JPS6355742A - 電子ビーム照射位置検出装置及び該装置を用いた情報記録再生装置 - Google Patents

電子ビーム照射位置検出装置及び該装置を用いた情報記録再生装置

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JPS6355742A
JPS6355742A JP19985486A JP19985486A JPS6355742A JP S6355742 A JPS6355742 A JP S6355742A JP 19985486 A JP19985486 A JP 19985486A JP 19985486 A JP19985486 A JP 19985486A JP S6355742 A JPS6355742 A JP S6355742A
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水澤 伸俊
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恭彦 石渡
Ryuichi Arai
竜一 新井
Mamoru Miyawaki
守 宮脇
Yukio Masuda
増田 幸男
Hitoshi Oda
織田 仁
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電子ビームを情報信号によって変調し、記録
媒体上に照射して情報の記録φ再生・消去を行い、特に
記録媒体上に電子ビームスポットの位置情報を検出する
手段を設け、高速・高精度に記録会再生を行うことので
きる情報記録・再生装置に関するものである。
[従来の技術] 電子ビームを用いた情報記録再生装置としては、M O
S (Metal 0xide Sem1conduc
tor)構造を持つメモリ層に、電子ビームを用いて情
報の記録・再生[株]消去を行う例があり、例えば「雑
誌”真空” 1983年第28巻第4号382〜329
頁j等に詳しい記載があるが、第4図を基に以下に簡単
に説明する。MO3構造を持つメモリ層は、金属層MT
L、5i02層SIL、n層NL、  p層PLを積層
したようになっており、記録時においてメモリ層の表面
から電子ビームEBが照射されると、電子ビームEBは
金属層MTLを通過して5i02層SILに達し、5i
02層SILに電子と正孔の電荷対を形成する。この際
に、金属層MTLとn層MLの間にバイアス電位TdB
を印加しておくと、電子は金屑層NTI。
を経由して系外に流れてしまうが、正孔はn層NLに面
したS i 02層SILの中に残留し、メモリのビー
/ トに相出する正孔の集合体を形成する。バイアス電
位WBを印加していない場合には、正孔と電子は再結合
しメモリ作用を示さないことになる。
読出し時においては、n層MLとp層PLの間にバイア
ス電位RBを印加して電子ビームEBを照射すると、正
孔の集合体の有無が検出器ANTに電流の形で検出され
る。一般に、この種のメモリでは二次元の拡がりを持つ
メモリ層に対して、1本の電子ビームを直交する2つの
方向の偏向手段により偏向させて記録再生を行う0例え
ば、偏向電極にアナログ電圧を印加することによって電
子ビームを偏向すると、デジタル的にX座標、Y座標を
指定して二次元平面の一点を指定する場合と異なり、偏
向された電子ビームが正確に指定されたピットを照射し
ているか否かの保証が無く、特に大容量化に際してはこ
の点が大きな問題となる。
[発明の目的] 本発明の目的は、上述の従来例の欠点を除去すると共に
、高速・高精度な電子ビームアクセスが可能な情報記録
・再生装置を提供することにある。
[発明の概要] 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、電子ビー
ム発生源と、該電子ビーム発生源から出射される電子ビ
ームを偏向する偏向手段と、前記電子ビーム発生源と対
向する位置に、所定のビームにより情報の記録又は再生
をする記録媒体とを設け、前記電子ビームを前記記録媒
体上に予め記録した位置情報コードの読み取りに使用す
ることを特徴とする情報記録・再生装置である。
[発明の実施例] 本発明を第1図〜第3図に図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
第1図においてMWは記録媒体であり、その上方には情
報の記録・再生・消去を行うための電子ビームMEBの
発生源MEBDが配置されている0発生源MEBDは複
数の電子ビーム源を一次元に密に配列した要素であり、
例えば特公昭54−30274号、特開昭54−112
72号、特開昭56−15529号、特開昭57−38
528号公報等に開示されている形態と同様のものであ
る。電子ビーム発生源MEBDは個々の電子ビームME
Hの電流密度を容易に変化することが可能なため、情報
の記録時或いは消去時には電流密度を高くして記録媒体
■の材質変化を生じさせ、ピッ) PITを形成したり
消滅させることができる。また、情報の再生時には電流
密度を低くして記録媒体Mにの材質変化を起こすことな
く、情報を再生することが可能である。なお記録媒体M
にの材料としては、電子ビームの照射によってアモルフ
ァスを結晶化、結晶をアモルファス化する相変化を起こ
すG e (fl、5) ・T e (57,5) −
A s (31)等が用いられる。
また、電子ビーム発生源MEBDの側部にはトラッキン
グ用電子ビーム発生源TEBDが設けられ、この発生源
TEBDはトラッキング用電子ビームTEBを発生する
。また、電子ビーム発生源MEBDに対してトラッキン
グ用電子ビーム発生源TEBDと反対の側部にはアドレ
スコード読取用の電子ビーム発生源CEBDが設けられ
、この発生源CEBDはアドレスコード読取用電子ビー
ムCEBを発生する。各電子ビームMEB 、 TEB
 、 CEBは約0.271m程度の径を有し、トラッ
キング用電子ビームTEB及びアドレスコード読取用電
子ビームCEBの電流密度は、記録媒体Mに上に形成さ
れるトラッキング用スポットTEBS及びアドレスコー
ド読取用スボッ) CEBSが記録媒体Mにの材質に変
化を生じさせない程度に低くされている。
更に記録媒体■上には、X方向を向く2木の平行な導電
体から成るトラッキング用基準パターンPL、 PRが
設けられ、このパターンPL、 PRにはトテラキング
用電子ビーム発生源TEBOからの電子ビームTEHの
照射によって電流が流れるようになっており、2本の基
準パターンPL、 PRの間隔は約0.1JLmである
。基準パターンPI、、 P旧とは電流を導き出すリー
ド線LLL 、 LLRが接続され、これらの出力電流
は電圧に変換され、それぞれ増幅器AL、 ARを経て
差動増幅器DAに接続されている。
差動増幅器OAは増幅器AL、 ARの出力差を増幅す
るものであり、この出力によって基準パターンPL、P
Rを流れる電流量を比較する。差動増幅器IIAからの
出力は位相補償回路PRCを経てドライバ丁rA:Jに
接続されている。ドライバTCDの出力は、トラッキン
グ用電子ビームTEB 、情報の記録・再生−消去用の
複数の電子ビームWEB 、アドレスコード読取用電子
ビームCEBをy方向に同時に偏向するための均一電界
を発生する偏向電極TCP 、 TCLに印加されてい
る。このドライバTCDは基準パターンPLに流れる電
流が基準パターンPRに流れる電流より大きいときに偏
向電極TCRが正、 TCLが負になるように、差動増
幅器OAの出力に応じて偏向電極TCP 、TCL に
電圧を印加するようになっている。
この電圧の印加は差動増幅器DAの出力に応じて。
基準パターンPLに流れる電流が基準パターンPRに流
れる電流より小さいときに偏向電極TCRが負、TCL
が正になるようにする。また、記録媒体MM上には金蒸
着等の方法で形成され、大略としてX方向を向くアドレ
スコードCDが設けられている。
制御回路CPUから信号SLIがドライバSCDに送ら
れ、ドライバSCDはトラッキング用電子ビームTEB
 、 W&の電子ビームWEB 、アドレスコード読取
用電子ビームCEBをX方向に偏向するための偏向電極
SCI 、 SC2を駆動するようになっている。
また、アドレスコード読取用電子ビームCEB t−V
方向に偏向するために偏向電極OCR、CCI、が設け
られ、これらの偏向型′piccR、CCLは制御回路
CPUから出力される信号SL3によりドライバCCD
により駆動される。更に、アドレスコードCDの情報の
斜め上方には、記憶媒体Mにとの間に電位VBが印加さ
れた二次電子検出器SNSが設けられ、その出力は増幅
器IA、デコーダDCDを介して制御回路CPUに入力
されている。なお、第1図に示した殆どの構成要素は電
磁シールドされた真空容器中に収納されている。
オーブンルーズによりフィードバックをかけずに、直接
に電圧を制御して電子ビームを偏向する場合に、電子ビ
ームスポットの位置決め精度は、ドライバTCrJの精
度、分解能、外部磁界等の影響によって左右されるため
、記録媒体Mに上での電子ビームスポットの位置は成る
誤差範囲を持つことになるが、アドレスコードCDはこ
の誤差範囲よりも若干長い周期で同じアドレスコード群
が繰り返すように描かれている0例えば、第2図に示す
ように記録媒体MM上のX方向の有効記録長を10mm
とし、この10mmに電子ビームCEBを偏向するため
の偏向電極SC:1 、 SC2への印加電圧レンジが
±500V、偏向電極SCI 、 SC2に電圧を印加
するドライバTCDの分解能と精度がダイナミックレン
ジの0.1%即ち±500vのフルスケースに対して±
0.5v、その他の誤差成分も電圧に換算して±0.3
Vあるとすると、総合で±0.8Vの電圧誤差が存在す
る。これは10mmの有効記録長さに対して、記録媒体
MFI上で±8gmの誤差範囲を持つことになるので、
アドレスコード群はこの誤差範囲よりも長い周期、例え
ば20gmの周期で繰り返して描かれている。
このアドレスコードCD上をアドレスコード読取用電子
ビームCEEが、ドライバccnによって偏向電極(、
OL 、 CCR間に印加された電界により照射される
と、電子ビームCEBの照射によって記録媒体Mにの表
面又はアドレスコードCDから二次電子SEが放出され
る。この二次電子SEは200〜500vの電圧VBに
よって、シンチレータ、光パイプ、光電子増倍管から構
成される二次電子検出器SNSに導かれる。一般に、高
速の反射電子はこの低い電圧による電界には殆ど軌道を
曲げられず、入射方向近傍に反射するため、二次電子検
出器SNSはこれを避けた位置に置かれている。二次電
子検出器SNSからの出力信号は増幅器IAで増幅され
、デコーダf]CrJを通って、読み取られた信号コー
ドがアドレスに変換される。このアドレスは制御回路C
PUに入力され、制御回路CPUはこのアドレスを解釈
してアドレスコード読取用電子ビームCEEを走査する
ためのドライバCODに信号SL3を、全電子ビームを
偏向電極SC:1 、 SC2間に電圧をかけることに
よってX方向に偏向するためのドライバSCDに信号S
LIを送出する。また、制御回路CPUには更に上位の
制御回路から新しいアドレスへのアクセス命令NADR
が送られてくる。
このような構成において、トラッキング用ビームスボッ
) TEBSが基準パターンPI、、 PRと第3図(
a)に示すような関係にある場合に、基準パターンPL
、 PRに流れる電流を比較すると、電子ビームTEB
の照射量の多い基準パターンPLにより大きい電流が流
れるため、前述したように偏向型8iTCRが正、偏向
電極丁孔が負になるように電圧が印加され、トラッキン
グ用電子ビームTEBは偏向電極TCR側に偏向され、
ビームスポットTEBSは基準パターンPL側からPR
側に移動する。このとき、情報の記録争再生・消去用の
複数の電子ビームWEB及びアドレスコード読取用電子
ビームCEBも、トラッキング用電子ビームTEHの受
ける電界2全く同じ電界の影響を受けて偏向される。
一方、トラ−、キング用ビームスポットTEBSと大漁
パターンPL、 PRが第3図(b)に示す関係にある
場合には、基準パターンPLとPRに流れる電流を比較
した場合に、電子ビームTEBの照射量の多い基準パタ
ーンPRにより大きい電流が流れるため、前述したよう
に偏向電極TCRが負、TCLが正になるように電圧が
印加され、トラッキング用電子ビームTEBは偏向電極
TCL側に偏向され、ビームスボッ) TEBSは基準
パターンPR側からPL側に移動する。このときも第3
図(a)の場合と全く同様に、情報の記録・再生・消去
に使用している複数の電子ビームWEB及びアドレスコ
ード読取用電子ビームCEBはトラフキング用電子ビー
ムTEBと同じ電界を受けて偏向される。
また、第3図(C)に示した状態では、差動#!l@器
DAからは信号が出力されないため、偏向電極TCP 
、 TCLには電圧が印加されず、トラッキング用電子
ビームTEBも複数の電子ビームWEBもアドレスコー
ド読取用電子ビームCEBも全く偏向されない。
実際には、第3図(a) 、 (b) 、 (c)の状
態が適切に制御され、トラッキング用スボッ) TEB
Sが基準パターンPR,PLの中間の位置、即ち第3図
(e)の状態になるように維持される。
本実施例においては、ビームスポットTEBSの径の1
/I O,即ち0.02JLmφ程度の高精度でトラッ
キング用電子ビームTEBを基準パターンPL、 PR
に沿って走査することが可能である。従って、トラッキ
ング用電子ビームTEBと全く同じ電界を受けている複
数の電子ビームMEB及びアドレスコード読取用電子ビ
ームCEBも、トラッキング用電子ビーム丁EBと同じ
精度で走査を行うことになり、基準パターンPL、 P
Rを基準に記録されたピッ) PI丁を、再生時或いは
消去時にも基準パターンPL、 PRをトラッキング用
電子ビームTEBで走査することにより、極めて正確に
トレースすることが可能である。
このようなトラッキング制御のもとで、制御回路CPυ
に新しいアドレスへのアクセス命令NADRカもたらさ
れると、制御回路CPUは直ちに新しいアドレス値に相
当する偏向を全ての電子ビームTEB 、 MEB 、
 CEBに与えるための電圧を、偏向電極SCI 、 
SC2間に印加するようにドライバSCDに指示する0
例えば、16進法で新しいアドレス値が600FOでそ
れに対応する電圧が3507であれば、ドライバSCD
は偏向電極SCI 、 SC2間に350vを印加する
が、前述したように実際には誤差が最大でアドレスコー
ド1周期の16/20=0.8V存在する。第2図を例
にとって説明すれば、350Vを印加しても、電子ビー
ムCEBは600EAから600F6の範囲に存在する
が。
600FOをダイレクトにアクセスする保証はない、そ
こで、次に制御回路CPUはドライバCCDに対してア
ドレスコード読取用電子ビームCEBが、アドレスコー
ド(D上を走査するように偏向電極CCL 、 CCR
間に電圧を印加するよう指示する。電子ビームCEHの
走査によって放出された二次電子SEは、二次電子検出
器SNSにより検出され、デコーダDCDによってアド
レス値に変換されるが、第2図の例ではコードは16種
類しかなくアドレス値0からFに対応している。例えば
、デコーダI]CDからCというアドレス値が得られる
と、制御回路CPυはアドレスを600ECと解釈して
ドライバSCDによって偏向電極SCI 、 SC2間
に更に電圧をΔVだけ印加して電子ビームCEBを60
0FOへ近付く方向に偏向する。デコーダDCDからの
入力としてアドレス値Cを受は取った制御回路CPUが
アドレスを600ECと解釈して、600FCと誤らな
い理由はアドレスコードCDの繰り返し周期を電子ビー
ムの位置決め誤差範囲より長くとったため、第2図を例
にとれば350vを印加した場合に、可能性のあるアド
レスは600EA〜600F6までで600FCは含ま
れないからである。
また本実施例では、トラッキング用ビームを電子ビーム
TEBとしたのみならず、情報の記録・再生令消去を行
うビームWEB及びアドレスコード読取用ビームCEB
をも電子ビームとしたため、トラッキング用電子ビーム
TEBを偏向する手段により、容易にビームの偏向を行
うことができる。更に電子ビームは個々に偏向手段を必
要としないため、高密度に複数個配列することが容易で
ビームの高密度化を行うことができ、高速、高密度な記
録が可能となる。また、本実施例ではトラッキング用型
子ビーム発生源丁EEDと複数の電子ビーム発生源ME
日りとアドレスコード読取用電子ビーム発生源CEBD
とを説明の都合上別々の要素としたが、複数の電子ビー
ムを発生する1つの素子において、その1本又は数本の
電子ビームをトラッキング用、更に1本又は数本の電子
ビームをアドレスコード読取用、残りを情報の記録φ再
生・消去用に使用するという形態とすることも可能であ
る。
また本実施例では、電子ビームを電界により偏向する例
について説明したが、磁界による偏向によっても全く同
じ効果が得られることは云うまでもない。
[発明の効果] 以上説明したように本発明に係る情報記録・再生装置に
よれば、オープンルーズによる電圧印加とアドレスコー
ドの読み取りという2つの動作を順次行うことにより、
従来にない高速かつ高精度なアドレスアクセスが可能と
なる。また、記録媒体上のアドレスコードを成る周期で
繰り返し使用するように構成したため、アドレスコード
長が短くなり、アドレスコード読み取り時間の短縮、記
録媒体上でアドレスコードの占める面積を減少できると
いう効果もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る情報記録・再生装置の一実施例の
構成図、第2図はアドレスコードの説明図、第3図はト
ラッキング用基準パターンと電子ビームスポットの関係
図、第4図は従来例の電子ビームを用いたメモリの構造
図である。 符号MMは記録媒体、HERD、 TEBD、 GEB
Dは電子ビーム発生源、TCL 、TC:R、SL:1
 、 SC2、CCL、CCRは偏向電極、CDはアド
レスコード、SNSは二次電子検出器である。 特許出願人   キャノン株式会社 ゴ工 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、電子ビーム発生源と、該電子ビーム発生源から出射
    される電子ビームを偏向する偏向手段と、前記電子ビー
    ム発生源と対向する位置に、所定のビームにより情報の
    記録又は再生をする記録媒体とを設け、前記電子ビーム
    を前記記録媒体上に予め記録した位置情報コードの読み
    取りに使用することを特徴とする情報記録・再生装置。 2、位置情報コードの読み取りに使用する電子ビームを
    走査するための偏向手段を別個に設けた特許請求の範囲
    第1項に記載の情報記録・再生装置。 3、記録媒体上に同一の位置情報コード群を所定の長さ
    で繰り返し設けた特許請求の範囲第2項に記載の情報記
    録・再生装置。 4、前記位置情報コードの読み取りは前記位置情報コー
    ドから発生する二次電子を検出して行うようにした特許
    請求の範囲第1項に記載の情報記録・再生装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6118556U (ja) * 1984-07-06 1986-02-03 株式会社本田ロツク 電磁スイツチ

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6029953A (ja) * 1983-07-28 1985-02-15 Fujitsu Ltd 電子ビ−ム記録再生装置
JPS60251526A (ja) * 1984-05-25 1985-12-12 Canon Inc 光情報記録再生装置
JPS61170938A (ja) * 1985-01-23 1986-08-01 Hitachi Ltd 光磁気ディスク装置及びその情報処理方法
JPS61190722A (ja) * 1985-02-19 1986-08-25 Comput Services Corp 光メモリカ−ド

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6029953A (ja) * 1983-07-28 1985-02-15 Fujitsu Ltd 電子ビ−ム記録再生装置
JPS60251526A (ja) * 1984-05-25 1985-12-12 Canon Inc 光情報記録再生装置
JPS61170938A (ja) * 1985-01-23 1986-08-01 Hitachi Ltd 光磁気ディスク装置及びその情報処理方法
JPS61190722A (ja) * 1985-02-19 1986-08-25 Comput Services Corp 光メモリカ−ド

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6118556U (ja) * 1984-07-06 1986-02-03 株式会社本田ロツク 電磁スイツチ
JPH0127550Y2 (ja) * 1984-07-06 1989-08-18

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