JPS6372873A - スパッタリングターゲット - Google Patents
スパッタリングターゲットInfo
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- JPS6372873A JPS6372873A JP21665186A JP21665186A JPS6372873A JP S6372873 A JPS6372873 A JP S6372873A JP 21665186 A JP21665186 A JP 21665186A JP 21665186 A JP21665186 A JP 21665186A JP S6372873 A JPS6372873 A JP S6372873A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、漏洩磁界の印加によシ高速、均一な成膜を可
能とするマグネトロンスパッタリング装置のスパッタリ
ングターゲットに関するものである0 従来の技術 近年、磁気光学効果を利用した光磁気記録媒体や磁気パ
ルプ記録媒体に磁化容易軸が膜面に対し垂直な方向にあ
るTbFeCo 、 GdTbFeCo等の非晶質垂直
磁化膜が多用されつつあシ、前記非晶質垂直磁化膜はマ
グネトロンスパッタリング装置により作製されている。
能とするマグネトロンスパッタリング装置のスパッタリ
ングターゲットに関するものである0 従来の技術 近年、磁気光学効果を利用した光磁気記録媒体や磁気パ
ルプ記録媒体に磁化容易軸が膜面に対し垂直な方向にあ
るTbFeCo 、 GdTbFeCo等の非晶質垂直
磁化膜が多用されつつあシ、前記非晶質垂直磁化膜はマ
グネトロンスパッタリング装置により作製されている。
このマグネトロンスパッタリング装置は、膜の付着形成
速度が速い、基板の温度上昇をおさえることができる等
の優れた特徴を有することから近年広く利用されている
。
速度が速い、基板の温度上昇をおさえることができる等
の優れた特徴を有することから近年広く利用されている
。
以下、図面を参照にしながら、上述したような従来のマ
グネトロンスパッタリング装置のスパッタリングターゲ
ットについて説明を行う。
グネトロンスパッタリング装置のスパッタリングターゲ
ットについて説明を行う。
第2図は従来のマグネトロンスパッタリングの方法を説
明するためのマグネトロンスパッタリング装置の概略構
成を示す要部断面図、第3図(−)は従来のスパッタリ
ングターゲットの平面図、第3図中)は同B−B線から
の正面断面図である。
明するためのマグネトロンスパッタリング装置の概略構
成を示す要部断面図、第3図(−)は従来のスパッタリ
ングターゲットの平面図、第3図中)は同B−B線から
の正面断面図である。
第2図において、10はアルゴン雰囲気中でかつ低真空
に設定された真空容器、12は基板11を固定する基板
ホルダー、14は非晶質垂直磁化膜13の原料であるタ
ーゲット、16はターゲット14を固定したバッキング
プレートである。
に設定された真空容器、12は基板11を固定する基板
ホルダー、14は非晶質垂直磁化膜13の原料であるタ
ーゲット、16はターゲット14を固定したバッキング
プレートである。
真空容器1o内には、基板11とターゲット14が平行
に固定されている。ターゲット14を固定したバッキン
グプレート16の裏面にはターゲット14の中心部がS
極となり周辺部がN極となるよう磁界発生装置(以下磁
石と略称する)1eが配置されていて、図示のごとく磁
界17を生じさせている。また、ターゲット14と基板
ホルダー12との間には放電電力が供給される交流電源
(!たは直流電源)18が接続されており、ターゲット
14の表面に垂直方向に電界19を生じさせる。
に固定されている。ターゲット14を固定したバッキン
グプレート16の裏面にはターゲット14の中心部がS
極となり周辺部がN極となるよう磁界発生装置(以下磁
石と略称する)1eが配置されていて、図示のごとく磁
界17を生じさせている。また、ターゲット14と基板
ホルダー12との間には放電電力が供給される交流電源
(!たは直流電源)18が接続されており、ターゲット
14の表面に垂直方向に電界19を生じさせる。
ここで、この電界19の放電によって生ずる二次電子は
、磁界17のターゲット14の表面に平行な磁界成分に
よってサイクロイドあるいはトコロイド運動をする。こ
のため、スパッタガス分子と二次電子との衝突回数が増
加しイオン化が促進されて、ターゲット14の表面近傍
に高密度プラズマが形成され、ターゲット14の表面か
ら高速スパッタを生じさせるものである。
、磁界17のターゲット14の表面に平行な磁界成分に
よってサイクロイドあるいはトコロイド運動をする。こ
のため、スパッタガス分子と二次電子との衝突回数が増
加しイオン化が促進されて、ターゲット14の表面近傍
に高密度プラズマが形成され、ターゲット14の表面か
ら高速スパッタを生じさせるものである。
とのマグネトロンスパッタリング装置に使用されるター
ゲット14としては、一般に遷移金属と希土類金属とを
アーク炉等で溶解し、合金とした合金ターゲット、遷移
金属と希土類金属とを微粉末にして焼結した焼結ターゲ
ット等のスパッタリングターゲットをバッキングプレー
ト16にボンディングして製作され使用されている。
ゲット14としては、一般に遷移金属と希土類金属とを
アーク炉等で溶解し、合金とした合金ターゲット、遷移
金属と希土類金属とを微粉末にして焼結した焼結ターゲ
ット等のスパッタリングターゲットをバッキングプレー
ト16にボンディングして製作され使用されている。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記のような構成では、ターゲット14
の表面の限られた領域でしか均一な平行磁界成分が得ら
れず、ターゲットのスパッタリング領域は不均一となる
。このため、第6図のごとくターゲットは不均一に消耗
してターゲットの寿命が短かくなり、またスパッタが生
ずる有効面積が小さく、基板の膜形成速度が十分でない
という問題点を有していた。
の表面の限られた領域でしか均一な平行磁界成分が得ら
れず、ターゲットのスパッタリング領域は不均一となる
。このため、第6図のごとくターゲットは不均一に消耗
してターゲットの寿命が短かくなり、またスパッタが生
ずる有効面積が小さく、基板の膜形成速度が十分でない
という問題点を有していた。
本発明は上記問題点に鑑み、マグネトロンスパッタリン
グ装置のターゲットのエロージョン領域を広くすること
のできるマグネトロンスパッタリング装置のスパッタリ
ングターゲットを提供するものである。
グ装置のターゲットのエロージョン領域を広くすること
のできるマグネトロンスパッタリング装置のスパッタリ
ングターゲットを提供するものである。
問題点を解決するための手段
この目的を達成するために本発明のマグネトロンスパッ
タリング装置のスパッタリングターゲットは、ターゲッ
トの外周部が強磁性体により構成されている。
タリング装置のスパッタリングターゲットは、ターゲッ
トの外周部が強磁性体により構成されている。
作 用
この構成によって、ターゲットの裏面に設置した磁石等
の磁界発生装置により生ずる磁界は、ターゲットの外周
部の強磁性体により磁界の方向が変えられ、ターゲット
の表面のほぼ全域にわたって漏洩磁界によるターゲット
に平行な磁界成分が得られることにより、エロージョン
領域を広げられることとなる。
の磁界発生装置により生ずる磁界は、ターゲットの外周
部の強磁性体により磁界の方向が変えられ、ターゲット
の表面のほぼ全域にわたって漏洩磁界によるターゲット
に平行な磁界成分が得られることにより、エロージョン
領域を広げられることとなる。
実施例
以下本発明の実施例について、図面を参照しながら説明
する。第1図(−)は本発明の一実施例におけるマグネ
)0ンスパツタリング装置のスパッタリングターゲット
の平面図であシ、第1図(b)は第1図体)A−A線か
らの正面断面図である。
する。第1図(−)は本発明の一実施例におけるマグネ
)0ンスパツタリング装置のスパッタリングターゲット
の平面図であシ、第1図(b)は第1図体)A−A線か
らの正面断面図である。
第1図において、1は希土類金属と遷移金属を主成分と
するターゲット、2はターゲットの内周部および外周部
に設けられたF・、Co、Ni。
するターゲット、2はターゲットの内周部および外周部
に設けられたF・、Co、Ni。
Fe−Ni合金、Fe2O3等の強磁性体、3はターゲ
ット1の表面に発生する漏洩磁界、4はターゲット1及
び強磁性体2を固定するバッキングプレートである。
ット1の表面に発生する漏洩磁界、4はターゲット1及
び強磁性体2を固定するバッキングプレートである。
6は電磁石もしくは永久磁石で構成される磁石であり、
マグネトロンスパッタリング装置ではバッキングプレー
ト4の裏面に設置されている。このN極またはS極とな
る磁石6からの磁界は、ターゲット1の外周部及び内周
部に固定された強磁性体2により、磁界の方向が変えら
れその表面に比較的強い漏洩磁界3を生ずるものとなり
、このことからターゲット1表面の全域にわたってほぼ
均一な平行方向の漏洩磁界3を生じさせている。
マグネトロンスパッタリング装置ではバッキングプレー
ト4の裏面に設置されている。このN極またはS極とな
る磁石6からの磁界は、ターゲット1の外周部及び内周
部に固定された強磁性体2により、磁界の方向が変えら
れその表面に比較的強い漏洩磁界3を生ずるものとなり
、このことからターゲット1表面の全域にわたってほぼ
均一な平行方向の漏洩磁界3を生じさせている。
そのため、放電による生ずる二次電子はターゲット1の
表面近傍全域に効率良く高密度プラズマを生成しターゲ
ット1の表面全域にわたってスパッタを生じさせること
ができる。そして、マグネトロンスパッタリング装置内
に設けられた基板上に非晶質垂直磁化膜が生成されるこ
とになる。
表面近傍全域に効率良く高密度プラズマを生成しターゲ
ット1の表面全域にわたってスパッタを生じさせること
ができる。そして、マグネトロンスパッタリング装置内
に設けられた基板上に非晶質垂直磁化膜が生成されるこ
とになる。
以上のように本実施例によれば、ターゲット1の外周部
及び内周部に強磁性体を配置することにより、ターゲッ
ト1表面に平行な磁界成分が、ターゲット1の表面の全
域にわたって均一とすることができ、ターゲット1の全
域にわたって均一にスパッタすることができる。このた
め、ターゲットの二ロージッン領域が広くなり、より有
効なターゲットの利用が可能となる。
及び内周部に強磁性体を配置することにより、ターゲッ
ト1表面に平行な磁界成分が、ターゲット1の表面の全
域にわたって均一とすることができ、ターゲット1の全
域にわたって均一にスパッタすることができる。このた
め、ターゲットの二ロージッン領域が広くなり、より有
効なターゲットの利用が可能となる。
従って、本実施例では、第4図に示すようにターゲット
1の消耗状態は、第5図に示す従来のターゲットの一部
のみが消耗する消耗状態に比べ、均一に消耗されるため
、ターゲットの長寿命化を達成できる。さらに、スパッ
タ発生可能面積が広くなるために、基板の膜の付着速度
が早くなり、短時間の膜付着が可能となる。
1の消耗状態は、第5図に示す従来のターゲットの一部
のみが消耗する消耗状態に比べ、均一に消耗されるため
、ターゲットの長寿命化を達成できる。さらに、スパッ
タ発生可能面積が広くなるために、基板の膜の付着速度
が早くなり、短時間の膜付着が可能となる。
なお、本実施例ではターゲットの内周部及び外周部に強
磁性体を配置したが、内周部又は外周部だけでもよい。
磁性体を配置したが、内周部又は外周部だけでもよい。
また、ターゲット形状は円板状としたが、四角形等、任
意の形状でもよい。
意の形状でもよい。
発明の効果
本発明は、ターゲットの少なくとも外周部に強磁性体を
設けることにより、磁石等の磁界発生装置により生ずる
磁界の向きを変化させ、強磁性体の表面に比較的強い漏
洩磁界を生じさせたため、ターゲット表面のほぼ全域に
わたって均一な平行方向の磁界が得られ、ターゲットの
全域より均一にスパッタが発生することができる。この
ため、ターゲットの二ロージッン領域が広くなり、より
有効なターゲットの利用が可能となる。
設けることにより、磁石等の磁界発生装置により生ずる
磁界の向きを変化させ、強磁性体の表面に比較的強い漏
洩磁界を生じさせたため、ターゲット表面のほぼ全域に
わたって均一な平行方向の磁界が得られ、ターゲットの
全域より均一にスパッタが発生することができる。この
ため、ターゲットの二ロージッン領域が広くなり、より
有効なターゲットの利用が可能となる。
また、従来のようにターゲットの一部のみが消耗するこ
となく、ターゲットの寿命を長くすることができる。
となく、ターゲットの寿命を長くすることができる。
さらに、スパッタが発生する面積が広くなるために基板
の膜付着形成速度が大となるなど、数々の優れた効果を
得ることのできるスパッタリングターゲットを実現でき
るものである。
の膜付着形成速度が大となるなど、数々の優れた効果を
得ることのできるスパッタリングターゲットを実現でき
るものである。
第1図(−)は本発明の一実施例におけるスパッタリン
グターゲットの平面図、第1図(b)は第1図(−)の
A−A線正面断面図、第2図は従来のマグネトロンスパ
ッタリングの方法を説明するためのマグネトロンスパッ
タリング装置の構成を示す要部断面図、第3図(、)は
従来のスパッタリングターゲットの平面図、第3図(ロ
)はB−B線正面断面図、第4図は本発明の一実施例の
スパッタリングターゲットの消耗を示す断面図、第6図
は従来のスパッタリングターゲットの消耗を示す断面図
である。 1・・・・・・ターゲット、2・・・・・・強磁性体、
3・・・・・・漏洩磁界、4・・・・・・バッキングプ
レート、6・・・・・・磁石、15・・・・・・真空容
器、11・・・・・・基板、12・・・・・・基板ホル
ダー、13・・・・・・非晶質垂直磁化膜、14・・・
・・・ターゲット、16・・・・・・バッキングプレー
ト、16・・・・・・磁界発生装置、17・・・・・・
磁界、18・・・・・・電源、19・・・・・・電界。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図 G 第4図 第5図 +−〜0 寸 4
グターゲットの平面図、第1図(b)は第1図(−)の
A−A線正面断面図、第2図は従来のマグネトロンスパ
ッタリングの方法を説明するためのマグネトロンスパッ
タリング装置の構成を示す要部断面図、第3図(、)は
従来のスパッタリングターゲットの平面図、第3図(ロ
)はB−B線正面断面図、第4図は本発明の一実施例の
スパッタリングターゲットの消耗を示す断面図、第6図
は従来のスパッタリングターゲットの消耗を示す断面図
である。 1・・・・・・ターゲット、2・・・・・・強磁性体、
3・・・・・・漏洩磁界、4・・・・・・バッキングプ
レート、6・・・・・・磁石、15・・・・・・真空容
器、11・・・・・・基板、12・・・・・・基板ホル
ダー、13・・・・・・非晶質垂直磁化膜、14・・・
・・・ターゲット、16・・・・・・バッキングプレー
ト、16・・・・・・磁界発生装置、17・・・・・・
磁界、18・・・・・・電源、19・・・・・・電界。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図 G 第4図 第5図 +−〜0 寸 4
Claims (1)
- 希土類金属と遷移金属とを主成分とするターゲットの背
面に設けられた磁界発生装置の磁界を前記ターゲットの
表面に漏洩させることによりスパッタを生じさせ、基板
上に希土類金属と遷移金属とを主成分とする非晶質垂直
磁化膜を生成するよう構成されたマグネトロンスパッタ
リング装置に設けられ、前記ターゲットの少なくとも外
周部に強磁性体を設けたことを特徴とするマグネトロン
スパッタリング装置のスパッタリングターゲット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61216651A JPH07107188B2 (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | スパッタリングターゲット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61216651A JPH07107188B2 (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | スパッタリングターゲット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6372873A true JPS6372873A (ja) | 1988-04-02 |
JPH07107188B2 JPH07107188B2 (ja) | 1995-11-15 |
Family
ID=16691789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61216651A Expired - Lifetime JPH07107188B2 (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | スパッタリングターゲット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07107188B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01104771A (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-21 | Anelva Corp | 平板マグネトロンスパッタ装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59200762A (ja) * | 1983-04-26 | 1984-11-14 | Sharp Corp | スパツタリング用タ−ゲツト |
JPS60138070A (ja) * | 1983-12-05 | 1985-07-22 | ライボルト・アクチェンゲゼルシャフト | 強磁性ターゲツトをスパツタするためのマグネトロンカソード |
JPS60155672A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-08-15 | ライボルト−ヘレ−ウス・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 陰極スパツタリング装置に対する陰極装置 |
JPS61161704A (ja) * | 1985-01-11 | 1986-07-22 | Hitachi Ltd | 単軸磁気異方性膜の製造方法 |
JPS61246367A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-01 | Nec Corp | マグネトロン型スパツタリング装置 |
JPS62218562A (ja) * | 1986-03-19 | 1987-09-25 | Fujitsu Ltd | スパツタリング装置 |
-
1986
- 1986-09-12 JP JP61216651A patent/JPH07107188B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59200762A (ja) * | 1983-04-26 | 1984-11-14 | Sharp Corp | スパツタリング用タ−ゲツト |
JPS60155672A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-08-15 | ライボルト−ヘレ−ウス・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 陰極スパツタリング装置に対する陰極装置 |
JPS60138070A (ja) * | 1983-12-05 | 1985-07-22 | ライボルト・アクチェンゲゼルシャフト | 強磁性ターゲツトをスパツタするためのマグネトロンカソード |
JPS61161704A (ja) * | 1985-01-11 | 1986-07-22 | Hitachi Ltd | 単軸磁気異方性膜の製造方法 |
JPS61246367A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-01 | Nec Corp | マグネトロン型スパツタリング装置 |
JPS62218562A (ja) * | 1986-03-19 | 1987-09-25 | Fujitsu Ltd | スパツタリング装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01104771A (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-21 | Anelva Corp | 平板マグネトロンスパッタ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07107188B2 (ja) | 1995-11-15 |
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