JPS6381208A - 転がり軸受の回転する軌道輪の軌道面・転動体表面の粗さ推定方法 - Google Patents
転がり軸受の回転する軌道輪の軌道面・転動体表面の粗さ推定方法Info
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- JPS6381208A JPS6381208A JP61227042A JP22704286A JPS6381208A JP S6381208 A JPS6381208 A JP S6381208A JP 61227042 A JP61227042 A JP 61227042A JP 22704286 A JP22704286 A JP 22704286A JP S6381208 A JPS6381208 A JP S6381208A
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Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、転がり軸受の回転する軌道輪軌道面・転動体
表面の粗さの度合を観測振動信号に基づいて推定する方
法に関する。
表面の粗さの度合を観測振動信号に基づいて推定する方
法に関する。
従来の技術
転がり軸受の製造工程において、内輪・外輪や転動体の
切削加工や研磨の際、軌道面・転動体表面に傷を付けた
り、あるいは研磨不足のことがある。また、製品に組み
込まれて運転中の転がり軸受でも摩耗等により軌道面や
転動体表面の粗さが大になることがある。
切削加工や研磨の際、軌道面・転動体表面に傷を付けた
り、あるいは研磨不足のことがある。また、製品に組み
込まれて運転中の転がり軸受でも摩耗等により軌道面や
転動体表面の粗さが大になることがある。
このような軌道面や転動体表面の粗さが大きい転がり軸
受を、例えばビデオテープレコーダのヘッドやキャプス
タンの軸受に用いた場合には、録画・再生時に画質の劣
化を招き、また、例えば大荷重のかかる転がり軸受にあ
っては、異常振動を引き起こしてしまう、そのため、高
い加工精度が要求されるこの種の用途の転がり軸受に対
しては、組立完了後に全品検査が実施されている。その
検査の手法としては、従来から損傷等の異常に起因して
発生する振動を観測、解析する振動法が広く利用されて
おり、例えば、観測信号のピーク値、あるいはピーク値
を観測振動信号の実効値または平均値により除した値の
時系列変化から異常を判定する方法、さらには、これら
の値を転がり軸受の回転数や細径に基づいて正規化し、
それに基づいて異常の有無を判定する方法等が提案され
ている。
受を、例えばビデオテープレコーダのヘッドやキャプス
タンの軸受に用いた場合には、録画・再生時に画質の劣
化を招き、また、例えば大荷重のかかる転がり軸受にあ
っては、異常振動を引き起こしてしまう、そのため、高
い加工精度が要求されるこの種の用途の転がり軸受に対
しては、組立完了後に全品検査が実施されている。その
検査の手法としては、従来から損傷等の異常に起因して
発生する振動を観測、解析する振動法が広く利用されて
おり、例えば、観測信号のピーク値、あるいはピーク値
を観測振動信号の実効値または平均値により除した値の
時系列変化から異常を判定する方法、さらには、これら
の値を転がり軸受の回転数や細径に基づいて正規化し、
それに基づいて異常の有無を判定する方法等が提案され
ている。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、これらの方法は振動の発生源である回転
する軌道輪の軌道面あるいは転動体表面と振動観測点間
の振動の伝播挙動については一切考慮をすることなく、
観測点での振動信号のみから異常を推定するものである
。したがって、これからは異常の有無の推定は可能でも
、軌道面上あるいは転動体表面上の粗さの程度主で精度
よく推定することは可欠の能力として要求されることに
なり、その結果、検査量が熟練検査者の数により制約を
受けてしまうという問題点があった。尚、これとは別に
転がり軸受の組立前に行なう検査法としては軌道面の表
面粗さをスタイラスや光学手法により直接走査する方法
も実用されている。しかしながら、この手法は運転中切
断することが必要で全品検査できないこと、また判定に
は多くの時間を要することなどの問題点がある。
する軌道輪の軌道面あるいは転動体表面と振動観測点間
の振動の伝播挙動については一切考慮をすることなく、
観測点での振動信号のみから異常を推定するものである
。したがって、これからは異常の有無の推定は可能でも
、軌道面上あるいは転動体表面上の粗さの程度主で精度
よく推定することは可欠の能力として要求されることに
なり、その結果、検査量が熟練検査者の数により制約を
受けてしまうという問題点があった。尚、これとは別に
転がり軸受の組立前に行なう検査法としては軌道面の表
面粗さをスタイラスや光学手法により直接走査する方法
も実用されている。しかしながら、この手法は運転中切
断することが必要で全品検査できないこと、また判定に
は多くの時間を要することなどの問題点がある。
問題点を解決するための手段
い虫、回転する軌道輪軌道面に傷があった場合の転動体
と軌道面間の挙動を検討するのに、転動体は傷の一端に
到達した際その傷の一端を中心に回転して他端に衝突し
、その衝突によりインパルスが発生する。そしてこの発
生するインパルスの振幅は、傷の幅の615乗に比例す
ることが知られている。このことは転動体表面に傷があ
る場合も同様であるが、その傷は内輪・外輪のそれぞれ
と接触するごとにインパルスを発生する。(例えば、画
材、高橋“玉軸受音の研究”、精密機械30巻6号47
5−489頁(1964))とすると、このインパルス
の振幅が求められれば、軌道面上あるいは転動体表面で
の傷の幅、すなわち軌道面の粗さの程度が定量的に判明
することになる。しかし、このインパルスを直接測定す
ることは困難である。そこで、いま観測可能な静止した
軌道輪上での1点の振動に着目してみると、この振動は
前記インパルスによって軌道輪の固有振動の励振があり
、それが静止した軌道輪に伝播して外たちのである。と
すると、このインパルスと振動とを関係づけている7ア
クタ、すなわち軌道輪の固有振動のインパルス応答およ
びそのインパルス発生位置と振動観測点間の振動の伝播
係数とを予め求めておくことにより振動信号からインパ
ルスの大きさを決定できることになる。本発明の第1の
発明は、上記前えに基づいて創案されたものであり、転
がり軸受の一方の軌道輪を一定角速度で回転させると共
に、静止状態に保持した他方の軌道輪上の1点において
半径方向の振動を観測し、次いでその観測振動信号と予
め求めた既知の軌道輪の固有振動数のインパルス応答に
基づいて算出される実測等価駆動インパルスと、軌道輪
の円周方向の各位置と前記振動の観測点間の振動の伝播
係数と未知の回転軌道輪軌道面上のインパルスから推定
される推定等価駆動インパルスとの関係式に基づいて前
記未知のインパルスを算出し、そのインパルスから回転
軌道輪軌道面上あるいは転動体表面の傷の幅を推定しよ
うとするものである。最初に説明を簡略化するために、
第1図にモデル化して示すような玉数2個の玉軸受を想
定し、それを用いて、第1発明の詳細な説明する。図に
おいて、10.20、は玉軸受の内、外輪、α、βはそ
の内、外輪に角度πの間隔を隔てて介入された玉であり
、静止状態に保持された外輪10に対して内輪20が反
時計方向に角度ω工で駆動されていて、それにより2個
の玉α、βは角速度ωb[=(ω!/ 2 )(1−d
/ D )・COSγ、ここにd:玉の径、D:ピッチ
径、γ:接触角]で公転を行なっている。いま、時刻t
がtlのとき、玉α、βが内輪20の軌道面上の1%5
点にそれぞれ位置し、その各1%5点には幅fQ、 f
bの傷があるとすると、各玉α、βは各対応する傷の一
端を中心に回転し、他端に衝突して傷の幅の615乗に
比例した振幅5(a)、5(b)のインパルスをそれぞ
れ発生する。この各インパルスにより軌道輪の固有振動
が励振され、それらの和が外輪10上に伝わり、外輪1
0上の1点の観測点11から振動信号y(tl)として
観測される。第2図(イ)は、上記の関係を記号により
示したものであり、時刻1=1. において発生し、
固有振動を励起させるインパルスはディラックのデルタ
関数δ(1)を用いて5(a)・δ(t t、Ls(
b)・δ(t−tz)と表される。い*h(t)を軌道
輪20の固有振動のインパルス応答、W(θ(a+1+
)、W(θ(βt kl) )をそれぞれ軌道輪20上
の1%5点をたたいて発生したインパルスにより駆動さ
れた固有振動が外輪10上の観測点11に伝わる際のい
わゆる振動伝播の重みを示す伝播係数とおくと、これら
の間には次の関係が成り立つ。
と軌道面間の挙動を検討するのに、転動体は傷の一端に
到達した際その傷の一端を中心に回転して他端に衝突し
、その衝突によりインパルスが発生する。そしてこの発
生するインパルスの振幅は、傷の幅の615乗に比例す
ることが知られている。このことは転動体表面に傷があ
る場合も同様であるが、その傷は内輪・外輪のそれぞれ
と接触するごとにインパルスを発生する。(例えば、画
材、高橋“玉軸受音の研究”、精密機械30巻6号47
5−489頁(1964))とすると、このインパルス
の振幅が求められれば、軌道面上あるいは転動体表面で
の傷の幅、すなわち軌道面の粗さの程度が定量的に判明
することになる。しかし、このインパルスを直接測定す
ることは困難である。そこで、いま観測可能な静止した
軌道輪上での1点の振動に着目してみると、この振動は
前記インパルスによって軌道輪の固有振動の励振があり
、それが静止した軌道輪に伝播して外たちのである。と
すると、このインパルスと振動とを関係づけている7ア
クタ、すなわち軌道輪の固有振動のインパルス応答およ
びそのインパルス発生位置と振動観測点間の振動の伝播
係数とを予め求めておくことにより振動信号からインパ
ルスの大きさを決定できることになる。本発明の第1の
発明は、上記前えに基づいて創案されたものであり、転
がり軸受の一方の軌道輪を一定角速度で回転させると共
に、静止状態に保持した他方の軌道輪上の1点において
半径方向の振動を観測し、次いでその観測振動信号と予
め求めた既知の軌道輪の固有振動数のインパルス応答に
基づいて算出される実測等価駆動インパルスと、軌道輪
の円周方向の各位置と前記振動の観測点間の振動の伝播
係数と未知の回転軌道輪軌道面上のインパルスから推定
される推定等価駆動インパルスとの関係式に基づいて前
記未知のインパルスを算出し、そのインパルスから回転
軌道輪軌道面上あるいは転動体表面の傷の幅を推定しよ
うとするものである。最初に説明を簡略化するために、
第1図にモデル化して示すような玉数2個の玉軸受を想
定し、それを用いて、第1発明の詳細な説明する。図に
おいて、10.20、は玉軸受の内、外輪、α、βはそ
の内、外輪に角度πの間隔を隔てて介入された玉であり
、静止状態に保持された外輪10に対して内輪20が反
時計方向に角度ω工で駆動されていて、それにより2個
の玉α、βは角速度ωb[=(ω!/ 2 )(1−d
/ D )・COSγ、ここにd:玉の径、D:ピッチ
径、γ:接触角]で公転を行なっている。いま、時刻t
がtlのとき、玉α、βが内輪20の軌道面上の1%5
点にそれぞれ位置し、その各1%5点には幅fQ、 f
bの傷があるとすると、各玉α、βは各対応する傷の一
端を中心に回転し、他端に衝突して傷の幅の615乗に
比例した振幅5(a)、5(b)のインパルスをそれぞ
れ発生する。この各インパルスにより軌道輪の固有振動
が励振され、それらの和が外輪10上に伝わり、外輪1
0上の1点の観測点11から振動信号y(tl)として
観測される。第2図(イ)は、上記の関係を記号により
示したものであり、時刻1=1. において発生し、
固有振動を励起させるインパルスはディラックのデルタ
関数δ(1)を用いて5(a)・δ(t t、Ls(
b)・δ(t−tz)と表される。い*h(t)を軌道
輪20の固有振動のインパルス応答、W(θ(a+1+
)、W(θ(βt kl) )をそれぞれ軌道輪20上
の1%5点をたたいて発生したインパルスにより駆動さ
れた固有振動が外輪10上の観測点11に伝わる際のい
わゆる振動伝播の重みを示す伝播係数とおくと、これら
の間には次の関係が成り立つ。
y(b )= W (θ(α、tl))h(t)本5(
−)δ(1−1+) +W(θ(β、t+))h(t) 木5(b)δ(1−1+) ユニに本は畳み込みを表わす δD)= OtD≠0 ) ■t(tzo ) 前記第2図(イ)を検討するのに軌道輪20の固有振動
のインパルス応答h(t)の特性は、外輪10の形状と
材質から決定できるものであり、その結果前記インパル
ス5(a)・δ(1−tl)ss(b)−δ(1−1+
)によって駆動される各固有振動数成分は、その振幅以
外は同じ特性をもつ。したがって、第2図(ロ)に示す
ように観測振動信号y(シ)は固有振動を駆動する入力
z(t +)すなわち等価駆動インパルスとインパルス
応答h(t)の畳み込みの形に整理される。
−)δ(1−1+) +W(θ(β、t+))h(t) 木5(b)δ(1−1+) ユニに本は畳み込みを表わす δD)= OtD≠0 ) ■t(tzo ) 前記第2図(イ)を検討するのに軌道輪20の固有振動
のインパルス応答h(t)の特性は、外輪10の形状と
材質から決定できるものであり、その結果前記インパル
ス5(a)・δ(1−tl)ss(b)−δ(1−1+
)によって駆動される各固有振動数成分は、その振幅以
外は同じ特性をもつ。したがって、第2図(ロ)に示す
ように観測振動信号y(シ)は固有振動を駆動する入力
z(t +)すなわち等価駆動インパルスとインパルス
応答h(t)の畳み込みの形に整理される。
y(tz)==h(t)本z(tl)
(2)また、前記モデルのインパルスと伝播係数を
用いて推定される推定等価駆動インパルスは、次のよう
になる。
(2)また、前記モデルのインパルスと伝播係数を
用いて推定される推定等価駆動インパルスは、次のよう
になる。
z (t + ) =W (θ(α、tJ) ・5(a
)δD−b)+W(θ(β+t+)) ・5(b)δ(
1−1ρ=W(θ(αf tl) )・5(−)+W(
θ(β11+) )・5(b) (3)再
び第1図に戻って、前記(イ)の状態から内輪20がさ
らに回転し、時刻1.において玉αがb点に、玉βがa
点に達した(口)の状態をみると、そのときの観測振動
信号y(シ)と等価駆動インパルスの開には前記と同様
にして次の関係が成り立つ。
)δD−b)+W(θ(β+t+)) ・5(b)δ(
1−1ρ=W(θ(αf tl) )・5(−)+W(
θ(β11+) )・5(b) (3)再
び第1図に戻って、前記(イ)の状態から内輪20がさ
らに回転し、時刻1.において玉αがb点に、玉βがa
点に達した(口)の状態をみると、そのときの観測振動
信号y(シ)と等価駆動インパルスの開には前記と同様
にして次の関係が成り立つ。
y(tJ=h(t)本孔(騒)
(4)z(t21= W (θ(βtt、))s(a)
δ(t−tz)+W(θ(’、t2))s(b) δ
(1−1,)=W(θ(β、t2))s(a) +W(θ(α、t、))s(b) (5)ここ
に、W(θ(β+ 1.) )、W(θ(α、を砂)は
時刻t2において玉β、αが軌道輪20上のa、 b点
をたたいて発生したインパルスにより駆動された固有振
動が外輪10上の観測点11に伝わる重みを示す伝播係
数である。上記(2)〜(5)式における各項のうち、 ■伝播係数W(θ(α、t、)Lw(θ(β11+>
) 。
(4)z(t21= W (θ(βtt、))s(a)
δ(t−tz)+W(θ(’、t2))s(b) δ
(1−1,)=W(θ(β、t2))s(a) +W(θ(α、t、))s(b) (5)ここ
に、W(θ(β+ 1.) )、W(θ(α、を砂)は
時刻t2において玉β、αが軌道輪20上のa、 b点
をたたいて発生したインパルスにより駆動された固有振
動が外輪10上の観測点11に伝わる重みを示す伝播係
数である。上記(2)〜(5)式における各項のうち、 ■伝播係数W(θ(α、t、)Lw(θ(β11+>
) 。
W(θ(α+t、)Lw(θ(β、Q)、・・・は予め
実測可能である。
実測可能である。
■内輪20の角速度ω工、玉α、βの公転角速度ωb、
1=0のときの玉α、βの位置は予め決定でき、各時刻
における玉と軌道輪の各々の公転角速度がわかる。
1=0のときの玉α、βの位置は予め決定でき、各時刻
における玉と軌道輪の各々の公転角速度がわかる。
■固有振動のインパルス応答h(t)は予め予測可能で
あって、その逆特性htt)が決定でき、このh(t
)を観測振動信号y(t+)、y(tユ)、・・・に畳
み込むことにより実測値に基づく等価駆動インパルスす
なわち実測等価駆動インパルスz(t+)、z(t、)
、・・・が得られる。
あって、その逆特性htt)が決定でき、このh(t
)を観測振動信号y(t+)、y(tユ)、・・・に畳
み込むことにより実測値に基づく等価駆動インパルスす
なわち実測等価駆動インパルスz(t+)、z(t、)
、・・・が得られる。
より、未知の項は5(a)、5(b)のみとなる、した
がって、(3)、(5)式を連立させて解くことにより
、インパルス5(a)、5(b)の厳密解を算出できる
。そしてこの5(a)、5(b)から傷の幅を求めるこ
とができる。尚、観測振動信号y(t)、にランダムノ
イズが重畳している場合には前記(3)、(5)式によ
る厳密解決では精度の高い推定が困難なこともある。こ
のような場合は玉α、βが軌道輪20上の点a、bと接
触する時刻ごとの観測の機会、すなわち測定回数を増や
し、各時刻t;(i= 1 、2 、・・・P)の関係
式に対して最小二乗法を適用することにより精度を高め
られる。すなわち、前記第2図(ロ)のモデルにおいて
P個の時刻b(i=1+2、・・・P)の推定等価駆動
インパルスz(t+)は下記のとおりであり、 z(ti)”W(θ(αtti)) −5(a)+W(
θ(β111) )・5(b) ・・・(i 奇数のとこ) z(t+ )= W (θ(β+t;)) −5(a)
+W(θ(α+ t’+) )・5(b)・・・(i
偶数のとき) (6)これと各対応する時
刻tにおける観測振動信号y(ti)を逆フィルタリン
グした値z(ti)(すなわちインパルス応答の逆特性
h(t)を畳み込んだ値)との差の二乗を、インパルス
5(−)、5(b)に関して最小化させることにより5
(a)。
がって、(3)、(5)式を連立させて解くことにより
、インパルス5(a)、5(b)の厳密解を算出できる
。そしてこの5(a)、5(b)から傷の幅を求めるこ
とができる。尚、観測振動信号y(t)、にランダムノ
イズが重畳している場合には前記(3)、(5)式によ
る厳密解決では精度の高い推定が困難なこともある。こ
のような場合は玉α、βが軌道輪20上の点a、bと接
触する時刻ごとの観測の機会、すなわち測定回数を増や
し、各時刻t;(i= 1 、2 、・・・P)の関係
式に対して最小二乗法を適用することにより精度を高め
られる。すなわち、前記第2図(ロ)のモデルにおいて
P個の時刻b(i=1+2、・・・P)の推定等価駆動
インパルスz(t+)は下記のとおりであり、 z(ti)”W(θ(αtti)) −5(a)+W(
θ(β111) )・5(b) ・・・(i 奇数のとこ) z(t+ )= W (θ(β+t;)) −5(a)
+W(θ(α+ t’+) )・5(b)・・・(i
偶数のとき) (6)これと各対応する時
刻tにおける観測振動信号y(ti)を逆フィルタリン
グした値z(ti)(すなわちインパルス応答の逆特性
h(t)を畳み込んだ値)との差の二乗を、インパルス
5(−)、5(b)に関して最小化させることにより5
(a)。
5(b)の最確値が得られる。
以上は、説明の簡略化のために想定した玉数2個の玉軸
受を例にとり、第1の発明の詳細な説明したものである
が、複数Nの転動体が円周上に等間隔に並んだ転がり軸
受においても全く同様に前記の関係が成り立つ、すなわ
ち第3図(イ)において、10.20はそれぞれ外、内
輪であり、その内外輪間にはN個の転動体0,1.・・
wit・・N−1(図には転動体のOおよび1番目のみ
の断面図を図示している)が等角度2π/Nで介入され
、測定開始時刻1=0 における転動体0は観測点1
1に対して反時計方向にβ0の初期角度をもつ。そして
、各転動体0,1.N−1は内輪20の回転(角速度ω
工)に伴ない角速度ω−にて公転させられる。 5(x
)は内輪20の軌道面上の位置Xにおけるインパルスの
振幅を示し、図には転動体0.1がそれぞれインパルス
5(x(0、0二〇。))、5((1,0:θ))を発
生している状態を示している。尚、上記の記号は×の位
置で生じる〒インパルスにおいて、そのXが転動体番号
、時刻、初期角度等の関数で表現されることを表わして
いる。次に、13図(ロ)は時刻t=nTs経過後にお
ける観測点11に対する転動体0.1・・・、i・・・
N−1および内輪20の位置関係を示したものであり、
これら位置は、いずれも時刻tの関数として次のように
表されるものである。すなわち、いま、時刻tにおける
i番目の転動体の観測点11に対する位置をθ(i、t
:θo)とおくと、それはθ(i、t:θe)=ωしL
+(2π/ N ) i十〇。
受を例にとり、第1の発明の詳細な説明したものである
が、複数Nの転動体が円周上に等間隔に並んだ転がり軸
受においても全く同様に前記の関係が成り立つ、すなわ
ち第3図(イ)において、10.20はそれぞれ外、内
輪であり、その内外輪間にはN個の転動体0,1.・・
wit・・N−1(図には転動体のOおよび1番目のみ
の断面図を図示している)が等角度2π/Nで介入され
、測定開始時刻1=0 における転動体0は観測点1
1に対して反時計方向にβ0の初期角度をもつ。そして
、各転動体0,1.N−1は内輪20の回転(角速度ω
工)に伴ない角速度ω−にて公転させられる。 5(x
)は内輪20の軌道面上の位置Xにおけるインパルスの
振幅を示し、図には転動体0.1がそれぞれインパルス
5(x(0、0二〇。))、5((1,0:θ))を発
生している状態を示している。尚、上記の記号は×の位
置で生じる〒インパルスにおいて、そのXが転動体番号
、時刻、初期角度等の関数で表現されることを表わして
いる。次に、13図(ロ)は時刻t=nTs経過後にお
ける観測点11に対する転動体0.1・・・、i・・・
N−1および内輪20の位置関係を示したものであり、
これら位置は、いずれも時刻tの関数として次のように
表されるものである。すなわち、いま、時刻tにおける
i番目の転動体の観測点11に対する位置をθ(i、t
:θo)とおくと、それはθ(i、t:θe)=ωしL
+(2π/ N ) i十〇。
となり、また、時刻tにおけるi番目の転動体と接触す
る内輪軌道面上の位置をx(i、t:β0)とおくと、
それは x(i、t:θD)=(ωレーωr)t+(2π/N)
i十〇。
る内輪軌道面上の位置をx(i、t:β0)とおくと、
それは x(i、t:θD)=(ωレーωr)t+(2π/N)
i十〇。
となる。また、前記2個の転動体の転がり軸受の場合と
同様、各時刻ごとに観測振動信号y(t)が取出せ、前
記各位置θ(i、t:θo)と観測点11間の振動の伝
播係数W((θ(i、t:β0)−))および固有振動
のインパルス応答の逆特性ti’(t)は予め測定によ
り算出される。したがって、前記と同様に時刻tにより
各転動体に対する伝播係数W((θ(i、t:θ。))
)が決定でき、υし かつ観測振動信号y(t)とインパルス応答の逆特性r
’(t)の畳み込みにより実測等価駆動インパルスz(
t)が決定され、次の関係式が成り立つ。
同様、各時刻ごとに観測振動信号y(t)が取出せ、前
記各位置θ(i、t:θo)と観測点11間の振動の伝
播係数W((θ(i、t:β0)−))および固有振動
のインパルス応答の逆特性ti’(t)は予め測定によ
り算出される。したがって、前記と同様に時刻tにより
各転動体に対する伝播係数W((θ(i、t:θ。))
)が決定でき、υし かつ観測振動信号y(t)とインパルス応答の逆特性r
’(t)の畳み込みにより実測等価駆動インパルスz(
t)が決定され、次の関係式が成り立つ。
’ z(t)= y(t)本h(t)=z(t:θo
)+Δz(t:θo)・5((x(i、t:θo)) z(t):実測等価駆動インパルス z(t:θo):推定等価駆動インパルスΔz(t:θ
。):実測等価駆動インパルスと推定等価駆動インパー
ルスの差 (・・・):・・・を2πで除した剰余したがってこの
z(t)とz(t:θ)との誤差の二乗を最小とする条
件からインパルスの最確値が求められ、それに基づき傷
の幅が算出される。
)+Δz(t:θo)・5((x(i、t:θo)) z(t):実測等価駆動インパルス z(t:θo):推定等価駆動インパルスΔz(t:θ
。):実測等価駆動インパルスと推定等価駆動インパー
ルスの差 (・・・):・・・を2πで除した剰余したがってこの
z(t)とz(t:θ)との誤差の二乗を最小とする条
件からインパルスの最確値が求められ、それに基づき傷
の幅が算出される。
以上は、観測振動信号をアナログ信号y(t)として説
明したが、実際の演算に際しては周期Tsごとにサンプ
リングし、ディジタル化したサンプリング信号y(n)
を用いて処理する方が好都合である。この場合も同様で
あって、前記(7)〜(9)式において、t=nTs(
nは0゜1、・・・整数)とおき、これにより記述され
る推定等価駆動インパルスなz(n:θo)とおくと、
次式により表される。
明したが、実際の演算に際しては周期Tsごとにサンプ
リングし、ディジタル化したサンプリング信号y(n)
を用いて処理する方が好都合である。この場合も同様で
あって、前記(7)〜(9)式において、t=nTs(
nは0゜1、・・・整数)とおき、これにより記述され
る推定等価駆動インパルスなz(n:θo)とおくと、
次式により表される。
z(n:θD)=Σ■W((edbnTs1首O
+(2π/N)i+θo))
χL
05(((ωシー ω1)nTs
+2π/N)i+θ))
跣
以上はサンプリング周期Tsにより定まる軌道円周面上
の所定間隔ごとに傷を求める場合であるが、これより広
いある間隔ごとに傷を求める場合はさらに円周2π上で
の傷を求める位置の数、すなわち演算点の数をMとおく
ことにより次のように表わされる。
の所定間隔ごとに傷を求める場合であるが、これより広
いある間隔ごとに傷を求める場合はさらに円周2π上で
の傷を求める位置の数、すなわち演算点の数をMとおく
ことにより次のように表わされる。
z(n:θa)= ’:、:W(([θd(+yn:θ
e)12>・S(([刈(tn:θo)])) (
11)ここに [・・司:実数・・・に最も近い整数(
・・・)二上記[・・司をMで除した剰余口 θ1(i、n:θo):= ωbnTsM/ 2 x
+(M/ N )i+θ9M/2π x4(i、n:θo)=(ωb−ωt)nTsM/2π
+(M/N)i+θ。M/2π これらの場合も前記アナログ信号の場合と同様に観測振
動信号y(n)に固有振動のインパルス応答の逆特性h
’(n )を畳み込んで実測等価駆動インパルスz(n
)を求め、それと上記の推定等価駆動インパルス2(n
:θ。)との差の2乗和α(θ)、すなわち 7j二T =Σl z(n) z(n:θo)I (12)
ここに、 L:誤差を最小にする区間のデータ長 を前記演算点における未知のインパルス5(Ill)[
m=0.1.2・・・M−11に関して最小にする)(
θ)/ろs(m)= O(13) を計算し、これにより得られる線形連立方程式(正規方
程式)を解くことにより5(Ill)が求められること
になる。
e)12>・S(([刈(tn:θo)])) (
11)ここに [・・司:実数・・・に最も近い整数(
・・・)二上記[・・司をMで除した剰余口 θ1(i、n:θo):= ωbnTsM/ 2 x
+(M/ N )i+θ9M/2π x4(i、n:θo)=(ωb−ωt)nTsM/2π
+(M/N)i+θ。M/2π これらの場合も前記アナログ信号の場合と同様に観測振
動信号y(n)に固有振動のインパルス応答の逆特性h
’(n )を畳み込んで実測等価駆動インパルスz(n
)を求め、それと上記の推定等価駆動インパルス2(n
:θ。)との差の2乗和α(θ)、すなわち 7j二T =Σl z(n) z(n:θo)I (12)
ここに、 L:誤差を最小にする区間のデータ長 を前記演算点における未知のインパルス5(Ill)[
m=0.1.2・・・M−11に関して最小にする)(
θ)/ろs(m)= O(13) を計算し、これにより得られる線形連立方程式(正規方
程式)を解くことにより5(Ill)が求められること
になる。
尚、上記のインパルス算出はベクトルと行列を用いて次
のように行なっても同様である。
のように行なっても同様である。
すなわち、いま次のようなM、L次元の二つのベクトル
z、Sと一つのLXMの行列Wを考え Z = [z(0)、z(1)、・・、2(t −1)
]S=[s(0)、s(1)−・=、s(M 1 )
]ここに、Wl11.1lILはnTsにおいてi番目
の玉によって発生するインパルスに掛けられる伝播係数
でありW(([θ(n、i:θo)]講)に等しい。
z、Sと一つのLXMの行列Wを考え Z = [z(0)、z(1)、・・、2(t −1)
]S=[s(0)、s(1)−・=、s(M 1 )
]ここに、Wl11.1lILはnTsにおいてi番目
の玉によって発生するインパルスに掛けられる伝播係数
でありW(([θ(n、i:θo)]講)に等しい。
これらベクトルと行列を用いて上記
(12)式を書き改めると、残差パワーは次のようにな
り、 α(θ)=(Z−WS)(Z−WS) (14)こ
こでTは行列の転置を表わす。これと上記(13)式か
ら、次の正規方程式が導かれる。
り、 α(θ)=(Z−WS)(Z−WS) (14)こ
こでTは行列の転置を表わす。これと上記(13)式か
ら、次の正規方程式が導かれる。
vvw s’=WrZ < 15
)この場合、内輪軌道面の点が玉と接触する際の公転角
は時間と共に変化(崎≠ωb)L、伝播係数は角度の非
線形関数である。したがって、少なくとも内輪軌道面上
の点が1回は転動体と接触するのに必要な時間以上の長
い観測時間をとると、Wの列は線形独立となって行列W
7Wの逆行列が存在し、次のようにベクトルと行列を用
いて傷に関する最小二乗解Sの算出を行うことができる
。
)この場合、内輪軌道面の点が玉と接触する際の公転角
は時間と共に変化(崎≠ωb)L、伝播係数は角度の非
線形関数である。したがって、少なくとも内輪軌道面上
の点が1回は転動体と接触するのに必要な時間以上の長
い観測時間をとると、Wの列は線形独立となって行列W
7Wの逆行列が存在し、次のようにベクトルと行列を用
いて傷に関する最小二乗解Sの算出を行うことができる
。
S =(W’W)WZ (16)
ここでは、外輪を静止させ、内輪を回転させた場合を例
として具体的に述べたが、内輪の回転速度は軌道輪間の
相対速度であるから、ここで説明した原理は外輪と内輪
を逆にした場合も同様に成立する。
ここでは、外輪を静止させ、内輪を回転させた場合を例
として具体的に述べたが、内輪の回転速度は軌道輪間の
相対速度であるから、ここで説明した原理は外輪と内輪
を逆にした場合も同様に成立する。
以上は第1発明において、静止軌道輪軌道面および転動
体表面が滑らかな場合の回転軌道輪軌道面上の傷の推定
方法である0次に、第1発明において、外輪および内輪
軌道面が滑らかな場合の転動体表面の傷の推定方法を説
明する。
体表面が滑らかな場合の回転軌道輪軌道面上の傷の推定
方法である0次に、第1発明において、外輪および内輪
軌道面が滑らかな場合の転動体表面の傷の推定方法を説
明する。
第4図において、前記第3図と同様に時刻1=0のとき
第0番目の転動体“0”が振動観測点11に対してなす
角度をθ。、内輪20の角速度をω工、転動体“0”、
“1”、・・・“N−1”の公転角速度、自転角速度を
ωし、ω8(ωb≠町)とおく、い主、時刻tのときに
i番目の転動体が振動観測点11となす角度をθ(i、
t:θo)とおくと、それは(ロ)に示すようにωし
t+(2π/N)i+f)、として表され、その状態に
おけるi番目の転動体のうち、内、外輪20.10、の
軌道面との接触点は、それぞれω@t、ω8t+πとな
る。そして、この内、外輪両方との接触により各励起さ
れた振動が振動観測点11に伝わる。したがって、この
場合の推定駆動インパルスz(t:θ。)を表わす関係
式は次のようにおかれる。
第0番目の転動体“0”が振動観測点11に対してなす
角度をθ。、内輪20の角速度をω工、転動体“0”、
“1”、・・・“N−1”の公転角速度、自転角速度を
ωし、ω8(ωb≠町)とおく、い主、時刻tのときに
i番目の転動体が振動観測点11となす角度をθ(i、
t:θo)とおくと、それは(ロ)に示すようにωし
t+(2π/N)i+f)、として表され、その状態に
おけるi番目の転動体のうち、内、外輪20.10、の
軌道面との接触点は、それぞれω@t、ω8t+πとな
る。そして、この内、外輪両方との接触により各励起さ
れた振動が振動観測点11に伝わる。したがって、この
場合の推定駆動インパルスz(t:θ。)を表わす関係
式は次のようにおかれる。
+ρ・51((ωを十π)) (17)1w+
ここに、
S(・・・):i番目の転動体の表面上の位置(・・・
)における表面粗さ関数 ρ :内、外輪のそれぞれと玉の衝突によって励起され
る二つのインパルスの振 幅比 ところで、実際に、はこの振幅比ρを求めること爺は困
難であり、かつ両インパルスを区別することも困難であ
る。
)における表面粗さ関数 ρ :内、外輪のそれぞれと玉の衝突によって励起され
る二つのインパルスの振 幅比 ところで、実際に、はこの振幅比ρを求めること爺は困
難であり、かつ両インパルスを区別することも困難であ
る。
そこで、0くxくπにおいて次のように定義した表面関
数s:(x )すなわち s、(×)=81(×)+ρ・5l((x+2r))
(18)を導入する。これにより前記(17)式は
大のように表わされる。
数s:(x )すなわち s、(×)=81(×)+ρ・5l((x+2r))
(18)を導入する。これにより前記(17)式は
大のように表わされる。
z(t:θo)=Σ■W((θ(i、t:θo)))
・s((ω、L))+10
エル t以上の処理は、前
記回転軌道輪軌道面の傷推定の場合、転動体の回転軌道
輪軌道面のみへの衝突によるインパルスを考慮していた
のに対し、転動体表面の傷推定においては転動体のπだ
け隔てた2位置が内、外輪の軌道面に同時に衝突し、そ
の除盲′生じる分離不能な2つのインパルスは、そのま
ま和の形のまま取扱おうとするものであり、この和のイ
ンパルスを表面関数として定義した点が異なるだけで、
他は画処理とも全く同様である。したがって、前記と同
様、観測振動信号y(t)に固有振動の逆特性fr’(
t)を畳み込むことにより実測等価駆動インパルスz(
t)を算出し、それと前記(19)式の推定等価駆動イ
ンパルスz(t:θ)との差の2乗を未知の表面関数イ
(×)に対して最小化することにより転動体の傷の関数
であるs:(x )が算出される。
・s((ω、L))+10
エル t以上の処理は、前
記回転軌道輪軌道面の傷推定の場合、転動体の回転軌道
輪軌道面のみへの衝突によるインパルスを考慮していた
のに対し、転動体表面の傷推定においては転動体のπだ
け隔てた2位置が内、外輪の軌道面に同時に衝突し、そ
の除盲′生じる分離不能な2つのインパルスは、そのま
ま和の形のまま取扱おうとするものであり、この和のイ
ンパルスを表面関数として定義した点が異なるだけで、
他は画処理とも全く同様である。したがって、前記と同
様、観測振動信号y(t)に固有振動の逆特性fr’(
t)を畳み込むことにより実測等価駆動インパルスz(
t)を算出し、それと前記(19)式の推定等価駆動イ
ンパルスz(t:θ)との差の2乗を未知の表面関数イ
(×)に対して最小化することにより転動体の傷の関数
であるs:(x )が算出される。
また、上記は観測振動信号をアナログ信号y(t)とし
た場合であるが、前記の回転軌道輪軌道面の傷推定の場
合と同様に観測振動信号を周期Tsごとのディジタルサ
ンプリング信号y(n)とし、転動体表面上の角度π間
における適宜の点数Mについての傷を推定するようにし
てもよい、すなわち、この場合の推定等価駆動インパル
ス2(n:00)は次のように表され、前記と同様最小
2乗法により各転動体ごとに演算点における表面関数が
算出される。
た場合であるが、前記の回転軌道輪軌道面の傷推定の場
合と同様に観測振動信号を周期Tsごとのディジタルサ
ンプリング信号y(n)とし、転動体表面上の角度π間
における適宜の点数Mについての傷を推定するようにし
てもよい、すなわち、この場合の推定等価駆動インパル
ス2(n:00)は次のように表され、前記と同様最小
2乗法により各転動体ごとに演算点における表面関数が
算出される。
z(n:θo)=Σ■W(([θd(i、n:θo)t
O ・貢(ωgn T s M’/π)) −′ 以上、転がり軸受のN個の転動体が常に角度2π/Nの
等間隔を保ちながら公転する場合につき説明したが、不
等間隔の場合、すなわち複数の転動体が軌道面上の一点
を通過する周期にばらつきのある場合は、上記方法では
正確な結果は得られない。なぜなら、第5図に示すよう
な不等間隔に配列された玉α。
O ・貢(ωgn T s M’/π)) −′ 以上、転がり軸受のN個の転動体が常に角度2π/Nの
等間隔を保ちながら公転する場合につき説明したが、不
等間隔の場合、すなわち複数の転動体が軌道面上の一点
を通過する周期にばらつきのある場合は、上記方法では
正確な結果は得られない。なぜなら、第5図に示すよう
な不等間隔に配列された玉α。
βを有する玉数2個の玉軸受を例にとって考えてみれば
、玉α、βが時刻1=1.において、内輪軌道面上のa
、 b点と接触していた場合、その後に玉α、βと内輪
20との相対公転角がπとなる時刻t=曝こなっても玉
α、βはそれぞれbSa点とは接触しないことになるか
らである[(ロ)参照]、すなわちここで、説明を簡略
化するために、下記のように表面の粗さがa点のみ大き
く、他は滑らかであるとし、時刻t、tλにおける推定
駆動インパルスz(t)、z(t、)を、前記(3)、
(5)式に基いて表わすと次のとおりとなる。
、玉α、βが時刻1=1.において、内輪軌道面上のa
、 b点と接触していた場合、その後に玉α、βと内輪
20との相対公転角がπとなる時刻t=曝こなっても玉
α、βはそれぞれbSa点とは接触しないことになるか
らである[(ロ)参照]、すなわちここで、説明を簡略
化するために、下記のように表面の粗さがa点のみ大き
く、他は滑らかであるとし、時刻t、tλにおける推定
駆動インパルスz(t)、z(t、)を、前記(3)、
(5)式に基いて表わすと次のとおりとなる。
z(t、) = W (θ(Qfb))−CO= W
(θ(α11+) )・S(、)+W(θ(β、 1+
) )・5(b)z(t、)=0 =W(θ(β、しっ)・5(a) +W(θ(α、 1.) )・5(b)上式から求めら
れる表面粗さ5(a)、5(b)は5(a)=W(θ
(α+b)) ・ W(θ (α、 1.) )・Co
/D s(b)= W(θ Ca 、tl)) −W(θ
(β+ b) )・C,/D (
23)ここに D =W(θ(αt tl) )・W(θ(α+ b)
)−W(θ(β+ 11> )・W(θ(βr t2
) )であって、前記(21)式の仮定とは全く異なっ
たものとなってしまう。したがって、このように各土間
に周期ずれのある場合には、サンプリング周波数を低減
する必要がある、第2の発明はその低減化を狭帯域信号
のパワー包絡化処理により行なうようにしたものである
。
(θ(α11+) )・S(、)+W(θ(β、 1+
) )・5(b)z(t、)=0 =W(θ(β、しっ)・5(a) +W(θ(α、 1.) )・5(b)上式から求めら
れる表面粗さ5(a)、5(b)は5(a)=W(θ
(α+b)) ・ W(θ (α、 1.) )・Co
/D s(b)= W(θ Ca 、tl)) −W(θ
(β+ b) )・C,/D (
23)ここに D =W(θ(αt tl) )・W(θ(α+ b)
)−W(θ(β+ 11> )・W(θ(βr t2
) )であって、前記(21)式の仮定とは全く異なっ
たものとなってしまう。したがって、このように各土間
に周期ずれのある場合には、サンプリング周波数を低減
する必要がある、第2の発明はその低減化を狭帯域信号
のパワー包絡化処理により行なうようにしたものである
。
すなわち、転がり軸受の一方の軌道輪を一定角速度で回
転させると共に、静止状態に保持した他方の軌道輸上の
1点において半径方向の振動を観測し、その振動信号y
(t)の周期Tsごとのサンプリング信号y(n)に転
がり軸受の固有振動数のインパルス応答の逆特性h’(
n)を畳み込み、それにより得られた等価駆動インパル
スz(n)に狭帯域フィルタリングを施して固有振動付
近の成分ze(n )を抽出し、次いで、それを2乗し
た2乗倍号l 4(n) l” lこ低動の観測点間の
振動の伝播係数および未知の回転軌道輪軌道面・転動体
表面上のインパルスとの関係式に基づいて各々前記未知
のインパルスを算出し、そのインパルスから転がり軸受
の回転軌道輪軌道面・転動体表面の粗さを推定するもの
である。
転させると共に、静止状態に保持した他方の軌道輸上の
1点において半径方向の振動を観測し、その振動信号y
(t)の周期Tsごとのサンプリング信号y(n)に転
がり軸受の固有振動数のインパルス応答の逆特性h’(
n)を畳み込み、それにより得られた等価駆動インパル
スz(n)に狭帯域フィルタリングを施して固有振動付
近の成分ze(n )を抽出し、次いで、それを2乗し
た2乗倍号l 4(n) l” lこ低動の観測点間の
振動の伝播係数および未知の回転軌道輪軌道面・転動体
表面上のインパルスとの関係式に基づいて各々前記未知
のインパルスを算出し、そのインパルスから転がり軸受
の回転軌道輪軌道面・転動体表面の粗さを推定するもの
である。
以下、第2発明を内輪軌道面の粗さ推定の場合を例にと
り説明する。
り説明する。
いま、時刻すにおける前記(11)式の推定等価駆動イ
ンパルス2(n:θo)を表すと次のとおりである。
ンパルス2(n:θo)を表すと次のとおりである。
z(n:θ。)=、ΣW(([θJ(i+n:θo)]
))・s(([×(i、n:06)])) H ・δ(nTs tD> (24)ここに
、δ(nTs)= 1(nTs=O)0(nTs≠0
) この場合、時刻しにおいてi番目の転動体と軌道面が接
触することによって発生すべきインパルスにbからの時
間ずれΔ(i 、 to)があるとすると、前記(20
)式は次のように修正される。
))・s(([×(i、n:06)])) H ・δ(nTs tD> (24)ここに
、δ(nTs)= 1(nTs=O)0(nTs≠0
) この場合、時刻しにおいてi番目の転動体と軌道面が接
触することによって発生すべきインパルスにbからの時
間ずれΔ(i 、 to)があるとすると、前記(20
)式は次のように修正される。
z(n: θ。)=Σ■W(([θ−(i、n: θo
)]))1+Q
M” s(([xa(i+n:θo)]))・δ(
nTs −t、−Δ(into)> (25)次に、
上記の推定等価駆動インパルスに対し狭帯域化フィルタ
リング(中心周波数F0.帯域幅±ΔF)が施される。
)]))1+Q
M” s(([xa(i+n:θo)]))・δ(
nTs −t、−Δ(into)> (25)次に、
上記の推定等価駆動インパルスに対し狭帯域化フィルタ
リング(中心周波数F0.帯域幅±ΔF)が施される。
ところで、この帯域通過フィルタのインパルス応答hs
(n)は、下記のように低帯域通過フィルタのインパル
ス応答hL(n T s )と余弦波CJ3(2yr
F、nTs)の積の形で表されるものである。
(n)は、下記のように低帯域通過フィルタのインパル
ス応答hL(n T s )と余弦波CJ3(2yr
F、nTs)の積の形で表されるものである。
hB(n)=hL(nTs)−coS(2πF−nTS
)したがって、時刻−付近の狭帯域通過信号2.(n
)は次のように表される。
)したがって、時刻−付近の狭帯域通過信号2.(n
)は次のように表される。
2B(n)=、ΣW(θ1)・5(xi)・hL(nT
s t7−Δ(i、t、))−us 2 yr Fs
(nTs −t「Δ(i r t、))ここに W(θ;)=W(([θ(i、n:θ円、I)S(θ;
)=s(([x (i、n:θo12)続いて、上記狭
帯域通過信号z(n)の2来信号1zll(n)Iが形
成された後、ローパスフィルタを介してl z、(n)
lの低周波成分である包絡信号zL(n )が取出さ
れる。
s t7−Δ(i、t、))−us 2 yr Fs
(nTs −t「Δ(i r t、))ここに W(θ;)=W(([θ(i、n:θ円、I)S(θ;
)=s(([x (i、n:θo12)続いて、上記狭
帯域通過信号z(n)の2来信号1zll(n)Iが形
成された後、ローパスフィルタを介してl z、(n)
lの低周波成分である包絡信号zL(n )が取出さ
れる。
z、(n ) = 、ΣW(θ1)・s(xi)・h、
1nTs−to−Δ(itt、))/2+1ΣW(θ−
,)−W (θ町)・s(xi)・s(×υIすd)6 ・t、b5(2yr F、lΔ(i、 t、)−Δ(j
+t−)N・ hL(nTs−trΔ(i 、 t、)
)−h、、(nTs−t、−Δ(j−t−) (
28)ただし第2項の和はi<jの場合に関して波通過
フィルタ(nTs)の時間ずれΔ(i、を−と、■第2
項の定数6os t 2πF、lΔにgta)−Δ(t
t。)11にみられる。しかし、前記■については、低
周波通過フィルタを介した信号は高周波成分を含まない
ことから、この周期ずれΔ(i 、 t、)による位相
回転の影響は無視できることがわかる。また、前記■に
ついて検討するのに、狭帯域フィルタの中心周波数F。
1nTs−to−Δ(itt、))/2+1ΣW(θ−
,)−W (θ町)・s(xi)・s(×υIすd)6 ・t、b5(2yr F、lΔ(i、 t、)−Δ(j
+t−)N・ hL(nTs−trΔ(i 、 t、)
)−h、、(nTs−t、−Δ(j−t−) (
28)ただし第2項の和はi<jの場合に関して波通過
フィルタ(nTs)の時間ずれΔ(i、を−と、■第2
項の定数6os t 2πF、lΔにgta)−Δ(t
t。)11にみられる。しかし、前記■については、低
周波通過フィルタを介した信号は高周波成分を含まない
ことから、この周期ずれΔ(i 、 t、)による位相
回転の影響は無視できることがわかる。また、前記■に
ついて検討するのに、狭帯域フィルタの中心周波数F。
が高く、したがって前記2πFe +Δ(+ t to
)−Δ(jwt*)lは大きい。しかしながらその各転
動体間の周期ずれは転動体のスリップ等に起因して生じ
ていることからランダムであって前記Δ(i 、 t、
)とΔ(j、to)とは無相関である。その結果、2π
F、lΔ(i+t+) (into) lは−1〜+
1の間でランダムな値をとることになり、このランダム
値が乗算される項の和である前記第2項は第1項に比べ
て十分小さい。したがって2L(n)は、Δ(i*tω
の消去された第1項のみにより次のように近似されるこ
とになり、これから粗さの関数であるl s(x+)
I”が求められる。
)−Δ(jwt*)lは大きい。しかしながらその各転
動体間の周期ずれは転動体のスリップ等に起因して生じ
ていることからランダムであって前記Δ(i 、 t、
)とΔ(j、to)とは無相関である。その結果、2π
F、lΔ(i+t+) (into) lは−1〜+
1の間でランダムな値をとることになり、このランダム
値が乗算される項の和である前記第2項は第1項に比べ
て十分小さい。したがって2L(n)は、Δ(i*tω
の消去された第1項のみにより次のように近似されるこ
とになり、これから粗さの関数であるl s(x+)
I”が求められる。
znt= I h、(nT s−t、) IΣIWθi
)1e ・l so<+il” / 2 = l hL(n T s−t−) l ;ΣIW((
[θ7(tnID :θ田))11・l s(([xj(i、n:θo)]
)) l / 2百
Mここに、 h、(n T s to) : 低帯域フィルタのイ
ンパルス応答(1,付近のnTsにおける) n:サンプリング番号 を二時間 i:転がり軸受の転動体番号 (0,1,・・・N−1) W(θ1°)二転動体番号iの角度θiにおける振動の
伝播係数 S(xi):転動体番号iの位置×、における表面粗さ
関数 尚、上式を前記(11)式と比較してみると、ローパス
フィルタの2乗l h、(nT s −t、) lを有
する点を除いて全く同様であり、結局、前記(11)式
の伝播係数W((θJ(i、n:θ。1))の代り酬 にl hL(nT s−t、) l ・’vV (([
θ4(i、n:θo)ml’/2を、インパルスの代り
にその2乗値をそれぞれ用いていることとなる。したが
って、この第2発明によれば、伝播係数の代りにその2
乗値を予め求めておけばよく、このことは伝播係数の符
号に関する情報を必要としないのでその測定はより容易
である。また、同時に処理過程で位相のランダムなノイ
ズ成分が低減化されるので、S/N比を向上できる特徴
をもつ。
)1e ・l so<+il” / 2 = l hL(n T s−t−) l ;ΣIW((
[θ7(tnID :θ田))11・l s(([xj(i、n:θo)]
)) l / 2百
Mここに、 h、(n T s to) : 低帯域フィルタのイ
ンパルス応答(1,付近のnTsにおける) n:サンプリング番号 を二時間 i:転がり軸受の転動体番号 (0,1,・・・N−1) W(θ1°)二転動体番号iの角度θiにおける振動の
伝播係数 S(xi):転動体番号iの位置×、における表面粗さ
関数 尚、上式を前記(11)式と比較してみると、ローパス
フィルタの2乗l h、(nT s −t、) lを有
する点を除いて全く同様であり、結局、前記(11)式
の伝播係数W((θJ(i、n:θ。1))の代り酬 にl hL(nT s−t、) l ・’vV (([
θ4(i、n:θo)ml’/2を、インパルスの代り
にその2乗値をそれぞれ用いていることとなる。したが
って、この第2発明によれば、伝播係数の代りにその2
乗値を予め求めておけばよく、このことは伝播係数の符
号に関する情報を必要としないのでその測定はより容易
である。また、同時に処理過程で位相のランダムなノイ
ズ成分が低減化されるので、S/N比を向上できる特徴
をもつ。
尚、上記は内輪軌道面の粗さを推定する場合につき説明
したものであるが、前記(29)式においてインパルス
s(([xd(i ln:θo)]))の閂 代わりに転動体表面上の粗さに基づく表面関数イ((ω
tn T s N’/π))を用いることにより、転動
体表面の粗さを推定する関係式が得られることになり、
内輪軌道面と同様に転動体表面の粗さの推定も行うこと
ができる。また、ユニでは外輪を静止させ、内輪を回転
させた場合を例として述べたが、内輪の回転速度は軌道
輪間の相対速度に置き換えることができるから、ここで
説明した原理は、外輪を回転させ、内輪を静止させた場
合にも、同様に成立する。
したものであるが、前記(29)式においてインパルス
s(([xd(i ln:θo)]))の閂 代わりに転動体表面上の粗さに基づく表面関数イ((ω
tn T s N’/π))を用いることにより、転動
体表面の粗さを推定する関係式が得られることになり、
内輪軌道面と同様に転動体表面の粗さの推定も行うこと
ができる。また、ユニでは外輪を静止させ、内輪を回転
させた場合を例として述べたが、内輪の回転速度は軌道
輪間の相対速度に置き換えることができるから、ここで
説明した原理は、外輪を回転させ、内輪を静止させた場
合にも、同様に成立する。
X1u」
次に、玉軸受の内輪軌道面上および玉表面上の粗さを推
定した実施例に基づき本発明を説明する。
定した実施例に基づき本発明を説明する。
(i)内輪軌道面上の粗さの推定
振動信号の観測系を示す第6図において、被推定玉軸受
40は形式JIS696であって、その内輪20の軌道
面上に傷を有しているものである。この玉軸受の外輪1
0にはスラスト力を加えて静止状態に保持し、内輪は一
定回転数1800rpmをもって、回転させた。また、
観測振動信号y(n)は、観測点11における振動を振
動センサ30により検出しその電気的出力を増幅器61
により増幅後、バイパスフィルタ62を通過させてその
中に含まれている内輪20の回転の1大成分(30H)
を除去し、それを−旦ディゾタルオーディオレコーダ6
2に記憶させた。その後これを試験場所から信号の処理
場所へ持ち帰り、次いでその出力を低帯域通過フィルタ
63、前置増幅器64を介して再現させた後A−D変換
器65に送り、周期Ts:30μsにてサンプリングを
行なうことにより形成した。
40は形式JIS696であって、その内輪20の軌道
面上に傷を有しているものである。この玉軸受の外輪1
0にはスラスト力を加えて静止状態に保持し、内輪は一
定回転数1800rpmをもって、回転させた。また、
観測振動信号y(n)は、観測点11における振動を振
動センサ30により検出しその電気的出力を増幅器61
により増幅後、バイパスフィルタ62を通過させてその
中に含まれている内輪20の回転の1大成分(30H)
を除去し、それを−旦ディゾタルオーディオレコーダ6
2に記憶させた。その後これを試験場所から信号の処理
場所へ持ち帰り、次いでその出力を低帯域通過フィルタ
63、前置増幅器64を介して再現させた後A−D変換
器65に送り、周期Ts:30μsにてサンプリングを
行なうことにより形成した。
次に、内輪20と玉50の接触位置を定める内輪角速度
ω1と玉50の公転角速度ω1.Iよ前記内輪20の回
転数および玉軸受40各部寸法、接触角により算出可能
であるが、ここでは、観測振動信号y(n)中に内輪2
0の角速度ω工と玉30の公転角速度ωトの正数倍の角
周波数成分がかなりのパワーをもって含まれている(こ
れは軸受の正常、異常にかかわらず生じる)ことに着目
し、観測振動信号y(n)を周波数分析してωI、ωド
を実測した。また、軌道面上の各点と観測点11間の伝
播係数W(θ)の決定にあたって、回転中の内輪軌道面
上の傷により発生する振動を用いるよりも、静止状態に
保持される外輪10の軌道面の1ケ所に傷を付した同種
の玉軸受を用い、観測点11に対する傷の位置の角度θ
を順次固定し、各固定位置ごとにその傷と玉との接触に
より発生する振動が観測点に伝わる重み、すなわち伝播
係数W(θ)を測定する方が容易である。
ω1と玉50の公転角速度ω1.Iよ前記内輪20の回
転数および玉軸受40各部寸法、接触角により算出可能
であるが、ここでは、観測振動信号y(n)中に内輪2
0の角速度ω工と玉30の公転角速度ωトの正数倍の角
周波数成分がかなりのパワーをもって含まれている(こ
れは軸受の正常、異常にかかわらず生じる)ことに着目
し、観測振動信号y(n)を周波数分析してωI、ωド
を実測した。また、軌道面上の各点と観測点11間の伝
播係数W(θ)の決定にあたって、回転中の内輪軌道面
上の傷により発生する振動を用いるよりも、静止状態に
保持される外輪10の軌道面の1ケ所に傷を付した同種
の玉軸受を用い、観測点11に対する傷の位置の角度θ
を順次固定し、各固定位置ごとにその傷と玉との接触に
より発生する振動が観測点に伝わる重み、すなわち伝播
係数W(θ)を測定する方が容易である。
しかも、このようにして求めた伝播係数を用いても、後
記するように良好な粗さの推定値が得られる。そこで、
ここでは外輪上の傷の位置K(0,1・・・M−1)を
順次16点にわたって変化させ、伝播係数の2乗値+W
(θ)I2を次のようにして計算した。先ず、K=Oの
点すなわち観測点11とに外輪10の傷位置を一致させ
、サンプリング信号y(n:K = O)を取出す。続
いて、それを狭帯域通過フィルタリング処理を行なって
固有振動成分の抽出を行ない、次いでそれを2乗した後
、低帯域通過フィルタをとおして2乗信号の包絡信号を
形成し、その包絡信号のピーク値のパワースペクトラム
を演算して求める。以下、傷の位置をそれぞれに=1.
’2・・・M−1の位置に固定した状態(観測点11か
らの角度θはにθ。
記するように良好な粗さの推定値が得られる。そこで、
ここでは外輪上の傷の位置K(0,1・・・M−1)を
順次16点にわたって変化させ、伝播係数の2乗値+W
(θ)I2を次のようにして計算した。先ず、K=Oの
点すなわち観測点11とに外輪10の傷位置を一致させ
、サンプリング信号y(n:K = O)を取出す。続
いて、それを狭帯域通過フィルタリング処理を行なって
固有振動成分の抽出を行ない、次いでそれを2乗した後
、低帯域通過フィルタをとおして2乗信号の包絡信号を
形成し、その包絡信号のピーク値のパワースペクトラム
を演算して求める。以下、傷の位置をそれぞれに=1.
’2・・・M−1の位置に固定した状態(観測点11か
らの角度θはにθ。
=に2π/M)において前記と同様にピーク値P(K)
を求め、それらを前記に=O点の値で正規化して各点の
伝播係数の2乗値、すなわち、 IW(θ)+ =P(K)/P(K=O)を算出する。
を求め、それらを前記に=O点の値で正規化して各点の
伝播係数の2乗値、すなわち、 IW(θ)+ =P(K)/P(K=O)を算出する。
そしてこの16点のIW(θ)17の内挿を行なって6
4点に対する伝播係数の2乗値を求めた。第7図はその
結果である。
4点に対する伝播係数の2乗値を求めた。第7図はその
結果である。
また、実測等価駆動インパルスz(n)の算出に必要な
固有振動数のインパルス応答の逆特性h(n)は2パル
スモデルを用いて推定した。尚この2パルスモデルとは
、内輪上の傷によって生じる振動を、二つのインパルス
によって駆動される二つの固有振動の和により表わした
モデルである。この第1のインパルスは内輪の傷と玉が
接触し、内輪をたたいた際に励起され、そのと、き、こ
の第1のインパルスが玉に反響し、その結果として玉が
反対側に位置した外輪をたたく際に第2のインパルスの
励起が行なわれる。したがって、このモデルの振動信号
は前記二つのインパルスによって駆動される複素指数関
数の線形結合として表現できる。そこで、種々の遅延に
対し、モデルの信号と実測振動信号y(n)の差を最小
にする最小二乗法を適用することにより振動の極のパラ
メータが算定でき、このパラメータから固有振動のイン
パルス応答の逆特性h’(n)が求まる0次に、粗さを
もつ位置を決定するためには、前記角速度ω1.ωしと
共に測定開始時に観測点に対する第1番目の玉の位置、
すなわち初期角θ。の決定が必要となるが、ここでは前
記(12)式により定義した残差パワーα−(θo)を
最小にする条件からθoの最確値を求めることにした。
固有振動数のインパルス応答の逆特性h(n)は2パル
スモデルを用いて推定した。尚この2パルスモデルとは
、内輪上の傷によって生じる振動を、二つのインパルス
によって駆動される二つの固有振動の和により表わした
モデルである。この第1のインパルスは内輪の傷と玉が
接触し、内輪をたたいた際に励起され、そのと、き、こ
の第1のインパルスが玉に反響し、その結果として玉が
反対側に位置した外輪をたたく際に第2のインパルスの
励起が行なわれる。したがって、このモデルの振動信号
は前記二つのインパルスによって駆動される複素指数関
数の線形結合として表現できる。そこで、種々の遅延に
対し、モデルの信号と実測振動信号y(n)の差を最小
にする最小二乗法を適用することにより振動の極のパラ
メータが算定でき、このパラメータから固有振動のイン
パルス応答の逆特性h’(n)が求まる0次に、粗さを
もつ位置を決定するためには、前記角速度ω1.ωしと
共に測定開始時に観測点に対する第1番目の玉の位置、
すなわち初期角θ。の決定が必要となるが、ここでは前
記(12)式により定義した残差パワーα−(θo)を
最小にする条件からθoの最確値を求めることにした。
したがって本実施例においては、初期角θ。をO≦θ。
く2π/Nの範囲で順次変え、その各々について次のよ
うに包絡信号zt(n )およびそれに基づく表面関数
(インパルス)を算出した。すなわち、包絡信号4(n
)は前記観測振動信号y(n)に対して前記固有振動の
インパルス応答の逆特性h−(n )を畳み込んで実測
等価駆動インパルスz(n:θo)を算出し、次いで、
FIR形フィルタ(16点)を用いて狭帯域フィルタリ
ングを行ない、その固有振動付近の成分殆(n)のみの
抽出を行ない、続いてそれを2乗し、その振幅2乗信号
1 z(n) I? に対してハニングの窓(16点)による移動平均化処理
を行なって高周波成分を除き、その後低いサンプリング
周波数によりサンプリングを行なうことにより形成した
。その後、これら各値を前記(29)式に代入し、各初
期角θo(0≦θo<2π/N)における表面関数の二
乗値l s(+o) 12(ここに、m=0.1.−6
3であっで、前記l s(([x(i、n:θo)J
) )I”e略記したもの)を算出した。そして最後に
これらの中がら前記(12)式に示すパワーα(θ)を
最小にする初期角θ。の最確値を求めた。
うに包絡信号zt(n )およびそれに基づく表面関数
(インパルス)を算出した。すなわち、包絡信号4(n
)は前記観測振動信号y(n)に対して前記固有振動の
インパルス応答の逆特性h−(n )を畳み込んで実測
等価駆動インパルスz(n:θo)を算出し、次いで、
FIR形フィルタ(16点)を用いて狭帯域フィルタリ
ングを行ない、その固有振動付近の成分殆(n)のみの
抽出を行ない、続いてそれを2乗し、その振幅2乗信号
1 z(n) I? に対してハニングの窓(16点)による移動平均化処理
を行なって高周波成分を除き、その後低いサンプリング
周波数によりサンプリングを行なうことにより形成した
。その後、これら各値を前記(29)式に代入し、各初
期角θo(0≦θo<2π/N)における表面関数の二
乗値l s(+o) 12(ここに、m=0.1.−6
3であっで、前記l s(([x(i、n:θo)J
) )I”e略記したもの)を算出した。そして最後に
これらの中がら前記(12)式に示すパワーα(θ)を
最小にする初期角θ。の最確値を求めた。
第8図は上記により決定された初期角θ。の最確値を用
いて表した推定結果であり(イ)に前記振動信号y(n
)から算出した包路線信号Z、Cn)を、同(ロ)にそ
の包絡信号z(n)等に基づいて算出した表面関数の2
乗値l s(m) l”を示す。図から40度および3
50度の位置に主たる傷があることが推定される。また
、同(ハ)はその(ロ)に示す表面関数の二乗値l 5
(Ta) l”と、前記伝播係数の2乗値IW(θ)1
さらに前記初期角θの最確値(=5.1度)を用いて合
成した推定包絡信号zd n )であり、これと前記(
イ)に示した振動信号から算出した包絡信号4(n)と
の正規化された二乗誤差NMSE、すなわち、 を計算すると、それは約0.73% (−21dB)であって、極めてわずかであった。また
、同(ニ)は前記の玉軸受の内輪の表面の状態をスタイ
ラスを用いて直接測定した結果であり、前記(ロ)の結
果とよく対応している。また、第9図1−a、2−aは
、正常な玉軸受および内輪表面が研磨不足の玉軸受を本
発明の方法により推定した結果であり、1−b、2−b
は前記スタイラスにより測定した結果である。本発明に
よれば、スタイラスでは十分に見出せないような全周の
研磨不足に伴なう粗さが全周において明確に推定されて
いる。
いて表した推定結果であり(イ)に前記振動信号y(n
)から算出した包路線信号Z、Cn)を、同(ロ)にそ
の包絡信号z(n)等に基づいて算出した表面関数の2
乗値l s(m) l”を示す。図から40度および3
50度の位置に主たる傷があることが推定される。また
、同(ハ)はその(ロ)に示す表面関数の二乗値l 5
(Ta) l”と、前記伝播係数の2乗値IW(θ)1
さらに前記初期角θの最確値(=5.1度)を用いて合
成した推定包絡信号zd n )であり、これと前記(
イ)に示した振動信号から算出した包絡信号4(n)と
の正規化された二乗誤差NMSE、すなわち、 を計算すると、それは約0.73% (−21dB)であって、極めてわずかであった。また
、同(ニ)は前記の玉軸受の内輪の表面の状態をスタイ
ラスを用いて直接測定した結果であり、前記(ロ)の結
果とよく対応している。また、第9図1−a、2−aは
、正常な玉軸受および内輪表面が研磨不足の玉軸受を本
発明の方法により推定した結果であり、1−b、2−b
は前記スタイラスにより測定した結果である。本発明に
よれば、スタイラスでは十分に見出せないような全周の
研磨不足に伴なう粗さが全周において明確に推定されて
いる。
次に、第10図(イ)、(ロ)は、正常および玉の一つ
に傷のある玉数7の玉軸受において、表面関数の2乗値
15(x) l”を前記と同様包絡信号を形成して推定
した結果であり、(ロ)によれば第0番目の玉表面に1
つの傷(前記した如く推定結果には傷の位置とπだけず
れた位置でも同様の大きさの表面関数が生じる)がある
ことが推定された。
に傷のある玉数7の玉軸受において、表面関数の2乗値
15(x) l”を前記と同様包絡信号を形成して推定
した結果であり、(ロ)によれば第0番目の玉表面に1
つの傷(前記した如く推定結果には傷の位置とπだけず
れた位置でも同様の大きさの表面関数が生じる)がある
ことが推定された。
また、訓練を受けた熟練検査員の聴覚検査により4区分
に分類された86個の玉軸受(正常15個、内輪表面に
傷有41個、内輪表面が粗い19個、玉に傷有11個)
につき本発明方法により算出された表面関数を対比した
結果は、第11図のとおりであり、破線で示した閾値を
用いると識別率95.3%(検査者の上記評価正常15
個中1個を異常、内輪傷有41個中3個を正常と本発明
で判断)であって、極めて良好である。
に分類された86個の玉軸受(正常15個、内輪表面に
傷有41個、内輪表面が粗い19個、玉に傷有11個)
につき本発明方法により算出された表面関数を対比した
結果は、第11図のとおりであり、破線で示した閾値を
用いると識別率95.3%(検査者の上記評価正常15
個中1個を異常、内輪傷有41個中3個を正常と本発明
で判断)であって、極めて良好である。
発明の効果
以上のとおりであり、本発明は、静止する軌道輸上の1
点の観測振動信号を用いて組立状態の転がり軸受の回転
軌道輪軌道面または転動体表面の粗さを熟練者でなくて
も簡単にかつ短時間でしかも高い精度で定量的に推定し
得るものであり、検査精度を損なうことなく検査効率を
格段に高めることができる6
点の観測振動信号を用いて組立状態の転がり軸受の回転
軌道輪軌道面または転動体表面の粗さを熟練者でなくて
も簡単にかつ短時間でしかも高い精度で定量的に推定し
得るものであり、検査精度を損なうことなく検査効率を
格段に高めることができる6
第1図は本発明の詳細な説明するための玉数2個の想定
玉軸受のモデル図、第2図は前記第1図のもののインパ
ルスと観測振動信号の関係を示すモデル図、第3図は複
数個の転動体を有する転動体軸受の内輪回転と転動体の
公転による接触位置変化の関係を示すモデル図、第4図
は複数個の転動体を有する転がり軸受の内、外輪と転動
体表面の接触位置変化の関係を示すモデル図、第5図は
土間隔が不当間隔の玉軸受を示すモデル図、@6図は本
発明における振動信号の取出しの実施例を示すブロック
線図、第7図は、伝播係数の実測データ例を示す線図、
MS8図は本発明により推定された内輪の粗さの推定例
とスタイラスによる結果を示す線図、第9図は本発明に
よるよる内輪の粗さとスタイラスの結果の他の例を示す
線図、第10図は玉表面の傷の推定例を示す線図、!@
11図は本発明により86個の玉軸受の内輪軌道面およ
び玉表面の傷を推定した結果を示す線図である。 1θ:外輪 20:内輪
玉軸受のモデル図、第2図は前記第1図のもののインパ
ルスと観測振動信号の関係を示すモデル図、第3図は複
数個の転動体を有する転動体軸受の内輪回転と転動体の
公転による接触位置変化の関係を示すモデル図、第4図
は複数個の転動体を有する転がり軸受の内、外輪と転動
体表面の接触位置変化の関係を示すモデル図、第5図は
土間隔が不当間隔の玉軸受を示すモデル図、@6図は本
発明における振動信号の取出しの実施例を示すブロック
線図、第7図は、伝播係数の実測データ例を示す線図、
MS8図は本発明により推定された内輪の粗さの推定例
とスタイラスによる結果を示す線図、第9図は本発明に
よるよる内輪の粗さとスタイラスの結果の他の例を示す
線図、第10図は玉表面の傷の推定例を示す線図、!@
11図は本発明により86個の玉軸受の内輪軌道面およ
び玉表面の傷を推定した結果を示す線図である。 1θ:外輪 20:内輪
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、転がり軸受の軌道輪を一定角速度で回転させると共
に、静止状態に保持した他方の軌道輪上の1点において
半径方向の振動を観測し、次いでその観測振動信号と予
め求めた既知の軌道輪の固有振動数のインパルス応答に
基づいて算出される実測等価駆動インパルスと、軌道輪
の円周方向の各位置と前記振動の観測点間の振動の伝播
係数と未知の回転する軌道輪軌道面上のインパルスから
推定される推定等価駆動インパルスとの関係式に基づい
て前記未知のインパルスを算出し、そのインパルスから
回転する軌道輪軌道面上・転動体表面の傷の幅を推定す
るところの転がり軸受の回転軌道輪軌道面・転動体表面
の粗さ推定方法2、観測振動信号は振動に対応したアナ
ログ信号y(t)の周期Tsごとのサンプリング信号y
(n)とし、実測等価駆動インパルスおよび推定駆動イ
ンパルスとの関係式は ¥z¥=y(n)*h(n)=z(n:θ_o)+Δz
(n:θ_o)z(n:θ)=Σ_■W(([θ(i、
n:θ_o)]_M))・s(([x(i、n:θ_o
]_M)) ここに n:サンプリング番号(t=nTs) ¥z¥(n):実測等価駆動インパルス z(n:θ):推定等価駆動インパルス h^−^1(n):転がり軸受の固有振動数のインパル
ス応答の逆特性 i:転がり軸受の転動体番号(0、1、・・・N−1) (・・・)_M:・・・をMで除した剰余 M:内輪軌道面上に選んだ演算点の数 [・・・]:実数・・・に最も近い整数 W(([θ_d(i、n:θ_o)])):角度θ_d
の位置における振動の伝播係数 θ(i、n:θ_o)=nTsMω_b/2π+Mi/
n+Mθ/2π s(([x_d(i、n:θ_o)])):位置x_d
におけるインパルスx_d(i、n:θ_o)=nTs
M(ω_b−ω_I)/2π+Mi/n+Mθ_o/2
π ω_b:転動体の公転角速度 ω_I:回転する軌道輪の回転角速度 θ_o:転動体番号0の玉のt=0における公転角 としたところの特許請求の範囲第1項に記載の転がり軸
受の回転する軌道輪軌道面・転動体表面の粗さ推定方法
。 3、観測振動信号は振動に対応したアナログ信号y(t
)の周期Tsごとのサンプリング信号y(n)とし、実
測等価駆動インパルスおよび推定駆動インパルスとの関
係式は ¥z¥(n)=y(n)*h(n)=z(n:θ_o)
+Δz(n:θ_o)z(n:θ_o)=Σ_■W((
[θ(i、n:θ_o)]_M))・s((ω_gnT
sM′/π)_M′))ここに n:サンプリング番号(t=nTs) ¥z¥(n):実測等価駆動インパルス z(n:θ_o):推定等価駆動インパルスh^−^1
(n):転がり軸受の固有振動数のインパルス応答の逆
特性 i:転がり軸受の玉番号(0、1、・・・N−1)(・
・・):・・・をMで除した剰余 M:回転軌道輪軌道面上に選んだ伝播係 数算出点の数 M′:転動体表面上の角度π間に選んだ傷 の演算の点 [・・・]:実数・・・に最も近い整数 W(([θ_d(i、n:θ_o)])):角度θ_d
の位置における振動の伝播係数 θ(i、n:θ_o)=nTsMω_b/2π+Mi/
n+Mθ/2π si′((ω_gnTsM′/π)_M′)):転動体
位置(ω_gnTsM′/π)_M′における表面粗さ
関数 ω_b:転動体の公転角速度 ω_g:転動体の自転角速度 θ_o:転動体番号0の転動体のt=0における公転角 としたところの特許請求の範囲第1項に記載の転がり軸
受の回転軌道輪軌道面・転動体表面の粗さ推定方法。 4、転がり軸受の一方の軌道輪を一定角速度で回転させ
ると共に、静止状態に保持した他方の軌道輪上の1点に
おいて半径方向の振動を観測し、その振動信号y(t)
の周期Tsごとのサンプリング信号y(n)に転がり軸
受の固有振動数のインパルス応答の逆特性れ(n)を畳
み込み、それにより得られた等価駆動インパルス¥z¥
(n)に狭帯域フィルタリングを施して固有振動付近の
成分z_■(n)を抽出し、次いで、それを2乗した2
乗信号|z_■(n)|に低帯域通過フィルタリングを
施して形成した包絡信号z_L(n)と軌道輪の円周方
向の各位置と前記駆動の観測点間の振動の伝播係数およ
び未知の回転軌道輪軌道面・転動体表面上のインパルス
との関係式に基づいて各々前記未知のインパルスを算出
し、そのインパルスから回転軌道輪軌道面・転動体表面
上の傷の幅を推定するところの転がり軸受の回転軌道輪
軌道面・転動体表面の粗さ推定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61227042A JPS6381208A (ja) | 1986-09-25 | 1986-09-25 | 転がり軸受の回転する軌道輪の軌道面・転動体表面の粗さ推定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61227042A JPS6381208A (ja) | 1986-09-25 | 1986-09-25 | 転がり軸受の回転する軌道輪の軌道面・転動体表面の粗さ推定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6381208A true JPS6381208A (ja) | 1988-04-12 |
Family
ID=16854611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61227042A Pending JPS6381208A (ja) | 1986-09-25 | 1986-09-25 | 転がり軸受の回転する軌道輪の軌道面・転動体表面の粗さ推定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6381208A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02263155A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-10-25 | Nippon Seiko Kk | 軸受機構のクラツク検出装置及び方法 |
CN105241666A (zh) * | 2015-09-21 | 2016-01-13 | 华南理工大学 | 一种基于信号稀疏表示理论的滚动轴承故障特征提取方法 |
CN105424359A (zh) * | 2015-11-25 | 2016-03-23 | 华南理工大学 | 一种基于稀疏分解的齿轮和轴承混合故障特征提取方法 |
GB2531258A (en) * | 2014-10-13 | 2016-04-20 | Skf Ab | Method and data processing device for detecting a load distribution in a roller bearing |
US20180231413A1 (en) * | 2017-02-10 | 2018-08-16 | Aktiebolaget Skf | Method and device of processing of sensor signals |
-
1986
- 1986-09-25 JP JP61227042A patent/JPS6381208A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02263155A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-10-25 | Nippon Seiko Kk | 軸受機構のクラツク検出装置及び方法 |
GB2531258A (en) * | 2014-10-13 | 2016-04-20 | Skf Ab | Method and data processing device for detecting a load distribution in a roller bearing |
US10788382B2 (en) | 2014-10-13 | 2020-09-29 | Aktiebolaget Skf | Method and data processing device for detecting a load distribution in a roller bearing |
CN105241666A (zh) * | 2015-09-21 | 2016-01-13 | 华南理工大学 | 一种基于信号稀疏表示理论的滚动轴承故障特征提取方法 |
CN105424359A (zh) * | 2015-11-25 | 2016-03-23 | 华南理工大学 | 一种基于稀疏分解的齿轮和轴承混合故障特征提取方法 |
CN105424359B (zh) * | 2015-11-25 | 2018-08-10 | 华南理工大学 | 一种基于稀疏分解的齿轮和轴承混合故障特征提取方法 |
US20180231413A1 (en) * | 2017-02-10 | 2018-08-16 | Aktiebolaget Skf | Method and device of processing of sensor signals |
US10788395B2 (en) * | 2017-02-10 | 2020-09-29 | Aktiebolaget Skf | Method and device of processing of vibration sensor signals |
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