FR2600796A1 - Systeme de compilation du dictionnaire de diagnostic - Google Patents
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Abstract
L'INVENTION CONCERNE UN SYSTEME DE COMPILATION DU DICTIONNAIRE DE DIAGNOSTIC. CE SYSTEME COMPORTE UN MOYEN 1 DE MEMORISATION D'UNE INFORMATION DE CONCEPTION; CETTE INFORMATION COMPREND UNE INFORMATION 100 SUR LES CONNEXIONS ENTRE LES BLOCS, UNE INFORMATION 200 SUR LES CONNEXIONS ENTRE LES COMPOSANTS DE CHAQUE BLOC ET UNE INFORMATION 300 SUR LA STRUCTURE D'ENTREESORTIE; LE SYSTEME COMPORTE AUSSI UN MOYEN 2 D'EXTRACTION DE BLOC-REGISTRE PAR RECHERCHE EN AMONT, UN MOYEN 4 D'EXTRACTION DE BLOC PAR RECHERCHE EN AMONT, ET UN MOYEN DE SELECTION 6 POUR SELECTIONNER LE BLOC EXTRAIT PAR LE MOYEN 2 D'EXTRACTION DE BLOC-REGISTRE, AINSI QUE LE BLOC EXTRAIT PAR LE MOYEN 4 D'EXTRACTION DE BLOC. L'INVENTION S'APPLIQUE A LA COMPILATION AUTOMATIQUE D'UN DICTIONNAIRE DE DIAGNOSTIC, EN EVITANT LES ERREURS DE LA COMPILATION MANUELLE.
Description
Titre: SYSTEME DE COMPILATION DU DICTIONNAIRE DE
DIAGNOSTIC.
DIAGNOSTIC.
La présente invention se rapporte à un
système de compilation de dictionnaire ou régrtoire de diagnostic et,
de façon plus particulière, à un système pour compiler,
dans un ensemble logique comportant une pluralité de -blocs ayant chacun une pluralité d'éléments logiques
composants, un répertoire ou dictionnaire de diagnostic, pour identifier
les blocs dans lesquels on prévoit la survenance d'un
incident grâce à l'emploi, dans chaque bloc, d'une
bascule électronique indicatrice d'erreur, positionnée
en réponse à la survenance de l'incident.
système de compilation de dictionnaire ou régrtoire de diagnostic et,
de façon plus particulière, à un système pour compiler,
dans un ensemble logique comportant une pluralité de -blocs ayant chacun une pluralité d'éléments logiques
composants, un répertoire ou dictionnaire de diagnostic, pour identifier
les blocs dans lesquels on prévoit la survenance d'un
incident grâce à l'emploi, dans chaque bloc, d'une
bascule électronique indicatrice d'erreur, positionnée
en réponse à la survenance de l'incident.
Il existe une demande croissante pour accélérer
et faciliter la recherche d'un incident dans des
ensembles logiques tels qu'une unité centrale de trai
tement (CPU) ou un ensemble de commande d'entrée/sortie
(I/O) dans un système informatique.
et faciliter la recherche d'un incident dans des
ensembles logiques tels qu'une unité centrale de trai
tement (CPU) ou un ensemble de commande d'entrée/sortie
(I/O) dans un système informatique.
On peut répondre à cette demande en
prévoyant dans chacun de la pluralité des blocs consti
tuant un tel circuit logique, un registre, un circuit
de contrôle et ' une bascule électronique indicatrice
d'erreur (EIF) , qui se positionne lorsque ce circuit
de contrôle détecte une erreur. Dans ce circuit logique,
un signal chronométrique s'arrête en réponse à la surve
nance d'un incident et on détecte une bascule EIF à
l'état positionné. En accord avec la bascule EIF ainsi
détectée, on consulte un répertoire de diagnostic pour
identifier les blocs dans lesquels est survenu
l'incident. On remédie à l'incident en remplaçant les
blocs défectueux ainsi identifiés.
prévoyant dans chacun de la pluralité des blocs consti
tuant un tel circuit logique, un registre, un circuit
de contrôle et ' une bascule électronique indicatrice
d'erreur (EIF) , qui se positionne lorsque ce circuit
de contrôle détecte une erreur. Dans ce circuit logique,
un signal chronométrique s'arrête en réponse à la surve
nance d'un incident et on détecte une bascule EIF à
l'état positionné. En accord avec la bascule EIF ainsi
détectée, on consulte un répertoire de diagnostic pour
identifier les blocs dans lesquels est survenu
l'incident. On remédie à l'incident en remplaçant les
blocs défectueux ainsi identifiés.
Ce répertoire de diagnostic contient une
information qui permet de prédire les blocs défectueux
au moment du positionnement de la bascule EIF. Conven
nellement, on compile un répertoire de diagnostic en identifiant manuellement les blocs -dans lesquels peuvent survenir des incidents pouvant provoquer le positionnement de la bascule EIF. Pour tous détails de la technique de préparation de cette information de prédiction, on peut se référer à un article de Nandakumar
N, Tendolkar et ai, intitulé "Automat d
Diagnostic Methodology for the IBM 3081 Processor
Complex "(Méthodologie d'un diagnostic automatique pour l'ensemble processeur IBM 3081) publié dans IBM Journal of
Research and Development, Volume 26, No. 1, Janvier édition 1982, pages 78-88.
information qui permet de prédire les blocs défectueux
au moment du positionnement de la bascule EIF. Conven
nellement, on compile un répertoire de diagnostic en identifiant manuellement les blocs -dans lesquels peuvent survenir des incidents pouvant provoquer le positionnement de la bascule EIF. Pour tous détails de la technique de préparation de cette information de prédiction, on peut se référer à un article de Nandakumar
N, Tendolkar et ai, intitulé "Automat d
Diagnostic Methodology for the IBM 3081 Processor
Complex "(Méthodologie d'un diagnostic automatique pour l'ensemble processeur IBM 3081) publié dans IBM Journal of
Research and Development, Volume 26, No. 1, Janvier édition 1982, pages 78-88.
Toutefois, dans un système dans lequel on compile manuellement le répertoire de diagnostic, le risque de défaillances ou d'erreurs d'identification d'un incident grandit au fur et à mesure que la structure du circuit logique utilisé devient plus compliquée et plus importante, ce qui se traduit par la nécessité d'une plus longue période de temps pour préparer le répertoire.
Un but de l'invention est donc de proposer un système de compilation du répertoire de diagnostic pour éliminer les défaillances ou les erreurs, mentionnées précédemment, pour l'identification d'un incident, qui sont inévitables en compilation manuelle, et pour compiler le répertoire en une plus courte période de temps par un procédé-automatique.
Selon l'un des aspects de l'invention, on propose un système de compilation du répertoire de diagnostic pour un ensemble logique comportant une pluralité de blocs comprenant chacun parmi ses composants un registre, un circuit de contrôle et une bascule électronique indicatrice d'erreur (EIF) qui se positionne en réponse au fait que ce circuit de contrôle a détecté une erreur, système dans lequel est indiquée l'information concernant la correspondance entre la bascule
EIF positionnée en réponse à la survenance d'un incident et les blocs dans lesquels on prédit la survenance de cet incident.Le système de compilation comporte: un moyen de mémorisation de l'information de conception pour mémoriser l'information de conception concernant l'ensemble logique, incluant l'information concernant les connexions entre la pluralité de blocs constituants l'ensemble logique, celle concernant les connexions entre les composants constituants chaque bloc et celle concernant la structure d'entrée/sortie de chaque composant; un moyen d'extraction de bloc/de registre pour extraire un registre détecté en recherchant en amont, sur la base de l'information mémorisée dans ce moyen de mémorisation de l'information de la conception, le long de la ligne de signal d'entrée de chaque bascule EIF, pour extraire le bloc contenant ce registre et pour extraire le bloc par lequel on est passé avant de détecter ledit registre;;
un moyen d'extraction de registre pour chercher en amont, sur la base de l'information mémorisée dans le moyen de mémorisation de l'information de conception, le long de chaque ligne de signal d'entrée du registre extrait par le moyen d'extraction de bloc/ de registre et pour extraire le bloc contenant les composants par lesquels on est passé avant de détecter un registre auquel est assigné le même code ou numéro qu'à l'un des registres autre que celui qui a été extrait par le moyen d'extraction de bloc/de registre concernant d'autres bascules EIF que la bascule EIF extraite par le moyen d'extraction de bloc/de r e gistre;; et un moyen de sélection pour sélectionner#, en tant que bloc dans lequel la survenance d'un incident est prédite par une bascule EIF donnée, le bloc extrait par le moyen d'extraction de bloc/de registre correspondant à la bascule EIF donnée et le bloc extrait par le moyen d'extraction de bloc concernant le registre extrait par le moyen d'extraction de bloc/de registre correspondant à la bascule EIF donnée.
EIF positionnée en réponse à la survenance d'un incident et les blocs dans lesquels on prédit la survenance de cet incident.Le système de compilation comporte: un moyen de mémorisation de l'information de conception pour mémoriser l'information de conception concernant l'ensemble logique, incluant l'information concernant les connexions entre la pluralité de blocs constituants l'ensemble logique, celle concernant les connexions entre les composants constituants chaque bloc et celle concernant la structure d'entrée/sortie de chaque composant; un moyen d'extraction de bloc/de registre pour extraire un registre détecté en recherchant en amont, sur la base de l'information mémorisée dans ce moyen de mémorisation de l'information de la conception, le long de la ligne de signal d'entrée de chaque bascule EIF, pour extraire le bloc contenant ce registre et pour extraire le bloc par lequel on est passé avant de détecter ledit registre;;
un moyen d'extraction de registre pour chercher en amont, sur la base de l'information mémorisée dans le moyen de mémorisation de l'information de conception, le long de chaque ligne de signal d'entrée du registre extrait par le moyen d'extraction de bloc/ de registre et pour extraire le bloc contenant les composants par lesquels on est passé avant de détecter un registre auquel est assigné le même code ou numéro qu'à l'un des registres autre que celui qui a été extrait par le moyen d'extraction de bloc/de registre concernant d'autres bascules EIF que la bascule EIF extraite par le moyen d'extraction de bloc/de r e gistre;; et un moyen de sélection pour sélectionner#, en tant que bloc dans lequel la survenance d'un incident est prédite par une bascule EIF donnée, le bloc extrait par le moyen d'extraction de bloc/de registre correspondant à la bascule EIF donnée et le bloc extrait par le moyen d'extraction de bloc concernant le registre extrait par le moyen d'extraction de bloc/de registre correspondant à la bascule EIF donnée.
D'autres buts, caractéristiques et avantages de l'invention apparaitront mieux pris en liaison avec la description détaillée ci-dessous dans laquelle
- la figure 1 est un diagramme fonctionnel par blocs d'une réalisation préférée de l'invention;
- la figure 2 est un diagramme par blocs montrant le matériel informatique de construction de ce mode de réalisation
- la figure 3 est un organigramme de la structure d'une routine d'extraction de bloc/de registre
R2 représentée sur la figure 2;
- la figure 4 est un organigramme de la structure du traitement de recherche de registre A auquel se réfère la figure 3;
- la figure 5 est un organigramme de la structure d'une routine d'extraction de bloc/de registre
R4 à laquelle se réfère la figure 2;
- la figure 6 est un organigramme de la structure d'un traitement de recherche de registre B représenté sur la figure 5; ;
- la figure 7 est un organigramme de la structure d'une routine d'extraction de bloc - registre
R6 représentée sur la figure 2; - la figure 8 est un diagramme par blocs d'une partie d'un ensemble logique pour lequel il faut faire une recherche d'incident;
- la figure 9 est un tableau montrant un exemple de l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants représentés sur la figure 1;
- la figure 10 est un tableau d'un exemple de l'information 200 concernant les connexions entre composants présentée sur la figure 1;
- la figure 11 est un tableau montrant un exemple de l'information 100 concernant les connexions entre blocs représentée sur la figure 1;
- la figure 12 est un tableau montrant un exemple de l'information concernant les blocs/les registres représentée sur la figure 1;;
- la figure 13 est un tableau d'un exemple de l'information 500 concernant les blocs représentée sur la figure 1; et
- la figure 14 est un tableau montrant un exemple du contenu partiel d'un répertoire de diagnostic 600 représenté sur la figure 1.
- la figure 1 est un diagramme fonctionnel par blocs d'une réalisation préférée de l'invention;
- la figure 2 est un diagramme par blocs montrant le matériel informatique de construction de ce mode de réalisation
- la figure 3 est un organigramme de la structure d'une routine d'extraction de bloc/de registre
R2 représentée sur la figure 2;
- la figure 4 est un organigramme de la structure du traitement de recherche de registre A auquel se réfère la figure 3;
- la figure 5 est un organigramme de la structure d'une routine d'extraction de bloc/de registre
R4 à laquelle se réfère la figure 2;
- la figure 6 est un organigramme de la structure d'un traitement de recherche de registre B représenté sur la figure 5; ;
- la figure 7 est un organigramme de la structure d'une routine d'extraction de bloc - registre
R6 représentée sur la figure 2; - la figure 8 est un diagramme par blocs d'une partie d'un ensemble logique pour lequel il faut faire une recherche d'incident;
- la figure 9 est un tableau montrant un exemple de l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants représentés sur la figure 1;
- la figure 10 est un tableau d'un exemple de l'information 200 concernant les connexions entre composants présentée sur la figure 1;
- la figure 11 est un tableau montrant un exemple de l'information 100 concernant les connexions entre blocs représentée sur la figure 1;
- la figure 12 est un tableau montrant un exemple de l'information concernant les blocs/les registres représentée sur la figure 1;;
- la figure 13 est un tableau d'un exemple de l'information 500 concernant les blocs représentée sur la figure 1; et
- la figure 14 est un tableau montrant un exemple du contenu partiel d'un répertoire de diagnostic 600 représenté sur la figure 1.
Sur les dessins les mêmes numéros de référence représentent respectivement les mêmes éléments de structure.
On va tout d'abord décrire en détail, en se référant à la figure 8, la structure d'une unité logique que suppose l'invention et pour laquelle il faut faire une recherche d'incident.
En se référant à la figure 8, des circuits de contrôle Ca, Cb et Cc pour positionner des bascules électroniques indicatrices d'erreur (EIF) Ea, - Eb et
Ec, respectivement, sont de façon générale connectés aux bornes de sortie RAVI, RCOî et RDOI des registres
RA, RC et RD, respectivement. Comme exemple de circuits de contrôle, on peut se référer à des circuits de contrôle de parité.
Ec, respectivement, sont de façon générale connectés aux bornes de sortie RAVI, RCOî et RDOI des registres
RA, RC et RD, respectivement. Comme exemple de circuits de contrôle, on peut se référer à des circuits de contrôle de parité.
Supposons maintenant que le registre RC soit identifié par une recherche en amont, le long de la ligne de signal d'entrée de la bascule EIF(Eb) positionnée par le circuit de contrôle Cb. Du fait que la bascule EIF (Eb) sera positionnée s'il se produit un
incident dans le registre RC ou dans un autre composant
se trouvant sur le chemin; ce qui contient les registres
RC et les composants qui se trouvent sur le chemin
constitue un bloc dans lequel tout incident serait prédit
par la bascule EIF (Eb)-Ceci constitue le bloc qui doit
être extrait par le moyen d'extraction de bloc/de
registre (auquel on se réfère ci-dessous sous le nom
de "PR") et qui sera décrit ci-dessous en détail.De
même, pour la bascule EIF(Ea),ce qui contient le registre
RA et les composants qui se trouvent sur le chemin
constitue un bloc dans lequel tout incident sera prédit
par la bascule EIF(Ea) et qui sera extrait par le moyen
d'extraction PR.
incident dans le registre RC ou dans un autre composant
se trouvant sur le chemin; ce qui contient les registres
RC et les composants qui se trouvent sur le chemin
constitue un bloc dans lequel tout incident serait prédit
par la bascule EIF (Eb)-Ceci constitue le bloc qui doit
être extrait par le moyen d'extraction de bloc/de
registre (auquel on se réfère ci-dessous sous le nom
de "PR") et qui sera décrit ci-dessous en détail.De
même, pour la bascule EIF(Ea),ce qui contient le registre
RA et les composants qui se trouvent sur le chemin
constitue un bloc dans lequel tout incident sera prédit
par la bascule EIF(Ea) et qui sera extrait par le moyen
d'extraction PR.
D'un autre côté, un bloc X contenant des
composants qui ne sont pas extraits par le moyen
d'extraction PR, tel qu'un registre RB, constitue éga
lement un bloc dans lequel- tout incident sera prédit
par la bascule EIF ( Eb). Un tel bloc peut être extrait
en tant que bloc contenant des composants qui appa
raissent sur le chemin avant que ce chemin ne rencontre
le registre RA extrait par le moyen d'extraction PR
correspondant à une autre bascule EIF, la bascule EIF (Ea), lorsque la recherche se fait en amont à partir du
registre RC, extrait par le moyen d'extraction PR, le
long de la ligne de signal d'entrée. Cette extraction
se fait par le moyen d'extraction de bloc qui sera
décrit ci-dessous en détail.
composants qui ne sont pas extraits par le moyen
d'extraction PR, tel qu'un registre RB, constitue éga
lement un bloc dans lequel- tout incident sera prédit
par la bascule EIF ( Eb). Un tel bloc peut être extrait
en tant que bloc contenant des composants qui appa
raissent sur le chemin avant que ce chemin ne rencontre
le registre RA extrait par le moyen d'extraction PR
correspondant à une autre bascule EIF, la bascule EIF (Ea), lorsque la recherche se fait en amont à partir du
registre RC, extrait par le moyen d'extraction PR, le
long de la ligne de signal d'entrée. Cette extraction
se fait par le moyen d'extraction de bloc qui sera
décrit ci-dessous en détail.
Le moyen de sélection sélectionne le bloc
extrait par le moyen d'extraction PR et celui extrait
par le moyen d'extraction de bloc et les inscrit ensemble
dans le répertoire de diagnostic comme étant les blocs
dans lesquels la survenance d'un incident est prédite
par la bascule EIF en question.
extrait par le moyen d'extraction PR et celui extrait
par le moyen d'extraction de bloc et les inscrit ensemble
dans le répertoire de diagnostic comme étant les blocs
dans lesquels la survenance d'un incident est prédite
par la bascule EIF en question.
On va maintenant décrire en détail une
réalisation de l'invention.
réalisation de l'invention.
En se reportant à la figure 1, Cette realisation du système de l'invention est équipée du moyen 1 de mémorisation de l'information concernant la conception pour mémoriser l'information concernant la conception de l'ensemble logique, cette information comprenant l1information 100 concernant les connexions entre blocs, l'information 200 concernant les connexions entre composants et l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants.Le moyen 2 d'extraction PR cherche en amont, sur la base de l'information mémorisée dans le moyen 1 de mémorisation de l'information concernant la conception, le long de la ligne de signal d'entrée de chaque bascule EIF, dans l'information concernant la conception de l'ensemble logique, jusqu'à ce qu'un registre soit détecté ; ou obtient l'information PR 400 de bloc-registre en extrayant le registre détecté, le bloc comprenant ce registre et un autre bloc comprenant les composants par lesquels on est passé avant que le registre soit détecté.Le moyen 4 d'extraction de bloc cherche en amont, sur la base de l'information mémorisée dans le moyen 1 de mémorisation de l'information concernant la conception, le long de la ligne de signal d'entrée et de chaque registre contenu dans l'information PR 400 extraite par le moyen 2 d'extraction PRI on obtient l'information 500 concernant le bloc ,en extrayant le bloc contenant les composants par lesquels on est passé avant que l'on ait détecté que le même registre était l'un des autres registres contenus dans l'information
PR 400 extraite par le moyen 2 d'extraction PR. le moyen de sélection 6 exécute, pour chaque bascule EIF, le traitement consistant à sélectionner, en tant que blocs dans lesquels la survenance d'un incident est prédite par une bascule EIF donnée, à la fois le bloc extrait par le moyen d'extraction 2 correspondant à cette bascule
EIF et le bloc extrait par le moyen 4 d'extraction de bloc concernant le registre extrait par le moyen d'extraction 2 correspondant à cette bascule EIF;ilexécute aussi le. traitement consistant à inscrire dans un répertoire de diagnostic 600 les blocs sélectionnés.
PR 400 extraite par le moyen 2 d'extraction PR. le moyen de sélection 6 exécute, pour chaque bascule EIF, le traitement consistant à sélectionner, en tant que blocs dans lesquels la survenance d'un incident est prédite par une bascule EIF donnée, à la fois le bloc extrait par le moyen d'extraction 2 correspondant à cette bascule
EIF et le bloc extrait par le moyen 4 d'extraction de bloc concernant le registre extrait par le moyen d'extraction 2 correspondant à cette bascule EIF;ilexécute aussi le. traitement consistant à inscrire dans un répertoire de diagnostic 600 les blocs sélectionnés.
En se reportant maintenant à la figure 2, le matériel informatique auquel la réalisation de l'invention peut s'appliquer comporte une unité centrale de traitement (CPU) 70, une unité d'entrée/sortie 71, un interface 72, une unité de fichiers 73 pour mémoriser l'information concernant la conception de l'ensemble logique, une autre unité de fichiers 74 pour mémoriser le répertoire de diagnostic 600 et une unité principale de mémoire 75.Cette unité principale de mémoire 75 comporte une routine d'extraction R2 de moyen 2 d'extraction
PR pour réalier le moyen d'extraction de groupe/registre 2, une routine d'extraction de groupe R4 pour réaliser le moyen d'extraction de groupe 4, une routine de sélection R6 pour réaliser le moyen de sélection 6, une zone El pour mémoriser l'information 400 ainsi que d'autres programmes de contrôle et une autre
zone E2 pour mémoriser l'information 500
concernant le groupe.
PR pour réalier le moyen d'extraction de groupe/registre 2, une routine d'extraction de groupe R4 pour réaliser le moyen d'extraction de groupe 4, une routine de sélection R6 pour réaliser le moyen de sélection 6, une zone El pour mémoriser l'information 400 ainsi que d'autres programmes de contrôle et une autre
zone E2 pour mémoriser l'information 500
concernant le groupe.
Avant de décrire le fonctionnement de la réalisation de l'invention avec ce matériel informatique, on va décrire en détail la structure partielle d'un ensemble logique qui doit faire l'objet d'une recherche d'incident.
En se reportant à nouveau à la figure 8, une partie de l'ensemble logique est constituée de deux groupes X et Y. Le groupe X comporte un registre
RA présentant une entrée RAI1 et une sortie RAOl, un registre RB présentant une entrée RBI1 et une sortie RBOI, un circuit de contrôle Ca présentant une entrée Cail et une sortie Cool, une bascule EIF Ea présentant une entrée EaIl et une sortie EaOl1 et une borne de sortie XOl ; le groupe Y comporte une borne d' entrée YII, un registre RC présentant une entrée RCIl et une sortie RC01, un registre RD présentant une entrée RDI1 et une sortie RDO1, un circuit de contrôle Cb présentant une entrée CbIl et une sortie CbO1, un circuit de contrôle
Cc présentant une entrée GcIl et une sortie CcOl, une bascule EIF(Eb) présentant une entrée EbI1 et une sortie
EbOl et une bascule EIF (Ec) présentant une entrée EcI1 et une sortie EcOl.En ce qui concerne leurs connexions, la borne de sortie X01 du groupe X est reliée à la borne d'entrée YI1 du groupe Y; dans le groupe X, la sortie
RAO1 du registre RA est reliée à l'entrée Caîl du circuit de contrôle Ca et à l'entrée RBI1 du registre RB, la sortie CaOi du circuit de contrôle Ca est reliée à l'entrée EaIl de la bascule EIF < Ea), et la sortie RBO1 du registre RB est reliée à la borne de sortie XOl du groupe X.Dans le groupe Y, la borne d'entrée YI1 est reliée à l'entrée RCT1 du registre RC, la sortie RCO1 du registre RC est reliée à l'entrée CbIl du circuit de contrôle Cb et à l'entrée RDI1 du registre RD, la sortie CbOl du circuit de contrôle Cb est reliée à l'entrée Evîl de la bascule EIF Eb, la sortie RDO1 du registre RD est reliée à l'entrée CcIl du circuit de contrôle Cc, et la sortie CcOl du circuit de contrôle
Cc est reliée à l'entrée Ecil de la bascule EIF(Ec).
RA présentant une entrée RAI1 et une sortie RAOl, un registre RB présentant une entrée RBI1 et une sortie RBOI, un circuit de contrôle Ca présentant une entrée Cail et une sortie Cool, une bascule EIF Ea présentant une entrée EaIl et une sortie EaOl1 et une borne de sortie XOl ; le groupe Y comporte une borne d' entrée YII, un registre RC présentant une entrée RCIl et une sortie RC01, un registre RD présentant une entrée RDI1 et une sortie RDO1, un circuit de contrôle Cb présentant une entrée CbIl et une sortie CbO1, un circuit de contrôle
Cc présentant une entrée GcIl et une sortie CcOl, une bascule EIF(Eb) présentant une entrée EbI1 et une sortie
EbOl et une bascule EIF (Ec) présentant une entrée EcI1 et une sortie EcOl.En ce qui concerne leurs connexions, la borne de sortie X01 du groupe X est reliée à la borne d'entrée YI1 du groupe Y; dans le groupe X, la sortie
RAO1 du registre RA est reliée à l'entrée Caîl du circuit de contrôle Ca et à l'entrée RBI1 du registre RB, la sortie CaOi du circuit de contrôle Ca est reliée à l'entrée EaIl de la bascule EIF < Ea), et la sortie RBO1 du registre RB est reliée à la borne de sortie XOl du groupe X.Dans le groupe Y, la borne d'entrée YI1 est reliée à l'entrée RCT1 du registre RC, la sortie RCO1 du registre RC est reliée à l'entrée CbIl du circuit de contrôle Cb et à l'entrée RDI1 du registre RD, la sortie CbOl du circuit de contrôle Cb est reliée à l'entrée Evîl de la bascule EIF Eb, la sortie RDO1 du registre RD est reliée à l'entrée CcIl du circuit de contrôle Cc, et la sortie CcOl du circuit de contrôle
Cc est reliée à l'entrée Ecil de la bascule EIF(Ec).
Lorsqu'il faut compiler un répertoire de diagnostic concernant un ensemble logique structuré comme représenté sur la figure 8, on mémorise dans l'unité de fichier 73 les contenus représentés sur la figure 9, c'est par exemple l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants, ceux représentés sur la figure 10, par exemple, comme l " nformation concernant les connexions entre composants et ceux représentés sur la figure 11, par exe#mple
comme information concernant les connexions entre groupes.Par conséquent, pour l'information 300, on définit des éléments d'information, comme représenté sur la figure 9, pour déterminer quels composants sont contenus dans les blocs X et Y, quelles fonctions ont les composants (sur la figure, un registre est représenté par REG, un circuit de contrôle par CHK, une bascule EIF par EIF, et une borne par EXT), et combien d'entrées et combien de sorties présentent chaque composant (dans cette réalisation, chaque composant est supposé avoir une entrée et une sortie pour la commodité de la description).Pour l'information concernant les connexions entre composants, comme représenté sur la figure 10, on définit des éléments d'information pour i déterminer, combien de composants individuels sont connectés l'un à l'autre dans les blocs
X et Y ; pour l'information concernant les connexions entre blocs, comme représenté sur la figure 11, on définit les relations de connexions entre blocs X et le bloc Y.
comme information concernant les connexions entre groupes.Par conséquent, pour l'information 300, on définit des éléments d'information, comme représenté sur la figure 9, pour déterminer quels composants sont contenus dans les blocs X et Y, quelles fonctions ont les composants (sur la figure, un registre est représenté par REG, un circuit de contrôle par CHK, une bascule EIF par EIF, et une borne par EXT), et combien d'entrées et combien de sorties présentent chaque composant (dans cette réalisation, chaque composant est supposé avoir une entrée et une sortie pour la commodité de la description).Pour l'information concernant les connexions entre composants, comme représenté sur la figure 10, on définit des éléments d'information pour i déterminer, combien de composants individuels sont connectés l'un à l'autre dans les blocs
X et Y ; pour l'information concernant les connexions entre blocs, comme représenté sur la figure 11, on définit les relations de connexions entre blocs X et le bloc Y.
On va maintenant décrire le fonctionnement de cette réalisation en se référant à un cas dans lequel il faut compiler, sur la base de l'information concernant la conception représentée sur les figures 9, 10 et 11, une partie du répertoire de di-agnostic 600 concernant une partie de l'ensemble logique illustré sur le diagramme par blocs de la figure 8.
En se reportant maintenant à la figure 2, en réponse à une instruction, provenant de l'unité d'entrée/sortie 71, pourcompiler un répertoire de diagnostic, l'unité centrale de traitement CPU 70 exécute tout d'abord la routine d'extraction R2 pour générer l'information PR 400. Une fois terminée l'exécution de cette routine R2, l'unité centrale de traitement CPU 70 génère l'information 500 concernant les groupes en exécutant la routine d'extraction de groupe R4 et~exécute finalement la routine de sélection
R6. On va décrire ci-dessous la procédure pour chaque cas.
R6. On va décrire ci-dessous la procédure pour chaque cas.
Génération de l'information PR 400
En se reportant aux figures 1, 2, 3, 4, 9, 10 et 12, en réponse à l'exécution de la routine
R2 d'extraction PR, on recherche une bascule EIF non contrôlée dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants
ltétape 21 du traitement de recherche de la bascule EIF non contrôlée. Par conséquent, on trouve la bascule
EIF (Ea) dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie qui se trouve dans l'unité de fichiers 73. Puis, àl'étape 22 du traitement de recherche de la ligne de signal d'entrée non vérifiée des bascules EIF, on identifie une ligne de signal non vérifiée de la bascule non contrôlée EIF Ea, trouvée àl'étape 21.Par conséquent, on trouve dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants une ligne de signal reliée à l'entrée EaI1 de la bascule EIF(Eal.
En se reportant aux figures 1, 2, 3, 4, 9, 10 et 12, en réponse à l'exécution de la routine
R2 d'extraction PR, on recherche une bascule EIF non contrôlée dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants
ltétape 21 du traitement de recherche de la bascule EIF non contrôlée. Par conséquent, on trouve la bascule
EIF (Ea) dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie qui se trouve dans l'unité de fichiers 73. Puis, àl'étape 22 du traitement de recherche de la ligne de signal d'entrée non vérifiée des bascules EIF, on identifie une ligne de signal non vérifiée de la bascule non contrôlée EIF Ea, trouvée àl'étape 21.Par conséquent, on trouve dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants une ligne de signal reliée à l'entrée EaI1 de la bascule EIF(Eal.
Puis, à'étape 23 du traitement d'activation du traitement de recherche d'un registre A, un traitement de recherche d'un registre A représenté sur la figure 4 est activé pour continuer la recherche le long de la ligne de signal d'entrée identifiée à'étape 22, jusqu'à ce que l'on trouve un registre.
En réponse au démarrage du traitement de recherche d'un registre A, on recherche la source d'émission de la ligne de signal d'entrée connectée à l'entrée EaI1 de la bascule EIF(Ea) àI'étape 31 du traitement de recherche de la source de sortie de la ligne de signal d'entrée. Al'étape 31, on trouve, dans l'information 200 qui concerne les connexions entre composants et qui se trouve dans l'unité de fichers 73, que le circuit de contrôle Ca est la source d'émission du signal.
Puis, à l'étape 32 du traitement de détermination concernant bes registres, on détermine si, oui ou non, le composant trouvé au pas 31, c'est-à-dire le circuit de contrôle Ca, est un registre. Comme on détermine que le circuit de contrôle Ca n'est pas un registre, on extrait l'information concernant ce composant, àl'étape 33 du traitement d'extraction de l1infor- mation concernant les composants. Par conséquent, on extrait de l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants le groupe X, qui contient le circuit de contrôle Ca, pour le mettre dans la zone de mémoire El de l'unité principale de mémoire 75 en tant que bloc différent du bloc contenant le registre correspondant à la bascule EIF Ea.
Puis, val'étape 35 du traitement de recherche de la ligne de signal d'entrée non contrôlée du composant, on recherche s'il y a accord entre la ligne de signal d'entrée non contrôlée du composant et l'information concernant le composant, extraite val'étape 33.
Lors de cette recherche, on trouve l'entrée Cail du circuit de contrôle Ca dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants.
Puis, à'étape 36 du traitement d'activation du traitement de recherche des registres A, on réactive le traitement de recherche des registres A pour le faire chercher en amont, le.long de la ligne de signal d'entrée recherchée à l'étape 35.
Dans le traitement de recherche des registres A ainsi réactivé, on trouve d'abrd que le registre RA correspondant à l'information 200 concernant les connexions entre composants, de la figure 10, est la source d'émission du signal pour l'entrée Cail du circuit de contrôle Ca, à l'étape 31 du traitement de recherche de la source d'émission de la ligne de signal d'entrée.
Puis, àl'étape 32, on détermine que le registre Ra est un registre à partir de l'information 300 cancernant la structure d'entrée/sortie des composants, de la figure 9 ; à#) 'étape 34 du traitement d'extraction de l'information concernant les registres, on extrait, dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/ sortie des composants, le registre RA et le bloc X contenant le registre RA, pour les mettre dans la zone de mémoire El, comme représenté sur la figure 12, en tant que registre et bloc correspondant à la bascule EIF ( Ea )~Le Le traitement A de recherche des registres, réactivé, est ainsi terminé.
En réponse à l'achèvement de ce traitement
A, on détermine b l'étape 37 si, oui ou non, l'entrée du composant identifiée a l'étape 35 présente une ligne de signal d'entrée encore non contrôlé . A partir de l'information 300 concernant la structure d'entrée/ sortie des composants, on décide alors que le circuit de contrôle Ca ne présente plus de ligne de signal d'entrée non contrôlée. Le traitement A de recherche des registres est alors achevé et l'étape 24 de la figure 3 est exécuté.
A, on détermine b l'étape 37 si, oui ou non, l'entrée du composant identifiée a l'étape 35 présente une ligne de signal d'entrée encore non contrôlé . A partir de l'information 300 concernant la structure d'entrée/ sortie des composants, on décide alors que le circuit de contrôle Ca ne présente plus de ligne de signal d'entrée non contrôlée. Le traitement A de recherche des registres est alors achevé et l'étape 24 de la figure 3 est exécuté.
Cetteé,ape24 a pour but de déterminer Si, oui ou non, la bascule EIF non contrôlée que l'on a recherchée àl'étape 21 (dans le cas présent, la bascule
EIF Ea présente une ligne de signal d'entrée encore non contrôlée Du fait que la bascule EIF(Ea) n' a qu'une seule entrée, on détermine ici qu'elle n'a pas de ligne de signal d'entrée non contrôlée et on achève ainsi le traitement d'extraction PR pour la bascule EIF (Ea).
EIF Ea présente une ligne de signal d'entrée encore non contrôlée Du fait que la bascule EIF(Ea) n' a qu'une seule entrée, on détermine ici qu'elle n'a pas de ligne de signal d'entrée non contrôlée et on achève ainsi le traitement d'extraction PR pour la bascule EIF (Ea).
Puis, à l'étape 25 du traitement de détermination concernant une bascule EIF non contrôlée, on détermine si, oui ou non, il subsiste une bascule EIF non contrôlée dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants ; à partir de
l'information 300, on décide qu'il subsiste une bascule
EIF non contrôlée. Cette décision se traduit par un
retour à l 'étape21 pour rechercher cette bascule EIF non
contrôlée et la recherche détecte, dans l'information
300 concernant la structure, la bascule EIF (Eb) qui
subsiste.
l'information 300, on décide qu'il subsiste une bascule
EIF non contrôlée. Cette décision se traduit par un
retour à l 'étape21 pour rechercher cette bascule EIF non
contrôlée et la recherche détecte, dans l'information
300 concernant la structure, la bascule EIF (Eb) qui
subsiste.
Maintenant, de la même façon que pour la
bascule EIF Ea, on extrait une information PR pour la bascule EIF (Eb) et on la
mémorise dans la zone de mémoire El comme représenté
sur la figure 2 ; de la même façon que pour les
bascules EIF (Ea)et Eb, l'information PR pour chaque bascule EIF dont la fonction
est d'indiquer une erreur, est générée dans l1infor- mation 300 concernant la structure, et on la mémorise
dans la zone de mémoire El.
bascule EIF Ea, on extrait une information PR pour la bascule EIF (Eb) et on la
mémorise dans la zone de mémoire El comme représenté
sur la figure 2 ; de la même façon que pour les
bascules EIF (Ea)et Eb, l'information PR pour chaque bascule EIF dont la fonction
est d'indiquer une erreur, est générée dans l1infor- mation 300 concernant la structure, et on la mémorise
dans la zone de mémoire El.
Génération del'information 500 concernant le bloc
L'unité centrale de traitement CPU 70 repré
sentée sur la figure 2 exécute la routine R3 d'extraction
de bloc de la figure 5 une fois achevée la génération
de l'information PR 400 décrite ci-dessus.
L'unité centrale de traitement CPU 70 repré
sentée sur la figure 2 exécute la routine R3 d'extraction
de bloc de la figure 5 une fois achevée la génération
de l'information PR 400 décrite ci-dessus.
En se reportant aux figures 1, 2, 5, 9,
10, 11, 12 et 13, dans cette routine R4 d'extraction
de bloc, on recherche une bascule EIF encore non con
trôlée dans l'information 400 à l'étape 41 du traitement
de recherche de bascule EIF non contrôlée, ce qui se
traduit par l'indentification de la bascule EIF Eb.
10, 11, 12 et 13, dans cette routine R4 d'extraction
de bloc, on recherche une bascule EIF encore non con
trôlée dans l'information 400 à l'étape 41 du traitement
de recherche de bascule EIF non contrôlée, ce qui se
traduit par l'indentification de la bascule EIF Eb.
On procède ensuite à la recherche d'un registre encore non contrôlé pour la bascule EIF identifiée à'étape 42 du traitement de recherche de registre non contrôlé de bascule EIF. Cette recherche permet de trouver le registre RC dans l'information 400 de la figure 12.
Puis, àl'étape 43 du traitement de recherche de ligne de signal d'entrée non contrôlée de registre, on recherche une ligne de signal d'entrée encore non contrôlée du registre identifié RC et cette recherche permet de trouver l'entrée RCI1 du registre RC dans l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants.
On active maintenant le traitement de recherche de registre B à l'étape 44 du traitement d'activation du traitement de recherche de registre
B, pour rechercher en amont la ligne de signal d'entrée reliée à cette entrée RCI1.
B, pour rechercher en amont la ligne de signal d'entrée reliée à cette entrée RCI1.
En réponse à l'activation de ce traitement de recherche de registre B, on recherche la source d'émission de la ligne de signal d'entrée reliée à l'entrée RCI1, à l'étape51 du traitement de recherche de la source d'émission de la ligne de signal d'entrée.
Cette recherche permet de trouver le registre RB qui est source de sortie de signal, pour l'entrée RCI1 du registre RC, du fait qu a partir de l'information 200 de la figure 10, concernant la connexion entre les composants, et de l'information 100 de la figure 11, concernant la connexion entre les blocs, on sait que l'entrée RC-I1 du registre RC est reliée à la borne d'entrée extérieure YI1 du bloc Y, que la borne d'entrée extérieure YI1 du bloc Y est à son tour reliée à la borne de sortie extérieure X01 du bloc X,et que la borne de sortie extérieure X01 du bloc X est en outre reliée au registre RB.
Puis, à'étape 52 du traitement de détermination concernant les registres, on détermine si, oui ou non, le registre RB est identique au registre extrait par la routine R2 d'extraction de bloc-regiszre PR.
Ainsi, sur la base de l'information PR 400 on determine que le registre RB est différent du registre extrait par la routine R2 d'extraction de bloc/de registre PR.
En réponse à cette détermination, 53 du traitement d'extraction de l'information concernant les composants, on extrait l'information concernant le registre RB, qui était l'objet du traitement de détermination. Par conséquent, de l'information 300 de la figure 9, concernant la structure d'entrée/sortie des composants, on extrait le a bloc X contenant le registre RB, comme bloc correspondant à la bascule
EIF (Eb),et on le mémorise dans la zone de mémoire E2 comme représenté sur la figure 13.
EIF (Eb),et on le mémorise dans la zone de mémoire E2 comme représenté sur la figure 13.
Puis, à l'étape 54 du traitement de recherche de ligne de ~signal d'entrée non contrôlée de composant, on recherche, dans l'information 300 de la figure 9, extraite à l'étapeS3 et concernant la structure d'entrée/ sortie, la ligne de signal d'entrée non contrôlée du registre RB. Cette recherche permet de trouver la ligne de signal reliée à l'entrée RBI1 du registre RB.
Puis, à l'étape 55 du traitement d'activation du traitement de recherche de registre B, on réactive le traitement de recherche de registre B pour la ligne de signal d'entrée trouvée à 1' étape 54.
Dans ce traitement B de recherche de registre réactivé, on recherche la -source de sortie de la ligne de ~ signal d'entrée reliée à l'entrée RBI1 du registre RB. Cette recherche permet de trouver, dans l'information 200 de la figure 10, concernant les connexions entre composants, le registre RA qui est la source de sortie de signal pour l'entrée RBI1 du registre RB.
Puis à l'étape 52, on détermine si, oui ou non, le registre RA, trouvé à l'étape 51, est identique au registre extrait par la routine R2 d'extraction de groupe - registre PR. Puis, sur la base de l'information 400 concernant le groupe - registre PR, mémorisée dans la zone de mémoire El, comme représenté sur la figure 12, on détermine que le registre RA est effectivement le registre extrait par la routine R2 et on a ainsi achevé ce traitement réactivé B de recherche de registre.
Puis, B l'étape 56 du traitement de détermination de la ligne de signal d'entrée non contrôlée du composant, on détermine, sur la base de l'information 300 de la figure 9, concernant la structure d'entrée/ sortie extraiteW etåpe--53 du traitement d'extraction de l'information concernant les composants, si, oui ou non, il y a une ligne de signal d'entrée du registre
RB non contrôlée. Etant donné que le registre RB nla qu'une seule entrée, on détermine qu'il ne subsiste pas de ligne de signal d'entrée non contrôlée.Cette détermination achève le traitement B de recherche de registre et le processus passe maintenant à l'exécution
deVétape.45 du traitement de détermination de la ligne de signal d'entrée non contrôlée de registre, immédiatement à la suite dey'étape 44 de traitement d'activation du traitement B de recherche de registre, représenté sur la figure 5. A l'étape 45, on détermine, si, oui ou non, le registre RC possède encore une ligne de signal d'entrée non contrôlée. Ainsi, sur la base de l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants, on détermine que le registre RC ne possède pas de ligne de signal d'entrée non contrôlée.
RB non contrôlée. Etant donné que le registre RB nla qu'une seule entrée, on détermine qu'il ne subsiste pas de ligne de signal d'entrée non contrôlée.Cette détermination achève le traitement B de recherche de registre et le processus passe maintenant à l'exécution
deVétape.45 du traitement de détermination de la ligne de signal d'entrée non contrôlée de registre, immédiatement à la suite dey'étape 44 de traitement d'activation du traitement B de recherche de registre, représenté sur la figure 5. A l'étape 45, on détermine, si, oui ou non, le registre RC possède encore une ligne de signal d'entrée non contrôlée. Ainsi, sur la base de l'information 300 concernant la structure d'entrée/sortie des composants, on détermine que le registre RC ne possède pas de ligne de signal d'entrée non contrôlée.
Puis, à'étape 46 du traitement de détermination concernant le registre non contrôlé correspondant à la bascule EIF, on détermine, sur la base de l'information de la figure 12 concernant l'extraction de bloc/de registre, si, oui ou non, il existe encore un registra non contrôlé correspondant à la bascule EIF Eb. On détermine qu'il existe pas de registre non contrôlé correspondant à la bascule EIF < Eb), et le traitement d'extraction de l'information concernant le bloc est ainsi achevé pour la bascule EIF (Eb).
Puis, à'étape 47 du traitement de détermination concernant une bascule EIF non contrôlée, on
détermine si, oui ou non, il subsiste encore une bascule
EIF non contrôlée dans l'information 400 concernant le bloc/le registre, et on examine qu'il y en a effectivement une.
détermine si, oui ou non, il subsiste encore une bascule
EIF non contrôlée dans l'information 400 concernant le bloc/le registre, et on examine qu'il y en a effectivement une.
En réponse à cette détermination, . à l'étape 41 du traitement de recherche d'une bascule EIF non contrôlée, on recherche dans ltinformation 400 concernant le bloc -registre PR, une bascule EIF non contrôlée. Cette recherche permet de trouver la bascule EIF (Ec) et, de la même façon que pour la bascule EIF (Eb), on extrait l'information de bloc concernant la bascule EIF( Ec) et on la mémorise dans la zone de mémoire E2 ;; ensuite on extrait et on mémorise dans la zone de mémoire E2 l'information de bloc concernant toute bascule EIF, de la même façon que pour les bascules EIF,(Eb)et(Ec#
Génération du répertoire de diagnostic par la routine de sélection R6
Une fois achevée l'exécution de la routine
R4 d'extraction de bloc, l'unité centrale de traitement 70 exécute alors la routine de sélection R6 et génère le répertoire de diagnostic 600 à partir de l'information 400 concernant le bloc ~ registre PR, et à partir de l'information 500 concernant le bloc, de la façon suivante
Lors de 1 ' exécution de la routine de sélection R6, comme représenté sur la figure 7, on recherche d'abord dans l'information 400 concernant le bloc - registre, ou dans l'information 500 concernant le bloc > s'il 5 a encore une bascule EIF non traitée, à l'étape 61 du traitement de recherche de bascule EIF non traitée. Cette recherche permet de trouver la bascule
EIF (Eb) dans l'information 400 concernant le bloc
registre représenté sur la figure 12.
Génération du répertoire de diagnostic par la routine de sélection R6
Une fois achevée l'exécution de la routine
R4 d'extraction de bloc, l'unité centrale de traitement 70 exécute alors la routine de sélection R6 et génère le répertoire de diagnostic 600 à partir de l'information 400 concernant le bloc ~ registre PR, et à partir de l'information 500 concernant le bloc, de la façon suivante
Lors de 1 ' exécution de la routine de sélection R6, comme représenté sur la figure 7, on recherche d'abord dans l'information 400 concernant le bloc - registre, ou dans l'information 500 concernant le bloc > s'il 5 a encore une bascule EIF non traitée, à l'étape 61 du traitement de recherche de bascule EIF non traitée. Cette recherche permet de trouver la bascule
EIF (Eb) dans l'information 400 concernant le bloc
registre représenté sur la figure 12.
Puis, à l'étape 62 du traitement de recherche
de bloc non traité concernant la bascule EIF, on
recherche s'il y a encore un bloc non traité concernant
la bascule EIF (EbS Cette recherche permet de trouver
le bloc Y, qui n'est pas un registre, dans l'information
400 de la figure 12 concernant le bloc -registre PR.
de bloc non traité concernant la bascule EIF, on
recherche s'il y a encore un bloc non traité concernant
la bascule EIF (EbS Cette recherche permet de trouver
le bloc Y, qui n'est pas un registre, dans l'information
400 de la figure 12 concernant le bloc -registre PR.
Puis ltétape 63 du traitement de détermi
nation concernant le bloc, on détermine si, oui ou non,
le bloc Y est déjà inscrit dans le dictionnaire de réper
toire 600, en correspondance avec la même bascule EIF (Eb). On détermine donc que le bloc Y est un bloc qui
n'est pas encore inscrit dans le répertoire ou dictionnaire 600. Il
en résulte que l'on exécute le pas suivant 64 du trai
tement d'inscription de bloc, et que l'on inscrit le
bloc Y dans le répertoire de diagnostic 600,comme repré
senté sur la figure, 13 en tant que bloc dans lequel
tout incident est prédit par la bascule EIF(Eb).
nation concernant le bloc, on détermine si, oui ou non,
le bloc Y est déjà inscrit dans le dictionnaire de réper
toire 600, en correspondance avec la même bascule EIF (Eb). On détermine donc que le bloc Y est un bloc qui
n'est pas encore inscrit dans le répertoire ou dictionnaire 600. Il
en résulte que l'on exécute le pas suivant 64 du trai
tement d'inscription de bloc, et que l'on inscrit le
bloc Y dans le répertoire de diagnostic 600,comme repré
senté sur la figure, 13 en tant que bloc dans lequel
tout incident est prédit par la bascule EIF(Eb).
Puis, lors de l'exécution de l'étape 65 du
traitement de détermination de bloc non traité concer
nant une bascule. EIF, on détermine, si oui ou non, il
existe encore un bloc non traité -concernant la bascule
EIF (Eb) représentée sur la figure 12. Par conséquent,
puisque le bloc i qui contient le registre RC est encore
à traiter, la réponse à cette détermination est affirma
tive.
traitement de détermination de bloc non traité concer
nant une bascule. EIF, on détermine, si oui ou non, il
existe encore un bloc non traité -concernant la bascule
EIF (Eb) représentée sur la figure 12. Par conséquent,
puisque le bloc i qui contient le registre RC est encore
à traiter, la réponse à cette détermination est affirma
tive.
Puis, a l'étape 62, on recherche a nouveau
s'il y a encore un bloc non traité concernant la bascule
EIF (Eb) Cette recherche permet de trouver le bloc Y,
qui contient le registre RC, dans l'information 400
concernant le bloc -registre PR.
s'il y a encore un bloc non traité concernant la bascule
EIF (Eb) Cette recherche permet de trouver le bloc Y,
qui contient le registre RC, dans l'information 400
concernant le bloc -registre PR.
Puis, a l'étape 63, on détermine à nouveau
si, oui ou non, le bloc Y est déjà inscrit dans le réper
toire de diagnostic 600,en correspondance avec la bascule
EIF (Eb > Par conséquent, puisque le bloc Y est déjà inscrit en correspondance avec la bascule EIF(Eb),comme représenté sur la figure 14, on détermine qu'il s'agit d'un bloc déjà inscrit, et ceci achève le traitement correspondant à la bascule EIF (Eb) indiqué sur la figure 12.Par contre, le traitement correspondant à la bascule
EIF(Eb)indiqué sur la figure 13 reste à faire.Par consé quent, a l'étape suivante 65 du traitement de détermination de bloc non traité concernant une bascule EIF, on détermine, si oui ou non, il existe encore un bloc non traité concernant la bascule EIF(Eb > - Du fait que l'on détermine la présence d'un bloc non traité, on recherche > a l'étape 62, un bloc encore non traité concernant la bascule
EIF (Eb) et cette recherche permet de trouver le bloc
X dans l'information de la figure 13 concernant le bloc.
si, oui ou non, le bloc Y est déjà inscrit dans le réper
toire de diagnostic 600,en correspondance avec la bascule
EIF (Eb > Par conséquent, puisque le bloc Y est déjà inscrit en correspondance avec la bascule EIF(Eb),comme représenté sur la figure 14, on détermine qu'il s'agit d'un bloc déjà inscrit, et ceci achève le traitement correspondant à la bascule EIF (Eb) indiqué sur la figure 12.Par contre, le traitement correspondant à la bascule
EIF(Eb)indiqué sur la figure 13 reste à faire.Par consé quent, a l'étape suivante 65 du traitement de détermination de bloc non traité concernant une bascule EIF, on détermine, si oui ou non, il existe encore un bloc non traité concernant la bascule EIF(Eb > - Du fait que l'on détermine la présence d'un bloc non traité, on recherche > a l'étape 62, un bloc encore non traité concernant la bascule
EIF (Eb) et cette recherche permet de trouver le bloc
X dans l'information de la figure 13 concernant le bloc.
Puis, a l'étape 63, on détermine, si oui ou non, le bloc
X est inscrit dans le répertoire de diagnostic 600 en correspondance avec la même bascule EIF Eb. On détermine ainsi que le bloc X est un bloc encore non inscrit.
X est inscrit dans le répertoire de diagnostic 600 en correspondance avec la même bascule EIF Eb. On détermine ainsi que le bloc X est un bloc encore non inscrit.
A l'étape suivante 64 du traitement d'inscription de bloc, on inscrit le bloc X dans le ré-pertoire de diagnostic 600, comme représenté sur la figure 14, en tant que bloc dans lequel tout incident doit être prédit par la bascule
EIF(Eb). A l'étape suivante 65 du traitement de détermination de bloc non traité concernant une bascule EIF, on détermine, si, oui ou non, il existe encore un bloc non traité concernant la bascule EIF Eb. Du fait que l'on détermine alors qu'il n'existe plus de bloc non traité, la compilation du répertoire de diagnostic est achevée pour la bascule EIF (Eb#
Vient ensuite l'exécution de l'étape 66 du traitement de détermination de bascule EIF non traitée, qui détermine si, oui ou non, il y a encore une autre bascule EIF non traitée.Etant donné que la -réponse à cette détermination est affirmative, on trouve la bascule EIF (Ec) dans l'information 400 concernant le
bloc-registre PR représentée sur la figure 12, par l'é
tape 61. Puis, de la même façon que pour la bascule EIF (Eb# on inscrit dans le répertoire de diagnostic 600
un bloc dans lequel tout incident est prédit par la
bascule EIF tcZ, suivie par l'inscription,
dans le répertoire 600, du bloc dans lequel tout
incident est prédit par chaque bascule EIF, en correspon
dance avec chacune des bascule EIF, de la même façon
que pour les bascules EIF (Eb)et (Ec).Une fois achevées
ces inscriptions, la compilation du répertoire de dia
gnostic pour l'ensemble logique est achevée.
EIF(Eb). A l'étape suivante 65 du traitement de détermination de bloc non traité concernant une bascule EIF, on détermine, si, oui ou non, il existe encore un bloc non traité concernant la bascule EIF Eb. Du fait que l'on détermine alors qu'il n'existe plus de bloc non traité, la compilation du répertoire de diagnostic est achevée pour la bascule EIF (Eb#
Vient ensuite l'exécution de l'étape 66 du traitement de détermination de bascule EIF non traitée, qui détermine si, oui ou non, il y a encore une autre bascule EIF non traitée.Etant donné que la -réponse à cette détermination est affirmative, on trouve la bascule EIF (Ec) dans l'information 400 concernant le
bloc-registre PR représentée sur la figure 12, par l'é
tape 61. Puis, de la même façon que pour la bascule EIF (Eb# on inscrit dans le répertoire de diagnostic 600
un bloc dans lequel tout incident est prédit par la
bascule EIF tcZ, suivie par l'inscription,
dans le répertoire 600, du bloc dans lequel tout
incident est prédit par chaque bascule EIF, en correspon
dance avec chacune des bascule EIF, de la même façon
que pour les bascules EIF (Eb)et (Ec).Une fois achevées
ces inscriptions, la compilation du répertoire de dia
gnostic pour l'ensemble logique est achevée.
Comme décrit jusqu'ici, selon la présente
invention, on mémorise dans la mémoire d'information
de conception, une information concernant la conception
de l'ensemble logique et incluant l'information con
cernant les connexions entre blocs, qui indique comment
les blocs de l'ensemble logique sont reliés les uns
aux autres, l'information concernant la structure
d'entrée/sortie des composants, qui indique les struc
tures d'entrée/sortie, les fonctions des composants
contenus dans chaque bloc, et l'information concernant
les connexions entre composants qui indique comment
les composants de chaque bloc sont reliés
les uns aux autres.Puis, un moyen d'extraction de bloc registre PR recherche en amont, sur la base de l'infor
mation concernant la conception de l'ensemble logique,
le long de la ligne de signal d'entrée de chaque bascule
EIF, jusqu a ce qu'il trouve un registre. On génère
l'information concernant le bloc -registre PR en extrayant
le registre détecté, le bloc qui contient ce registre
et le bloc qui contient les composants par lesquels
on est passé avant de détecter ce registre. Le moyen
d'extraction de bloc recherche en amont, à nouveau sur
la base de l'information concernant la conception de
l'ensemble logique , le long de la ligne de signal
d'entrée de chaque registre extrait par le moyen
d'extraction de blocregistre PR.On génère l'information
concernant le bloc en extrayant le bloc contenant les
composants par lesquels on est passé avant de détecter
le même registre comme étant l'un des autres registres
extraits par le moyen d'extraction de bloc'registre PR.
invention, on mémorise dans la mémoire d'information
de conception, une information concernant la conception
de l'ensemble logique et incluant l'information con
cernant les connexions entre blocs, qui indique comment
les blocs de l'ensemble logique sont reliés les uns
aux autres, l'information concernant la structure
d'entrée/sortie des composants, qui indique les struc
tures d'entrée/sortie, les fonctions des composants
contenus dans chaque bloc, et l'information concernant
les connexions entre composants qui indique comment
les composants de chaque bloc sont reliés
les uns aux autres.Puis, un moyen d'extraction de bloc registre PR recherche en amont, sur la base de l'infor
mation concernant la conception de l'ensemble logique,
le long de la ligne de signal d'entrée de chaque bascule
EIF, jusqu a ce qu'il trouve un registre. On génère
l'information concernant le bloc -registre PR en extrayant
le registre détecté, le bloc qui contient ce registre
et le bloc qui contient les composants par lesquels
on est passé avant de détecter ce registre. Le moyen
d'extraction de bloc recherche en amont, à nouveau sur
la base de l'information concernant la conception de
l'ensemble logique , le long de la ligne de signal
d'entrée de chaque registre extrait par le moyen
d'extraction de blocregistre PR.On génère l'information
concernant le bloc en extrayant le bloc contenant les
composants par lesquels on est passé avant de détecter
le même registre comme étant l'un des autres registres
extraits par le moyen d'extraction de bloc'registre PR.
Le moyen de sélection achève alors le traitement, concer
nant chaque bascule EIF, pour sélectionner à la fois
le bloc extrait par le moyen d'extraction de bloc' registre PR, en correspondance avec une bascule EIF, et le
bloc extrait par le moyen d'extraction de bloc, en correspondance avec le registre extrait par le moyen d'extraction de bloc-registre PR correspondant à la bascule EIF en question; ce sont des blocs dans lesquels tout incident est prédit par la bascule EIF mentionnée.
nant chaque bascule EIF, pour sélectionner à la fois
le bloc extrait par le moyen d'extraction de bloc' registre PR, en correspondance avec une bascule EIF, et le
bloc extrait par le moyen d'extraction de bloc, en correspondance avec le registre extrait par le moyen d'extraction de bloc-registre PR correspondant à la bascule EIF en question; ce sont des blocs dans lesquels tout incident est prédit par la bascule EIF mentionnée.
Par cette procédure, la présente invention rend possible la compilation automatique d'un répertoire en dictionnaire de diagnostic et présente donc l'intérêt de diminuer les défaillances de détection ou les erreurs de détection d'incidents, qui sont inévitables en compilation manuelle d'un tel répertoire.
Claims (1)
- REVENDICATIONSystème de compilation de dictionnaire de diagnostic pour un ensemble logique comprenant une pluralité de blocs ayant chacunrparmi ses composants, un registre, un circuit de contrôle et une bascule électronique indicatrice d'erreur (EIF) positionnée en réponse au fait qu'une erreur a été détectée par ce circuit de contrôle, système dans lequel est indiquée l'information concernant la correspondance entre la bascule EIF positionnée en réponse à la survenance d'un incident et les blocs dans lesquels est prédite la survenance de cet incident, et comportant::un moyen (1) de mémorisation des informations concernant la conception, la conception d'unités logiques, ces informations concernant les connexions entre les différents blocs constituant l'ensemble logique, les connexions entre les composants constituant chaque bloc, et concernant la structure d'entrée/sortie de chaque composantun moyen (2) d'extraction de bloc registre pour extraire un registre détecté, en recherchant en amont, sur la base des invormations mémorisées dans le moyen (1) de mémorisation d 'information à la conception, le long de la ligne de signal d'entrée de chaque bascule EIF, le bloc contenant ce registre et le bloc rencontré avant de détecter ledit registreun moyen (4) d'extraction de bloc pour rechercher en amont, sur la base des informations mémorisées dans ledit moyen (1) de mémorisation d' informations concernant la conception, le long de la ligne de signal d'entrée de chaque registre extrait par ledit moyen (2) d'extraction de bloc -registre, et pour extraire le bloc contenant les composants rencontrés avant d'avoir détecté le même registre en tant que l'un des autres registres extraits correspondant d'autres bascules EIF que celle qui correspond au registre qui a été extrait par ledit moyen (2) d'extraction de bloc-registre ; etun moyen de sélection (6) pour sélectionner, en tant que blocs dans lesquels la survenance d'un incident est prédite par une bascule EIF donnée, a la fois le bloc extrait par ledit moyen (2) d'extraction de bloc-registre pour ladite bascule EIF donnée, et le bloc extrait par ledit moyen (4) d'extraction de bloc concernant le registre extrait par ledit moyen (2) d'extraction de bloc-registre correspondant a ladite bascule EIF donnée.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61151222A JPS638836A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 故障診断辞書作成方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2600796A1 true FR2600796A1 (fr) | 1987-12-31 |
| FR2600796B1 FR2600796B1 (fr) | 1990-12-07 |
Family
ID=15513914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR8709048A Expired - Fee Related FR2600796B1 (fr) | 1986-06-27 | 1987-06-26 | Systeme de compilation du dictionnaire de diagnostic |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS638836A (fr) |
| FR (1) | FR2600796B1 (fr) |
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| EP0139516A2 (fr) * | 1983-10-17 | 1985-05-02 | BRITISH TELECOMMUNICATIONS public limited company | Système de génération de tests pour circuits numériques |
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1986
- 1986-06-27 JP JP61151222A patent/JPS638836A/ja active Pending
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1987
- 1987-06-26 FR FR8709048A patent/FR2600796B1/fr not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS638836A (ja) | 1988-01-14 |
| FR2600796B1 (fr) | 1990-12-07 |
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