JPS63500551A - 非同期行および列制御を有するメモリ回路 - Google Patents

非同期行および列制御を有するメモリ回路

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JPS63500551A
JPS63500551A JP61503392A JP50339286A JPS63500551A JP S63500551 A JPS63500551 A JP S63500551A JP 61503392 A JP61503392 A JP 61503392A JP 50339286 A JP50339286 A JP 50339286A JP S63500551 A JPS63500551 A JP S63500551A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 非同期行および列制御を有するメモリ回路発明の分野 本発明は、アドレス変換を検出するメモリに関するものであり、更に詳しく云う とアドレス変換に応答してビットラインをプリチャージし等化するメモリ回路に 関する。
発明の背景 スタティックランダムアクセスメモリ (SRAM)においては、データを与え る場合にアドレス変換に応答して種々の回路機能を行うことが望ましいことが見 出されている。アドレス変換検出(A T D)を用いるSRAMにおいては、 一部の場合にデータが失われるという問題が起きてきている0時にはパターン感 度(pattern 5ensitivities)がある、また時にはアドレ ススキューの問題がある。アドレススキューは2つ以上のアドレスが全く同時に ではなく変化する場合に起きる。一般的な動作では、アドレススキューは全アク セス時間に比べると極めて小さい、システム内の一般的なアクセスについては、 アクセススキューは一般に1〜2ナノ秒(ns)であるが、SRAMは35ns SRAM程度のアクセス時間を有する。この種類のアクセススキューについては 問題は殆んど起きていない、しかし、−a的なシステムでは、有効となる前にア ドレスが比較的長い時間、例えば25nsの間急速に変化しつつある場合がある 。これは故障が起きる可能性が比較的高い状態である。この問題が起きる理由は 判断することはむずかしし2が、本発明において扱われている原因の1つJよ、 代表的な先行技術ATDメモリ回路ではワードラインをひどいアドレススキュー の帰還中に付勢できるという事実に関係がある。ワードラインが付勢されると、 その行上にあるSRAMセルは使用可能になり、ビットライン上の電圧を微分し ようとしつつある。
次に別のワードラインがアクセスされると、ビットラインは十分に微分されるか もしれないので、新たに付勢されたセルは、特にそのセルが比較的に弱いと、デ ータを逆にするかもしれない、一般的なアドレス指定状態では、この問題は0、 次のワードラインを付勢する前にビットラインを確実に等化してお(ことレスス キュー状態では、ビットラインは十分には等化されず、時にはデータが失われる ことがあるかもしれない。
事態を複雑なものにしているもう1つの要因は、最高サイクル周波数以下で動作 する場合にはサイクル間においてメモリの主要部分をオフにすることが望ましい という点である。これはサイクルの終りに一部の電力消費部分をオフにするサイ クルエンドタイマで一般に処理される。この結果比較的遅いサイクル速度で動作 すると電力が著しく節約される。しかし、これはタイマがタイムアウトした後に アクセスがあるとサイクルの長さを長くする可能性のある回路の複雑さを増すこ とになる。
発明の要約 本発明の目的はメモリにおける改良された行および列制御を提供することである 。
本発明のもう1つの目的は改良された行および列制御を有する改良されたメモリ を提供することである。
本発明の更にもう1つの目的は、2本以上のワードラインが同時にアクティブに なるのを防止する改良された技術を提供することである。
これらの、およびその他の目的は、列アドレスによって選択される複数のビット ライン対および行アドレスによって選択される複数のワードラインを有するメモ リ回路において達成され、前記ビットライン対は列アドレスによって決定される 列デコーダによって共通のデータラインに選択的に結合され、ワードラインは行 アドレスによって決定される行デコーダによって選択的に使用可能にされ、メモ リセルはビットライン対とワードラインの各交差点に位置している。メモリ回路 は行検出回路、列検出回路、使用禁止回路および減結合(decoupling )回路を含む。行検出回路は行アドレス変換の検出に応答して行変換信号を発生 させる0列検出回路は列アドレス変換の検出に応答して列変換信号を発生させる 。使用禁止回路は行変換信号に応答して行デコーダを使用禁止にする。M結合回 路列変換信号に応答してデータラインからビットラインを減結合する。
図面の簡単な説明 第1図は、本発明を理解するのに役立つメモリのレイアウトである。
第2図は、第1図のメモ゛り回路の一部のブロック図である。
第3図は、第2図のブロック図の第1部分の回路図である。
第4図は、第2図のブロック図の第2部分のブロック図と回路図を組合わせたち のである。
第5図は、本発明の好ましい実施例によるプリチャージおよびデコーダ制御回路 のブロック図と回路図を組合わせたものである。
第6図は、第5図のプリチャージおよびデコーダ制御回路の一部のブロック図と 論理図を組合わせたものである。
発明の説明 第1図にはメモリ1oがメモリアーキテクチュアを構成する一部の重要な機能ブ ロックの物理的関係を示すレイアウトの形で示されている。メモリ10は8つの サブアレイ11.12゜13.14,15.16.17および18.8つのワー ドライントライバブロック21,22,23,24.25.26.27および2 8、列ブロック31.左大域(グローバル)行デコーダ32、右大域(グローバ ル)行デコーダ33、行アドレスバツフア/制御ブロック34、列アドレスバッ ファ/制御ブロック35、制御データI10ブロック36を含む0種々の機能ブ ロックはメモリにおけるアーキテクチュア定義の特色を示すレイアウトの形で主 として相互の関連性をもって位置している。
第1図は頂部と底ブロック、および左側と右側を有する2次元の形のアーキテク チュアを示す0行アドレスバッファ/制御ブロック34は頂部にあって、バス3 7は下方へ、また左大域(グローバル)行デコーダブロック32まで左方へ実行 し、バス38は下方へ、また右大域(グローバル)行デコーダ33まで右方へ実 行する。サブアレイ11はワードライントライバ21のすぐ下にある。ワードラ イントライバ22はサブアレイ11のすぐ下にある。サブアレイ12はドライバ 22のすぐ下にある。ワードライントライバ23はサブアレイ12のすぐ下にあ る。サブアレイ13のドライバ23のすぐ下にある。ワードライントライバ24 はサブアレイ13のすぐ下にある。サブアレイ14はドライバ24のすぐ下にあ る。ワードライントライバブロック25は行デコーダ33のすぐ下にある。サブ アレイ15はワードライントライバ25のすぐ下にある。ワードライントライバ 26はサブアレイ15のすぐ下にある。サブアレイ16はドライバ26のすぐ下 にある。ワードライントライバ27はサブアレイ16のすぐ下にある。サブアレ イ17はドライバ27のすぐ下にある。ワードライントライバ28はサブアレイ 17のすぐ下にある。サブアレイ18はドライバ28のすぐ下にある。頂部から 底部の方向に実行するサブアレイ11−14はサブアレイの列39を形成してい る。頂部から底部の方向へ実行するサブアレイ15−18はサブアレイの列40 を形成している。左から右の方向へ実行するサブアレイ11および15はサブア レイの行42を形成している。左から右の方向へ実行するサブアレイ12および 16はサブアレイの行43を形成している。左から右の方向へ実行するサブアレ イ13および17はサブアレイの行44を形成している。左から右の方向へ実行 するサブアレイ14および17はサブアレイの行45を形成している0列ブロッ ク37は列39と40の間でそれらと平行して実行する。従って列ブロック31 は間に置かれて行42−4列39のサブアレイ11−14の上にそれぞれある。
ワードライントライバ25−28はサブアレイ1s−isの上にそれぞれある。
ここに用いられている1〜の上に”という語はアーキテクチュアを説明するのに 適当な2次元子面の意味に用いられている。
サブアレイ11−18はそれぞれ、128の上に重なっているビットライン対と 64本の上に重なっているワードラインを有する。ここに用いられている1上に 重っている”という語は3次元の意味に用いられている。ワードラインおよびビ ットラインの用法は技術上周知である0例として、サブアレイの各々に対して4 本のワードラインが示されており、サブアレイ15に対して3本のビットライン が示されている。ワードラインは頂部から底部の方向へ実行し、ビットラインは 左から右の方向へ実行する。サブアレイ11についてはワードライン46−49 が示されている。サブアレイ12についてはワードライン50−53が示されて いる。サブアレイ13についてはワードライン54−57が示されている。サブ アレイ14についてはワードライン5B−61が示されている。サブアレイ15 についてはビットライン対62−64が示されている0列39および40はそれ ぞれ頂部から底部の方向へ実行する32本の行選択ラインを有する0例として、 列39について行選択ライン65および66が示されている。各行選択ラインつ いて、特定の列における各サブアレイ用としてその行選択ラインに隣接する2本 の対応するワードラインがある。各ワードラインは1本だけの行選択ラインに隣 接しており、それは対応する行選択ラインである0行選択ライン65は対応する ワードライン46−47.50−51.54−55および58−59を有する0 行選択ライン66は対応するワードライン48−49.52−53.56−57 および60−61を存する0行選択ライン65および66は行デコーダ32から ワードライントライバ24までのびており、その間ではサブアレイ11−13の 上に重なっている。
ワードラインは2層に形成されている。1層は個々のメモリセルを使用可能にす る転送(transfer))ランジスタのゲートを形成するポリシリコンであ る。もう一方の層はポリシリコンワードラインの上に重なっている金属である。
上に重なっている各金属ワードラインは対応するポリシリコンワードラインにス トライブ(strap)されていて、メモリセルがアクセスされる速度を早める 。高速ワードラインのためにこのようにポリシリコンに対してその上に重なって いる金属をストラップすることは技術上周知である0行選択ラインは金属ワード ラインと同じ層に形成された金属ラインである0行選択ラインはワードライント ライバによって用いられる情報を運びそれは最後のワードライントライバで終テ する。従って、行選択ラインはサブアレイの列中の最後のサブアレイに重なると ころまで延長する必要はない0図示されているように、行選択ライン65および 66はサブアレイ14、即ち列39中の最後のサプアレイに重なるところまでは 延びていない。各行選択ラインは最後のサブアレイを除くすべてのサブアレイの 上方にあるその行選択ラインに対応するワードラインの間で実行する。第1図に 示すように、行選択ライン65はサブアレイ11の上方にあるワードライン46 および47の間、サブアレイ12の上方にあるワードライン50および51は5 1の間、およびサブアレイ13の上方にあるワードライン54および55の間で 実行する。
列ブロック31はサブアレイ11−18、ワードライントライバ21−28、ブ ロック34、ブロック35およびブロック36に結合されている0列ブロック3 1は列後号、データの局部的検知、サブアレイ選択信号の経路指定およびデータ の経路指定を行う、16のアドレス信号AO〜A15によって定められる65. 536のメモリ位置がある。アドレス信号AO〜A8はどのワードラインが付勢 されるか(又は使用可能になるか)を定める。64本のワードラインおよび8つ のサブアレイを用いた場合には、512のうちの1つの選択となる0列ブロック 31はサブアレイ選択信号をワードライントライバへ送ってワードライン使用可 能プロセスを助ける。各列39.40および32が行選択ラインを有するので全 部で64本の行選択ラインがある。アドレス信号AO〜A5は64のうちの1つ の選択を行い、どの行選択ラインが付勢されるかを定める。付勢された行選択ラ インに対応する2本のワードラインのうちの1本が付勢される。この2つのうち の1つの選択はアドレスA6によって決められる。アドレスA5は左と右の間、 即ち列39と40の間を定める。ブロック34は16のサブアレイ選択信号ヲ列 ブロック31に与える。各ワードライントライバブロックはこれらのサブアレイ 選択信号のうちの2つを受信する。成る1つのワードライン選択について、16 のサブアレイ選択信号のうちの1つだけが付勢される。各ワードライントライバ ブロックが2つのサブアレイ選択信号を受信する理由は、付勢された行選択ライ ンに対応しそれに隣接する2本のワードラインの間で選択を行うからである。ア ドレス信号A7および八8はサブアレイの1つの列のなかのどのサブアレイを選 択するかを定める。アドレス信号A5.A7およびA8はワードライン選択なら びにブリチャージングのためにどのサブアレイを付勢するかを定める。
続出モードでは、信号AO−A8のうちの1つが状態を変えると、行アドレス変 換信号が付勢され、選択されたサブアレイをプリチャージする。これは高速SR AMにおける代表的技術となっている。サブアレイのブリチャージングはそのビ ットラインをプリチャージして等化することである。このブリチャージングはメ モリが消費する電力の重要な部分である。そのような重要な電力節約がデータを 与えるサブアレイのみをプリチャージすることによって達成される。アドレス信 号A5.A7およびA8はアドレス信号AO−A8のうちの1つ又はそれ以上の アドレス信号のアドレス変換に応答してどの1つのサブアレイをプリチャージす るかを定める。他のすべてのサブアレイはプリチャージされたままになっていて 選択されない。
付勢されるワードラインとともに、列ブロック31は復号および検知を行い、続 出モードにおいて付勢されたサブアレイから選択されたデータを得る。アドレス 信号は128のうちの1つの選択を行い、サブアレイ内のどのビットラインがデ ータを与えるかを定める。ワードライン選択手順ならびに検知手段において、付 勢されたサブアレイを決めなければならない、サブアレイ選択信号はまたこの目 的にとっても有用である。という訳は、それらの信号はどのサブアレイを選択す るかを定めるからである0列ブロック37には4セツトのセンス増幅器があり、 それらは列42.43.44および45にそれぞれ対応する。
センス増幅器の各セットは4つのセンス増幅器からなる。セット67は対応する サブアレイ11および15に近接しているセンス増幅器71−74からなる。セ ット68は対応するサブアレイ12および16に近接しているセンス増幅器75 −78かからなるセット69は対応するサブアレイ13および17に近接してい るセンス増幅器? 9−82からなる。セット7oは対応するサブアレイ14お よび18に近接しているセンス増幅器83−86からなる。アドレス信号A9− A13によって定められる。プリデコーディングは付勢されたサブアレイからの 4つのビットライン対をその付勢されたサブアレイに対応するそれぞれのセンス 増幅器に結合する。
第1図には示されていないが第2図に示されている大域データライン88はセン ス増幅器71−86から列ブロック31を通ってブロック36に至る。第2図に は列ブロック31の一部89とサブアレイ13および17が示されている0部分 89はサブアレイ13に結合した列デコーダ部分、サブアレイ17に結合した列 デコーダ部分91、センス増幅器のセット69、な、93.94および95は大 域データライン88を含む、センス増幅器のセット67−70の各々は出力をこ れらの4つのデータライン対に制御できるように結合させている。増幅器のどの セットかデータライン対に結合されるかはアドレス信号A7およびA8によって 定められる。増幅器の各セット67−70は同じ行にある2つのサブアレイのう ちの1つに制御できるように結合されている入力を有する。4対のデータライン 92−95のうちのどの1つをデータ用に選択するかは、アドレス信号A14お よびA15によって決められる。信号A14およびA15はまた増幅器セット内 の4つのセンス増幅器のうちのどれが使用禁示にされないかを定める。4つのう ちの1つのデータ対選択を行うのに必要な制御信号はブロック35からブロック 36へ結合される。
書込モードにおいてもモードライン選択は続出モードの場合と同じである。書込 モードではビットライン対をプリチャージする必要はない0列後号もまた非常に よ(似ている。センス増幅器の代わりに書込ドライバが用いられる。書込ドライ バはブロック36に置かれている。アドレス信号A14およびA15は大域デー タライン88のどの対が書込まれるデータを運ぶかを決める。センス増幅器はす べて3゛状態として一般に知られている高インピーダンスとなるように作られて いる。センス増幅器は書込モードにおいてはバイパスされるので、選択されたデ ータライン対は列デコーダに結合される。一定のアドレスについて、4つのデー タバス(p a t h)か選択されたサブアレイとそのサブアレイ用のセンス 増幅器セットとの間で利用可能とされている。大域データラインとデコーダの間 の各々に対するバイパスは1つのデータバスのみが所望される場合に4つのデー タバスを設ける。これらの可能性のあるデータバスのうちの3つはアドレス信号 A14およびA15によって決められるようにブロックされる。
第2図には列ブロック31によって行われるデータ選択および検知プロセスを説 明するのに役立つより詳細な図が示されている0列デコーダ90は4つの列プリ デコーダ97. 98.99および100.4つの二次列デコーダ101,10 2,103および104.4つの書込結合回路105,106,107および1 08からなる。同様に、列デコーダ91は4つの列プリデコーダ110,111 .112および113.4つの二次列デコーダ114,115.116および1 17、および4つの書込結合回路118,119,120および121かうなる 。
その他のサブアレイ対11−15.12−16および14−18の各々にもまた 対応づけられた4つの列プリデコーダ、4つの2次列デコーダおよび4つの書込 結合回路を有する。センス増幅器71−86はそれぞれ5ELOCO−15と指 定されたその増幅器にとって一意の選択動作ブロックを受信する。第2図に示さ れているように、増幅器?9.80.81および82はクロック5ELOC8, 5ELOC9,5ELOCIOおよび5ELOCIIを受信する。5ELOGク ロツクのうちの1つだけが続出モードにおいて一定のデータアクセスに対してア クティブ(active)である、書込モードでは5ELOGクロツクのすべて がイナクティブ(inactive)である。
サブアレイ13からのデータがデータライン対92上に出力される場合を1例と して想定することにする。サブアレイ13のワードラインはアドレス信号AO− A8によって決定されるように付勢される。デコーダ97−100はすべて出力 を2次デコーダ101−104にそれぞれ与えることによってそのアドレスに対 応する。デコーダ97−100はそれぞれサブアレイ130128ビツトライン 対、即ち32のビットライン対に結合される。デコーダ97−1ooは32のう ちの2つの選択を行うので、2つのビットライン対がデコーダ97−100を介 して2次デコーダ、101.104の各々に結合される2次デコーダ101−1 04はそれぞれ増幅器79−82の入力にそれぞれ結合された1対の出力を有す る。2次デコーダ101−104は2つのうちの1つの選択を行い、1つのビッ トライン対を増幅器79−82の各々に結合する。この2つのうちの1つの選択 はアドレス信号A9の状態によって決定される。2次デコーダ114−117は すべて3状態であって高インピーダンス出力を与える。増幅器79−82はそれ ぞれデータライン対92−95にそれぞれ結合した1対の出力を有する。この例 では5ELOC8は付勢されるが5ELOC9−11はイナクティブの状態のま まになっているので、増幅器79のみが付勢される。この結果、増幅器79に結 合したビットライン対によって運ばれたデータはデータライン対92に与えられ 、そこでブロック36によって受信される。イナクティブ状態では増幅器80− 82は3状態にある。
データライン対92を介してサブアレイ13内に書込が起きると、サブアレイ1 3のワードラインはアドレス信号AO−A8によって決定されるように付勢され る。クロック5ELOC8−11のすべてがイナクティブであるので、増幅器7 9−83は3状態になる。ブロック36はアドレス信号A14およびA15によ って決定されるようにデータライン92にデータを与える。アドレスに応答して 、デコーダ97は2つのビットライン対を書込結合回路105に結合させる。書 込結合回路1゜5はアドレス信号A9によって決定されるようにこれらの対のう ちの1つをデータライン92に結合させる。従って、データは付勢されたワード ラインと選択されたビットライン対との交差点において選択されたメモリセルに 結合される。
デコーダ97−100および110−113は第3図に示すパスゲート回路12 3のような2つのパスゲート部分を各々が有し、ビットラインを2次デコーダ1 01−104および114−117.に結合させる。アドレス信号Al0−A1 3に応答して発生する16のデコードされたアドレス信号DECO−DEC15 があり、16本のビットラインのうちの1本を1本の局所データラインに結合さ せる。アドレス信号A5.A?およびA8によって決定された選択されたサブア レイにおいて、信号DE、CO〜DEC15のうちの1つが各バスゲート回路に 対して付勢される。各サブアレイごとに8つのバスゲート回路がある0選択され なかった(deselected)サブアレイにおいては、すべての信号DEC O−DECI 5がイナクティブに保たれている。第3図に示すように、ビット ラインBLO−BL15は選択的に局所データライン124に結合され、相補ビ ットライン☆BLO−☆BL15は選択的に局所データライン125に結合され ている。ビットラインから局所データラインへの結合は各ビットラインに対する 1つのパスゲートによって達成されるので、1本の局所データライン当たり16 のパスゲートがある。各2次デコーダ101−104および114−117は2 つの対応するデータライン対に結合されている。
この単一のパスゲートはNチャネルトランジスタとして示されている。しかし、 DECO−DECI 5信号を補足する信号によって使用可能にされるNチャネ ルトランジスタと平行している追加のPチャネルを有することが好ましい、この ことはパスゲート用に従来の伝送ゲートを用いることと考えることができる。各 2次デコーダは2つの局所データライン対に結合されている。各対応する書込結 合回路もまた局所データラインの同じ対に結合されている。
第4図には2次デコーダ101および104および書込結合回路105および1 1Bの回路/論理図が示されている。センス増幅器79もまた第4図に示されて いる。信号DL(97)0、☆DL (97)O,DL (97)1および☆D L (97)1はデコーダ97の局所データライン上にあるデコーダ97のデコ ードされた出力である。同様に、信号DL (110) 0゜6DL (110 )O,DL (110)Iおよび*DL(110) 1はデコーダ110の局所 データライン上にあるデコーダ110のデコードされた出力である。信号☆DL EQ (13)および☆DLEQ (17>は行又は列アドレス変換に応答して 発生させられアドレス信号A5.AVおよびA8によって制御される等化パルス であり、選択されたサブアレイに対応する等化バルスノみを付勢する。信号PD  (97)1.PD (97)0、PD (110)1およびPI) (110 ) Oハ?!’レス信号A5、A7.A8およびA9によってアクティブになる ように選択され、選択されたパスデバイスを使用可能にする。信号ssレス信号 A5.AT、A8によって定められる。信号WE3は書込中論理高としてアクテ ィブである書込可能信号である。信号S (Al 4.Al 5)はアドレス信 号A14およびA15によって定められるセンス増幅器選択信号である。信号S Eは論理低であるとすべてのセンス増幅器を使用禁止にするセンス増幅器使用可 能信号である。ゲートに丸がついているトランジスタはPチャネルトランジスタ であり、その他のトランジスタはNチャネルトランジスタである。
第5図には一般に汎用行デコーダ201.汎用列デコーダ202、ビットライン 203および204、メモリセル2o5゜206および207、デコーダ結合ト ランジスタ20Bおよび209、ビットライン等化回路21、データライン等化 回路211、等化論理回路2129行アドレス変換検出(ATD)おライン21 6および217、およびワードライン218,219および220からなるメモ リ10の一部200が示されている。ビットライン等化回路210はNチャネル トランジスタ222および223およびPチャネルトランジスタ224を含ム。
データライン等化回路211はNチャネルトランジスタ226および227およ びPチャネルトランジスタ228を含む0等化論理回路212はナントゲート2 31、インバータ232゜233および234、Nチャネルトランジスタ236 および237、およびPチャネルトランジスタ238を含む。
メモリセル205−207は入力をワードライン218−220にそれぞれ結合 させ、相補出力をビットライン203および204にそれぞれ結合させている従 来のスタティックRAMメモリである。トランジスタ208はゲートを列デコー ダ20の出力に接続させ、第1電流電極をビットライン203に接続させ、第2 電流電極をデータライン216に接続させているゲートを有する。トランジスタ 209はゲートをデコーダ202の出力に接続させ、第1電流電極をビットライ ン204に接続させ、第2電流電極をデータライン217に接続させているゲー トを有する。トランジスタ222はドレインを例えば5ボルトとすることができ る正電源端子VDDに接続させ、論理回路212が発生させたプリチャージ信号 PREを受信するゲートを有し、ソースをビットライン203に接続させている 。トランジスタ223はドレインをVDDに接続させ、信号PREを受信するゲ ートを有し、ソースをビットライン204に接続させている。トランジスタ22 4は第1電流電極をビットライン203に接続させ、第2電流電極をビットライ ン204に接続させ、論理回路212が発生させた等化信号☆EQを受信する。
トランジスタ226はドレインをVDDに接続させ、ソースをデータライン21 6に接続させ、信号PREを受信するゲートを有する。トランジスタ227はド レインをVDDに接続させ、ソースをデータライン217に接続させ、信号PR Eを受信するゲートを有する。トランジスタ228は第[電流電極をデータライ ン216に接続させ、第2電流電極をデータライン217に接続させ、論理回路 212が発生させたプリチャージ信号☆PREを補足する信号を受信するゲート を有する。ナンドゲ−1231は行ATDおよび制御回路2i3が発生させた行 変換信号☆RXを受信する第1人力、サブアレイ選択信号SAを受信する第2人 力、および1出力を有する。インバータ232は入力をナントゲート231の出 力に接続させ、信号☆EQを与える出力を有する。トランジスタ236はソース を接地させ、ゲートをナントゲート231の出力に接続させ、ドレインを有する 。トランジスタ237は第1電流電極をトランジスタ236のドレインに接続さ せ、信号☆EQを受信するゲートを有し、列ATDおよび制御回路214が発生 させた列変換信号☆CXを受信する第2電極を有する。トランジスタ238はゲ ートをトランジスタ236のゲートに接続させ、信号☆CXを受信する第1電流 電極を有し、第2電極をトランジスタ236のドレインに接続させている。イン バータ233は入力をトランジスタ236のドレインに接続させ、信号PREを 与える出力を有する。インバータ234は入力をインバータ233の出力に接続 させ、信号☆PREを与える出力を有する。
回路213は行アドレスを受信し、その変化を検出する0列ら論理低に切換える 。信号☆RXは論理低パルスを与え、アドレススキューがないと約5ナノ秒(n s)で再び論理高に切換ねる。アドレススキューがあると、゛信号☆RXはより 長い時間論理低にとどまっている0行アドレス変換が比較的近くまとまっている 限りにおいては、信号☆RXは論理低にとどまっており、アドレス変換が完了後 に論理高に再び切換わる0回路214も同じ方法で信号☆CXを与えるが、但し それを列アドレス変換について行う0列デコーダ201は使用可能にされると列 デコーダ201によって受信される列アドレスによって決定されるワードライン 21B−220のうちの1本のようなワードラインを選択する。同様に、デコー ダ202は使用可能にされると、列アドレスによってそうするように選択された 場合にはトランジスタ208および209を使用可能にする。勿論列デコーダ2 02は列アドレスによって選択された他のビットライン結合トランジスタ(第5 図に示されていない)を使用可能にするために選択的に使用可能にされた多数の 他の出力(これも第5図に示されていない)を有する0回路213は行使用禁止 信号RDを与えて行デコーダ201を使用禁止にし、副使用禁止信号CDを与え て列デコーダ202を使用禁止にする。信号RDおよびCDはそれぞれ論理低に おいてそれらの使用禁止機能を行う。
サイクル間の最短の時間において“、又はその近(で動作すると、信号RDは信 号☆RXが論理低である時間を除いては論理高であり、信号☆RDが論理低であ る時間の間はRDもまた論理低となり、信号☆RXが論理低である時間の間は行 デコーダ201を使用禁止にする。サイクル間の時間がより長くなると、信号R Dは論理高に切換わり、1つのサイクルの終わりと次のサイクルの始まりとの間 は行デコーダ201を使用禁止にする。
行デコーダ201を使用禁止にする効果は、第5図のワードライン21B−22 0のようなメモリ10内のすべてのワードラインを使用禁止にすることである。
サイクル間でこのようなことをする目的は電力消費量を減らすことである。信号 ☆RXが論理低である時にワードラインを使用禁止にする目的は、等化期間中に いづれかのワードラインが使用可能になることを防ぐことである。信号☆RXが 論理低に切換ねるのに応答してビットライン203および204は等化される。
最も普通の場合には信号☆RXは約5nsO間論理低パルスを出すか、アドレス スキューにより更に長い時間に延長できる。ナントゲート231は信号☆RXが 論理低に切換わるのに応答して真理高出力を与えることを強いられる。信号SA は第1図のサブアレイ11−18のうちのどのサブアレイを選択するかを示す、 サブアレイ11−18の各々は信号☆RXおよび☆Cxを受信するため回路21 2のような回路を有する0選択されたサブアレイのための特定のサブアレイ信号 は論理高であるとアクティブになる。
信号SAが論理高であると、ナントゲート231は信号☆RXに応答できる0選 択されなかったサブアレイにおいては、対応する信号SAは論理高となり、これ はナントゲート231に論理高出力を出させる0選択された場合にはナントゲー ト231は論理高パルスとして信号前Rxの論理パルスをインバータ232に与 え、今度はこのインバータ232が論理低パルスとして信号☆EQを与える。信 号☆EQが論理低であると、トランジスタ224は導電性になり、ビットライン 203および2゜4を一括に結合させてそれらのビットラインを等化する。信号 ☆EQが論理高であると、トランジスタ224は導通していないのでビットライ ン203および204は一緒に結合されない。
信号☆EQはそのサブアレイが選択されている場合には行アドレス変換に応答し て論理低のみになる0列アドレス変換は信号☆EQを論理低に切換えないので、 トランジスタ224は列変化に応答してビットライン203〜204を等化しな い、そのサブアレイが選択されないと、ナントゲート231は論理高出力を与え ることを強いられ、この論理高出力はインバータ232に論理低の信号☆EQを 出させる。従って選択されないサブアレイのビットラインはすべて継続的に等化 される。
回路214は回路213が行アドレス変換に応答して信号前RXを与えるのと同 じ方法で列アドレス変換に応答して信号☆CXを与える。一般的な行アドレス変 換は約5nsの開信号☆Cxに論理低パルスを出させるが、アドレススキューは より持続時間の長い論理低パルスを信号☆CXに出させる。信号CDは機能的に は信号☆Cxと同じであるが、回路214はそれを異なる出力ドライバで与える 0列デコーダ202は信号CDが論理高である限りにおいては使用可能になって いる0列アドレス変換が起きると、信号☆CXおよびCDは論理低パルスを出し て列デコーダ202を使用禁止にするので、20Bおよび209のような結合ト ランジスタは使用可能にされず、従ってすべてのビットラインをデータライン2 16および217のようなデータラインから分離する0列アドレスがビットライ ン対203−204を選択すると、結合トランジスタ208および209は信号 CDが論理低へ切換ねるのに応答して導通状態から非導通状態に切換わり、デー タライン対216−217からビットライン対203−204を分離する0列ア ドレス変換のみがある場合には、インバータ232によって与えられた信号☆E Qは論理高となるのでトランジスタ237は導通し、ナントゲート231の出力 は論理低になるのでトランジスタ238は導通する。トランジスタ237および 238は従来の0MO3伝送ゲートとして動作する。信号☆CXは論理低に切換 わる前には論理低であるので、インバータ233の入力はトランジスタ237お よび238によつ形成される伝送ゲートを介して論理高を受信する。従ってイン バータ233は列アドレス変換の前に論理低の信号PREを与える。それに対応 して、インバータ234は列アドレス変換の前に論理高の信号☆PREを与える 。信号☆CXが論理低のパルスを出すと、この論理低はトランジスタ237およ び238を介してインバータ233に結合され、信号PREに論理高パルスを出 させ信号☆PRHに論理低パルスを出させる。論理高の信号PREはビットライ ンブリチャージングトランジスタ222およびデータラインブリチャージングト ランジスタ226および227を導通させる。信号☆PREが論理低に切換わる とデータライン等化トランジスタ228は導通状態にされる。データライン21 6および217はVDDよりNチャネルトランジスタ約1個分のしきり電圧だけ 低い電圧で等化されプリチャージされる0選択されないサブアレイについては、 ナントゲート231は論理高出力を与えることを強いられ、この出力はトランジ スタ236にインバータ233の入力を論理低の方へ引っばらせるので、信号P REおよび信号☆PREはビットライン203および204およびデータライン 216−217をプリチャージさせる0選択されないサブアレイはアクティブの ワードラインを有しないので、選択されないサブアレイにおいてビットラインは 分離しない、ビットラインおよびデータラインのブリチャージングおよび等化は 持続動作にすぎないので、ブリチャージングトランジスタの導通による電流消費 は殆んどない0選択されなかったサブアレイのビットラインのうちのどのビット ラインも放電しないようにすることによって、選択されなかったサブアレイはブ リチャージングの電力消費の悪影響をうけない、従って、プリチャージ電圧を持 続する一方でどのワードラインも使用可能にされないようにすることは、選択さ れなかったサブアレイをブリチャージングおよびその不利な影響から減結合する 効果を有する。
しかし、選択されたサブアレイにおける列アドレス変換のためのビットラインは プリチャージされるだけで等化はされない。
ビットライン203および204は同じ電圧にプリチャージされることによって 等化されるように思われるかもしれないが、そうはならない0列アドレス変換の 前にビットライン対土のワードラインは使用可能にされ従って°ビットライン対 土のメモリセルはビットライン対にアクティブに結合されたので、一方のビット ラインは他方のビットラインよりも低い電圧の方へ引っばられる0行アドレスは 選択されたワードライン219を有するので行デコーダ201はワードライン2 19を使用可能にしそれによりメモリセル206を使用可能にしたと仮定する。
使用可能にされたメモリセル206はメモリセル206がどの論理状態にあるか に応じて一方又は他方のビットラインを引き込む(pull down)するこ とによってビットライン2゜3および204の電圧を分離する。ビットライン2 03が比較的高い側にあり、ビットライン204が比較的低い側にあると仮定し 、更に列のみのアドレス変換の前に列デコーダ202がビットライン対203− 204をデータライン対216−217に結合させていたと仮定する。列のみの アドレス変換が起きると、ビットライン対203および204が同時にデータラ イン対216−217から減結合され、ビットライン対203および204はプ リチャージされ、データライン対216−2 i7は等化される。ビットライン のブリチャージングはビットライン203および204の両方の電圧を上昇させ る。ビットライン203の論理高は時間とともに劣化する。メモリセル206は SRAMセルの性質のためにビットライン上の論理低を非常に効果的に持続でき るが、論理高を持続するにはそれほど効果的ではない、SRAMセルは電流を供 給するよりもはるかに有効に電流を引き込む(stnk)ことができる。ビット ラインに結合されると選択されたメモリセルの論理高側を劣化させる。ビットラ インの高側のブリチャージングはそれを劣化の悪を引き込むことによってメモ、 リセル中のデータを逆にする危険をさけるのに十分な程低くビットラインを保つ ので、論理低側のブリチャージングは有害ではない。行アドレス変化のないビッ トライン対203−204のいくつかのアクセスはプリチャージされていないと 論理高ビットライン203の電圧をm続的に低下させる。これは“ウオークダウ ン(walk down)”と呼ばれ、論理高ビットラインが論理低ビットライ ンに非常に近いところまで低下すると結果的にデータが失われる可能性がある。
SRAM中のセルは全部が完全に平衡してはいないので、論理高ビットラインを 論理低ビットラインに近づけると、ビットラインの電圧レベルが比較的低くなっ た場合には使用可能にされたセル内のデータを逆にすることができる。SRAM の交差結合性には、論理高は論理低の電流シンキング可能性(current  sinking capability)をドライブする特性が含まれる。論理 高が低下すると、論理低の電流シンキング可能性が低下してメモリセルはデータ 消失を起こしやすくなる。先行技術における急速な列のみのアドレス変換におい てはビット故障およびアドレスパターン依存(sensitivenss)が経 験されている。
行アドレス変換がある場合には、信号☆RXは論理低に切換わってナントゲート 231に論理高出力を出させ、インバータ232に論理低出力を出させる。これ はトランジスタ237および238の伝送ゲートを非導通状態にし、トランジス タ236を導通状態にする。従ってインバータ233への入力は論理低に切換ね り、信号PREを論理高に切換え、信号前PREを論理低に切換える。これはト ランジスタ222,223,224.226,227および228をすべて導通 させるので、ビットライン対203−204およびデータライン対216−21 7はいづれも列アドレス変換の有無に関係なく行アドレス変換に応答して等化さ れる。
第6図には第5図の回路213の機能を行うのに有用なメモリ10に用いられる 回路248および回路214の機能を行うのに有用な回路249のブロック図と 論理図との組合わせが示されている0回路248は行アドレス変換検出器250 .ノアゲート251および252.ナンドゲー)253,254,255.25 6および257.オアゲート258.インバータ259.260,261,26 2および263およびタイマ264からなる0回路249は列アドレス変換検出 器265.ノアゲー)266、ナントゲート267およびインバータ268゜2 69.270および271からなる0列ATD 265は列アドレス信号A9− A15を受信し、1つ又は複数の列アドレス信号A9−A15の変化に応答して 正パルスを与える出力を有する。インバータ270は入力を列ATDの出力に接 続させており、l出力を有する。ナントゲート267は入力をインバータ270 の出力に接続させており、左サブアレイ信号りを受信する第2および1出力を有 する。インバータ271は入力をナントゲート267の出力に接続させており、 左サブアレイのための利使用禁止信号CDLを与える出力を有する。ノアゲート 266は第1人力を列ATD265の出力に接続させ、第2人力をナントゲート 267の出力に接続させており、l出力を有する。インバータ268は入力をノ アゲート266の出力に接続させており、l出力を有する。インバータ269は 入力をインバータ268の出力に接続させており、左サブアレイのための列変換 信号☆CXLを与える出力を有する0行ATD250は行アドレス信号AO−A 8を受信し、その出力における1つまたは複数の行アドレス信号AO−A8の変 化に応答して正パルスを与える。インバータ261は入力を行ATD250の出 力に接続させており、1出力を有する。ナントゲート253は第1人力をインバ ータ261の出力に接続させており、左サブアレイ信号りを受信する第2人力お よびl出力を有する。ノアゲート251は第1人力を行ATD250の出力に接 続させ、第2人力をナントゲート253の出力に接続させており、1出力を有す る。インバータ259は入力をノアゲート251の出力に接続させており、1出 方を有する。インバータ250は入力をインバータ259の出力に接続させてお り、左サブアレイのための行変換信号☆RXLを与える出力を有する。ナンドゲ −)254は第1人力をインバータ260の出力に接続させ、第2人力をインバ ータ269の出力に接続させており、右サブアレイのためのタイマ信号TLを与 える出力を有する。ナントゲート255は第1入力をナントゲート254の出力 に接続させており、右サブアレイのためのタイマ信号TRを受信する第2人力お よび1出力を有する。タイマ264は入力をナントゲート255の出力に接続さ せており、サイクル終了信号cYcENDを与える出力を有する。ナントゲート 257は第1人力をタイマ264の出力に接続させており、相補書込可能信号☆ WEの受信する第2人力および1出力を有する。オアゲート258は第1入力を ナントゲート257の出力に接続させ、第2入力をナントゲート254の出方に 接続させており、1出力を有するナントゲート256は第1人力をオアゲート2 58の出力に接続させており、信号りを受信する第2人力およびl出力を有する 。ノアゲート252は第1人力をナントゲート256の出力に接続させ、第2人 力を行ATD 250の出力に接続させており、l出力を有する。インバータ2 62は入力をノアゲ−)252の出力に接続させており、1出方を有する。イン バータ263は入力をインバータ262の出力に接続させており、左サブアレイ のための行デコーダ使用禁止信号RDLを与える出力を有する。論理高の信号り は左サブアレイ11−14のうちの1つが選択されていることを示す、信号りは アドレス信号A5の関数である。対応する信号R(図示されていない)もまた右 サブアレイ15−18のうちの1つが選択されてるいることを示す、論理高の信 号☆wBはメモリ1oが続出モードにあることを示す。
信号りが論理高にあるとすると、回路249は列ATD265が列アドレスへ変 換に応答して論理高パルスを与えるのに応答して論理低パルスとして信号☆CX LおよびCDLを与える。
信号☆CXLおよびCDLは列アドレス変換がある場合以外にはいづれも論理高 である。信号りが論理低であると、ナンドゲ−)267は論理高出力を与えるこ とを強いられ、このためにノアゲート266は論理低出力を与えることを強いら れる。この結果、左サブアレイ11−14が選択されないと、信号☆CXLおよ びCDLは列アドレス変換がない場合でも論理低になるように強いられる。信号 CDLは第5図の信号CDに類似している。しかし、信号CDLは第5図に示さ れているサブアレイの全部ではなく左サブ7レイ11−14のための列デコーダ のみを使用可能にし使用禁止にする0例えば、第2図のデコーダ90は信号CD Lが論理低であると使用禁止にされるが、デコーダ91は信号CDLを受信しな い、デコーダ91は右サブアレイに関連した他の列デコーダとともに信号CDL に類似した信号によって使用可能にされるが、但しデコーダ91は右サブアレイ のうちの1つが選択された場合にのみ列プリデコーダを使用禁止にする。サブア レイ130列プリデコーダ97−100は信号CDが論理低であると使用禁止に される。このことは信号DECO−DECI 5のすべてを論理低にさせること によって行われ、こうするとどのビットラインも第3図のデータライン対124 および125のような局所データラインに結合するのが妨げられる。右サブアレ イ用の利使用禁止信号を発生させる回路(図示されていない)は列ATDの出力 を用い、ゲートおよびインバータ266−271と同じ方法で接続されているが 、但しナントゲート267に類似したナントゲートは右サブアレイ信号Rを受信 する。上述したように、各サブアレイごとに第5図の回路212がある。左サブ アレイ11−14に対応する各回路は第5図の信号☆CXに類似した信号として 信号☆CXLを受信する。信号☆CXLに類似したサブアレイ信号はサブアレイ 15−18に対応する各回路212のためのものである。
第6図の回路248は左サブアレイト1−14のため信号☆RXL、RDLおよ びTLを発生させる回路として示されている0行ATD 250.ナントゲート 255および257およびタイマ264を除く回路248のすべては右サブアレ イ15−18のための類似信号を発生させるために再現されている。右サブアレ イのための信号を発生させるために、ナントゲート253および256に類似し たゲートは信号りの代わりに右サブアレイ信号を受信する。信号りが論理高であ ると、信号☆RXLは行ATDが行アドレス変換に応答して論理高パルスを与え るのに応答して論理低パルスを与える。左サブアレイ11−14が選択されない と、ナントゲート253は論理高出力を与えることを強いられ、この出力はノア ゲート251に論理低出力を与えることを強いる。この結果、左サブアレイ11 −14が選択されないと、信号☆RXLは行アドレス変換に関係な(論理低にな ることを強いられる。
左サブアレイ11−14が選択されないと、信号TLは論理高になることを強い られるので、ナントゲート255および264は左サブアレイ15−18のため のタイマ信号TRに応答する。左サブアレイ11−14が選択されないと、ナン トゲート256はノアゲート252に論理高となることを強いられ、これはノア ゲート252に論理低出力を出させ、今度はこれが信号RDLを行アドレス変換 に関係なく、論理低にさせる。第5図の信号RDに類似した信号RDLは左サブ アレイ11−14のワードラインのすべてを消勢させる。第5図の行デコーダ2 01は行デコーダ回路全体を表わし、この回路は部分釣行デコーディングを行っ てサブアレイ選択信号を発生させるブロック34内の回路ならびに大域行デコー ダおよびワードライントライバ21−28をメモリ10内に含む。メモリ10に ついては、第5図の回路200について説明した行デコーダの使用禁止はブロッ ク選択信号を使用禁止にすることによって行われる。
論理低の信号RDLはサブアレイ11−14に関連したブロック選択信号のすべ てを使用禁止にする。論理低の右サブアレイ用の対応する行デコーダ使用禁止信 号は右サブアレイ15−18に関連したブロック選択信号を使用禁止にする。
左サブアレイ11−14が選択されると、信号TRは論理高になるのでナントゲ ート255は信号TLに応答する。信号TLは通常は論理低であるか、列又は行 アドレス変換に応答して論理高パルスを出す、信号TLが論理高パルスを出すと 、ナントゲート255はタイマ264をリセットする論理低パルスを出すことに よって応答する。ナントゲート255が論理低である限りにおいては、タイマ2 64はリセット状態にあり論理低出力をナントゲート257に与える。ナントゲ ート255の出力が論理高に切換わると、タイマ264はタイミングを始める一 方で論理低出力を維持する。タイマ264がタイムアウトすると、その出力は論 理高に切換わる、メモリ10が読出モードにあるとすると、ナントゲート256 はタイマ264の出力によって制御される。タイマ264のリセットの期間でタ イマ264が計時しつつあると、ナントゲート257は論理高出力を与え、オア ゲート258に論理高出力を出させ、今度はこれがナントゲート256に論理低 出力を出させる。従ってノアゲート252は行ATD250の出力に応答する0 行アドレスの変換がない場合には、ノアゲート252は論理低の両人力を有する ので信号RDLは論理高になり、選択されたワードラインが使用可能にされる0 行アドレス変換が行ATDに論理高パルスを出力させ、ノアゲート252は信号 RDLに論理低パルスを出させ、そのパルスの持続期間中すべてのワードライン を使用禁止にする0行ATDからの☆RXLの発生は信号RDLが有する同じ段 数、即ち3を有する。この結果、論理低パルスとしてこれら2つの信号の発生は 同時である。ワードラインのすべては信号RDLによる信号☆RXLの発生の期 間中確実に使用禁止にされるので、ワードラインのすべてはビットラインの等化 期間中確実に使用禁止にされる。書込モードでは、ナントゲートはまた論理高出 力を与えることを強いられるので、信号RDLは信号☆RXLの論理低パルスの 持続期間を除いてワードラインを使用禁止にする。
タイマ264からタイムアウトしてしまった場合には、ナントゲート257はメ モリ10が読出モードにある限りにおいては論理低出力を与える。それでオアゲ ート258は信号TLに応答する。信号TLはそれが行又は列アドレス変換に応 答して論理高パルスを出す場合を除いて論理高である。TLが論理低であると、 ナントゲート256はタイマ264のタイミングアウトに応答して高論高出力を 与えることを強いられ、これが信号RDLを論理低にし、ワードラインのすべて を使用禁止にする。この結果、タイマ264がタイムアウトした後にワードライ ンは使用禁止にされる。タイマ264がタイムアウトした後に行アドレス変換が ある場合には、信号☆RXLは論理低パルせて論理高に切換えさせ、タイマ26 4をリセットさせる。タイマ264がタイムアウトした後に列アドレス変換があ る場合には、信号☆CXLは論理高パルスを出してビットラインをプリチャージ させ、信号TLを論理高に切換えさせる。信号TLはタイマ264がタイムアウ トした場合にはタイマ264をリセットするだけでなく行デコーダを使用可能に するのを早めるのに用いられる。従って選択されたワードラインはタイマ264 のリセッティングによる遅延なしで使用可能にされる。信号TLは信号☆CXL 論理低のパルスを出してから約5ns後に論理高に切換える。これは等化が丁度 路りつつある時に信号RDLが選択されたワードラインを使用可能にするように 計時されている。何らかの理由で比較的ひどい行アドレススキューががあって行 ATDが発生させたパルスの持続時間が比較的長いと、ノアゲート252は信号 ☆RXLがもはやアクティブにビットラインを等化しなくなるまでRDLが選択 されたワードラインを使用可能にすることを防止する。信号TLが論理低に再び 切換ねってしまう時までにタイマ264はリセットされており、ナントゲート2 57は論理高出力を与えつつあり、信号TLが再び論理低に切換わった時にナン トゲート256の出方が確実に状態を変えないようにする。」 ^O−^8 FIG、2 FIG、6 国WA11′4F報失

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.列アドレスによつて選択される複数のビツトライン対およびアドレスによつ て選択される複数のワードラインを有し、ビツトライン対は列アドレスによつて 決定される列デコーダによつて共通のデータラインに選択的に結合され、ワード ラインは行アドレスによつて決定される行デコーダによつて選択的に使用可能に され、ビツトライン対とデータラインの各交差点にメモリセルが位覆しているメ モリ回路において、列アドレス変換の検出に応答して列変換信号を発生させる列 検出手段と、 列変換信号に応答してビツトラインを共通のデータラインから減結合する減結合 手段と、 を、具える非同期行および列制御を有するメモリ回路。
  2. 2.ビツトラインをプリチヤージする一方でビツトラインを共通のデータライン から減結合するプリチヤージング手段を更に含む前記請求の範囲第1項のメモリ 回路。
  3. 3.列アドレスによつて選択される複数のビツトライン対および行アドレスちよ つて選択される複数のワードラインを有し、ビツトライン対は列アドレスによつ て決定される列デコーダによつて共通のデータラインに選択的に結合され、ワー ドラインは行アドレスによつて決定される行データによつて選択的に使用可能に され、ビツトライン対とワードラインの各交差点にメモリセルが位置しているメ モリ回路において、行アドレス変換を検出するステツプと、行アドレス変換の検 出に応答して行デコーダを使用禁止にするステツプとを含む方法。
  4. 4.列アドレス変換を検出するステツプと、列アドレス変換の検出に応答してビ ツトラインを共通データラインから減結合するステツプとを更に含む、前記請求 の範囲第3項の方法。
  5. 5.列アドレスによつて選択される複数のビツトライン対および行アドレスによ つて選択される複数のワードラインを有し、ビツトライン対は列アドレスによつ て決定される列デコーダによつて選択的に共通のデータラインに結合され、ワー ドラインは行アドレスによつて決定される行デコーダによつて選択的に使用可能 にされ、ビツトライン対とワードラインの各交差点にメモリセルが位置している メモリ回路において、列アドレス変換を投出するステツプと、列アドレス変換を 検出に応答してビツトラインを共通のデータラインから減結合するステツプとを 含む方法。
  6. 6.列アドレスによつて選択される複数のビツトライン対および行アドレスによ つて選択される複数のワードラインを有し、ビツトライン対は行アドレスによつ て決定される列デコーダによつて共通のデータラインに選択的に結合され、ワー ドラインには行アドレスによつて決定される行アドレスによつて選択的に使用可 能にされ、ビツトライン対およびワードラインの各交差点にメモリセルが位置し ているメモリ回路において、 行アドレス変換の検出に応答して行変換信号を発生させる行検出手段と、 行変換信号に応答して行デコーダを使用禁止する使用禁止手段を、具える非同期 行および列制御を有するメモリ回路。
  7. 7.列アドレス変換の検出に応答して列変換信号を発生させる列検出手段と、 列変換信号に応答してビツトラインを共通のデータラインから減結合させる減結 合手段とを更に含む、前記請求の範囲第6項のメモリ回路。
  8. 8.ビツトラインをプリチヤージする一方でビツトラインを共通のデータライン から減結合するプリチヤージング手段と、ビツトラインを等化する一方でワード ラインドライバを使用禁止にする等化手段とを更に含む、前記請求の範囲第7項 のメモリ回路。
  9. 9.使用禁止手段は行アドレス変換に応答して行デコーダ使用禁止信号を行デコ ーダに与えて行デコーダを使用禁止にするものとして更に特徴づけられている前 記請求の範囲第8項のメモリ回路。
  10. 10.列および行検出手段、および使用禁止手段に結合されたサイクルタイマを 更に含み、別の行又は列アドレス変換によるリセツトが所定の時間間隔の満了以 前に起きなければ行又は列アドレス変換後所定の時間経過してから使用禁止手段 に行使用禁止信号を出させる前記請求の範囲第9項のメモリ回路。
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