JPS6367731A - ステツパ用x線マスク - Google Patents
ステツパ用x線マスクInfo
- Publication number
- JPS6367731A JPS6367731A JP61210735A JP21073586A JPS6367731A JP S6367731 A JPS6367731 A JP S6367731A JP 61210735 A JP61210735 A JP 61210735A JP 21073586 A JP21073586 A JP 21073586A JP S6367731 A JPS6367731 A JP S6367731A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- film
- tantalum
- mask
- stepper
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 17
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 17
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims abstract description 11
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims abstract description 10
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims abstract description 10
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 7
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 abstract description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 3
- RZDQHXVLPYMFLM-UHFFFAOYSA-N gold tantalum Chemical compound [Ta].[Ta].[Ta].[Au] RZDQHXVLPYMFLM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 12
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- -1 silicon Chemical compound 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔I既 要〕
タンタルX線吸収体と、金およびタンタルのX線プロ7
カを有するステッパ用X線マスク。
カを有するステッパ用X線マスク。
本発明は、LSIなどの半導体装置の製造において使用
するのに適するステッパ用)lマスクに関する。
するのに適するステッパ用)lマスクに関する。
LSIなどの半導体装置を製造するには、X線マスクを
使用してウェハに回路パターンを形成する。このときウ
ェハの区画ごとに順次X線を照射してパターンを段階的
に形成するが、1つの区画を照射している間、他の区画
にX線が当らないようにするために、ウェハの各区画に
対応してX線マスクの各区画の境を遮蔽するX線ブロッ
カを設ける。
使用してウェハに回路パターンを形成する。このときウ
ェハの区画ごとに順次X線を照射してパターンを段階的
に形成するが、1つの区画を照射している間、他の区画
にX線が当らないようにするために、ウェハの各区画に
対応してX線マスクの各区画の境を遮蔽するX線ブロッ
カを設ける。
X線マスクの製造には、シリコン基板にX線透過性メン
ブレンを成膜し、メンブレンと反対側の周辺部にリング
を接着した後にリングによって囲まれた領域をバックエ
ツチングしてシリコンを除去するが、このとき水酸化カ
リウム水溶液またはぶつ化水素、硝酸、酢酸の混酸をエ
ツチング液としてシリコンを溶解して、除去し、メンブ
レンがリングによって周囲から引張られた状態とし、こ
の上に回路パターン形成用X線吸収体を形成とするため
のタンタル薄膜を成膜する。
ブレンを成膜し、メンブレンと反対側の周辺部にリング
を接着した後にリングによって囲まれた領域をバックエ
ツチングしてシリコンを除去するが、このとき水酸化カ
リウム水溶液またはぶつ化水素、硝酸、酢酸の混酸をエ
ツチング液としてシリコンを溶解して、除去し、メンブ
レンがリングによって周囲から引張られた状態とし、こ
の上に回路パターン形成用X線吸収体を形成とするため
のタンタル薄膜を成膜する。
タンタルはシリコンと同様にエツチング液に溶解するの
で、従来はこれを厚み0.2〜0.5μmのホトレジス
トまたはポリイミドで被膜していたが、これらの有機物
質はエツチング溶液の侵入を完全に防ぐことができなか
った。
で、従来はこれを厚み0.2〜0.5μmのホトレジス
トまたはポリイミドで被膜していたが、これらの有機物
質はエツチング溶液の侵入を完全に防ぐことができなか
った。
タンタルをX&1吸収体とするステッパ用X線マスクは
、その製造において基板のシリコンをバンクエツチング
するときに、タンタルの溶解を防ぐ必要がある。
、その製造において基板のシリコンをバンクエツチング
するときに、タンタルの溶解を防ぐ必要がある。
上記問題点は、X線透過性メンブレンの上に、X線吸収
体と、X線ブロッカとを有するステッパ用X&1マスク
であって、X線吸収体をタンタルとし、X線ブロッカを
金およびタンタルとしたことを特徴とするX線マスクに
よって解決することができる。
体と、X線ブロッカとを有するステッパ用X&1マスク
であって、X線吸収体をタンタルとし、X線ブロッカを
金およびタンタルとしたことを特徴とするX線マスクに
よって解決することができる。
第1図を参照して本発明のステッパ用xlマスクの製造
工程を説明する。(a)常法によって、シリコン基Fj
、1の上に、X線透過性メンブレン2を成膜し、この上
に厚み0.8μmのタンクル膜3をスパッタリングし、
これと反対側の面の周辺部にリング4を接着した。タン
タル膜3の上に、本発明によって厚み1μmの金膜5を
スパッタリングして被覆した。(b)常法によってバッ
クエツチングにより、リングに囲まれた領域のシリコン
を溶解して除去した。 (C)金膜5の上に厚み0.0
3μmのクンタル膜6をスパッタリングし、(d)常法
によって、これをバターニングしてブロッカ形成用のマ
スク6′を形成し、(e)金膜5をイオンぐリングして
、金−タンタルのX線ブロッカ5′を形成した。(f)
常法によって、タンタル膜3をパターニングしてX線吸
収体3′を形成し、(g)全面にポリイミドを被覆して
二次電子防止膜7とした。
工程を説明する。(a)常法によって、シリコン基Fj
、1の上に、X線透過性メンブレン2を成膜し、この上
に厚み0.8μmのタンクル膜3をスパッタリングし、
これと反対側の面の周辺部にリング4を接着した。タン
タル膜3の上に、本発明によって厚み1μmの金膜5を
スパッタリングして被覆した。(b)常法によってバッ
クエツチングにより、リングに囲まれた領域のシリコン
を溶解して除去した。 (C)金膜5の上に厚み0.0
3μmのクンタル膜6をスパッタリングし、(d)常法
によって、これをバターニングしてブロッカ形成用のマ
スク6′を形成し、(e)金膜5をイオンぐリングして
、金−タンタルのX線ブロッカ5′を形成した。(f)
常法によって、タンタル膜3をパターニングしてX線吸
収体3′を形成し、(g)全面にポリイミドを被覆して
二次電子防止膜7とした。
本発明のステッパ用X線マスクは、作成工程が単純であ
って製品の歩留りが高く、かつ内部応力が低い金をX線
プロフカとするので、メンブレンの歪みが少ない利点を
存する。
って製品の歩留りが高く、かつ内部応力が低い金をX線
プロフカとするので、メンブレンの歪みが少ない利点を
存する。
第1図は本発明のステッパ用X線マスクの製造工程図で
ある。 1・・・シリコンM板、 2−・・メンブレン、3.
6・・・タンタル膜、3′・・・X線吸収体、4・・・
リング、 5・・・金膜、5゛ ・・・X線ブロ
ッカ、 6° ・・・ブロッカ形成用マスク、 7・・・二次電子防止膜。
ある。 1・・・シリコンM板、 2−・・メンブレン、3.
6・・・タンタル膜、3′・・・X線吸収体、4・・・
リング、 5・・・金膜、5゛ ・・・X線ブロ
ッカ、 6° ・・・ブロッカ形成用マスク、 7・・・二次電子防止膜。
Claims (1)
- 1、X線透過性メンブレンの上に、X線吸収体と、X線
ブロッカとを有するステッパ用X線マスクであって、X
線吸収体をタンタルで形成し、X線ブロッカを金および
タンタルで形成したことを特徴とするX線マスク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61210735A JPS6367731A (ja) | 1986-09-09 | 1986-09-09 | ステツパ用x線マスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61210735A JPS6367731A (ja) | 1986-09-09 | 1986-09-09 | ステツパ用x線マスク |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6367731A true JPS6367731A (ja) | 1988-03-26 |
Family
ID=16594239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61210735A Pending JPS6367731A (ja) | 1986-09-09 | 1986-09-09 | ステツパ用x線マスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6367731A (ja) |
-
1986
- 1986-09-09 JP JP61210735A patent/JPS6367731A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS61263172A (ja) | 薄膜太陽電池の製造方法 | |
JPS5851412B2 (ja) | 半導体装置の微細加工方法 | |
CN1110065C (zh) | 半导体器件栅帽与栅足自对准的t形栅加工方法 | |
JPS6367731A (ja) | ステツパ用x線マスク | |
JPS61273546A (ja) | 金属シリサイドフオトマスクの製造方法 | |
JPH0463349A (ja) | フォトマスクブランクおよびフォトマスク | |
JPH06163368A (ja) | X線露光用マスク | |
JPS62158324A (ja) | X線露光用マスクの製造方法 | |
JPS63140530A (ja) | X線マスク | |
JPS60132323A (ja) | X線露光用マスクの製造方法 | |
JPH02251851A (ja) | フォトマスク | |
JPH08186115A (ja) | 金属膜の形成方法 | |
JPS61198722A (ja) | X線露光マスク及びその製造方法 | |
JPH02305434A (ja) | レジストパターンの形成方法 | |
JPS5968744A (ja) | フオトマスクの製造方法 | |
JPH0334412A (ja) | X線マスクおよびその製造方法 | |
JPS6337621A (ja) | X線マスクの製法 | |
JPS6120329A (ja) | X線露光用マスク | |
JPS58196682A (ja) | 磁気バブルメモリ素子及びその製造方法 | |
JPS6153725A (ja) | X線露光用マスクの作製方法 | |
JPH03263331A (ja) | 自己整合型薄膜トランジスタの製造方法 | |
JPS6169133A (ja) | 軟x線露光方法 | |
JPS593953A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS60226123A (ja) | パタ−ン形成方法 | |
JPS61236096A (ja) | 磁気バブルメモリ素子の作製方法 |