JPS59200762A - スパツタリング用タ−ゲツト - Google Patents

スパツタリング用タ−ゲツト

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JPS59200762A
JPS59200762A JP7592983A JP7592983A JPS59200762A JP S59200762 A JPS59200762 A JP S59200762A JP 7592983 A JP7592983 A JP 7592983A JP 7592983 A JP7592983 A JP 7592983A JP S59200762 A JPS59200762 A JP S59200762A
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JP
Japan
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target
sputtering
rare earth
bodies
stage
Prior art date
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Pending
Application number
JP7592983A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Takahashi
明 高橋
Junji Hirokane
順司 広兼
Hiroyuki Katayama
博之 片山
Kenji Oota
賢司 太田
Hideyoshi Yamaoka
山岡 秀嘉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
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Publication of JPS59200762A publication Critical patent/JPS59200762A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • H01J37/3408Planar magnetron sputtering

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明は、光磁気記録媒体をスパッタリングを用すて製
造するに好適なスパッタリング用のターゲットに関する
〈従来技術〉 近年、高密度・大台1jt−高速アクセスをタフいとし
た光メモリ装置のυ1°究開元かW力的に行なわ1tて
因る。中でも情報の消去、再記録かり11ヒな光磁気メ
モリはドキュメントファイル労への応用がちえられ、将
来有望なメモリと言われてbる。
上記光磁気メモリのメモリ用、し相として【cl、Mn
B1等の結晶性材料と希土類と選移金j寓との合金等(
GdTbFe 等)の非晶質(オ料ンかよく知られて込
るか、を己(:式エネルキーか少なくてすむこと、及び
粒界ノイズか現われないこと等のアト山て現在は後者の
希土類とユ響移金罵との合金非晶グ′JへシjルLかU
汀発の中心となって1./)る。又、土1尼メモリ14
J祠利から非晶質薄膜を製造する製造方法とじてに11
′書、免蒸着とスパッタリングのいずれかか月」いられ
るか、大面積に一様な膜を作るのか容易なこと、再現性
か良いこト等のため、スパンクリング法か適当であるこ
とが判明している。
しかし従来の通常用層られるスパッタリング法では蒸着
法に比べて膜の堆積速度が遅いため、スパンクリング法
の中でも特殊々マグネトロンスパッタリングを使うこと
が有利であることが判明している。
このマグネトロンスパッタリングでは、ターゲット表面
で電界と垂直方向に磁界を作り、電子をターゲット付近
に閉じ込めることによって、効率よく放電を行うもので
あるが、上記磁界印加個所において集中してスパッタリ
ングがなされる為、ターゲットの片減わが生じる。
@1図に通常の平板マグネトロンスパッタリングの電櫃
構戊の構成説明図を示す。1はターゲット、2は磁石、
3けヨーク、4は磁束を示して込ル1.−、第1図の様
々@極構成でマグネトロンスパッタリングを行なうと、
第2図に示すごとくターゲットの一部が磁界の影響によ
って集中スパッタリングされ、その結果片減りaが生じ
る。特にFe。
Co、Ni等の強磁性体をマグネトロンスパッタリング
する場合は、以下に説明するように片減り現象か強くな
る。
即ち、ターゲット表面に磁界を作るためには第1図のよ
うに電極内に磁石2を配置するが、ターゲットか強磁性
体の場合には@3図に示すごとく磁束4の大部分かター
ゲット5内を通過し、ターゲット5表面に出にぐ〈々る
。この事から@極内に配置する磁石2としては、希土類
コバルト系の強力な磁束を発生するものにする必要があ
る。しかし、マグネトロンスパッタリングによりターゲ
ット5の一部が片減りした場合、@4図に示す様にその
部分が部分的に薄くなり、それまでターゲット5内部を
通って−た磁束4aがターゲット5外に出て、その結果
片減りした部分aにおける磁界が強くなり、」二連した
如く強い磁石を用いたことと相俟って、更に片減りか進
むことになる。一方、強磁性体ターゲット5の外へ磁束
を出す方法として、上述した如く磁石を強力なものに変
えるのではなく、ターゲットを薄くすることも考えられ
るが、ターゲット外部に出る磁束はターゲット内部が飽
和磁束になった結果の漏洩部分であるため、上述した厚
いターゲットと強力な磁石を用いた場合とまったく同様
な議論ができ、よって片減りが激し5点は同じである。
従って後者の場合は、ターゲットの寿命が短めだけ、前
者に比べ好ましくな−と言゛える。
以上説明したように強磁性体をターゲットとしたマグネ
トロンスパッタリングは、ターゲットの片減すか激しく
、ターゲット寿命が短−こと、ターゲットの一部しかス
パッタリングされないため大部分のターゲットが無駄に
なることか大きな欠点である。次に、このような欠点を
ふまえて上記マグネトロンスパッタリングをGdTbF
e等の希土類・遷移金属合金膜から成る光磁気メモリ薄
膜の作成に適用した場合の問題点について詳説する。
希土類・遷移金属合金薄膜作成用ターゲットの使い方と
しては、アークメルト法等であらかじめ合金ターゲット
を作る場合と、遷移金属ターゲット上に希土類の薄片を
並べ同時スパッタリングする場合とかあるが、前者は合
金の組成の制御が困゛難なため、通常後者が用いられる
。後者の方式を採用した場合1.希土類の厚さは電極間
距離に比して充分に薄くし力めといけ々いため、通常電
極間距離3〜6備に対し、o、 i〜2n程度の厚みの
板を用いなければなら71x。ところか、前述した如く
片減りの現象発生とスパッタリングレイトが速いこと等
のため、合金膜作成時にお因で上記希土類薄片の取り変
え(あるいは補充)を頻繁にしなければならず、その為
後者の方式では再現性ある膜を多量に作成すると上方S
困難であった。
く目的〉 本発明は上記問題点に鑑みなされたものであって光磁気
用記録媒体を効率良くスパッタリングにより製造する方
法を提供することを目的とするものである。
〈実施例〉 以下本発明に係るスパッタリング用ターゲットの実施例
について図面を用いて詳細に説明する。
@5図は本発明に係るスパッタリング用ターゲットを用
りた光磁気メモリ媒体用の電極の構造全示す構成説明図
である。
5はFe、Co、Ni等の強磁性体からなる板状体であ
り、6はGd、Tb、DY等の希土類元素からなる直径
5履程度の円筒状の片状体である。これらの希土類元素
はいずれも強磁性体であるが、そのキュリ一温度が最も
高いGdでも室温(3077゜K)程度であるので、ス
パッタリング時のターゲットの温度上昇を考えるとこれ
らはスパッタリング中は常磁性になっていると考えるこ
とかできる。
一方、Fe、Co、Ni等は高温まで強磁性を保有する
。そうすると第5図のとと〈片状体6(常磁性部)部分
での磁束はターゲット5外に飛び出すので上記片状体6
部分においてはマグネトロン、スパッタリングの効果が
大きくなる。つまり、希土類元素の片状体6をFe、C
o、Ni等の強磁性体ターゲット5中の適切な位置(片
減りを低減せしめる位置、及び希土類元素の片状体6カ
;効率的にスパッタリングされる位置等の条件により上
記適切な位置を決めれば良い。)に必要な量だけ埋設す
ることによって、他の常磁性体のみのマグネトρンスパ
ッタリ゛・ン、グと同様な効果をあげることができる。
ここで強磁、性体からなる板状体5中への希土類元素か
らなる片状体6の埋設は、予め板状体5に所定の孔(貫
通孔、若しくは溝孔)を形成しておき、その孔に片状体
6を嵌め込めばよい。尚、上記孔に雌ねじのねじ切りを
形成し、上記片状体6に雄ねじのねじ切りを形成すれば
、上記孔に片状体6を嵌め込む場合にねじ締めを行なう
ことができる一為安定した嵌め込みが達成される。
第6図は本発明に係るスパッタリング用ターゲットの他
の実施例の構成説明図である。同図に示される如< F
e、Co、Ni等の強磁性体からなる板状体7の所定位
置(例えば第5図の片状体6の位置、板状体7の略全面
位置等)内部にGd 、 Tb 。
Dy等の希土類元素からなる直径5H程度め11:I筒
状の片状体8が比較的短す間隔1m程度にて周期的に埋
設されてターゲットが構成されている。この構造によれ
ば片状体8の埋設個所か板状体7内の広範囲に拡げるこ
とができるので磁束9の中のもれ磁束9aを多くできこ
の事によってターゲットの片減鍬−象か解消される。1
0けCuからなるバッキングプレートであり、該1プレ
ート10けスパッタリングの際の水冷の為に用いられる
。このプレート10とターゲットとはエポキシ樹脂にて
接着される。
上記第5図、第6図(で示した構成のターゲットを用因
ればもれ磁束を多く確保できるのでターゲット自身の厚
みを厚くでき、且つそれ程強力な磁石を使う必要がない
。そして上述の如くターゲット自身の厚みを厚くできる
ので希土類元素からなる片・天体8の補充回数を少なく
でき、その分だけ再現性のある光磁気メモリ媒体膜(G
dTbFe。
TbFe、TbDyFe、GdTbDyFe等)を多量
に製作することが可能になる。
以上の実施例は元メモリ用の希土類遷移金属膜を作成す
る為のスパッタリング用ターゲットについて説明したか
、本発明けその範囲に限定されず社々の応用か可能であ
る。たとえば、coOr垂直磁化膜も強磁性を有するC
oと、常磁性を有するCrとの同時スパッタリングによ
り作成されるものであるが、本発明の主旨に沿ってCo
ターゲットにCrと埋め込むことで効率の良−マグネト
ロンスパッタリングが可能となる。要はスパッタリング
中のターゲット温度におりて常磁性を示す元素と強磁性
を示す元素とを同時マグネトロンスパッタリングする場
合、強磁性体内に常磁性体を部分的に埋めこんでターゲ
ットとすることか本発明の主旨である。
〈効果〉 本発明によれば、特に希土類とM移金属合金((よる磁
気光学記憶素子の記録媒体を高速かつ再現性良く量産す
ることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のマグネトロンスパッタリング用電極の構
成を示す構成説明図、第2図は片減りしたターゲットを
備えた従来のマグネトロンスパッタリング用電極の構成
を示す構成説明図、第3図は強磁性体からなるターゲッ
トを備えた従来のマグネトロンスパッタリング用@極の
、構成を示す構成説明図、第4図は片減りしたターゲッ
トの一部構成説嬰廊、第5図は本発明に係るスパッタリ
ング用ターゲ・lトの一実施例を備えたマグネトロンス
パンタリング用電極の構成を示す構成説明図、第6図は
本発明に係るスパンタリング用ターゲットの他の実施例
の構成説明図である。 図中、1:ターゲット、  2:磁石、3:ヨーク、 
   4,9:磁束\ 5.7:強磁性体からなる板状体、 6.8:希土類元素からなる片状体、 10:バッギングプレート。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦(他2名)第4メ1 第5シl 第一五メ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 」、 ス・ぐノクワング状態時に強磁性を有する基板の
    所定位置にスパッタリング状膳時に常磁性をイ]°する
    片状体を埋設してなるスパッタリング用り一ゲソト。 2、前記スパッタリングかマグネトロンスパッタリング
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1配列+1莢
    のスパンクリング用ターゲット。 3 前記強磁性を有する基板の材質が、F e r、N
     s rCoの少なくとも1つを含み、前記常磁性を有
    する片状体のF):質かGd 、 TI) 、 Dy 
    、 Cr  の少なくとも1つを含むことを特徴とする
    特許請求の範囲君1順乃至第2項記載のスパンクリング
    用ターゲット。
JP7592983A 1983-04-26 1983-04-26 スパツタリング用タ−ゲツト Pending JPS59200762A (ja)

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JP7592983A JPS59200762A (ja) 1983-04-26 1983-04-26 スパツタリング用タ−ゲツト

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JPS59200762A true JPS59200762A (ja) 1984-11-14

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JP (1) JPS59200762A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6372873A (ja) * 1986-09-12 1988-04-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd スパッタリングターゲット
JPS63274764A (ja) * 1987-04-30 1988-11-11 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 光磁気記録用合金タ−ゲツト
US6117282A (en) * 1997-09-23 2000-09-12 Kuo; Po-Cheng Method of producing amorphous Co-Tb magnetic recording thin films

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