JPS6361938A - カソ−ドルミネツセンス装置 - Google Patents
カソ−ドルミネツセンス装置Info
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- JPS6361938A JPS6361938A JP20748386A JP20748386A JPS6361938A JP S6361938 A JPS6361938 A JP S6361938A JP 20748386 A JP20748386 A JP 20748386A JP 20748386 A JP20748386 A JP 20748386A JP S6361938 A JPS6361938 A JP S6361938A
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- mirror
- optical
- light
- parts
- light transmission
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- Pending
Links
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 58
- 238000005136 cathodoluminescence Methods 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 10
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/225—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
- G01N23/2251—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion using incident electron beams, e.g. scanning electron microscopy [SEM]
- G01N23/2254—Measuring cathodoluminescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は、カソードルミネッセンス装置における光路分
割に関する。
割に関する。
口、従来の技術
カソードルミネッセンス装置は、試料から出る光を効率
良く分光器に導くカソードルミネッセンス測定系（ＣＬ
光学系）と、試料を肉眼で観察する観察光学系、更にホ
トルミネッセンス測定を同じ試料位置で実現させる励起
光集光光学系等を備えており、使用する光学系に応じて
、光路の切換えを行っている。従来は、この光路切換え
を、ミラー等による光路切換部を設け、レバー操作等の
手動で光路切換えを行っていた。
良く分光器に導くカソードルミネッセンス測定系（ＣＬ
光学系）と、試料を肉眼で観察する観察光学系、更にホ
トルミネッセンス測定を同じ試料位置で実現させる励起
光集光光学系等を備えており、使用する光学系に応じて
、光路の切換えを行っている。従来は、この光路切換え
を、ミラー等による光路切換部を設け、レバー操作等の
手動で光路切換えを行っていた。
ハ０発明が解決しようとする問題点
従来の光路の切換えは機械的動作によっているために、
結像位置の再現性が低く、又切換えに時間を要する等の
問題点を有していた。
結像位置の再現性が低く、又切換えに時間を要する等の
問題点を有していた。
本発明は、このような問題点を解消し、各光学系を同時
に動作させることができるようにすることを目的とする
。
に動作させることができるようにすることを目的とする
。
二１問題点解決のための手段
カソードルミネッセンス装置において、試料の観測点を
通る一つの光学系の光軸上に時分割的光路分割手段を介
在させ、上記光軸を複数に分岐し、各分岐端に測光手段
、光源等を配置した。
通る一つの光学系の光軸上に時分割的光路分割手段を介
在させ、上記光軸を複数に分岐し、各分岐端に測光手段
、光源等を配置した。
ホ０作用
カソードルミネッセンス装置では、集光効率を良くする
ために、対物レンズの集光力を大きくする必要があり、
そのために対物レンズが大きくなって、取付空間の制約
から各種の測定光学系毎に対物レンズを用意することが
難しく、通常は対物レンズを共用している。従って、こ
の対物レンズの光軸を各種測定用の各光学系に分岐しな
ければならない。
ために、対物レンズの集光力を大きくする必要があり、
そのために対物レンズが大きくなって、取付空間の制約
から各種の測定光学系毎に対物レンズを用意することが
難しく、通常は対物レンズを共用している。従って、こ
の対物レンズの光軸を各種測定用の各光学系に分岐しな
ければならない。
本発明は、この対物レンズの光軸を各光学系へ分岐する
方法として、対物レンズの光軸と４５度の傾きで配置さ
れ、モーターで回転されるセクターミラー等の時分割的
光束分割手段を用い、光束を連続的に複数光学系に時分
割的に分配することにより、各光学系を同時に使用する
ことが可能となり、測定能率が向上すると共に、時分割
的光束分割手段により複数の光学系を同時に作動させる
ので光路切換え後の光路の再現性が向上し、また、この
時分割を利用して、信号のチョッピングによる測定がチ
ョッピング手段なしにできるようになった。
方法として、対物レンズの光軸と４５度の傾きで配置さ
れ、モーターで回転されるセクターミラー等の時分割的
光束分割手段を用い、光束を連続的に複数光学系に時分
割的に分配することにより、各光学系を同時に使用する
ことが可能となり、測定能率が向上すると共に、時分割
的光束分割手段により複数の光学系を同時に作動させる
ので光路切換え後の光路の再現性が向上し、また、この
時分割を利用して、信号のチョッピングによる測定がチ
ョッピング手段なしにできるようになった。
へ、実施例
図に本発明の一実施例を示す。図において、Ｓは試料、
Ｂは試料Ｓを励起させる電子ビーム、１は対物凹面鏡、
２は対物凹面鏡１によって集光された光を有孔ミラー３
に反射させる凸面鏡、有孔ミラー３は中央に電子ビーム
Ｂが通過する孔を設けたミラーで凸面鏡２から入射した
光を、入射光軸と９０度の角度をなす光軸方向に反射さ
せる。
Ｂは試料Ｓを励起させる電子ビーム、１は対物凹面鏡、
２は対物凹面鏡１によって集光された光を有孔ミラー３
に反射させる凸面鏡、有孔ミラー３は中央に電子ビーム
Ｂが通過する孔を設けたミラーで凸面鏡２から入射した
光を、入射光軸と９０度の角度をなす光軸方向に反射さ
せる。
４は真空用窓で有孔ミラー３で反射された光を真空外に
放出させる。５はミラ一部６と透光部が交互に配置され
たセクターミラーで、真空用窓を通過してくる光の光軸
に対してミラー６の傾きが４５度になるように配置され
ている。セクターミラー５はモーター７の軸に面が軸と
直交するように取付けられている。このモーター７によ
ってセクターミラー５がミラ一部６と透光部が交互に光
路上に配置されるように回転される。ミラ一部６が光路
上に配置された時は光は直角に反射されて、カソードル
ミネッセンス測光系ＣＬに取り出される。透光部が光路
上に配置された時は光は直進し、観察光学系■に入射す
る。８はホトルミネッセンス測定用励起光源、９は光源
８の光束を対物レンズ光軸上（二反射させるハーフミラ
−である６以上の構成において、電子ビームＢの照射に
よって試料Ｓから発生したルミネッセンス光は、対物凹
面鏡１．凸面鏡２及び有孔ミラー３を介して外筺外に導
かれる。外筐外に導かれた光は回転するセクターミラー
５に設けられたミラ一部６と透光部によって、連続的に
観察光学系■とカソードルミネッセンス測光系ＣＬに時
分割される。ＣＬ光学系に分割された光束において、セ
クターミラーによって分割された光軸が幾分かの振れを
有しても、この振れの影響はセクターミラーによる光束
のチョッピングと同期したノイズとなって現れるので、
光検出信号の直流化の際に除去され、光路分割の再現性
の問題が無くなる。
放出させる。５はミラ一部６と透光部が交互に配置され
たセクターミラーで、真空用窓を通過してくる光の光軸
に対してミラー６の傾きが４５度になるように配置され
ている。セクターミラー５はモーター７の軸に面が軸と
直交するように取付けられている。このモーター７によ
ってセクターミラー５がミラ一部６と透光部が交互に光
路上に配置されるように回転される。ミラ一部６が光路
上に配置された時は光は直角に反射されて、カソードル
ミネッセンス測光系ＣＬに取り出される。透光部が光路
上に配置された時は光は直進し、観察光学系■に入射す
る。８はホトルミネッセンス測定用励起光源、９は光源
８の光束を対物レンズ光軸上（二反射させるハーフミラ
−である６以上の構成において、電子ビームＢの照射に
よって試料Ｓから発生したルミネッセンス光は、対物凹
面鏡１．凸面鏡２及び有孔ミラー３を介して外筺外に導
かれる。外筐外に導かれた光は回転するセクターミラー
５に設けられたミラ一部６と透光部によって、連続的に
観察光学系■とカソードルミネッセンス測光系ＣＬに時
分割される。ＣＬ光学系に分割された光束において、セ
クターミラーによって分割された光軸が幾分かの振れを
有しても、この振れの影響はセクターミラーによる光束
のチョッピングと同期したノイズとなって現れるので、
光検出信号の直流化の際に除去され、光路分割の再現性
の問題が無くなる。
本実施例は、光束を１つのセクターミラー５によって２
光学系に分割する方法を示しているが、２つのセクター
ミラーを使用すれば、３光学系に光束を分割することが
できる。但し、２つのセクターミラーを使用して、３光
学系に分割する場合には、ミラ一部と透光部の大きさの
比率を同一ではなく、適当な比率に決める必要がある。
光学系に分割する方法を示しているが、２つのセクター
ミラーを使用すれば、３光学系に光束を分割することが
できる。但し、２つのセクターミラーを使用して、３光
学系に分割する場合には、ミラ一部と透光部の大きさの
比率を同一ではなく、適当な比率に決める必要がある。
時分割的光束分割手段としては、上述したセクターミラ
ーの他、ピエゾ素子を用いた振動鏡等も用い得る。
ーの他、ピエゾ素子を用いた振動鏡等も用い得る。
ト、効果
本発明によれば、光束を連続的に多光学系に時分割的に
配分することで、各光学系を同時に使用できて測定能率
が向上し、セクターミラーにより周期信号として測定光
束を入手できることにより、切換え後の光路の再現性が
向上し、また、この時分割を利用して、別にチョッピン
グ設備を設けることなしに、信号を交流化して測定回路
を安定化させることが可能になった。
配分することで、各光学系を同時に使用できて測定能率
が向上し、セクターミラーにより周期信号として測定光
束を入手できることにより、切換え後の光路の再現性が
向上し、また、この時分割を利用して、別にチョッピン
グ設備を設けることなしに、信号を交流化して測定回路
を安定化させることが可能になった。
図は本発明の一実施例の構成図である。
Ｓ・・・試料、Ｂ・・・電子ビーム、１・・・対物凹面
鏡、２・・・凸面鏡、３・・・有孔ミラー、４・・・真
空用窓、５・・・セクターミラー、６・・・ミラ一部、
７・・・モーター。
鏡、２・・・凸面鏡、３・・・有孔ミラー、４・・・真
空用窓、５・・・セクターミラー、６・・・ミラ一部、
７・・・モーター。
Claims (1)
- 試料の観測点を通る一つの光学系の光軸上に時分割的光
路分割手段を介在させ、上記光軸を複数に分岐し、各分
岐端に測光手段、光源等を配置したことを特徴とするカ
ソードルミネッセンス装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20748386A JPS6361938A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | カソ−ドルミネツセンス装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20748386A JPS6361938A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | カソ−ドルミネツセンス装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6361938A true JPS6361938A (ja) | 1988-03-18 |
Family
ID=16540492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20748386A Pending JPS6361938A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | カソ−ドルミネツセンス装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6361938A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03115957A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-16 | Hitachi Ltd | ルミネッセンス測定装置 |
| WO2012093474A1 (ja) * | 2011-01-05 | 2012-07-12 | Isobe Shinichiro | 多光源顕微鏡 |
| JP2012199224A (ja) * | 2011-01-30 | 2012-10-18 | Fei Co | 生体試料中の多数の蛍光マーカーを局在化するためのシステム及び方法 |
| US8674320B2 (en) | 2010-10-01 | 2014-03-18 | Attolight Sa | Deconvolution of time-gated cathodoluminescence images |
-
1986
- 1986-09-02 JP JP20748386A patent/JPS6361938A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03115957A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-16 | Hitachi Ltd | ルミネッセンス測定装置 |
| US8674320B2 (en) | 2010-10-01 | 2014-03-18 | Attolight Sa | Deconvolution of time-gated cathodoluminescence images |
| WO2012093474A1 (ja) * | 2011-01-05 | 2012-07-12 | Isobe Shinichiro | 多光源顕微鏡 |
| JP2012199224A (ja) * | 2011-01-30 | 2012-10-18 | Fei Co | 生体試料中の多数の蛍光マーカーを局在化するためのシステム及び方法 |
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