JPH0553867B2 - - Google Patents
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- JPH0553867B2 JPH0553867B2 JP62104771A JP10477187A JPH0553867B2 JP H0553867 B2 JPH0553867 B2 JP H0553867B2 JP 62104771 A JP62104771 A JP 62104771A JP 10477187 A JP10477187 A JP 10477187A JP H0553867 B2 JPH0553867 B2 JP H0553867B2
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/14—Metallic material, boron or silicon
- C23C14/16—Metallic material, boron or silicon on metallic substrates or on substrates of boron or silicon
- C23C14/165—Metallic material, boron or silicon on metallic substrates or on substrates of boron or silicon by cathodic sputtering
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10582—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form
- G11B11/10586—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form characterised by the selection of the material
- G11B11/10589—Details
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
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- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
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Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光磁気記録媒体をスパツタリング法
を用いて製造するのに好適な合金ターゲツトに関
する。 〔従来の技術〕 近年、情報の消去、再記録が容易にできる光磁
気メモリーが注目されているが、この光磁気メモ
リーの材料として、ガーネツトなどの単結晶材
料、MnBi,PtCoなどの多結晶材料および希土類
元素と遷移金属との合金などの非晶質材料が知ら
れている。 これらの中でも希土類元素と遷移金属からなる
非晶質合金(Tb−Fe−Co,Gd−Tb−Feなど)
は、記録に必要なエネルギーが少なくてすむこ
と、粒界ノイズが現われないこと、さらに比較的
容易に大型のものが作成できること等の多くの利
点を持つ。この非晶質合金の薄膜を作成する方法
として、イオンをターゲツトに衝突させてターゲ
ツト近くにおかれた基板の上に薄膜を作成するス
パツタリング法がよく用いられる。このスパツタ
リング法に使用されるターゲツト材料のうち、(1)
割れ難いこと、(2)組成の均一性が良好であること
などを具備するものとして、例えば、希土類元素
と遷移金属との金属間化合物相および遷移金属単
体相からなる混合組織であるもの(特開昭62−
70550号)が提案されている。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、このターゲツト材料は、(1)スパ
ツタリング速度が遅い、(2)金属間化合物相と遷移
金属単体相とのスパツタリング飛程の違いによ
り、得られる膜組成がターゲツト組成から大幅に
ずれる、(3)透磁率が高く、特にマグネトロンスパ
ツタ装置に用いるとターゲツト表面もれ磁束が小
さく、スパツタ効率ひいてはターゲツト利用効率
が悪くなる、(4)(3)に関連してターゲツト表面の形
状変化が激しく、膜の組成に経時変化を生じるな
どの問題点を抱えている。 本発明者等は、これらの問題点を解消し、(1)ス
パツタリング速度が速い、(2)ターゲツト−膜の組
成ずれの少ない、(3)透磁率が低く、従つてターゲ
ツト利用効率の大きい、(4)得られる膜組成に経時
変化を生じさせないターゲツトを提供すべく鋭意
研究した結果、ターゲツトの組織中に遷移金属単
体相でなく、希土類元素単体相を存在させること
によつて、前記目的が達成され得ることを見出
し、本発明に到達した。 〔問題点を解決するための手段および作用〕 即ち、本発明の光磁気記録用合金ターゲツトは
成分、組成が、Sm,Nd,Gd,Tb,Dy,Ho,
Tm,Erの中の少なくとも1種の希土類元素10〜
50原子%、残部実質的にCo,Fe,Niの中の少な
くとも1種の遷移金属であり、組織が実質的に該
希土類元素と該遷移金属との金属間化合物相およ
び該希土類元素単体相のみからなる混合組織であ
ることを特徴とするものである。 本発明の合金ターゲツトの成分組成は、Sm,
Nd,Gd,Tb,Dy,Ho,Tm,Erの中の少なく
とも1種の希土類元素10〜50原子%、残部実質的
にCo,Fe,Niの中の少なくとも1種の遷移金属
である必要がある。希土類元素の量が10原子%未
満になつたり、50原子%を超えると、スパツタリ
ング法により得られる薄膜の光磁気特性の充分な
ものとならない。 本発明の合金ターゲツトは、製造上不可避的に
混入する不純物、例えばCa,Si,C,P,S,
Mnなどを含んでいてもよい。 また、本発明の合金ターゲツトの組織は、実質
的に該希土類元素と該遷移金属との金属間化合物
相および該希土類元素単体相のみからなる混合組
織を呈する。この希土類元素単体相は、脆い前記
金属間化合物相の結合相としてのみならず、スパ
ツタリング速度を速くし、ターゲツトと膜との組
成差を少くするように作用する。この単体相は、
500μm以下の大きさで、5容量%以上存在するこ
とが、前記作用を有効に発揮させる上で好まし
く、形状は粒状、角状、柱状などでよく、特に制
限はない。遷移金属単体相は実質的に存在しない
ことが必要であり、存在すると、ターゲツト利用
効率や膜の経時変化に悪い影響を及ぼす。他の相
である希土類元素と遷移金属との金属間化合物相
は、1相でも2相以上でもよく、それらの形状、
大きさも特に制限はない。 次に、本発明の実施例を製造法とともに説明す
る。 〔実施例〕 実施例 1 Tb−Fe,Tb−Fe−CoおよびGd−Tb−Fe合
金ターゲツトの製造を目的として、それぞれ純度
が99.9重量%以上の、Tb4O7粉末(平均粒径3μm
以下)、Gd2O3粉末(平均粒径3μm以下)、Fe粉末
(粒度200メツシユ(Tyler)以下)、Co粉末(粒
度200メツシユ(Tyler)以下)、金属Ca(粒度4
メツシユ(Tyler)以下)および無水CaC2(粒
度100メツシユ(Tyler)以下)を第1表に示し
た量配合し、十分に混合した。
を用いて製造するのに好適な合金ターゲツトに関
する。 〔従来の技術〕 近年、情報の消去、再記録が容易にできる光磁
気メモリーが注目されているが、この光磁気メモ
リーの材料として、ガーネツトなどの単結晶材
料、MnBi,PtCoなどの多結晶材料および希土類
元素と遷移金属との合金などの非晶質材料が知ら
れている。 これらの中でも希土類元素と遷移金属からなる
非晶質合金(Tb−Fe−Co,Gd−Tb−Feなど)
は、記録に必要なエネルギーが少なくてすむこ
と、粒界ノイズが現われないこと、さらに比較的
容易に大型のものが作成できること等の多くの利
点を持つ。この非晶質合金の薄膜を作成する方法
として、イオンをターゲツトに衝突させてターゲ
ツト近くにおかれた基板の上に薄膜を作成するス
パツタリング法がよく用いられる。このスパツタ
リング法に使用されるターゲツト材料のうち、(1)
割れ難いこと、(2)組成の均一性が良好であること
などを具備するものとして、例えば、希土類元素
と遷移金属との金属間化合物相および遷移金属単
体相からなる混合組織であるもの(特開昭62−
70550号)が提案されている。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、このターゲツト材料は、(1)スパ
ツタリング速度が遅い、(2)金属間化合物相と遷移
金属単体相とのスパツタリング飛程の違いによ
り、得られる膜組成がターゲツト組成から大幅に
ずれる、(3)透磁率が高く、特にマグネトロンスパ
ツタ装置に用いるとターゲツト表面もれ磁束が小
さく、スパツタ効率ひいてはターゲツト利用効率
が悪くなる、(4)(3)に関連してターゲツト表面の形
状変化が激しく、膜の組成に経時変化を生じるな
どの問題点を抱えている。 本発明者等は、これらの問題点を解消し、(1)ス
パツタリング速度が速い、(2)ターゲツト−膜の組
成ずれの少ない、(3)透磁率が低く、従つてターゲ
ツト利用効率の大きい、(4)得られる膜組成に経時
変化を生じさせないターゲツトを提供すべく鋭意
研究した結果、ターゲツトの組織中に遷移金属単
体相でなく、希土類元素単体相を存在させること
によつて、前記目的が達成され得ることを見出
し、本発明に到達した。 〔問題点を解決するための手段および作用〕 即ち、本発明の光磁気記録用合金ターゲツトは
成分、組成が、Sm,Nd,Gd,Tb,Dy,Ho,
Tm,Erの中の少なくとも1種の希土類元素10〜
50原子%、残部実質的にCo,Fe,Niの中の少な
くとも1種の遷移金属であり、組織が実質的に該
希土類元素と該遷移金属との金属間化合物相およ
び該希土類元素単体相のみからなる混合組織であ
ることを特徴とするものである。 本発明の合金ターゲツトの成分組成は、Sm,
Nd,Gd,Tb,Dy,Ho,Tm,Erの中の少なく
とも1種の希土類元素10〜50原子%、残部実質的
にCo,Fe,Niの中の少なくとも1種の遷移金属
である必要がある。希土類元素の量が10原子%未
満になつたり、50原子%を超えると、スパツタリ
ング法により得られる薄膜の光磁気特性の充分な
ものとならない。 本発明の合金ターゲツトは、製造上不可避的に
混入する不純物、例えばCa,Si,C,P,S,
Mnなどを含んでいてもよい。 また、本発明の合金ターゲツトの組織は、実質
的に該希土類元素と該遷移金属との金属間化合物
相および該希土類元素単体相のみからなる混合組
織を呈する。この希土類元素単体相は、脆い前記
金属間化合物相の結合相としてのみならず、スパ
ツタリング速度を速くし、ターゲツトと膜との組
成差を少くするように作用する。この単体相は、
500μm以下の大きさで、5容量%以上存在するこ
とが、前記作用を有効に発揮させる上で好まし
く、形状は粒状、角状、柱状などでよく、特に制
限はない。遷移金属単体相は実質的に存在しない
ことが必要であり、存在すると、ターゲツト利用
効率や膜の経時変化に悪い影響を及ぼす。他の相
である希土類元素と遷移金属との金属間化合物相
は、1相でも2相以上でもよく、それらの形状、
大きさも特に制限はない。 次に、本発明の実施例を製造法とともに説明す
る。 〔実施例〕 実施例 1 Tb−Fe,Tb−Fe−CoおよびGd−Tb−Fe合
金ターゲツトの製造を目的として、それぞれ純度
が99.9重量%以上の、Tb4O7粉末(平均粒径3μm
以下)、Gd2O3粉末(平均粒径3μm以下)、Fe粉末
(粒度200メツシユ(Tyler)以下)、Co粉末(粒
度200メツシユ(Tyler)以下)、金属Ca(粒度4
メツシユ(Tyler)以下)および無水CaC2(粒
度100メツシユ(Tyler)以下)を第1表に示し
た量配合し、十分に混合した。
【表】
混合物をステンレススチール製の反応容器に入
れ、高純度Arガスの気流中で1000℃まで約1時
間で昇温し、その温度で5時間保持した後室温ま
で冷却した。生成した塊状の混合物を5の水に
投入した。塊状の混合物が崩壊した後、生じたス
ラリーから上層のCa(OH)2懸濁物をデカンテー
シヨンによつて分離した。この操作を繰り返して
得られた合金粉末をPH4.5の希酢酸と接触させた
後、水洗、エタノール洗浄を経て、50℃、1×
10-2Torrで真空乾燥した。 次に、この合金粉末(平均粒径60μm)55gに純
度99.9重量%以上の金属Tb粉末(平均粒径
20μm)5gを混合し、この混合粉末を内径130mmの
黒鉛製の成形器に装入し熱間加圧した。熱間加圧
の条件として、真空度を5×10-5Torrとし、粉
末を加圧するために、150Kg/cm2の圧力を1000℃
に昇温するまで加え、昇温後は圧力を250Kg/cm2
としその温度を1時間保持した後、室温まで冷却
した。 成形器から取り出した合金ターゲツトである焼
結体のヒビ、割れを検査した。いずれの焼結体
も、目視にて全く見あたらず、透過X線の照射に
よる内部検査でも観測されなかつた。また、これ
らの焼結体の組成、相対密度、組織の検鏡結果を
第2表に示す。このうち、存在する希土類元素単
体相の大きさおよび容量%は切断法によつた。な
お、遷移金属単体相はいずれの焼結体にも認めら
れなかつた。更に、焼結体表面の全希土類元素量
をEPMAにより定量分析し、そのバラツキ(範
囲)を求め第3表に示した。
れ、高純度Arガスの気流中で1000℃まで約1時
間で昇温し、その温度で5時間保持した後室温ま
で冷却した。生成した塊状の混合物を5の水に
投入した。塊状の混合物が崩壊した後、生じたス
ラリーから上層のCa(OH)2懸濁物をデカンテー
シヨンによつて分離した。この操作を繰り返して
得られた合金粉末をPH4.5の希酢酸と接触させた
後、水洗、エタノール洗浄を経て、50℃、1×
10-2Torrで真空乾燥した。 次に、この合金粉末(平均粒径60μm)55gに純
度99.9重量%以上の金属Tb粉末(平均粒径
20μm)5gを混合し、この混合粉末を内径130mmの
黒鉛製の成形器に装入し熱間加圧した。熱間加圧
の条件として、真空度を5×10-5Torrとし、粉
末を加圧するために、150Kg/cm2の圧力を1000℃
に昇温するまで加え、昇温後は圧力を250Kg/cm2
としその温度を1時間保持した後、室温まで冷却
した。 成形器から取り出した合金ターゲツトである焼
結体のヒビ、割れを検査した。いずれの焼結体
も、目視にて全く見あたらず、透過X線の照射に
よる内部検査でも観測されなかつた。また、これ
らの焼結体の組成、相対密度、組織の検鏡結果を
第2表に示す。このうち、存在する希土類元素単
体相の大きさおよび容量%は切断法によつた。な
お、遷移金属単体相はいずれの焼結体にも認めら
れなかつた。更に、焼結体表面の全希土類元素量
をEPMAにより定量分析し、そのバラツキ(範
囲)を求め第3表に示した。
【表】
このような合金ターゲツト(直径130mm、厚さ
4.5mm)を使用し、スパツタリング法(Arガス
圧:6×10-5Torr、スパツタリング電力:4W/
cm2、基板:ソーダガラス)により薄膜(膜厚3000
Å)を作成した。作成中スパツタリングはいずれ
の試験も充分安定していた。また、作成後の合金
ターゲツトのヒビ、割れを前記と同様に観察、検
査したが、観察されなかつた。薄膜作成後、各々
の試験における(1)スパツタリング速度、(2)ターゲ
ツト利用効率、(3)ターゲツト−膜の組成ずれ、(4)
ターゲツトの透磁率、(5)膜組成の経時変化を測定
した。なお、上記(1)〜(5)の測定方法は、次の通り
である。 (1) スパツタリング速度:上記条件のスパツタリ
ング法で作成した薄膜の膜厚と作成に要した時
間から成膜速度を算出する。 (2) ターゲツト利用効率:長時間使用し、ターゲ
ツト厚さが最も薄いところで0.5mmとなつたタ
ーゲツトの減量を測定する。 (3) ターゲツト−膜の組成ずれ:ターゲツトおよ
び膜中の全希土類元素量をEPMAにより定量
分析し、その組成差を求める。 (4) ターゲツトの透磁率:振動試料型磁束計を使
用しターゲツトを切り出したサンプルについて
透磁率を求める。 (5) 膜組成の経時変化:スパツタ時間が5,20,
40および60時間経過した時点で得られた薄膜中
の全希土類元素量のバラツキ(範囲)を求め
る。 上記測定により得られた結果を第3表に示す。
4.5mm)を使用し、スパツタリング法(Arガス
圧:6×10-5Torr、スパツタリング電力:4W/
cm2、基板:ソーダガラス)により薄膜(膜厚3000
Å)を作成した。作成中スパツタリングはいずれ
の試験も充分安定していた。また、作成後の合金
ターゲツトのヒビ、割れを前記と同様に観察、検
査したが、観察されなかつた。薄膜作成後、各々
の試験における(1)スパツタリング速度、(2)ターゲ
ツト利用効率、(3)ターゲツト−膜の組成ずれ、(4)
ターゲツトの透磁率、(5)膜組成の経時変化を測定
した。なお、上記(1)〜(5)の測定方法は、次の通り
である。 (1) スパツタリング速度:上記条件のスパツタリ
ング法で作成した薄膜の膜厚と作成に要した時
間から成膜速度を算出する。 (2) ターゲツト利用効率:長時間使用し、ターゲ
ツト厚さが最も薄いところで0.5mmとなつたタ
ーゲツトの減量を測定する。 (3) ターゲツト−膜の組成ずれ:ターゲツトおよ
び膜中の全希土類元素量をEPMAにより定量
分析し、その組成差を求める。 (4) ターゲツトの透磁率:振動試料型磁束計を使
用しターゲツトを切り出したサンプルについて
透磁率を求める。 (5) 膜組成の経時変化:スパツタ時間が5,20,
40および60時間経過した時点で得られた薄膜中
の全希土類元素量のバラツキ(範囲)を求め
る。 上記測定により得られた結果を第3表に示す。
以上から明らかなように、本発明により組成が
均一で、ヒビ、割れがなく高強度をもち、かつ、
スパツタリング速度、ターゲツト利用効率、ター
ゲツト膜の組成ずれや経時変化、ターゲツトの透
磁率のいずれも優れたターゲツトを提供すること
ができる。
均一で、ヒビ、割れがなく高強度をもち、かつ、
スパツタリング速度、ターゲツト利用効率、ター
ゲツト膜の組成ずれや経時変化、ターゲツトの透
磁率のいずれも優れたターゲツトを提供すること
ができる。
Claims (1)
- 1 成分、組成が、Sm,Nd,Gd,Tb,Dy,
Ho,Tm,Er中の少なくとも1種の希土類元素
10〜50原子%、残部実質的にCo,Fe,Niの中の
少なくとも1種の遷移金属元素であり、組織が実
質的に該希土類金属元素と該遷移金属元素との金
属間化合物相および該希土類元素単体相のみから
なる混合組織であることを特徴とする光磁気記録
用ターゲツト。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62104771A JPS63274764A (ja) | 1987-04-30 | 1987-04-30 | 光磁気記録用合金タ−ゲツト |
EP88303858A EP0289316B1 (en) | 1987-04-30 | 1988-04-28 | Alloy target for manufacturing a magneto-optical recording medium |
DE3853174T DE3853174T2 (de) | 1987-04-30 | 1988-04-28 | Legierungstarget zum Herstellen von magneto-optischen Aufnahmemitteln. |
US07/188,206 US4915738A (en) | 1987-04-30 | 1988-04-29 | Alloy target for manufacturing a magneto-optical recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62104771A JPS63274764A (ja) | 1987-04-30 | 1987-04-30 | 光磁気記録用合金タ−ゲツト |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63274764A JPS63274764A (ja) | 1988-11-11 |
JPH0553867B2 true JPH0553867B2 (ja) | 1993-08-11 |
Family
ID=14389739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62104771A Granted JPS63274764A (ja) | 1987-04-30 | 1987-04-30 | 光磁気記録用合金タ−ゲツト |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4915738A (ja) |
EP (1) | EP0289316B1 (ja) |
JP (1) | JPS63274764A (ja) |
DE (1) | DE3853174T2 (ja) |
Families Citing this family (7)
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---|---|---|---|---|
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JP2988021B2 (ja) * | 1991-06-12 | 1999-12-06 | 三菱マテリアル株式会社 | 透磁率の低い光磁気記録薄膜形成用高強度ターゲット材 |
US5612131A (en) * | 1993-04-26 | 1997-03-18 | International Business Machines Corporation | Composite magneto-optic memory and media |
US5439500A (en) * | 1993-12-02 | 1995-08-08 | Materials Research Corporation | Magneto-optical alloy sputter targets |
KR0141194B1 (ko) * | 1994-06-10 | 1998-07-15 | 김광호 | 스퍼터링용 타아게트의 제조방법 |
JP3098204B2 (ja) * | 1997-03-07 | 2000-10-16 | ティーディーケイ株式会社 | 光磁気記録用合金ターゲット、その製造方法およびその再生方法 |
JP4900993B2 (ja) * | 2000-08-30 | 2012-03-21 | 株式会社東芝 | スパッタリングターゲットとそれを用いたGe系薄膜の製造方法 |
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JPS59200762A (ja) * | 1983-04-26 | 1984-11-14 | Sharp Corp | スパツタリング用タ−ゲツト |
JPS61119648A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-06 | Mitsubishi Metal Corp | 焼結複合タ−ゲツト材 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3919004A (en) * | 1970-04-30 | 1975-11-11 | Gen Electric | Liquid sintered cobalt-rare earth intermetallic product |
US4578242A (en) * | 1984-07-03 | 1986-03-25 | General Motors Corporation | Metallothermic reduction of rare earth oxides |
US4620872A (en) * | 1984-10-18 | 1986-11-04 | Mitsubishi Kinzoku Kabushiki Kaisha | Composite target material and process for producing the same |
JPH0796701B2 (ja) * | 1984-12-12 | 1995-10-18 | 日立金属株式会社 | スパッタ用ターゲットとその製造方法 |
JPS6270550A (ja) * | 1985-09-20 | 1987-04-01 | Mitsubishi Metal Corp | タ−ゲツト材 |
FR2607520B1 (fr) * | 1986-11-27 | 1992-06-19 | Comurhex | Procede d'elaboration par metallothermie d'alliages purs a base de terres rares et de metaux de transition |
JPH0768612B2 (ja) * | 1987-04-20 | 1995-07-26 | 日立金属株式会社 | 希土類金属―鉄族金属ターゲット用合金粉末、希土類金属―鉄族金属ターゲット、およびそれらの製造方法 |
-
1987
- 1987-04-30 JP JP62104771A patent/JPS63274764A/ja active Granted
-
1988
- 1988-04-28 EP EP88303858A patent/EP0289316B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-04-28 DE DE3853174T patent/DE3853174T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-04-29 US US07/188,206 patent/US4915738A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59200762A (ja) * | 1983-04-26 | 1984-11-14 | Sharp Corp | スパツタリング用タ−ゲツト |
JPS61119648A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-06 | Mitsubishi Metal Corp | 焼結複合タ−ゲツト材 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3853174D1 (de) | 1995-04-06 |
US4915738A (en) | 1990-04-10 |
DE3853174T2 (de) | 1995-06-22 |
EP0289316B1 (en) | 1995-03-01 |
JPS63274764A (ja) | 1988-11-11 |
EP0289316A2 (en) | 1988-11-02 |
EP0289316A3 (en) | 1990-03-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |