JPS6362846B2 - - Google Patents
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- JPS6362846B2 JPS6362846B2 JP55038994A JP3899480A JPS6362846B2 JP S6362846 B2 JPS6362846 B2 JP S6362846B2 JP 55038994 A JP55038994 A JP 55038994A JP 3899480 A JP3899480 A JP 3899480A JP S6362846 B2 JPS6362846 B2 JP S6362846B2
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 52
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 35
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 35
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 16
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 15
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 14
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 10
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 claims description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 description 31
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 16
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 15
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 13
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 9
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 9
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 9
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 8
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 8
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 5
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 5
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 5
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 5
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- -1 alumina Chemical class 0.000 description 4
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 4
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 4
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 4
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 4
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 3
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000132023 Bellis perennis Species 0.000 description 1
- 229910015902 Bi 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000005633 Chrysanthemum balsamita Nutrition 0.000 description 1
- 241000207199 Citrus Species 0.000 description 1
- 239000004641 Diallyl-phthalate Substances 0.000 description 1
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004640 Melamine resin Substances 0.000 description 1
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001807 Urea-formaldehyde Polymers 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VVTSZOCINPYFDP-UHFFFAOYSA-N [O].[Ar] Chemical compound [O].[Ar] VVTSZOCINPYFDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000122 acrylonitrile butadiene styrene Polymers 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002528 anti-freeze Effects 0.000 description 1
- 239000004760 aramid Substances 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229920003235 aromatic polyamide Polymers 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- QUDWYFHPNIMBFC-UHFFFAOYSA-N bis(prop-2-enyl) benzene-1,2-dicarboxylate Chemical compound C=CCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC=C QUDWYFHPNIMBFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 235000020971 citrus fruits Nutrition 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- GBRBMTNGQBKBQE-UHFFFAOYSA-L copper;diiodide Chemical compound I[Cu]I GBRBMTNGQBKBQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- ZXGIFJXRQHZCGJ-UHFFFAOYSA-N erbium(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Er+3].[Er+3] ZXGIFJXRQHZCGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical group [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 1
- 230000021715 photosynthesis, light harvesting Effects 0.000 description 1
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920002239 polyacrylonitrile Polymers 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920013716 polyethylene resin Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920005990 polystyrene resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002459 sustained effect Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008685 targeting Effects 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J tin(iv) chloride Chemical compound Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- DZKDPOPGYFUOGI-UHFFFAOYSA-N tungsten(iv) oxide Chemical compound O=[W]=O DZKDPOPGYFUOGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920006337 unsaturated polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
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- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
Description
本発明は、透明導電性積層体の製造方法に関す
る。更に詳細にはシート状基板上に金属薄膜層と
金属酸化物薄膜層とを積層して透明導電性を有す
る積層体の製造方法に関する。 透明導電性積層体は、その導電性を利用した用
途、例えば液晶デイスプレイ用電極、電場発光体
用電極、光導電性感光体用電極、ブラウン管、各
種測定器の窓部分の透明静電遮幣層、帯電防止
層、発熱体等の電気・電子分野の用途に広く利用
されており、それらの中で選択光透過性を有する
ものは、その赤外光反射能を利用して太陽エネル
ギー利用のためのコレクター用窓材や、建物の窓
材としても広く利用されている。 更にまた、情報化社会の進展と共に従来用いら
れてきたブラウン管に代つてエレクトロミネツセ
ンスデイスプレイ、液晶デイスプレイ、プラズマ
デイスプレイ、強誘電体デイスプレイなどの固体
デイスプレイが開発されているが、かかる固体デ
イスプレイには透明な電極が必要である。また電
気信号と光信号との相互作用又は相互変換を利用
した新しい電気光学素子や記録材料が今後の情報
処理技術の主役になろうとしているが、これらの
電気光学材料の構成の一部として透明性と導電性
を兼備した材料が要求されている。情報材料以外
にも自動車、飛行機などの交通機関の凍結防止用
窓ガラスとして透明導電性被膜を有する窓ガラス
が要求されている。 一方、高分子成型物等の電気絶縁性物体におい
て、静電気の発生がしばしば重大な災害の原因と
なつている。これを防止する為に例えば金属やカ
ーボン等の導電体の粉末を高分子に混入して成型
することが試みられているが、着色、不透明化や
力学的特性の低下がさけられない。しかし高分子
等の電気絶縁性成型物の表面に透明導電性被膜を
設けることは静電防止法として優れた方法であ
る。 選択光透過性被膜は、可視光域の光に対して透
明であるが、赤外光に対しては反射能を有してい
るので透明断熱膜としても有用である。従つて太
陽エネルギー集熱器(温水器)、太陽熱発電、グ
リーンハウス、建築物の窓部等に使用されうる。
特に近代建築物において壁面の大きな割合を占め
る窓からの太陽エネルギー利用及びエネルギー放
散を防げる透明断熱窓としての機能は今後益々重
要性を増す。亦、例えば野さい、かんきつ類の栽
倍に用いられるグリーンハウス用フイルムとして
も重要性が大である。この様に、透明導電性被膜
および選択光透過膜はエレクトロニクス、太陽エ
ネルギー利用の観点から重要であり、均質で高性
能な膜が工業的に安価に且つ大量に供給されるこ
とが当該業界から望まれていた。 透明導電性被膜として従来から知られているも
のは 金、銀、銅、パラジウム等の金属薄膜 酸化インジウム、酸化スズ、ヨウ化銅等の化
合物半導体膜、および 金、銀、銅、パラジウム等の導電性金属膜を
ある波長領域にわたり選択的に透明にしたもの が知られている。赤外光反射能の高い選択光透過
膜として、数千オングストロームの膜厚の酸化イ
ンジウム膜又は酸化錫膜および金属膜と透明誘電
体膜の積層膜等が知られている。しかしながら、
すぐれた性能の透明導電性膜又は選択光透過膜が
工業的に安価に製造されるに至つていないのが実
状である。 即ち、上記の金属薄膜は、金属が広い波長領
域にわたり反射能又は吸収能が高いために、可視
光透過率の高いものが得難い。可視光透過率を高
めると導電性又は赤外光反射能が著るしく低下す
る。導電性又は赤外光反射能を高めるために金属
薄膜の膜厚を高めると可視光透過率が著るしく低
下するので両方の性質に優れた透明導電性被膜又
は選択光透過性被膜は得難い。 上記の化合物半導体薄膜のうち酸化インジウ
ム薄膜等は、例えば真空蒸着法、スパツタリング
法等の真空中における薄膜形成法で形成される。
また従来より酸化スズ薄膜を形成させるため、塩
化スズ溶液の熱分解法が用いられているが、基板
温度を500℃程度に保つ必要があり熱的ヒズミの
問題で大面積基板の使用が困難である。更にこの
方法では高分子材料を基板として用いる場合耐熱
性の低い材料をその基板として使用できない等の
問題がある。酸化インジウム等の半導体で、すぐ
れた透明導電性又は選択透過性膜を得るために、
数千オングストローク程度の膜厚の酸化インジウ
ム等の半導体被膜が提案されているが、膜の生成
速度が著るしく遅くなるばかりでなく、貴重なイ
ンジウム等の資源を多く消費することになり、そ
の結果膜の製造コストが著るしく高くなる。更に
亦、この膜では赤外光反射能又は導電性の充分に
高いものが得られていない。 上記の透明導電性膜又は選択光透過性膜の代
表的な構成は、金属薄膜を透明高屈折率薄膜では
さんだ積層体であり、例えば真空蒸着、反応性蒸
着又はスパツタリングで形成させたBi2O3/Au/
Bi2O3、ZnS/Ag/ZnS又はTiO2/Ag/TiO2等
のサンドイツチ状構造の積層体が提案されてい
る。これらの中でも光学的特性からAgを金属層
として用いるものが好ましく、銀薄膜を酸化チタ
ンなどの金属酸化物で積層する方法に関して種々
提案されている。例えば米国特許第3962488号明
細書には金属チタンを酸素雰囲気中で反応させな
がら、銀薄膜上に酸化チタン層を形成させる方法
が開示されており、又特開昭51−66841号公報に
は酸化チタン(TiO2)をアルゴン雰囲気中でス
パツタリングさせて銀薄膜上に酸化チタン層を形
成させる方法が記載されている。しかしながら前
者の方法にあつては金属チタンから出発して途中
で酸化して酸化チタンとするものであるために金
属チタンの蒸発速度を高めることが出来ず、蒸着
速度を6Å/SeC程度にしないとTiO2膜が得ら
れない。亦、後者の方法にあつてはTiO2をター
ゲツトとするものではあるが、先ず、全圧7〜10
×10-3Torrのアルゴン酸素混合ガス(酸素10容
量%)中で15分間第1段目のプレスパツタリング
をし、次いで7〜10×10-3Torrのアルゴンガス
雰囲気中で15分間第二段目のプレスパツタリング
をし、更にその後、表面の調整された酸化チタン
のターゲツトをアルゴンガス雰囲気中でスパツタ
リングするという非常に複雑な手段を採るもので
ある。従つてスパツタリング速度が20〜30Å/分
と非常に遅いことともあいまつて、その生産速度
は極めて低いものである。 かかる状況に鑑み、本発明者らはベースフイル
ムを連続的に捲取りながら高速で透明導電性(選
択光透過性)フイルムを製造する方法について鋭
意研究した結果、特定の条件下で高周波イオンプ
レーテイングを行うことにより上記目的が達成さ
れることを見出し本発明に到達した。 即ち本発明は、 銀を主成分とする金属薄膜層Bが少なくとも片
面に設けられた透明なシート状基板Aの当該金属
薄膜層B上に金属酸化物を主成分とする透明高屈
折率薄膜層Cを設けて透明導電性積層体を製造す
るにおいて、当該透明高屈折率薄膜層Cを、金属
酸化物を蒸着材料として、全圧1×10-4〜1×
10-3Torr、酸素圧1×10-5〜1×10-3Torrの気
体のプラズマの存在下イオンプレーテイングによ
り、当該金属薄膜層Bがプラズマと20秒以下接触
するような条件で形成させることを特徴とする透
明導電性積層体の製造方法である。 本発明において用いられる透明なシート状基板
Aとしては無機・有機或いは両者の複合した透明
シート状基板である。 無機質のシート状基板としては、例えばソーダ
ガラス、ホウ硅酸ガラス、硅酸ガラスなどのガラ
ス質;アルミナ、マグネシア、ジルコニア、シリ
カなどの金属酸化物;ガリウム―ヒ素、インジウ
ム―リン等の化合物半導体;シリコン、ゲルマニ
ウム等の半導体による成型物が挙げられる。 亦、有機質のシート状基板としては、例えばポ
リエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナ
フタレート樹脂、ABS樹脂、ポリスチレン樹脂、
ポリアセタール樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプ
ロピレン樹脂、ポリアミド樹脂、フツ素樹脂等の
熱可塑性樹脂;更には例えばエポキシ樹脂、ジア
リルフタレート樹脂、ケイ素樹脂、不飽和ポリエ
ステル樹脂、フエノール系樹脂、尿素樹脂などの
熱硬化性樹脂;更にはポリビニルアルコール、ポ
リアクリルニトリル、ポリウレタン、芳香族ポリ
アミド、ポリイミド樹脂等の溶剤可溶型樹脂等の
成型物が挙げられる。これらは単独又は混合し
て、或いは共重合物として、更には積層体として
も用いられる。 亦、無機・有機の複合体としては混合したもの
であることもできるし、積層されたものであるこ
ともできる。例えば、前記有機のシート状基板
に、更に有機又は無機のプライマー層を設けた
り、金属酸化物の薄膜層を設けることができる。
金属酸化物の薄膜層を設ける場合は当然本発明の
特徴である後述の製造条件に準拠することが有利
である。従つて本発明で用いられる透明なシート
状基板Aとしては、前記の有機高分子化合物のシ
ート上に、後記の透明高屈折率薄膜層Cが設けら
れたものも包含する。 金属薄膜層Bは銀を主成分としており、本発明
の目的とする効果を損なわない範囲で他の金属又
は、金属化合物が含まれていてもよい。例えば、
銅を0.1〜20重量%、好ましくは0.3〜10重量%銀
に添加すると、得られる積層体の耐候性が著じる
しく改良され、また、金を3〜30重量%添加させ
ると耐熱性が改良される。 この金属薄膜層Bの厚さは50〜350Å、好まし
くは70〜200Åであり、薄すぎると導電性、赤外
線反射率および耐熱性が低くなりすぎ、また、厚
すぎると可視光の透過率が著じるしく低下し、実
用に供さない。 金属薄膜層Bは真空蒸着またはスパツタリング
などで容易に形成させることができる。 金属薄膜層Bを形成させる前に前記の如く基板
を予め透明な高屈折率薄膜層Dで被覆しておくこ
とができる。層Dの形成法には、特に限定はな
く、能率的な方法で形成るのがよいが、後述の層
Cと同じでもよい。 層Dの膜厚は50〜400Å、好ましくは100〜300
Åである。この膜厚の範囲であると得られる積層
体の可視光透過率、導電性、赤外線反射率および
耐熱性がすぐれている。 本発明方法において用いられる透明高屈折率薄
膜層Cは、例えばチタン、ビスマス、インジウ
ム、錫、セリウム、タンタル、タングステン、モ
リブデン、エルビウム、ハフニウム、亜鉛、イツ
トリウム、ジルコニウム、などの酸化物を主成分
とするものであり、可視光に透明であり且つ可視
光における屈折率が高いものであり、屈折率が
1.8以上特に2.0以上が好ましい。 好ましい金属酸化物としては、チタン、亜鉛、
インジウム、錫、イツトリウム、エルビウム、ジ
ルコニウムおよびセリウムの酸化物が挙げられ
る。 上記透明高屈折率薄膜層Cは、全圧1×10-4〜
1×10-3Torr、酸素分圧1×10-5〜1×
10-3Torrの気体のプラズマを利用して形成させ
られる。 金属酸化物を蒸着材料としても酸素分圧が低い
とき、例えばアルゴン・プラズマを用いる高周波
イオンプレーテイング法では、蒸着材料の表面が
次第に還元され、連続的にイオンプレーテイング
を続けると、還元された金属酸化物が金属薄膜層
B上に形成される。還元された金属酸化物は、可
視光に吸収があり、積層体の透過率と耐光性が低
下する。 金属酸化物を蒸着材料として酸素分圧が1×
10-3Torrをこえる気体のプラズマを用いて高周
波イオンプレーテイングさせると金属薄膜層B中
の銀がこのプラズマで著じるしく酸化されて導電
性および赤外線反射率が殆んどなくなつてしま
う。 以上の理由から本発明においては金属酸化物を
蒸着材料とし前記の如き圧力(真空度)で10モル
%以上の酸素を含む気体のプラズマを利用して形
成させられるのである。 例えば真空槽を十分に排気し、酸素を好ましく
は50モル%以上含む気体を1×10-4〜1×
10-3Torr導入し、基板と蒸発源との間の空間に
らせん状のアンテナを設け、これに13.56MHzの
高周波を100W〜1KW加えることにより槽内にプ
ラズマを発生させながら、二酸化チタンなどの金
属酸化物を電子ビームで加熱して蒸発させること
により、基板上に1200Å/分以上の速度で透明な
高屈折率層Cを形成させることができる。 この様に高速に金属酸化物を金属薄膜層B上に
形成させることにより、金属薄膜層Bが、酸素を
含むプラズマと触れる時間が短かくなり、金属薄
膜層Bの劣化がなくなる。 金属薄膜層Bは、酸素を含むプラズマに触れる
と劣化して、赤外線反射率および導電率が低下す
るのでプラズマに触れる時間は出来るだけ短かく
するのが好ましく、かかる観点より20秒以下特に
好ましくは10秒以下である。 蒸発源の金属酸化物を連続的に長時間蒸発させ
る場合、金属酸化物が若干還元されるし、蒸発源
が減少して蒸発速度が低下するので連続的に一定
量を供給してやるのが好ましい。 この様な方法で形成させられる層Cの膜厚は50
〜400Å、好ましくは100〜300Åである。膜厚が
この範囲よりはずれると可視光透過率或いは耐熱
性が著じるしく低下する。 本発明の積層体の上に本発明の目的とする効果
を損なわない範囲で更に他の層を積層して、例え
ば表面硬度、耐候性、接着性等の性質を改良する
ことができる。このような層の形成に用いる材料
としては、例えばポリメタアクリル酸メチルなど
のアクリル系樹脂、エチルシリケートより得られ
る重合体などのケイ素樹脂、ポリエステル樹脂、
メラミン樹脂、フツ素樹脂などの有機系高分子物
質の他に、酸化ケイ素、フツ化マグネシウム等の
無機物を挙げることができる。 とりわけ耐候性又は表面硬度を改良する場合に
はアクリル系樹脂、珪素樹脂などが好ましく用い
られる。 本発明の一つの目的である透明導電性を有する
積層体は、可視光透過率が50%以上で且つ表面抵
抗が103Ω/平方以下のものである。 本発明の方法は非常に生産性の高い方法であ
り、耐熱性の乏しい高分子フイルムを基板Aとし
て用いることもでき、しかも連続的に積層する場
合フイルムを5〜100m/分の速度で巻取りなが
ら生産できる工業的にすぐれた方法である。 本発明は特許請求の範囲に記載された構成に加
え、以下の如き実施態様をも包含するものであ
る。 (2) 該金属薄膜層Bが銅を0.1〜20wt%含有する
特許請求の範囲第1項(以下単に第1項と略称
する)記載の方法。 (3) 当該金属薄膜層Bが金を3〜30wt%含有す
る第1項又は第2項記載の方法。 (4) 当該金属薄膜層Bの厚さが50〜350Å好まし
くは70〜200Åである第1項記載の方法。 (5) 当該透明高屈折率薄膜層Cがチタン、亜鉛、
インジウム、錫、イツトリウム、エルビウム、
ジルコニウム、およびセリウムから選ばれた1
種以上の金属の酸化物からなる第1項記載の方
法。 (6) 当該透明高屈折率薄膜層Cの厚さが50〜400
Åである第1項記載の方法。 (7) 当該透明なシート状基板Aが有機高分子から
なるものである第1項記載の方法。 (8) 当該透明なシート状基板Aの厚さが10〜
300μmである第7項記載の方法。 (9) 当該透明なシート状基板Aが有機高分子から
なる透明シートとその上に設けられた透明高屈
折率薄膜層Dとからなる積層体である第1項記
載の方法。 (10) 当該透明高屈折率薄膜層Dがチタン、亜鉛、
インジウム、錫、イツトリウム、エルビウム、
ジルコニウムおよびセリウムから選ばれた1種
以上の金属の酸化物からなる第9項記載の方
法。 (11) 当該透明高屈折率薄膜層Dの厚さが50〜400
Åである第9項記載の方法。 (12) 当該プラズマを高周波放電により発生させる
第1項記載の方法。 以下、実施例により本発明を更に詳細に説明す
る。 実施例1〜3及び比較例5 酸化チタンの形成を以下のようにして行つた。
第1図に示した様なフイルム巻取式の真空蒸着装
置を用いる。 真空槽1はフイルム巻取室2と蒸着室3とに仕
切り板4によつて仕切つてあり、それぞれ別の排
気口5,6から排気する。 仕切板4は、冷却ドラムには接触しておらずフ
イルムが自由に通過するに十分な程度の間隔を保
つて取付けられ、且つ、捲取室2と蒸着室3を異
つた真空度を保てる程度に調整されている。 フイルム16は、送り出しロール7から、冷却
ドラム8を経由して、捲取ロール9に送られる。 捲取室2を10-4Torrに排気し、同時に蒸着室
3を5×10-6〜1×10-5Torrに排気し次に、ガ
ス導入口10から、酸素ガスを導入し、蒸着室3
の真空度が1〜7×10-4Torrになる程度に酸素
ガスの流量を調整する。 蒸発源11と冷却ドラム8の空間に、ワイヤー
状の電極12を設け、これに高周波電源13より
電力を供給し、マツチングボツクス14を調整す
ることにより、電極の周辺に放電が持続する。フ
イルムを送りながら蒸発源11を電子銃15など
で加熱することにより、フイルム面に高屈折率薄
膜層Cが形成される。膜厚は蒸発速度とフイルム
の送り速度によつて決まる。 上記の如き装置により厚さ50μmの透明なポリ
エステルフイルムの片面に酸化チタンを200Å蒸
着した。 蒸着は以下の条件で行つた。 酸素ガス分圧 3×10-4Torr 高周波電力(13.56MHz) 300W 蒸発源 酸化チタン(TiO2) 電子ビーム出力 3KW フイルム送り速度 12m/分 (以下得られたフイルムをフイルムAと称する。) フイルムAの酸化チタン膜上に、銀を160Å×
2×10-6Torrの真空度で蒸着した。 (以下得られたフイルムをフイルムBと称する。) 次に、フイルムBの銀膜上に酸化チタンを300
Å蒸着した。蒸着条件は以下の通りである。 酸素分圧 3×10-4Torr 高周波電力(13.56MHz) 300W 蒸発源 酸化チタン(TiO2) 但し、フイルム送り速度は、第1表に示した様
に0.8m/分〜8m/分まで変化させ、かつ、同じ
膜厚になる様に電子ビームの出力を調整した。得
られた、TiO2/Ag/TiO2構造の薄膜を形成した
フイルムの特性を第1表に合わせて示す。
る。更に詳細にはシート状基板上に金属薄膜層と
金属酸化物薄膜層とを積層して透明導電性を有す
る積層体の製造方法に関する。 透明導電性積層体は、その導電性を利用した用
途、例えば液晶デイスプレイ用電極、電場発光体
用電極、光導電性感光体用電極、ブラウン管、各
種測定器の窓部分の透明静電遮幣層、帯電防止
層、発熱体等の電気・電子分野の用途に広く利用
されており、それらの中で選択光透過性を有する
ものは、その赤外光反射能を利用して太陽エネル
ギー利用のためのコレクター用窓材や、建物の窓
材としても広く利用されている。 更にまた、情報化社会の進展と共に従来用いら
れてきたブラウン管に代つてエレクトロミネツセ
ンスデイスプレイ、液晶デイスプレイ、プラズマ
デイスプレイ、強誘電体デイスプレイなどの固体
デイスプレイが開発されているが、かかる固体デ
イスプレイには透明な電極が必要である。また電
気信号と光信号との相互作用又は相互変換を利用
した新しい電気光学素子や記録材料が今後の情報
処理技術の主役になろうとしているが、これらの
電気光学材料の構成の一部として透明性と導電性
を兼備した材料が要求されている。情報材料以外
にも自動車、飛行機などの交通機関の凍結防止用
窓ガラスとして透明導電性被膜を有する窓ガラス
が要求されている。 一方、高分子成型物等の電気絶縁性物体におい
て、静電気の発生がしばしば重大な災害の原因と
なつている。これを防止する為に例えば金属やカ
ーボン等の導電体の粉末を高分子に混入して成型
することが試みられているが、着色、不透明化や
力学的特性の低下がさけられない。しかし高分子
等の電気絶縁性成型物の表面に透明導電性被膜を
設けることは静電防止法として優れた方法であ
る。 選択光透過性被膜は、可視光域の光に対して透
明であるが、赤外光に対しては反射能を有してい
るので透明断熱膜としても有用である。従つて太
陽エネルギー集熱器(温水器)、太陽熱発電、グ
リーンハウス、建築物の窓部等に使用されうる。
特に近代建築物において壁面の大きな割合を占め
る窓からの太陽エネルギー利用及びエネルギー放
散を防げる透明断熱窓としての機能は今後益々重
要性を増す。亦、例えば野さい、かんきつ類の栽
倍に用いられるグリーンハウス用フイルムとして
も重要性が大である。この様に、透明導電性被膜
および選択光透過膜はエレクトロニクス、太陽エ
ネルギー利用の観点から重要であり、均質で高性
能な膜が工業的に安価に且つ大量に供給されるこ
とが当該業界から望まれていた。 透明導電性被膜として従来から知られているも
のは 金、銀、銅、パラジウム等の金属薄膜 酸化インジウム、酸化スズ、ヨウ化銅等の化
合物半導体膜、および 金、銀、銅、パラジウム等の導電性金属膜を
ある波長領域にわたり選択的に透明にしたもの が知られている。赤外光反射能の高い選択光透過
膜として、数千オングストロームの膜厚の酸化イ
ンジウム膜又は酸化錫膜および金属膜と透明誘電
体膜の積層膜等が知られている。しかしながら、
すぐれた性能の透明導電性膜又は選択光透過膜が
工業的に安価に製造されるに至つていないのが実
状である。 即ち、上記の金属薄膜は、金属が広い波長領
域にわたり反射能又は吸収能が高いために、可視
光透過率の高いものが得難い。可視光透過率を高
めると導電性又は赤外光反射能が著るしく低下す
る。導電性又は赤外光反射能を高めるために金属
薄膜の膜厚を高めると可視光透過率が著るしく低
下するので両方の性質に優れた透明導電性被膜又
は選択光透過性被膜は得難い。 上記の化合物半導体薄膜のうち酸化インジウ
ム薄膜等は、例えば真空蒸着法、スパツタリング
法等の真空中における薄膜形成法で形成される。
また従来より酸化スズ薄膜を形成させるため、塩
化スズ溶液の熱分解法が用いられているが、基板
温度を500℃程度に保つ必要があり熱的ヒズミの
問題で大面積基板の使用が困難である。更にこの
方法では高分子材料を基板として用いる場合耐熱
性の低い材料をその基板として使用できない等の
問題がある。酸化インジウム等の半導体で、すぐ
れた透明導電性又は選択透過性膜を得るために、
数千オングストローク程度の膜厚の酸化インジウ
ム等の半導体被膜が提案されているが、膜の生成
速度が著るしく遅くなるばかりでなく、貴重なイ
ンジウム等の資源を多く消費することになり、そ
の結果膜の製造コストが著るしく高くなる。更に
亦、この膜では赤外光反射能又は導電性の充分に
高いものが得られていない。 上記の透明導電性膜又は選択光透過性膜の代
表的な構成は、金属薄膜を透明高屈折率薄膜では
さんだ積層体であり、例えば真空蒸着、反応性蒸
着又はスパツタリングで形成させたBi2O3/Au/
Bi2O3、ZnS/Ag/ZnS又はTiO2/Ag/TiO2等
のサンドイツチ状構造の積層体が提案されてい
る。これらの中でも光学的特性からAgを金属層
として用いるものが好ましく、銀薄膜を酸化チタ
ンなどの金属酸化物で積層する方法に関して種々
提案されている。例えば米国特許第3962488号明
細書には金属チタンを酸素雰囲気中で反応させな
がら、銀薄膜上に酸化チタン層を形成させる方法
が開示されており、又特開昭51−66841号公報に
は酸化チタン(TiO2)をアルゴン雰囲気中でス
パツタリングさせて銀薄膜上に酸化チタン層を形
成させる方法が記載されている。しかしながら前
者の方法にあつては金属チタンから出発して途中
で酸化して酸化チタンとするものであるために金
属チタンの蒸発速度を高めることが出来ず、蒸着
速度を6Å/SeC程度にしないとTiO2膜が得ら
れない。亦、後者の方法にあつてはTiO2をター
ゲツトとするものではあるが、先ず、全圧7〜10
×10-3Torrのアルゴン酸素混合ガス(酸素10容
量%)中で15分間第1段目のプレスパツタリング
をし、次いで7〜10×10-3Torrのアルゴンガス
雰囲気中で15分間第二段目のプレスパツタリング
をし、更にその後、表面の調整された酸化チタン
のターゲツトをアルゴンガス雰囲気中でスパツタ
リングするという非常に複雑な手段を採るもので
ある。従つてスパツタリング速度が20〜30Å/分
と非常に遅いことともあいまつて、その生産速度
は極めて低いものである。 かかる状況に鑑み、本発明者らはベースフイル
ムを連続的に捲取りながら高速で透明導電性(選
択光透過性)フイルムを製造する方法について鋭
意研究した結果、特定の条件下で高周波イオンプ
レーテイングを行うことにより上記目的が達成さ
れることを見出し本発明に到達した。 即ち本発明は、 銀を主成分とする金属薄膜層Bが少なくとも片
面に設けられた透明なシート状基板Aの当該金属
薄膜層B上に金属酸化物を主成分とする透明高屈
折率薄膜層Cを設けて透明導電性積層体を製造す
るにおいて、当該透明高屈折率薄膜層Cを、金属
酸化物を蒸着材料として、全圧1×10-4〜1×
10-3Torr、酸素圧1×10-5〜1×10-3Torrの気
体のプラズマの存在下イオンプレーテイングによ
り、当該金属薄膜層Bがプラズマと20秒以下接触
するような条件で形成させることを特徴とする透
明導電性積層体の製造方法である。 本発明において用いられる透明なシート状基板
Aとしては無機・有機或いは両者の複合した透明
シート状基板である。 無機質のシート状基板としては、例えばソーダ
ガラス、ホウ硅酸ガラス、硅酸ガラスなどのガラ
ス質;アルミナ、マグネシア、ジルコニア、シリ
カなどの金属酸化物;ガリウム―ヒ素、インジウ
ム―リン等の化合物半導体;シリコン、ゲルマニ
ウム等の半導体による成型物が挙げられる。 亦、有機質のシート状基板としては、例えばポ
リエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナ
フタレート樹脂、ABS樹脂、ポリスチレン樹脂、
ポリアセタール樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプ
ロピレン樹脂、ポリアミド樹脂、フツ素樹脂等の
熱可塑性樹脂;更には例えばエポキシ樹脂、ジア
リルフタレート樹脂、ケイ素樹脂、不飽和ポリエ
ステル樹脂、フエノール系樹脂、尿素樹脂などの
熱硬化性樹脂;更にはポリビニルアルコール、ポ
リアクリルニトリル、ポリウレタン、芳香族ポリ
アミド、ポリイミド樹脂等の溶剤可溶型樹脂等の
成型物が挙げられる。これらは単独又は混合し
て、或いは共重合物として、更には積層体として
も用いられる。 亦、無機・有機の複合体としては混合したもの
であることもできるし、積層されたものであるこ
ともできる。例えば、前記有機のシート状基板
に、更に有機又は無機のプライマー層を設けた
り、金属酸化物の薄膜層を設けることができる。
金属酸化物の薄膜層を設ける場合は当然本発明の
特徴である後述の製造条件に準拠することが有利
である。従つて本発明で用いられる透明なシート
状基板Aとしては、前記の有機高分子化合物のシ
ート上に、後記の透明高屈折率薄膜層Cが設けら
れたものも包含する。 金属薄膜層Bは銀を主成分としており、本発明
の目的とする効果を損なわない範囲で他の金属又
は、金属化合物が含まれていてもよい。例えば、
銅を0.1〜20重量%、好ましくは0.3〜10重量%銀
に添加すると、得られる積層体の耐候性が著じる
しく改良され、また、金を3〜30重量%添加させ
ると耐熱性が改良される。 この金属薄膜層Bの厚さは50〜350Å、好まし
くは70〜200Åであり、薄すぎると導電性、赤外
線反射率および耐熱性が低くなりすぎ、また、厚
すぎると可視光の透過率が著じるしく低下し、実
用に供さない。 金属薄膜層Bは真空蒸着またはスパツタリング
などで容易に形成させることができる。 金属薄膜層Bを形成させる前に前記の如く基板
を予め透明な高屈折率薄膜層Dで被覆しておくこ
とができる。層Dの形成法には、特に限定はな
く、能率的な方法で形成るのがよいが、後述の層
Cと同じでもよい。 層Dの膜厚は50〜400Å、好ましくは100〜300
Åである。この膜厚の範囲であると得られる積層
体の可視光透過率、導電性、赤外線反射率および
耐熱性がすぐれている。 本発明方法において用いられる透明高屈折率薄
膜層Cは、例えばチタン、ビスマス、インジウ
ム、錫、セリウム、タンタル、タングステン、モ
リブデン、エルビウム、ハフニウム、亜鉛、イツ
トリウム、ジルコニウム、などの酸化物を主成分
とするものであり、可視光に透明であり且つ可視
光における屈折率が高いものであり、屈折率が
1.8以上特に2.0以上が好ましい。 好ましい金属酸化物としては、チタン、亜鉛、
インジウム、錫、イツトリウム、エルビウム、ジ
ルコニウムおよびセリウムの酸化物が挙げられ
る。 上記透明高屈折率薄膜層Cは、全圧1×10-4〜
1×10-3Torr、酸素分圧1×10-5〜1×
10-3Torrの気体のプラズマを利用して形成させ
られる。 金属酸化物を蒸着材料としても酸素分圧が低い
とき、例えばアルゴン・プラズマを用いる高周波
イオンプレーテイング法では、蒸着材料の表面が
次第に還元され、連続的にイオンプレーテイング
を続けると、還元された金属酸化物が金属薄膜層
B上に形成される。還元された金属酸化物は、可
視光に吸収があり、積層体の透過率と耐光性が低
下する。 金属酸化物を蒸着材料として酸素分圧が1×
10-3Torrをこえる気体のプラズマを用いて高周
波イオンプレーテイングさせると金属薄膜層B中
の銀がこのプラズマで著じるしく酸化されて導電
性および赤外線反射率が殆んどなくなつてしま
う。 以上の理由から本発明においては金属酸化物を
蒸着材料とし前記の如き圧力(真空度)で10モル
%以上の酸素を含む気体のプラズマを利用して形
成させられるのである。 例えば真空槽を十分に排気し、酸素を好ましく
は50モル%以上含む気体を1×10-4〜1×
10-3Torr導入し、基板と蒸発源との間の空間に
らせん状のアンテナを設け、これに13.56MHzの
高周波を100W〜1KW加えることにより槽内にプ
ラズマを発生させながら、二酸化チタンなどの金
属酸化物を電子ビームで加熱して蒸発させること
により、基板上に1200Å/分以上の速度で透明な
高屈折率層Cを形成させることができる。 この様に高速に金属酸化物を金属薄膜層B上に
形成させることにより、金属薄膜層Bが、酸素を
含むプラズマと触れる時間が短かくなり、金属薄
膜層Bの劣化がなくなる。 金属薄膜層Bは、酸素を含むプラズマに触れる
と劣化して、赤外線反射率および導電率が低下す
るのでプラズマに触れる時間は出来るだけ短かく
するのが好ましく、かかる観点より20秒以下特に
好ましくは10秒以下である。 蒸発源の金属酸化物を連続的に長時間蒸発させ
る場合、金属酸化物が若干還元されるし、蒸発源
が減少して蒸発速度が低下するので連続的に一定
量を供給してやるのが好ましい。 この様な方法で形成させられる層Cの膜厚は50
〜400Å、好ましくは100〜300Åである。膜厚が
この範囲よりはずれると可視光透過率或いは耐熱
性が著じるしく低下する。 本発明の積層体の上に本発明の目的とする効果
を損なわない範囲で更に他の層を積層して、例え
ば表面硬度、耐候性、接着性等の性質を改良する
ことができる。このような層の形成に用いる材料
としては、例えばポリメタアクリル酸メチルなど
のアクリル系樹脂、エチルシリケートより得られ
る重合体などのケイ素樹脂、ポリエステル樹脂、
メラミン樹脂、フツ素樹脂などの有機系高分子物
質の他に、酸化ケイ素、フツ化マグネシウム等の
無機物を挙げることができる。 とりわけ耐候性又は表面硬度を改良する場合に
はアクリル系樹脂、珪素樹脂などが好ましく用い
られる。 本発明の一つの目的である透明導電性を有する
積層体は、可視光透過率が50%以上で且つ表面抵
抗が103Ω/平方以下のものである。 本発明の方法は非常に生産性の高い方法であ
り、耐熱性の乏しい高分子フイルムを基板Aとし
て用いることもでき、しかも連続的に積層する場
合フイルムを5〜100m/分の速度で巻取りなが
ら生産できる工業的にすぐれた方法である。 本発明は特許請求の範囲に記載された構成に加
え、以下の如き実施態様をも包含するものであ
る。 (2) 該金属薄膜層Bが銅を0.1〜20wt%含有する
特許請求の範囲第1項(以下単に第1項と略称
する)記載の方法。 (3) 当該金属薄膜層Bが金を3〜30wt%含有す
る第1項又は第2項記載の方法。 (4) 当該金属薄膜層Bの厚さが50〜350Å好まし
くは70〜200Åである第1項記載の方法。 (5) 当該透明高屈折率薄膜層Cがチタン、亜鉛、
インジウム、錫、イツトリウム、エルビウム、
ジルコニウム、およびセリウムから選ばれた1
種以上の金属の酸化物からなる第1項記載の方
法。 (6) 当該透明高屈折率薄膜層Cの厚さが50〜400
Åである第1項記載の方法。 (7) 当該透明なシート状基板Aが有機高分子から
なるものである第1項記載の方法。 (8) 当該透明なシート状基板Aの厚さが10〜
300μmである第7項記載の方法。 (9) 当該透明なシート状基板Aが有機高分子から
なる透明シートとその上に設けられた透明高屈
折率薄膜層Dとからなる積層体である第1項記
載の方法。 (10) 当該透明高屈折率薄膜層Dがチタン、亜鉛、
インジウム、錫、イツトリウム、エルビウム、
ジルコニウムおよびセリウムから選ばれた1種
以上の金属の酸化物からなる第9項記載の方
法。 (11) 当該透明高屈折率薄膜層Dの厚さが50〜400
Åである第9項記載の方法。 (12) 当該プラズマを高周波放電により発生させる
第1項記載の方法。 以下、実施例により本発明を更に詳細に説明す
る。 実施例1〜3及び比較例5 酸化チタンの形成を以下のようにして行つた。
第1図に示した様なフイルム巻取式の真空蒸着装
置を用いる。 真空槽1はフイルム巻取室2と蒸着室3とに仕
切り板4によつて仕切つてあり、それぞれ別の排
気口5,6から排気する。 仕切板4は、冷却ドラムには接触しておらずフ
イルムが自由に通過するに十分な程度の間隔を保
つて取付けられ、且つ、捲取室2と蒸着室3を異
つた真空度を保てる程度に調整されている。 フイルム16は、送り出しロール7から、冷却
ドラム8を経由して、捲取ロール9に送られる。 捲取室2を10-4Torrに排気し、同時に蒸着室
3を5×10-6〜1×10-5Torrに排気し次に、ガ
ス導入口10から、酸素ガスを導入し、蒸着室3
の真空度が1〜7×10-4Torrになる程度に酸素
ガスの流量を調整する。 蒸発源11と冷却ドラム8の空間に、ワイヤー
状の電極12を設け、これに高周波電源13より
電力を供給し、マツチングボツクス14を調整す
ることにより、電極の周辺に放電が持続する。フ
イルムを送りながら蒸発源11を電子銃15など
で加熱することにより、フイルム面に高屈折率薄
膜層Cが形成される。膜厚は蒸発速度とフイルム
の送り速度によつて決まる。 上記の如き装置により厚さ50μmの透明なポリ
エステルフイルムの片面に酸化チタンを200Å蒸
着した。 蒸着は以下の条件で行つた。 酸素ガス分圧 3×10-4Torr 高周波電力(13.56MHz) 300W 蒸発源 酸化チタン(TiO2) 電子ビーム出力 3KW フイルム送り速度 12m/分 (以下得られたフイルムをフイルムAと称する。) フイルムAの酸化チタン膜上に、銀を160Å×
2×10-6Torrの真空度で蒸着した。 (以下得られたフイルムをフイルムBと称する。) 次に、フイルムBの銀膜上に酸化チタンを300
Å蒸着した。蒸着条件は以下の通りである。 酸素分圧 3×10-4Torr 高周波電力(13.56MHz) 300W 蒸発源 酸化チタン(TiO2) 但し、フイルム送り速度は、第1表に示した様
に0.8m/分〜8m/分まで変化させ、かつ、同じ
膜厚になる様に電子ビームの出力を調整した。得
られた、TiO2/Ag/TiO2構造の薄膜を形成した
フイルムの特性を第1表に合わせて示す。
【表】
比較例 1
実施例1で得たフイルムBの銀膜上に酸化チタ
ンを高周波スパツタリング法で形成させた。スパ
ツタリングは以下の様にして行つた。 日本真空技術(株)製のプラナーマグネトロン方式
の低温スパツタリング装置を用いた。 フイルムBの背面を水冷し、酸化チタン
(TiO2)ターゲツトを用いて10分間スパツタリン
グして酸化チタンを200Å形成させた。 スパツタリング条件は以下の通りである。 背 圧 3×106Torr 導入ガス Ar50% O250% 導入ガス圧 5×10-3Torr 高周波電力 400W 得られたフイルムは、酸素を含むプラズマによ
つて銀膜が損傷しており、赤外線反射能および導
電性が著じるしく低下していた。 実施例4および比較例2〜4 蒸発源として、酸化チタンを酸化インジウム
(In2O3)に置換え電子ビームの出力を調整する以
外は同じにして、実施例1を繰返した。 透明高屈折率薄膜層Dとして、ポリエステルフ
イルム上に、酸化インジウムを100Å蒸着した時
の電子ビームの出力は6KV―80mAであつた。 比較のため、透明高屈折率薄膜層Cの酸化イン
ジウムを蒸着時の酸素分圧、高周波電力を第2表
に示した条件で蒸着した。 蒸着の安定性を調べるため、それぞれの条件で
6時間にわたつて蒸着した。 得られたフイルムの特性および、蒸着の安定性
を第2表にまとめて示した。
ンを高周波スパツタリング法で形成させた。スパ
ツタリングは以下の様にして行つた。 日本真空技術(株)製のプラナーマグネトロン方式
の低温スパツタリング装置を用いた。 フイルムBの背面を水冷し、酸化チタン
(TiO2)ターゲツトを用いて10分間スパツタリン
グして酸化チタンを200Å形成させた。 スパツタリング条件は以下の通りである。 背 圧 3×106Torr 導入ガス Ar50% O250% 導入ガス圧 5×10-3Torr 高周波電力 400W 得られたフイルムは、酸素を含むプラズマによ
つて銀膜が損傷しており、赤外線反射能および導
電性が著じるしく低下していた。 実施例4および比較例2〜4 蒸発源として、酸化チタンを酸化インジウム
(In2O3)に置換え電子ビームの出力を調整する以
外は同じにして、実施例1を繰返した。 透明高屈折率薄膜層Dとして、ポリエステルフ
イルム上に、酸化インジウムを100Å蒸着した時
の電子ビームの出力は6KV―80mAであつた。 比較のため、透明高屈折率薄膜層Cの酸化イン
ジウムを蒸着時の酸素分圧、高周波電力を第2表
に示した条件で蒸着した。 蒸着の安定性を調べるため、それぞれの条件で
6時間にわたつて蒸着した。 得られたフイルムの特性および、蒸着の安定性
を第2表にまとめて示した。
【表】
【表】
実施例 5〜13
蒸発源の酸化チタンを酸化錫(SnO2)酸化セ
リウム(CeO2)、酸化タンタル(Ta2O5)、酸化
タングステン(WO2)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化
テリブデン(MoO3)、酸化エルビウム(Er2O3)、
酸化ジルコニウム(ZrO2)および酸化イツトリ
ウム(Y2O3)に置換えて、実施例1を繰返した。
この場合金属層は銀90重量%、銅10重量%の合金
をターゲツトにし、直流スパツタリング法で形成
させた。 形成した第1層(透明高屈折率薄膜層D)、第
2層(金属薄膜層B)第3層(透明高屈折率薄膜
層C)の膜厚および得られた特性を第3表に示
す。
リウム(CeO2)、酸化タンタル(Ta2O5)、酸化
タングステン(WO2)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化
テリブデン(MoO3)、酸化エルビウム(Er2O3)、
酸化ジルコニウム(ZrO2)および酸化イツトリ
ウム(Y2O3)に置換えて、実施例1を繰返した。
この場合金属層は銀90重量%、銅10重量%の合金
をターゲツトにし、直流スパツタリング法で形成
させた。 形成した第1層(透明高屈折率薄膜層D)、第
2層(金属薄膜層B)第3層(透明高屈折率薄膜
層C)の膜厚および得られた特性を第3表に示
す。
【表】
図面は本発明を実施する装置の一例を示す概念
図である。図中、各番号は以下のことを示す。1
…真空槽;2…フイルム巻取室;3…蒸着室;4
…仕切り板;5,6…排気口;7,9…ロール;
8…冷却ドラム;10…ガス導入口;11…蒸発
源;12…電極;13…高周波電源;14…マツ
チングボツクス;15…電子銃;16…フイル
ム。
図である。図中、各番号は以下のことを示す。1
…真空槽;2…フイルム巻取室;3…蒸着室;4
…仕切り板;5,6…排気口;7,9…ロール;
8…冷却ドラム;10…ガス導入口;11…蒸発
源;12…電極;13…高周波電源;14…マツ
チングボツクス;15…電子銃;16…フイル
ム。
Claims (1)
- 1 銀を主成分とする金属薄膜層Bが少なくとも
片面に設けられた透明なシート状基板Aの当該金
属薄膜層B上に金属酸化物を主成分とする透明高
屈折率薄膜層Cを設けて透明導電性積層体を製造
するにおいて、当該透明高屈折率薄膜層Cを、金
属酸化物を蒸着材料として、全圧1×10-4〜1×
10-3Torr、酸素圧1×10-5〜1×10-3Torrの気
体のプラズマの存在下イオンプレーテイングによ
り、当該金属薄膜層Bがプラズマと20秒以下接触
するような条件で形成させることを特徴とする透
明導電性積層体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3899480A JPS56136410A (en) | 1980-03-28 | 1980-03-28 | Method of producing transparent conductive laminate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3899480A JPS56136410A (en) | 1980-03-28 | 1980-03-28 | Method of producing transparent conductive laminate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56136410A JPS56136410A (en) | 1981-10-24 |
JPS6362846B2 true JPS6362846B2 (ja) | 1988-12-05 |
Family
ID=12540678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3899480A Granted JPS56136410A (en) | 1980-03-28 | 1980-03-28 | Method of producing transparent conductive laminate |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS56136410A (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1219547A (en) * | 1983-04-04 | 1987-03-24 | Prem Nath | Apparatus for and method of continuously depositing a highly conductive, highly transmissive film |
JPS59204545A (ja) * | 1983-05-10 | 1984-11-19 | 住友ベークライト株式会社 | 積層導電フイルム |
JPS62157613A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-13 | 株式会社 麗光 | 透視性導電体 |
JPH0734332B2 (ja) * | 1986-03-12 | 1995-04-12 | 株式会社ト−ビ | 透明導電性フイルムの製造方法 |
JPS63110507A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-16 | 日本板硝子株式会社 | 透明導電体 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51116999A (en) * | 1975-04-08 | 1976-10-14 | Toppan Printing Co Ltd | Process for manufacturing transparent conductive plastic |
JPS51117983A (en) * | 1975-04-10 | 1976-10-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | A process for producing a compound film |
JPS53128798A (en) * | 1977-04-15 | 1978-11-10 | Teijin Ltd | Method of forming transparent electroconductive coating |
-
1980
- 1980-03-28 JP JP3899480A patent/JPS56136410A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51116999A (en) * | 1975-04-08 | 1976-10-14 | Toppan Printing Co Ltd | Process for manufacturing transparent conductive plastic |
JPS51117983A (en) * | 1975-04-10 | 1976-10-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | A process for producing a compound film |
JPS53128798A (en) * | 1977-04-15 | 1978-11-10 | Teijin Ltd | Method of forming transparent electroconductive coating |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56136410A (en) | 1981-10-24 |
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