JPS6340860B2 - - Google Patents

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JPS6340860B2
JPS6340860B2 JP8950684A JP8950684A JPS6340860B2 JP S6340860 B2 JPS6340860 B2 JP S6340860B2 JP 8950684 A JP8950684 A JP 8950684A JP 8950684 A JP8950684 A JP 8950684A JP S6340860 B2 JPS6340860 B2 JP S6340860B2
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JP
Japan
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target
backing plate
sputtering
bonded
scrap
Prior art date
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Expired
Application number
JP8950684A
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English (en)
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JPS60234968A (ja
Inventor
Koichi Nakajima
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Mining Co Ltd filed Critical Nippon Mining Co Ltd
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Publication of JPS60234968A publication Critical patent/JPS60234968A/ja
Publication of JPS6340860B2 publication Critical patent/JPS6340860B2/ja
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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、バツキングプレートにボンデイン
グされたIn−Snスパツタリングターゲツトすな
わちIn−Snスパツタリング用のボンデツドター
ゲツトとその製造法に関する。
一般にスパツタリングは、金属や半導体、セラ
ミツクあるいはそれらの合金、複合材を、その組
成を変えることなく付着対象物に対し、薄膜状に
付着させる技術として、電子・電気工業などの分
野で多用されている。
ところで、透明導電膜形成用などに使用される
In−Snスパツタリング用のボンデツドターゲツ
トは、従来In−Snターゲツトと、たとえばCuか
らなるバツキングプレートを、樹脂系の接着剤あ
るいは、鉛、ビスマス等を含むロウ材によりボン
デイングすることにより作製されている。
しかしながら樹脂系接着剤あるいは、鉛、ビス
マス等を含むロウ材を用いたボンデイングでは下
記の問題がある。
ボンデツドターゲツトは通常スパツタリング時
に、バツキングプレート側から水冷するが、樹脂
系接着剤を用いてボンデイングされたものは接着
剤層の熱伝導率が悪いため、ターゲツトの冷却能
力が劣り、このためスパツタリングのパワーを低
くおさえなくてはならず、スパツタリングレート
を大きくすることができない。
一方、Pb、Bi等を含むロウ材を用いたボンデ
ツドターゲツトでは、 In−Snターゲツトへロウ材成分(Bi、Pb、
Cd、等)が合金化することを防ぐために、In
−Snターゲツトのボンデイング面にCu、Ni等
の比較的融点の高い金属を被覆する必要があつ
た。
In−Snターゲツトのスクラツプは、前記の
被覆金属と、ロウ材の成分によつて汚染される
ため、再精製を行なわなくては、再使用できな
かつた。このため、製造コストの低減および、
製造の効率化のネツクとなつていた。
この発明は、以上の問題を解消するためになさ
れたものであり、すなわちこの発明の目的は、強
力な接着力で、In−Snターゲツトとバツキング
プレートをボンデイングし、かつ、両者間の熱伝
導を良好にし、スパツタリング時にIn−Snター
ゲツトの冷却を能率的に行なえしかもスパツタ後
のIn−Snターゲツトのスクラツプをバツキング
プレートからはがして再加工することにより精製
工程を経ることなくIn−Snターゲツトを再生す
ることが可能なIn−Snスパツタリング用ボンデ
ツドターゲツトとその製造法を提供することにあ
る。
したがつて、この目的を達成するために、この
発明のIn−Snスパツタリング用ボンデツドター
ゲツトはIn−Snスパツタリングターゲツトがあ
らかじめNi被覆されたバツキングプレート上に
In−Snロウ材を用いてロウ付されていることを
特徴とする。
ロウ材は、通常箔状にして、前処理されたNi
被覆バツキングプレート面と、ターゲツトの間に
挾み込む。その後3者を加熱密着させ、真空中又
は大気中で加熱することによつて、ロウ付を完了
する。
ロウ材は箔状でなくともよく、ハケ塗り等の方
法を用いても差しつかえない。上述の前処理とは
被ロウ付け面の酸化物層を除去し、ロウとのなじ
みをよくする処理をいう。
また、この発明によれば、スパツタ後のボンデ
ツドターゲツトスクラツプは、加熱してロウ材層
を溶融せしめターゲツトとバツキングプレートを
分離することにより、In、Sn以外の第3成分か
らの汚染をうけることなくスクラツプが回収でき
る利点がある。すなわち、In−Snスクラツプタ
ーゲツトは、バツキングプレートを分離した後、
In量を調整すればすぐに次回のスパツタリングタ
ーゲツトの原料として使用が可能である。
以下、図示の実施例によりこの発明を説明す
る。第1図に示された1はバツキングプレートで
あり、その表面にNi被覆層2を有する。Ni被覆
層は湿式メツキ、スパツタリング、イオンブレー
テイング、真空蒸着いずれの方法で形成しても良
いが、コスト面から湿式メツキ特に電気メツキが
適当である。
メツキ層厚は実施例では20μmである。
メツキ層はNiに限らず、In、Snと合金化しに
くい金属、例えばCo、Cr等でもよい。
Niメツキ層の上には、湿式メツキ、P.V.D、塗
布等の方法でロウ材の薄膜状の層3が形成されて
いる。
5はターゲツトであり、本実施例ではIn90%
Sn10%融点145℃とでそのボンデイング面はあら
かじめ、酸化物層を取り除く前処理が行なわれて
いる。ターゲツト5とバツキングプレート1の間
にはロウ材箔4が挾まれている。ロウ材箔は本実
施例はIn50%Sn50%厚さ0.1〜0.15nmで、融点は
118℃である。
バツキングプレートとロウ材箔とターゲツトは
大気中でプレスにて加圧密着させた後真空中又は
大気中で加熱することにより、ロウ材が溶融して
ボンデイングされる。
このように本発明では、In−Snターゲツトと
In−Snロウ材の融点の差を利用しており、本実
施例のごとく、In90%Sn10%のターゲツトと
In50%Sn50%のロウ材だけの組合せにのみ適用
されるわけではないことは言うまでもない。
このボンデツドターゲツトはスパツタリング作
業で使用された後には全体をバツキングプレート
側からロウ材層のみを溶融させる温度で加熱し、
ターゲツトを溶融することなくはがし取ることが
できる。このようにしてはがし取つたスクラツプ
ターゲツト中には、バツキングプレート材からの
汚染がなく、繰り返し使用が可能である。
一方、ターゲツトより低融点のロウ材層を用い
ずに、あらかじめターゲツトと同一組成のロウ材
層をバツキングプレート上に形成し、これにター
ゲツトを加熱加圧し圧着する方式でボンデイング
されたものでは、スクラツプターゲツトをバツキ
ングプレートから除去する際は、スクラツプター
ゲツト自体を溶融させなくてはならず、この場合
はいかにNiメツキしてあつても回収スクラツプ
中にNiが混入するので好ましくない。
もちろん、ロウ材に第3成分を含有する場合
は、スクラツプの回収利用は不可能である。
以上説明したように、この発明のIn−Snスパ
ツタリング用ボンデツドターゲツトとその製造法
によれば、強力な接着でIn Snターゲツトとバツ
キングプレートをボンデイングできるとともに、
両者間の熱伝導を良好にしてスパツタリング時に
ターゲツトの冷却を効率よく行なえる。さらに、
スパツタ終了後のスクラツプターゲツトは、前工
程の精製工程に遡ることなく回収再利用して新し
いスパツタリングターゲツトとすることができる
ので、製造コストの低減および、製造の効率化が
図れるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明のボンデツドターゲツトの1
例を示す図である。 1……バツキングプレート、2……Ni被覆層、
3……ロウ材膜層、4……In−Snロウ箔、5…
…In−Snスパツタリングターゲツト、T……ボ
ンデツドターゲツト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 In−Snスパツタリングターゲツトとボンデ
    イング部にあらかじめNiを被覆したバツキング
    プレートが、In−Snロウを介したボンデイング
    によつて一体化されたものであることを特徴とす
    るボンデツドターゲツト。 2 バツキングプレートに、Ni被覆を施し、そ
    の表面を、前処理し、In−Snロウを塗布し、こ
    のバツキングプレートと、In−Snスパツタリン
    グターゲツトの間にIn−Snロウの箔をはさみ、
    加圧した後真空中又は大気中で加熱することによ
    つてボンデイングすることを特徴とするボンデツ
    ドターゲツトの製造法。 3 ボンデツドターゲツトのスクラツプのバツキ
    ングプレート上に残存するIn−Snスパツタリン
    グターゲツトのスクラツプをロウ材層のところか
    ら剥離し、該バツキングプレート面を清浄化して
    から、Ni被覆面に損傷がある場合にはNi被覆を
    やり直し、次いでその表面を前処理してからIn−
    Snロウを塗布し、このバツキングプレートと前
    記剥離In−Snターゲツトを熔融および品位調整
    することによつて再生したIn−Snスパツタリン
    グターゲツトの間にIn−Snロウの箔をはさみ、
    加圧した後真空中又は大気中で加熱することによ
    つてボンデイングすることを特徴とするスクラツ
    プからのボンデツドターゲツトの製造法。
JP8950684A 1984-05-07 1984-05-07 ボンデツドタ−ゲツトとその製造法 Granted JPS60234968A (ja)

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