JPS636333B2 - - Google Patents

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JPS636333B2
JPS636333B2 JP4324882A JP4324882A JPS636333B2 JP S636333 B2 JPS636333 B2 JP S636333B2 JP 4324882 A JP4324882 A JP 4324882A JP 4324882 A JP4324882 A JP 4324882A JP S636333 B2 JPS636333 B2 JP S636333B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
mold layer
semiconductor device
gate
resin mold
Prior art date
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Expired
Application number
JP4324882A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58160129A (ja
Inventor
Haruichiro Tainaka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Machinery Inc
Original Assignee
Nichiden Machinery Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nichiden Machinery Ltd filed Critical Nichiden Machinery Ltd
Priority to JP4324882A priority Critical patent/JPS58160129A/ja
Publication of JPS58160129A publication Critical patent/JPS58160129A/ja
Publication of JPS636333B2 publication Critical patent/JPS636333B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/38Cutting-off equipment for sprues or ingates

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は樹脂モールド成形におけるゲートの割
れ残り防止方法に関するものであり、さらに詳し
くは樹脂モールド型半導体装置のモールド成形に
際し、成形用金型に設けられた離形用の突出ピン
に高さの差を与えることによつて樹脂モールド層
とゲートとの間を切離す新規なゲートの割れ残り
防止方法に関するものである。
樹脂モールド型半導体装置は、複数の放熱板と
それに対応する複数組のリードフレームとを一体
に成形したリボン状のフレームを用い、各放熱板
上にそれぞれ半導体素子を載置した状態で該半導
体素子上に樹脂モールド層を形成して製造する。
在来の樹脂モールド成形工程においては、キヤ
ビテイ内に注入された樹脂が硬化した後、成形用
金型を開き突出ピンで成形品を突上げ、該成形品
を成形用金型から離型させていたが、突出しピン
は成形品に対し突上げ作用を与えるだけであるか
ら、樹脂モールド層、該樹脂モールド層に向つて
延設されたゲートおよびランナを単に成形用金型
から同時に離型させるだけで樹脂モールド層と樹
脂注入用ゲートとの間に該ゲートを切離すのに必
要な折り曲げ作用を与えるものではなかつた。こ
のため離型後、成形品から樹脂注入用のゲートを
切離す工程を設ける必要があり製造効率の向上に
障害が認められた。
さらに、樹脂モールド型半導体装置の製造に使
用される熱硬化性樹脂は、放熱板、半導体素子お
よびリードフレームに対する付着性が高いので最
終製品の品質向上に対しては好都合である半面、
キヤビテイ内に注入された樹脂が硬化した後に樹
脂モールド層を樹脂注入用ゲートから切離すこと
は容易でなかつた。
本発明の主要な目的は、在来の樹脂モールド型
半導体装置の製造方法に認められた上記の如き欠
点を解消し得る新規な樹脂モールド成形における
ゲートの割れ残り防止方法を提案することにあ
る。
而して本発明の斯かる目的は、樹脂モールド型
半導体装置のモールド成形に際し、樹脂モールド
層が完全に硬化する以前に、成形用金型に設けら
れた高さの異なる突出ピンにより前記樹脂モール
ド型半導体装置の放熱板下面を傾斜させながら突
上げ、樹脂モールド層と該樹脂モールド層に向つ
て延設された樹脂注入用ゲートとの間を折り曲
げ、樹脂モールド層とゲートとを切離す樹脂モー
ルド成形におけるゲートの割れ残り防止方法を採
用することによつて工業的に有利に達成すること
ができる。
以下、添付図面の例示に基いて本発明を詳述す
る。図面において第1図は突出ピン作動前の樹脂
モールド型半導体装置および成形用金型の一部破
断正面図であり、また第2図は突出ピン作動後の
樹脂モールド型半導体装置および成形用金型の一
部破断正面図である。
これらの図面において樹脂モールド型半導体装
置10は、複数の放熱板3とそれに対応する複数
組のリードフレーム5とを一体に成形したリボン
状のフレームよりなり、各放熱板3上にそれぞれ
図示しない半導体素子を載置した状態で成形用金
型8,8′内に配置し、半導体素子上に樹脂モー
ルド層4を形成して製造する。そしてモールド成
形工程終了後、複数の放熱板3およびそれに対応
する複数組のリードフレーム5間のタイバー部を
切断して最終製品に仕上げる。
第1図において放熱板3上に固着され内部配線
処理を施した図示しない半導体素子は、成型用金
型の上型8′に設けられたランナ1およびゲート
2を経て該上型8′のキヤビテイ内に注入された
熱硬化性樹脂によつて被覆され樹脂モールド層4
を形成する。なお放熱板3およびリードフレーム
5には所定位置に図示しない位置固定用の孔が穿
設されており、この孔は成形用金型の下型8に設
けられた図示しないゲージピンに嵌まり込み、熱
硬化性樹脂の注入に先立つて放熱板3およびリー
ドフレーム5を所定位置に固定する。この後加圧
下で180℃乃至170℃に加熱された熱硬化性樹脂を
上型8′に設けられたキヤビテイ内に注入し、前
記の如く半導体素子を覆う樹脂モールド層4を形
成する。
第2図において、熱硬化性樹脂の注入後2乃至
3分間が経過し樹脂モールド層4が完全に硬化す
る直前に上型8′を外し、この状態で下型8に設
けられた高さの異なる突出ピン6,7により樹脂
モールド型半導体装置10の放熱板3の下面を傾
斜させながら突上げ、樹脂モールド型半導体装置
10を下型8から離型させるとともに、樹脂モー
ルド層4と該樹脂モールド層4に向つてランナ1
から延びる樹脂注入用ゲートとの間を折り曲げ、
樹脂モールド層4とゲート2とを切離す。
第2図に例示する実施態様においては、ゲート
2側に位置する第1の突出ピン7がランナ1の下
側および放熱板3の下側でかつリードフレーム5
に近接して位置する第2の突出ピン6よりも短く
形成されているから、突出ピン6および7を同時
に上方に向つて押上げると先ず第2の突出ピン6
が放熱板3の下面を押圧し、次いで第1および第
2の突出ピンの長さの差に相当する時間差を置い
て第1の突出ピン7が放熱板3の下面を押圧す
る。このため樹脂モールド型半導体装置10は下
型8から離型するとともにゲート2と樹脂モール
ド層4との間を上方に向つてV字状に折り曲げ、
この折り曲げ力によつて樹脂モールド層4とゲー
ト2とを自動的に切離す。この突出ピン6および
7の作動時に、放熱板3あるいはリードフレーム
5に穿設された前記位置固定用孔は下型8に設け
られた図示しないゲージピンに嵌まり込み、樹脂
モールド型半導体装置10の上下方向および横方
向のがたつきを制御するから、突出ピン6および
7の上昇によつて樹脂モールド型半導体装置10
に変形を生ぜしめるような過度の傾斜は防止され
る。しかし最終製品の変形を減少させるため、突
出ピン6と7の長さの差は、ゲート2と樹脂モー
ルド部の切離しが可能な範囲で出来得る限り少な
くすることが好ましい。
以上の説明に明らかなように、本発明方法は樹
脂モールド層4が完全に硬化する以前に高さの異
なる突出ピン6,7により樹脂モールド型半導体
装置10の放熱板3下面を所定の傾斜角の範囲で
傾斜させながら突上げ、該樹脂モールド型半導体
装置を下型8から離型せしめるとともに樹脂モー
ルド層4とゲート2との間を切離すものであつ
て、手作業によるゲート2の切離し工程を完全に
省略することができる。
したがつて本発明方法は、製品の品質向上なら
びに工数の減少に顕著な改善効果をもたらす。
【図面の簡単な説明】
第1図は突出ピン作動前の樹脂モールド型半導
体装置および成形用金型の一部破断正面図であ
り、また第2図は突出ピン作動後の樹脂モールド
型半導体装置および成形用金型の一部破断正面図
である。 1……ランナ、2……ゲート、3……放熱板、
4……樹脂モールド層、5……リードフレーム、
6,7……突出ピン、8,8′……成形用金型、
10……樹脂モールド型半導体装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 樹脂モールド型半導体装置のモールド成形
    後、成形用金型に設けられた高さの異なる突出ピ
    ンにより前記樹脂モールド型半導体装置を傾斜さ
    せながら突上げ、樹脂モールド層と該樹脂モール
    ド層に向つて延設された樹脂注入用ゲートとの間
    を折り曲げ、樹脂モールド層とゲートとを切離す
    ことを特徴とする樹脂モールド成形におけるゲー
    トの割れ残り防止方法。
JP4324882A 1982-03-17 1982-03-17 樹脂モ−ルド成形におけるゲ−トの割れ残り防止方法 Granted JPS58160129A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4324882A JPS58160129A (ja) 1982-03-17 1982-03-17 樹脂モ−ルド成形におけるゲ−トの割れ残り防止方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4324882A JPS58160129A (ja) 1982-03-17 1982-03-17 樹脂モ−ルド成形におけるゲ−トの割れ残り防止方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58160129A JPS58160129A (ja) 1983-09-22
JPS636333B2 true JPS636333B2 (ja) 1988-02-09

Family

ID=12658575

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4324882A Granted JPS58160129A (ja) 1982-03-17 1982-03-17 樹脂モ−ルド成形におけるゲ−トの割れ残り防止方法

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0257681A3 (en) * 1986-08-27 1990-02-07 STMicroelectronics S.r.l. Method for manufacturing plastic encapsulated semiconductor devices and devices obtained thereby
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JP2555963B2 (ja) * 1993-12-10 1996-11-20 日本電気株式会社 樹脂封止半導体装置用ゲート分離装置
US6187247B1 (en) 1998-05-13 2001-02-13 Velcro Industries B.V. Injection molding parts with fastener elements
JP5537760B2 (ja) * 2006-11-07 2014-07-02 アピックヤマダ株式会社 ディゲート装置及びディゲート方法

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JPS58160129A (ja) 1983-09-22

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