
ージ・レジスタ情報400の格納領域、E2・・・パッ
ケージ情報500の格納領域。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 レジスタ、チェック回路および該チェック回路のエラー
    検出に応じてセットされるエラーインディケータフリッ
    プフロップを部品として搭載したパッケージを複数個有
    する論理装置において障害が発生したときにセットされ
    る前記エラーインディケータフリップフロップと障害の
    発生が予測されるパッケージとの対応情報を示す故障診
    断辞書を作成する方式において、 論理装置を構成する複数のパッケージ間の接続情報、各
    パッケージを構成する部品間の接続情報および各部品の
    入出力構成情報を含む論理装置設計情報を格納する設計
    情報格納手段と、 該設計情報格納手段の格納情報に従い、各エラーインデ
    ィケータフリップフロップの入力信号線をレジスタが見
    つかるまで逆方向に探索し、検出したレジスタと、該レ
    ジスタを含むパッケージと、前記レジスタを検出するま
    でに通過した部品を含むパッケージとを抽出するパッケ
    ージ・レジスタ抽出手段と、 前記設計情報格納手段の格納情報に従い、前記パッケー
    ジ・レジスタ抽出手段で抽出された各レジスタの入力信
    号線を逆方向に探索し、前記パッケージ・レジスタ抽出
    手段で他のエラーインディケータフリップフロップに関
    し抽出された他のレジスタの一つと同一のレジスタが見
    つかるまでに通過した部品を含むパッケージを抽出する
    パッケージ抽出手段と、 一つのエラーインディケータフリップフロップに対し前
    記パッケージ・レジスタ抽出手段で抽出されたパッケー
    ジと、前記一つのエラーインディケータフリップフロッ
    プに対し前記パッケージ・レジスタ抽出手段で抽出され
    たレジスタに関して前記パッケージ抽出手段で抽出され
    たパッケージとの双方のパッケージを、前記一つのエラ
    ーインディケータフリップフロップにより障害発生が予
    測されるパッケージとして選択する処理を、各エラーイ
    ンディケータフリップフロップに関して行なう選択手段
    とを含むことを特徴とする故障診断辞書作成方式。
JP61151222A 1986-06-27 1986-06-27 故障診断辞書作成方式 Pending JPS638836A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02216541A (ja) * 1989-02-17 1990-08-29 Hitachi Ltd 装置診断支援システムにおける故障辞書作成方法
JP2007280135A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Fuji Xerox Co Ltd 故障診断システム及び故障診断方法
JP2013041438A (ja) * 2011-08-17 2013-02-28 Nec Fielding Ltd ハードウェア障害被疑特定装置、ハードウェア障害被疑特定方法、及びプログラム

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2803926B1 (fr) * 2000-01-14 2002-04-05 Thomson Csf Sextant Procede de generation automatique de table de symboles d'un calculateur temps reel

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2232255A5 (ja) * 1973-05-28 1974-12-27 Honeywell Bull Soc Ind
DE3485560D1 (de) * 1983-10-17 1992-04-16 British Telecomm System zur testerzeugung fuer digitalschaltungen.

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02216541A (ja) * 1989-02-17 1990-08-29 Hitachi Ltd 装置診断支援システムにおける故障辞書作成方法
JP2007280135A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Fuji Xerox Co Ltd 故障診断システム及び故障診断方法
JP2013041438A (ja) * 2011-08-17 2013-02-28 Nec Fielding Ltd ハードウェア障害被疑特定装置、ハードウェア障害被疑特定方法、及びプログラム

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FR2600796B1 (fr) 1990-12-07

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