JP2000056244A - レ―ザ走査顕微鏡および照明およびまたは検出装置 - Google Patents

レ―ザ走査顕微鏡および照明およびまたは検出装置

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JP2000056244A
JP2000056244A JP11211974A JP21197499A JP2000056244A JP 2000056244 A JP2000056244 A JP 2000056244A JP 11211974 A JP11211974 A JP 11211974A JP 21197499 A JP21197499 A JP 21197499A JP 2000056244 A JP2000056244 A JP 2000056244A
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Thomas Weyh
ヴェイ (原語表記)Thomas Weyh トーマス
Ulrich Dr Simon
サイモン (原語表記)Ulrich Simon ウルリッヒ
Guenter Schoeppe
シェッペ (原語表記)Guenter Schoeppe ギュンター
Wilhelm Stefan
ウイルヘルム (原語表記)Stefan Wilherumu ステファン
Michael Stock
ストック (原語表記)Michael Stock ミカエル
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Abstract

(57)【要約】 【課題】鏡アレー励起と検出の両方または一方に関して
本質的に融通性のあるレーザー走査顕微鏡およびその配
列 【解決手段】モノクロメーター内へ組み込まれた切り替
え鏡アレーを通じて、そのスペクトル特性が自由にプロ
グラム可能な検出ユニットを配列

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はレーザーユニッ
ト、走査手段、顕微鏡架台、検出ユニット、駆動・撮像
ユニットから成るレーザー走査顕微鏡を記述しており、
ここで検出ユニットのスペクトル特性が、モノクロメー
ター内へ組み込まれた切り替え鏡アレーを通じて自由に
プログラム可能である。この切り替え鏡アレー(1次元
または2次元)は規範的にはDMDとして仕上げること
ができる(デジタルミラーデバイス)。この発明に従う
レーザー走査顕微鏡ではさまざまな運用モードが認容さ
れる。1つのモードでは走査された画素(試料内の)ご
とに、放出されたスペクトルが高精度で検出でき;他の
モードでは放出されたスペクトルが多数のスペクトル部
分へ分解でき(切り替え鏡アレー上のゾーン)、これら
の部分ごとに別々の電子光学的検出チャンネルとして扱
うことができる(このことはたとえば多重蛍光体を撮像
するのに有利である)。さらに、対象物平面と共役な平
面内へ配した他の切り替え鏡アレーを介して、自由にプ
ログラム可能な共焦点絞り(ピンホール)が実現できる 	
【0002】
【従来の技術】(蛍光体)試料検査用のレーザー走査顕
微鏡は一般に検出ユニットから成り、検出ユニットがプ
レパラートから放出される放射(蛍光放射)をダイクロ
イック・スプリッター層およびフィルター層を介して、
ある数(ふつう4つまで)の検出チャンネルへ分割する
(「光学的多重チャンネル解析、OMA」の原理)。こ
のスプリッターやフィルターは通常、回転可能なレボル
バー輪または直線的に押し動かせるスライダー内に取り
付けられている。これによってある程度までは、試料放
射のスペクトル特性へチャンネルがスペクトル的に適応
することが可能である。しかし取り付け具にはそれぞれ
限られた数の誘電スプリッターやフィルターしか受け入
れできず、個々のスプリッターやフィルターのスペクト
ル特性はそれぞれ製造工程中に決定されているので、こ
の配列は、試料スペクトルへ最適に適応するのには、多
くの利用形態で十分な融通性がない(図1)。US特許
5587832には照明と検出の両方または一方のため
のDMD鏡アレーをもつ共焦点顕微鏡が記述されてい
る。	
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、鏡ア
レー励起と検出の両方または一方に関して本質的に融通
性のあるレーザー走査顕微鏡である。	
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明は、モノクロメ
ーター内へ組み込まれた切り替え鏡アレーを通じて、そ
のスペクトル特性が自由にプログラム可能な検出ユニッ
トをもつ、レーザー走査顕微鏡を記述している。この発
明に従うレーザー走査顕微鏡は、レーザーユニット、走
査手段、顕微鏡架台、検出ユニット、駆動・撮像ユニッ
トから成る。試料から放出される(蛍光)放射は(共焦
点使用の場合)、対象物と共役な平面内に位置する共焦
点ピンホール上へ焦点を結ぶ。このピンホールは同時に
(格子)モノクロメーターの入射開口部でもあり、モノ
クロメーターはその分散作用によって試料放射をそのス
ペクトル成分へ分割する。分散媒質(格子)の焦点平面
内には少なくとも1次元の切り替え鏡アレーがあり、こ
れの上へ試料スペクトルが光学的に結像される(図
2)。	
【0005】この少なくとも1次元の切り替え鏡アレー
は個別に駆動可能な多数の切り替え鏡から成る。走査手
段が本質的に試料点の上に留まる間、たとえば逐次的に
鏡が1つずつ個別に駆動(そしてこれによって切り替
え)できる。こうして試料放射の個々のスペクトル成分
が逐次的に、全スペクトルを撮像するために、適合して
同期を取った検出器上に反射像を結ぶ。	
【0006】別の方法では全スペクトル帯に対応する隣
接鏡域を併行して駆動し、この方法で全周波数帯を、次
々と、またはいくつかの帯域を同時に検出器へ入れるよ
うにできる。蛍光放射の場合にはこのとき励起放射に対
応する反射像画素を、検出されたスペクトルの中で余白
としておくのが有利である。	
【0007】方法の変形としては励起に対応する反射像
画素を通じて、励起放射を系へ結合するのが有利である
(図3ab)。これによって主ビームスプリッター(D
BS)の必要性が避けられ、このようにはっきりとコン
パクトなシステム構成が実現可能である。このため励起
放射がこの場合自動的に「検出」ピンホールを「照明」
ピンホールとして通過し、このことが光線品質を改善し
(空間フィルタリング)、それによって全顕微鏡系の空
間解像度をより良くする。このため、励起放射が反射入
射するために利用される鏡が、可能な2つの鏡位置の間
で振動することによって、照明強度が準連続的に調整で
き、もしくは走査画素同期を変更することができる(シ
ェーディング補償、強度変調等)。	
【0008】さらに、対象物平面と共役な平面内へ配し
た他の切り替え鏡アレーを介して、自由にプログラム可
能な共焦点絞り(ピンホール)が実現可能である(図
4)。このピンホールは形と大きさ(調整可能な共焦点
体積)についても、水平位置についても自由にプログラ
ム可能で、このことが系の柔軟性を高め、光学系の調整
について大きな長所となる(ピンホール自動調整)。そ
のうえ「多チャンネル」使用の際、ピンホールサイズ
が、検出にかかるスペクトル帯と瞬間的に同期され、共
焦点顕微鏡との波長によらない光学的インターフェース
を実現できる。そのうえ、さまざまな非常に異なる強力
な蛍光が同時に試料中に存在し検出されるなら、ピンホ
ールサイズも蛍光放射強度に適応しているのが有利であ
る。
【0009】方法の有利な1変形としては、湾曲した格
子を装入でき、このことが、検出すべき放射の視準と分
散との両方を引き受け、それによって結果的に光学部品
の数を少なくできる(図5)。これによってこの発明に
従う全配置の構成の大きさを小さくできるのが有利な点
である。このことから特に、検出系の光学安定性が結果
的により高くなる。	
【0010】方法の1変形として、光学格子をプリズム
で置き換えることができる。これによって潜在的に、特
に非偏光を検出するとき光学系の効率を高めることが可
能である(図6)。	
【0011】方法の1変形としてこの発明に従う分光系
は、従来のレーザー走査顕微鏡にも適応させて、顕微鏡
試料の放出放射のスペクトルを特徴づけるようにするこ
とができる。これは特に、分光ユニットをレーザー走査
顕微鏡へファイバー結合させることを通じて行うことが
でき、ここでファイバーは直接共焦点ピンホールのうち
の1つの後ろに配するのが良い(図7)。	
【0012】方法の1変形として、多光子蛍光を対象と
して励起する方法では、励起の3D位置解像度が良いた
め共焦点絞りを不要とできる(図8)。この場合この発
明に従う配列では、共焦点絞りがモノクロメーター入射
絞り平面内から除かれ、放出光が直接分散媒質の上へ入
射できる。	
【0013】生薬学分野の蛍光顕微鏡内では、一般に約
350ないし800nmの波長帯への使用が集中する。
応用面で要求される波長解像度は約0.5nmの範囲で
ある。切り替え鏡アレーは今日さまざまな使用形態のも
のが(商業ベースでも)入手でき、たとえばテキサス州
ダラス、テキサス器械有限会社製、あるいは「ディスプ
レー型」576×864ピクセルのものも入手でき
る。これによって、スペクトルを写像する際864ピク
セルに沿って約0.5nmの解像度が実現される。個々
の鏡はデジタル駆動されるとき、安定性の高い2つの位
置の間で旋回し(±10°)、そのとき旋回が起きるのは
約300ns以内に限定される。反射に用いる鏡は自由
に、互いに独立にデジタルプログラム可能である。	
【0014】上に記した構成中分散媒質としては、たと
えば格子、プリズムまたはこれらの組み合わせが装入で
きる。これらの部品を「ダブルパス」機器構成内に装入
する際には、実際の分散は倍にでき、これによってレー
ザー走査顕微鏡のコンパクトな構成が実現できるのが有
利な点である。原則としてここに記した配列はすべて、
トランスミッション・アレー(LCDアレー;液晶)が
切り替え鏡アレーの代わりに装入されることによって、
トランスミッション・モード内でも実現可能である。&#
9;
【0015】レーザー光が線の形へ広げられ、これがス
キャナー(1走査軸)のみを介して対象物を通じて導か
れる(図10)ことによって、線走査するレーザー走査
顕微鏡が実現できる。図2で点の形のピンホールを線の
形のレーザー光線に沿ったスリットピンホールによって
置き換え、DMDを2次元切り替え鏡アレーによって置
き換え、検出器を(感度を増強した)CCDによって置
き換えると、系は線走査モードで運用できる。DMDア
レーの次元の中で走査された線が写像され、他の座標軸
の中でこの対象線のスペクトルが写像される。光学格子
を交換することによって、または格子(モノクロメータ
ー大)を押し動かし回転させることによって、分光計シ
ステムの解像力はその時々に応用する必要性に適応する
ことができる。	
【0016】
【発明の実施の形態】図1には顕微鏡ユニットMと走査
中枢Sを図示しており、これらは中間写像を通じて共通
の光学インターフェースを有し、LSMを形成してい
る。走査中枢Sは直立顕微鏡の光電管にも、倒立顕微鏡
の側方出力部にも取り付けることができる。旋回可能な
鏡14を介して照明光走査と透過光走査の間で切り替え
可能な顕微鏡光程を図示した。	
【0017】また、光源1,照明レンズ系2,ビームス
プリッター3,対物レンズ4,試料ステージ5,集光レ
ンズ6,光源7,受信機の配列8,円筒レンズ9,円筒
レンズ10と接眼レンズ11とをもつ観測光程、走査光
線を接続するためのビームスプリッター・鏡12を図示
した。	
【0018】レーザーモジュール13.1,13.2がレ
ーザーを収容し、単一モード光ファイバー14.1,1
4.2を通じて走査中枢Sのレーザー接続ユニットと結
合している。光ファイバー14.1,14.2の接続は、
押して動かす視準レンズ系16と光線偏向素子17.
1,17.2とを介して行われている。部分透過鏡18
を介して監視光程がモニターダイオード19の方向へ引
き出されており、モニターダイオードには、ここに示し
ていないフィルターレボルバー輪の上に直線フィルター
21とニュートラルフィルター20とをあらかじめ配し
ておくと有利である。	
【0019】走査ユニットそのものは走査対物レンズ2
2、X/Yスキャナー23,主ビームスプリッター2
4, 検出チャンネル26.1―26.4について共通の
結像レンズ系25から成る。結像レンズ系25の後ろに
ある偏向プリズム27が、対物レンズ5から来る放射を
結像光学系25の収束光程内にあるダイクロイック・ビ
ームスプリッター28の方向へ反射する。これらには光
軸の方向とそれに垂直な方向へ調整可能で直径が可変
な、検出チャンネルごとに個別のピンホール29と、放
出フィルター30と、適合した受信素子31(PMT)とが
後置されている。駆動ユニット・計算ユニット34が配
備されており、これはとりわけステージ5,スキャナー
23と結合し、それらを駆動する。	
【0020】図2はこの発明に従う、レーザーユニット
Lとそれに後置したシャッターS,視準レンズ系KO,
モニター光程MOを分岐するためのビームスプリッタ
ーST1, 走査手段SC内へ、もしくは検出の方向へ
導入するためのビームスプリッターST2, 図1に類
似の顕微鏡と、鏡12がビームスプリッターとして作り
上げられている、走査光程外に付加した検出DT1,
検出ユニット、駆動・撮像ユニットから成るレーザー走
査顕微鏡の可能な実行形を示す。	
【0021】試料から放出された放射は、(共焦点使用
の場合)共役な対象物平面内に位置する共焦点ピンホー
ルPH1上へ焦点を結ばせることができる。このピンホ
ールPH1は同時に(規範的には「格子」GTと結像鏡
SP1,SP2)モノクロメーターの入射開口部をな
し、モノクロメーターがその分散作用によって試料放射
をそのスペクトル成分へ分割する。分散媒質(規範的に
は「格子」)の焦点面には少なくとも1次元の切り替え
鏡アレーDMD1があり、その上へ試料スペクトルが光
学的に結像し、収束レンズ系FOと検出器DT3とが後
置されている。	
【0022】有利な一実施法としては、励起に対応する
反射像画素を通じて励起放射をシステムへ接続するのが
有利である。これによって主ビームスプリッター(DB
S)の必要性が回避されてはっきりとコンパクトなシス
テム構成が実現できる。そのうえ励起放射がこの場合自
動的に「検出」ピンホールを「照明」ピンホールとして
通過し、このことは光線品質を改善し(空間フィルタリ
ング)、それによって顕微鏡システム全体の空間解像度
を改善する。そのうえ、励起放射を反射入射させるため
に使われる鏡が2つの可能な鏡位置の間で振動すること
によって、照明強度が準連続的に調整でき、もしくは走
査・画素同調が変更できる(シェーディング補償、強度
変調、その他)。	
【0023】図3aに光接続ファイバーFを図示した。
接続されたレーザー光(入)は格子GT2に達し、スペ
クトル分割され、ここに分散方向に沿って伸びる矢印で
示したようにDMD配列へ、平行光線にするための視野
レンズFL1を通じて反射する。個々の鏡素子の接続を
選択することによって、図3bに図示したとおり、ある
決まった波長または波長領域(励起光)がオンの状態で
格子の方向へはね返され、他の波長または波長領域は鏡
のオフ状態で格子GT2へ帰らず、選択がなされる。
【0024】格子GT2へはね返された波長成分(励起
光)について、分散が再びもちあがって、それが格子上
の違う場所に当たるために、顕微鏡入力部内にあるピン
ホールPH2へ結像する(アウト・オン)。対象物から
戻ってきた光はPH2,GT2,FL1,DMD,別の
視野レンズFL2を通じて、図に示した検出ユニットD
Eの方向へ届く。オフ状態では検出の方向へ波長を選択
して反射させる(アウト・オフ)。格子GT2では個々
の波長に分割され、個々に検出することができる。	
【0025】図4に示すように、対象物平面に共役な平
面内へ配された別の切り替え鏡アレーDMD1を介し
て、図2のPH1の代わりに自由にプログラム可能な共
焦点絞り(ピンホール)を実現することができる。この
ピンホールは形と大きさ(調整可能な共焦点体積)ばか
りでなく水平位置も自由にプログラム可能であり、この
ことが系の柔軟性を高め、光学系の調整に非常に有利で
ある(ピンホール自動調整)。そのうえ「多チャンネル
利用」の際には、ピンホールサイズがその瞬間検出にか
かるスペクトル帯と同期して、波長によらない光学イン
ターフェースを共焦点顕微鏡との間に実現するようにで
きる。そのうえ、さまざまな非常に異なる強力な蛍光が
同時に試料内にあって検出されなければならないなら、
ピンホールサイズも蛍光放射の強度に適応させることが
できるのが有利な点である。	
【0026】図5に示すように、方法の変形として、湾
曲した格子GT3が装入でき、このことが検出すべき放
射の視準と分散の両方を引き受け、それとともに図2の
結像鏡SP1,SP2を削除することによって、結果的
に光学部品の数がより少なくなる。これによってこの発
明に従う配列全体の構成規模が小さくなるという長所を
もつ。このことから、特に検出系の光学的安定性がより
高くなるという結果となる。	
【0027】図6では、光学格子は他の実行形で、プリ
ズムPによって置き換えてある。これによって潜在的
に、特に非偏光の検出の際には光学系の効率を高めるこ
とが可能である。	
【0028】図7には図1に類似の従来のレーザー走査
顕微鏡を、ここでは参照記号なしに示す。レーザー走査
顕微鏡へは別のファイバーF1を介して、たとえば図5
に記したようなこの発明に従う分光学的検出システムの
実行形の可能性を、ピンホール直後の検出光程の1つ
(図1の26.1)から接続換えして、顕微鏡試料の放
出放射を特徴づけるようにしたものである。	
【0029】図8では、多光子蛍光を励起する場合、こ
の発明に従う配列では、共焦点絞り(図2のPH1,図
4のDMD1)がモノクロメーター入射絞り平面内から
除かれ、図5に従う湾曲鏡をもつ配列に基づき示されて
いるように、放出光が直接に分散媒質上へ入射できる。
	
【0030】図9は図2のような別の実行形を示してい
るが、しかしDMDの代わりに格子GT1の次に送信変
調器MT, たとえばLCDアレーをもち、これが分散
スペクトルの着目波長のみを検出器へ到達させる。図4
のDMDに類似のピンホールの代わりに送信光程内にL
CDアレーを作り上げることもでき、有利である。	
【0031】図10は、レーザー光がたとえば円筒レン
ズによって線へ広げられ、これがスキャナ(1スキャン
軸)のみを介して、ここでは規範的にY方向へ対象物の
上へ導かれることによって、線状に走査するレーザー走
査顕微鏡が実現できることを示す。図2で点形のピンホ
ールを、2次元切り替え鏡アレーDMD1によって実現
し暗鏡に基づいて帯形に表された線形のレーザー光に沿
ったスリットピンホールで置き換え、検出器を(感度増
強した)CCDで置き換えると、システムは線状に走査
するモードで運用できる。DMDアレーの1つの次元内
に走査線が形成され、他の座標軸にこの対象物の線のス
ペクトルが形成される。
【図面の簡単な説明】
【図1】顕微鏡ユニットMと走査中枢S
【図2】走査光程外に検出部を有する別の実施例
【図3】励起に対応する反射像光路
【図4】切り替え鏡アレーDMD1による共焦点絞り
【図5】湾曲した格子GT3の使用例
【図6】格子に代えプリズムPを置き換えた例
【図7】従来顕微鏡への適用例
【図8】多光子蛍光を励起する場合
【図9】LCDアレーを用いた場合
【図10】yスキャンのみによる走査
【符号の説明】
1 光源 2 照明レンズ系 3 ビームスプリッター 4 対物レンズ 5 試料ステージ 6 集光レンズ 7 光源 8 受信機の配列 9 円筒レンズ 10 円筒レンズ 11 接眼レンズ 12 ビームスプリッター・鏡 13.1,13.2 レーザーモジュール 14.1,14.2 単一モード光ファイバー 16 視準レンズ系 17.1,17.2 光線偏向素子 18 部分透過鏡 19 モニターダイオード 20 ニュートラルフィルター 21 直線フィルター 22 走査対物レンズ 23 X/Yスキャナー 24 主ビームスプリッター 25 結像レンズ系 26.1―26.4 検出チャンネル 27 偏向プリズム 28 ダイクロイック・ビームスプリッター 29 ピンホール 30 放出フィルター 31 受信素子 (PMT) 34 駆動ユニット・計算ユニット S 走査中枢 s シャッター KO 視準レンズ系 MO モニター光程 ST1,ST2 ビームスプリッター SC 走査手段 SP1,SP2 結像鏡 DMD1 切り替え鏡アレー FO 収束レンズ系 DT3 検出器 DBS 主ビームスプリッター FL1 視野レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 トーマス ヴェイ (原語表記)Thom as Weyh ドイツ国 D−07646 スタッツローダ ジュリアス・クニーゼ・ストラッセ 14 (原語表記)Julius−Kniese −Str. 14,D−07646 Stadt roda, Germany (72)発明者 ウルリッヒ サイモン (原語表記)Ul rich Simon ドイツ国 D−07751 ローテンスタイン ブルグストラッセ 35 (原語表記)B urgstr. 35,D−07751 Rot henstein,Germany (72)発明者 ギュンター シェッペ (原語表記)Gu enter Schoeppe ドイツ国 D−07745 イエナ ハンス・ アイスラー・ストラッセ 24 (原語表 記)Hans−Eisler−Str. 24,D−07745 Jena, Germa ny (72)発明者 ステファン ウイルヘルム (原語表記) Stefan Wilherumu ドイツ国 D−99510 シェッテン アン デル プロムナーデ 3 (原語表記) An der Promenade 3, D−99510 Schoeten, Ger many (72)発明者 ミカエル ストック (原語表記)Mic hael Stock ドイツ国 D−99510 アポルダ エルフ ルテル ストラッセ 32 (原語表記)E rfurter Str. 32,D− 99510 Apolda, Germany

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】反射、蛍光のような、分散しながら分割さ
    れる照明と対象物からの光との両方または一方を波長選
    択するための、照明と検出光程との両方または一方内
    に、選択的に切り替え可能な少なくとも1基の微小鏡配
    列(DMD)をもつレーザー走査顕微鏡。
  2. 【請求項2】顕微鏡において、対象物の方向へ照明光を
    波長選択しながら接続し、検出の方向へ対象物の光を波
    長選択しながら切り替えるための、少なくとも1基のD
    MD配列と少なくとも1基の分散素子の組み合わせ。
  3. 【請求項3】レーザー走査顕微鏡へ利用する請求項2に
    記載の組み合わせ。
  4. 【請求項4】分散素子が、少なくとも1基の格子とプリ
    ズムとの両方または一方である、請求項1から3の1つ
    に記載の配列。
  5. 【請求項5】レーザー走査顕微鏡の検出光程内の共焦点
    孔形絞りとしてのDMD配列またはLCD配列の組合
    せ。
  6. 【請求項6】検出光程を個別チャンネルへ分割するため
    のダイクロイック・ビームスプリッターをもつレーザー
    走査顕微鏡の検出光程への請求項1から5の1つに記載
    の配列の光学接続。
  7. 【請求項7】光学接続が光ファイバーを通じて行われ
    る、請求項6に記載の配列。
  8. 【請求項8】少なくとも1基のDMD配列を切り替える
    ことによって作り出される、少なくとも1つの方向への
    スリット形走査をもつレーザー走査顕微鏡。
  9. 【請求項9】少なくとも1基の分散素子と、検出光程内
    に選択的に切り替え可能な送信絞りとの組み合わせ。
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Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001272275A (ja) * 2000-02-15 2001-10-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh スペクトル拡開光線の少なくとも1つのスペクトル領域を選択し検出する装置
JP2002090628A (ja) * 2000-09-18 2002-03-27 Olympus Optical Co Ltd 共焦点顕微鏡
JP2002267933A (ja) * 2001-03-13 2002-09-18 Olympus Optical Co Ltd レーザ顕微鏡
JP2004199063A (ja) * 2002-12-16 2004-07-15 Olympus America Inc 共焦点顕微鏡
US6963398B2 (en) 2001-10-03 2005-11-08 Olympus Optical Co., Ltd. Laser scanning microscope
JP2006011440A (ja) * 2004-06-25 2006-01-12 Leica Microsystems Cms Gmbh 顕微鏡
JP2006039116A (ja) * 2004-07-26 2006-02-09 Olympus Corp レーザ走査顕微鏡および分光データ取得プログラム
US7034270B2 (en) 2003-03-13 2006-04-25 Olympus Corporation Scanning laser microscope having a spectrum image positional correction
JP2006133345A (ja) * 2004-11-04 2006-05-25 Nikon Corp 共焦点顕微鏡
US7130043B2 (en) 2003-04-30 2006-10-31 Olympus Corporation Laser scanning microscope and indicator discriminating method
JP2007065661A (ja) * 2005-08-26 2007-03-15 Leica Microsystems (Schweiz) Ag 顕微鏡
JP2007510177A (ja) * 2003-11-07 2007-04-19 カール ツアイス エスエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 位置、形態および/または光学特性の変更可能な、特に顕微鏡など光学機器用の絞り装置および/またはフィルタ装置
JP2007171598A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Olympus Corp 共焦点顕微鏡
JP2007316281A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Olympus Corp 共焦点顕微鏡および多光子励起型顕微鏡
JP2009103958A (ja) * 2007-10-24 2009-05-14 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡
JP2011505171A (ja) * 2007-10-11 2011-02-24 モナ カ テクノロジー モジュール式撮像デバイス、前記デバイス用のモジュール、及び前記デバイスによって実施される方法
JP2012133368A (ja) * 2010-12-22 2012-07-12 Carl Zeiss Microimaging Gmbh 共焦点レーザ走査顕微鏡のピンホール
JP2014170045A (ja) * 2013-03-01 2014-09-18 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡装置
JP2022514666A (ja) * 2018-12-21 2022-02-14 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 顕微鏡

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19930532C2 (de) * 1999-06-30 2002-03-28 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Optimierung der Pulsform in einem Laser-Scanning-Mikroskop
FR2797495B1 (fr) * 1999-08-11 2003-01-31 Dilor Appareil d'imagerie spectrometrique
DE10029680B4 (de) * 2000-06-23 2016-06-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop-Aufbau
DE10038049A1 (de) * 2000-08-02 2002-02-14 Leica Microsystems Optische Anordnung zur Selektion und Detektion des Spektalbereichs eines Lichtstrahls
DE10038526B4 (de) 2000-08-08 2004-09-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Erfassung des wellenlängenabhängigen Verhaltens einer beleuchteten Probe
DE10133017C2 (de) * 2001-07-06 2003-07-03 Leica Microsystems Konfokales Mikroskop
DE10222779A1 (de) * 2002-05-16 2004-03-04 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Untersuchung von Proben
DE10259443B4 (de) 2002-12-19 2015-01-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur optischen Untersuchung und/oder Bearbeitung einer Probe
DE10332064A1 (de) * 2003-07-11 2005-01-27 Carl Zeiss Jena Gmbh Anordnung zur Erfassung der Beleuchtungsstrahlung ineinem Laser-Scanning-Mikroskop
DE102004034993A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
DE102004034981A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung
EP1856509B1 (de) * 2005-03-03 2011-12-28 QIAGEN Lake Constance GmbH Fluoreszenzmessgerät
JP4837325B2 (ja) * 2005-07-26 2011-12-14 オリンパス株式会社 顕微鏡照明装置
US8189191B2 (en) * 2005-07-26 2012-05-29 Tufts University Spectroscopic imaging microscopy
US7593156B2 (en) * 2005-08-26 2009-09-22 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Microscope with micro-mirrors for optional deflection and/or beam splitting
DE102005059338A1 (de) * 2005-12-08 2007-06-14 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Untersuchung von Proben
DE102007002583A1 (de) * 2006-11-03 2008-05-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Anordnung und Verfahren zum Steuern und Beeinflussen eines Lichtstrahls
TWI378221B (en) * 2007-09-21 2012-12-01 Ind Tech Res Inst Scatterfield microscopical measuring method and apparatus
US8280131B2 (en) * 2007-11-26 2012-10-02 Carl Zeiss Micro Imaging Gmbh Method and configuration for optically detecting an illuminated specimen
WO2009082242A2 (en) * 2007-12-21 2009-07-02 University Of Otago Optical analyte detection incorporating a micromirror device
DE102009043745A1 (de) 2009-09-30 2011-04-07 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Spektraldetektor mit variabler Filterung durch räumliche Farbtrennung und Laser-Scanning- Mikroskop
EP2315065B1 (en) * 2009-10-26 2015-05-13 Olympus Corporation Microscope
DE102009060793A1 (de) 2009-12-22 2011-07-28 Carl Zeiss Microlmaging GmbH, 07745 Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
US9069175B2 (en) 2011-04-08 2015-06-30 Kairos Instruments, Llc Adaptive phase contrast microscope
US8681413B2 (en) * 2011-06-27 2014-03-25 Kla-Tencor Corporation Illumination control
DE102011052336A1 (de) * 2011-08-01 2013-02-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Einrichtung zur variablen Umlenkung von Licht
US9052500B2 (en) * 2011-11-01 2015-06-09 Intelligent Imaging Innovations, Inc. Fast pinhole changer for confocal microscopy or spatial filter
DE102012203736A1 (de) * 2012-03-09 2013-09-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtrastermikroskop mit spektraler Detektion
JP6049300B2 (ja) * 2012-05-11 2016-12-21 オリンパス株式会社 顕微鏡システム
US9341769B2 (en) 2012-12-17 2016-05-17 Kla-Tencor Corporation Spectral control system
CN106104202B (zh) * 2014-03-20 2019-08-02 科磊股份有限公司 计量光学量测方法及系统
TW201546486A (zh) * 2014-06-11 2015-12-16 Univ Nat Cheng Kung 利用數位微型反射鏡元件之多光子螢光激發顯微裝置
DE102015108383B4 (de) 2015-05-27 2020-01-30 Carl Zeiss Jena Gmbh Multichromatorvorrichtung, Beleuchtungsvorrichtung, bildgebende Vorrichtung und entsprechende Verfahren
EP3538941A4 (en) 2016-11-10 2020-06-17 The Trustees of Columbia University in the City of New York METHODS FOR FAST IMAGING OF HIGH RESOLUTION LARGE SAMPLES
CN113109949B (zh) * 2021-04-09 2022-09-02 长春长光格瑞光电技术有限公司 宽谱段高分辨中阶梯光栅单色器的针孔装调方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5192980A (en) * 1990-06-27 1993-03-09 A. E. Dixon Apparatus and method for method for spatially- and spectrally-resolved measurements
JPH05142144A (ja) * 1991-04-12 1993-06-08 Bayer Ag 分光学的に相関関係のある光走査顕微鏡検査法
JPH06207853A (ja) * 1991-12-20 1994-07-26 Texas Instr Inc <Ti> 分光計及び光の分析方法
US5587832A (en) * 1993-10-20 1996-12-24 Biophysica Technologies, Inc. Spatially light modulated confocal microscope and method
US5886784A (en) * 1993-09-08 1999-03-23 Leica Lasertechink Gmbh Device for the selection and detection of at least two spectral regions in a beam of light

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5061049A (en) * 1984-08-31 1991-10-29 Texas Instruments Incorporated Spatial light modulator and method
US4844617A (en) * 1988-01-20 1989-07-04 Tencor Instruments Confocal measuring microscope with automatic focusing
US5473157A (en) * 1994-03-22 1995-12-05 At&T Corp. Variable temperature near-field optical microscope
DE19510102C1 (de) * 1995-03-20 1996-10-02 Rainer Dr Uhl Konfokales Fluoreszenzmikroskop
DE19630956A1 (de) * 1996-07-31 1998-02-05 Basf Ag Verfahren und Vorrichtung zur Raman-Korrelationsspektroskopie
US5982553A (en) * 1997-03-20 1999-11-09 Silicon Light Machines Display device incorporating one-dimensional grating light-valve array
AU2001234011A1 (en) * 2000-01-28 2001-08-07 Sagi Cooper Apparatus and method for accessing multimedia content

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5192980A (en) * 1990-06-27 1993-03-09 A. E. Dixon Apparatus and method for method for spatially- and spectrally-resolved measurements
JPH05142144A (ja) * 1991-04-12 1993-06-08 Bayer Ag 分光学的に相関関係のある光走査顕微鏡検査法
JPH06207853A (ja) * 1991-12-20 1994-07-26 Texas Instr Inc <Ti> 分光計及び光の分析方法
US5504575A (en) * 1991-12-20 1996-04-02 Texas Instruments Incorporated SLM spectrometer
US5886784A (en) * 1993-09-08 1999-03-23 Leica Lasertechink Gmbh Device for the selection and detection of at least two spectral regions in a beam of light
US5587832A (en) * 1993-10-20 1996-12-24 Biophysica Technologies, Inc. Spatially light modulated confocal microscope and method

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001272275A (ja) * 2000-02-15 2001-10-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh スペクトル拡開光線の少なくとも1つのスペクトル領域を選択し検出する装置
JP2002090628A (ja) * 2000-09-18 2002-03-27 Olympus Optical Co Ltd 共焦点顕微鏡
JP2002267933A (ja) * 2001-03-13 2002-09-18 Olympus Optical Co Ltd レーザ顕微鏡
US6909542B2 (en) 2001-03-13 2005-06-21 Olympus Optical Co., Ltd. Laser microscope
US6963398B2 (en) 2001-10-03 2005-11-08 Olympus Optical Co., Ltd. Laser scanning microscope
JP2004199063A (ja) * 2002-12-16 2004-07-15 Olympus America Inc 共焦点顕微鏡
JP4723806B2 (ja) * 2002-12-16 2011-07-13 オリンパス株式会社 共焦点顕微鏡
US7034270B2 (en) 2003-03-13 2006-04-25 Olympus Corporation Scanning laser microscope having a spectrum image positional correction
US7130043B2 (en) 2003-04-30 2006-10-31 Olympus Corporation Laser scanning microscope and indicator discriminating method
JP2007510177A (ja) * 2003-11-07 2007-04-19 カール ツアイス エスエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 位置、形態および/または光学特性の変更可能な、特に顕微鏡など光学機器用の絞り装置および/またはフィルタ装置
JP2006011440A (ja) * 2004-06-25 2006-01-12 Leica Microsystems Cms Gmbh 顕微鏡
JP2006039116A (ja) * 2004-07-26 2006-02-09 Olympus Corp レーザ走査顕微鏡および分光データ取得プログラム
JP2006133345A (ja) * 2004-11-04 2006-05-25 Nikon Corp 共焦点顕微鏡
JP2007065661A (ja) * 2005-08-26 2007-03-15 Leica Microsystems (Schweiz) Ag 顕微鏡
JP2007171598A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Olympus Corp 共焦点顕微鏡
JP2007316281A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Olympus Corp 共焦点顕微鏡および多光子励起型顕微鏡
JP2011505171A (ja) * 2007-10-11 2011-02-24 モナ カ テクノロジー モジュール式撮像デバイス、前記デバイス用のモジュール、及び前記デバイスによって実施される方法
JP2009103958A (ja) * 2007-10-24 2009-05-14 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡
JP2012133368A (ja) * 2010-12-22 2012-07-12 Carl Zeiss Microimaging Gmbh 共焦点レーザ走査顕微鏡のピンホール
JP2014170045A (ja) * 2013-03-01 2014-09-18 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡装置
JP2022514666A (ja) * 2018-12-21 2022-02-14 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 顕微鏡

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Publication number Publication date
DE19835072A1 (de) 2000-02-10
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US20040174593A1 (en) 2004-09-09

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