JPS6337162A - 新しい結晶構造を有するジスアゾ顔料 - Google Patents
新しい結晶構造を有するジスアゾ顔料Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技皿光災
本発明は、電子写真感光体における電荷発生顔料;太p
sx池、等倍センサなどの光センサ等の光電変換素子に
おける光活性物質などとして有用な、新しい結晶構造を
有するジスアゾ顔料に関する。
sx池、等倍センサなどの光センサ等の光電変換素子に
おける光活性物質などとして有用な、新しい結晶構造を
有するジスアゾ顔料に関する。
災米抜亙
一つの化合物が種々の分子配列をして複数の結晶構造を
とる現象を同質異品と呼び、フタロシアニン系顔料、キ
ナクリドン系顔料など一部の顔料では古くから研究され
ている。
とる現象を同質異品と呼び、フタロシアニン系顔料、キ
ナクリドン系顔料など一部の顔料では古くから研究され
ている。
例えば、銅フタロシアニンではα型、β型、γ型などの
結晶があり、溶媒中での結晶転移、熱による結晶転移、
機械力による結晶転移について報告されている。
結晶があり、溶媒中での結晶転移、熱による結晶転移、
機械力による結晶転移について報告されている。
顔料の結晶型は1色調、着色力、隠蔽力、分散性など顔
料の基本的な特性に大きな影響を与えるばかりでなく電
子写真感光特性、ショットキー接合による光電変換特性
から見ても、銅フタロシアニンでは、結晶型により大き
く変化することが知られている。しかし、本発明と類似
のジスアゾ顔料については同質異品の報告例はほとんど
なく、K、Tsutui、M、Hashimoto;R
ICOtlTECHNICAL REPORT、 Nα
4.22〜31 (1980)ぐらいである。一般に電
子写真感光体として使用されるこの種のジスアゾ顔料は
、能動的に結晶構造を変化させようとする試みはなされ
ておらず、もし同質異品が存在した場合には、種々のデ
バイス応用に関して特性の向上が大きく期待される。
料の基本的な特性に大きな影響を与えるばかりでなく電
子写真感光特性、ショットキー接合による光電変換特性
から見ても、銅フタロシアニンでは、結晶型により大き
く変化することが知られている。しかし、本発明と類似
のジスアゾ顔料については同質異品の報告例はほとんど
なく、K、Tsutui、M、Hashimoto;R
ICOtlTECHNICAL REPORT、 Nα
4.22〜31 (1980)ぐらいである。一般に電
子写真感光体として使用されるこの種のジスアゾ顔料は
、能動的に結晶構造を変化させようとする試みはなされ
ておらず、もし同質異品が存在した場合には、種々のデ
バイス応用に関して特性の向上が大きく期待される。
感光材料としてSeやアモルファスSiを用いた電子写
真感光体は、材料そのもののコストが高く、また、複雑
で高電力を要する製造工程が必要であるなどの欠点を有
しており、これに代るものとして有機系の感光材料を用
いた電子写真感光体が開発されてきた。
真感光体は、材料そのもののコストが高く、また、複雑
で高電力を要する製造工程が必要であるなどの欠点を有
しており、これに代るものとして有機系の感光材料を用
いた電子写真感光体が開発されてきた。
このような感光体として、無処理のジスチリルベンゼン
系ジスアゾ顔料を含む電荷発生層と、ヒドラゾン化合物
を含む電荷搬送層とを用いた電子写真感光体が知られて
いる(特開昭55−84943号公報)。しかし、この
感光体は、感光波長域がおよそ700nmで切れている
ために、さらに長波長の光源を用いる複写機やプリンタ
ーには使用できないという問題があった。
系ジスアゾ顔料を含む電荷発生層と、ヒドラゾン化合物
を含む電荷搬送層とを用いた電子写真感光体が知られて
いる(特開昭55−84943号公報)。しかし、この
感光体は、感光波長域がおよそ700nmで切れている
ために、さらに長波長の光源を用いる複写機やプリンタ
ーには使用できないという問題があった。
また、太陽電池や光センサなどの光電変換素子や光セン
サーとしても、種々の無機材料が用いられてきた。たと
えば太陽電池としては、単結晶Si、多結晶Si、アモ
ルファスSi、CdS、CdTe等の無機材料を用いる
ことが知られているが、上記と同様に材料コストや製造
工程上の問題があった。
サーとしても、種々の無機材料が用いられてきた。たと
えば太陽電池としては、単結晶Si、多結晶Si、アモ
ルファスSi、CdS、CdTe等の無機材料を用いる
ことが知られているが、上記と同様に材料コストや製造
工程上の問題があった。
これら無機材料の欠点を改善するために、有機材料を用
いた太陽電池の検討がなされており、たとえば、フタロ
シアニンを用いたもの[R、O、Loutty at
al、、 J 、 Appl、Phys、、52521
g(1981)、特開昭60−201672号公報]、
メロシアニンを用いたもの[A 、 K 、 Ghis
h、 J 。
いた太陽電池の検討がなされており、たとえば、フタロ
シアニンを用いたもの[R、O、Loutty at
al、、 J 、 Appl、Phys、、52521
g(1981)、特開昭60−201672号公報]、
メロシアニンを用いたもの[A 、 K 、 Ghis
h、 J 。
Appl、Phys、 、49,5982(1978)
、特開昭53−131782号公報]、号公報上チレン
を用いたもの[B、R。
、特開昭53−131782号公報]、号公報上チレン
を用いたもの[B、R。
11einberger et al、、Appl、P
hys、Lett、、38,555(1981)]など
が報告されている。しかし、これらは感光波長領域が太
陽光や室内光にマツチングしなかったり、蒸着工程が必
要であったり。
hys、Lett、、38,555(1981)]など
が報告されている。しかし、これらは感光波長領域が太
陽光や室内光にマツチングしなかったり、蒸着工程が必
要であったり。
また、材料の化学的安定性が問題であったりした。
これらの有機系の太陽電池を改善するものとして、スチ
リルスチルベン(ジスチリルベンゼン)骨格を有するジ
スアゾ顔料を用いたものを報告したが、これは長波長(
650nm以上)での感度が落ちる点で問題があり、よ
りいっそうの改善がまたれていた。
リルスチルベン(ジスチリルベンゼン)骨格を有するジ
スアゾ顔料を用いたものを報告したが、これは長波長(
650nm以上)での感度が落ちる点で問題があり、よ
りいっそうの改善がまたれていた。
発明の目的
本発明は、新規な結晶構造を有するジスチリルベンゼン
骨格をもつジスアゾ顔料を提供することを目的とする。
骨格をもつジスアゾ顔料を提供することを目的とする。
本発明は、また、長波長側に光感度を有するジスアゾ顔
料およびその電子写真感光体、光電変換素子などへの応
用を提供するものである。
料およびその電子写真感光体、光電変換素子などへの応
用を提供するものである。
発明の構成
本発明の新しい結晶構造を有するジスアゾ顔料は、下記
一般式(I)のジスアゾ顔料を再結晶処理して得られた
ものであることを特徴とする。
一般式(I)のジスアゾ顔料を再結晶処理して得られた
ものであることを特徴とする。
(式中、Aはカップラー残基を表わす)以下、本発明に
ついてさらに詳細に説明する。
ついてさらに詳細に説明する。
上記アゾ顔料は特開昭53−133229号公報により
既に公知の物質であり、その電子写真感光体としての特
性も特開昭53−133445号公報により公知の事実
である。この種のジスアゾ顔料の製造法は、まず中心骨
格のジアミノ体のジアゾ化反応を行う。この反応は、例
えば塩酸あるいは硫酸のような無機酸中で、ジアミノ化
合物に亜硝酸ナトリウムを一10℃ないし50℃にて添
加することにより行われる。このジアゾ化反応は、およ
そ30分間から3時間で完結する。さらに反応混合物に
、例えばホウフッ化水素酸あるいは、ホウフッ化ナトリ
ウム水溶液などを加えてテトラゾニウム塩として沈殿さ
せ、結晶を濾取してから次の反応に用いることが望まし
い。次いで。
既に公知の物質であり、その電子写真感光体としての特
性も特開昭53−133445号公報により公知の事実
である。この種のジスアゾ顔料の製造法は、まず中心骨
格のジアミノ体のジアゾ化反応を行う。この反応は、例
えば塩酸あるいは硫酸のような無機酸中で、ジアミノ化
合物に亜硝酸ナトリウムを一10℃ないし50℃にて添
加することにより行われる。このジアゾ化反応は、およ
そ30分間から3時間で完結する。さらに反応混合物に
、例えばホウフッ化水素酸あるいは、ホウフッ化ナトリ
ウム水溶液などを加えてテトラゾニウム塩として沈殿さ
せ、結晶を濾取してから次の反応に用いることが望まし
い。次いで。
このテトラゾニウム塩にカップラーを作用させカップリ
ング反応を起させることにより、ジスアゾ化合物が得ら
れる。実際にはこの反応は、N、N−ジメチルホルムア
ミドやジメチルスルホキシドなどの有機溶媒にテトラゾ
ニウム塩およびカップラーを混合溶解しておき、これを
約−10℃ないし40℃にて酢酸ナトリウム水溶液など
のアルカリ水溶液を滴下することにより行われる。この
反応はおよそ5分ないし3時間で完結する。反応終了後
、析出している結晶を濾取し、N、N−ジメチルホルム
アミドなどの有機溶媒で80℃以下で洗浄する。更に8
0度以下で水洗し加熱減圧乾燥して終了する。一般には
、この結晶構造のまま電子写真感光体の素材として使用
される。
ング反応を起させることにより、ジスアゾ化合物が得ら
れる。実際にはこの反応は、N、N−ジメチルホルムア
ミドやジメチルスルホキシドなどの有機溶媒にテトラゾ
ニウム塩およびカップラーを混合溶解しておき、これを
約−10℃ないし40℃にて酢酸ナトリウム水溶液など
のアルカリ水溶液を滴下することにより行われる。この
反応はおよそ5分ないし3時間で完結する。反応終了後
、析出している結晶を濾取し、N、N−ジメチルホルム
アミドなどの有機溶媒で80℃以下で洗浄する。更に8
0度以下で水洗し加熱減圧乾燥して終了する。一般には
、この結晶構造のまま電子写真感光体の素材として使用
される。
本発明は、この顔料を特定の溶媒で再結晶処理を行って
同質異品の再結晶処理顔料を得たものである。再結晶処
理顔料は、合成された上記ジスアゾ顔料をニトロベンゼ
ン等の有機溶媒中で加熱溶解させ、これを冷却して液中
に析出した結晶を取り出すことにより得られる。上記ジ
スアゾ顔料は通常の有機溶媒では溶解性が低いために、
高沸点溶媒が用いられる。これら溶媒としては、ニトロ
ベンゼン、ジクロロベンゼン、N−メチルピロリドン、
ジメチルスルホキシド。
同質異品の再結晶処理顔料を得たものである。再結晶処
理顔料は、合成された上記ジスアゾ顔料をニトロベンゼ
ン等の有機溶媒中で加熱溶解させ、これを冷却して液中
に析出した結晶を取り出すことにより得られる。上記ジ
スアゾ顔料は通常の有機溶媒では溶解性が低いために、
高沸点溶媒が用いられる。これら溶媒としては、ニトロ
ベンゼン、ジクロロベンゼン、N−メチルピロリドン、
ジメチルスルホキシド。
シクロヘキサノン、ベンゾニトリル、アセトフェノンな
どが用いられる。この場合、顔料を溶媒中に投入後、溶
媒の沸点まで加熱して溶解させ、しかる後に冷却して結
晶を析出させることができる。たとえば再結晶処理前の
顔料はニトロベンゼン500m Aに対してリフラッグ
ス時で1.5 g溶解するが、160℃以上の加熱溶解
による再結晶でも構わない。
どが用いられる。この場合、顔料を溶媒中に投入後、溶
媒の沸点まで加熱して溶解させ、しかる後に冷却して結
晶を析出させることができる。たとえば再結晶処理前の
顔料はニトロベンゼン500m Aに対してリフラッグ
ス時で1.5 g溶解するが、160℃以上の加熱溶解
による再結晶でも構わない。
得られた再結晶処理顔料は処理前と結晶構造が異なり、
より長波長側まで光感度を有する。
より長波長側まで光感度を有する。
一般式CI)におけるカップラーとしては、例えば、フ
ェノール類、ナフトール類などのフェノール性水酸基を
有する化合物、アミノ基を有する芳香族アミノ化合物、
あるいはアミノ基とフェノール性水酸基を有するアミノ
ナフトール類、脂肪族もしくは芳香族のエノール性ケト
ン基(活性メチレン基)をもつ化合物が用いられ。
ェノール類、ナフトール類などのフェノール性水酸基を
有する化合物、アミノ基を有する芳香族アミノ化合物、
あるいはアミノ基とフェノール性水酸基を有するアミノ
ナフトール類、脂肪族もしくは芳香族のエノール性ケト
ン基(活性メチレン基)をもつ化合物が用いられ。
好ましくはカップラー残基Aが下記一般式(II)で表
わされるものである。
わされるものである。
(R:メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基など
のアルキル基、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基
、ブトキシ基などのアルコキシ基、ニトロ基、塩素原子
、臭素原子などのハロゲン原子、シアノ基、ジメチルア
ミノ基、ジエチルアミノ基などのジアルキルアミノ基な
どが例示され、またn≧2の場合には異なるRであって
もよい。
のアルキル基、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基
、ブトキシ基などのアルコキシ基、ニトロ基、塩素原子
、臭素原子などのハロゲン原子、シアノ基、ジメチルア
ミノ基、ジエチルアミノ基などのジアルキルアミノ基な
どが例示され、またn≧2の場合には異なるRであって
もよい。
n:o〜3の整数)
カップラー残基の具体例を構造式で示すと次の通りであ
る。
る。
(以下余白)
顔料&
顔料& A
顔料&
顔料胆
顔紐血
顔料&
顔料&
顔料風 A
顔赴践
顔料&
顔料&
(以下余白)
このような同質異品のジスアゾ顔料は、電子写真感光体
における電荷発生物質や、光電変換素子における光活性
物質として応用することができる。
における電荷発生物質や、光電変換素子における光活性
物質として応用することができる。
導電性支持体上に、電荷発生物質として再結晶処理して
得られた前記一般式(1)で示されるジスアゾ顔料を含
有する感光層を設けて電子写真感光体とすることにより
、容易に製造でき、しかも高感度で、感光波長域が可視
光から近赤外領域まで広がった電子写真感光体を実現で
きる。
得られた前記一般式(1)で示されるジスアゾ顔料を含
有する感光層を設けて電子写真感光体とすることにより
、容易に製造でき、しかも高感度で、感光波長域が可視
光から近赤外領域まで広がった電子写真感光体を実現で
きる。
第7図および第8図は、このような電子写真感光体の代
表的な構成例を示す断面図である。
表的な構成例を示す断面図である。
第7図の感光体は、導電性支持体ll上にジスアゾ顔料
13を主体とする電荷発生[15と電荷搬送物質を主体
とする電荷搬送M17とからなる積層型の感光層191
を設けたものである。
13を主体とする電荷発生[15と電荷搬送物質を主体
とする電荷搬送M17とからなる積層型の感光層191
を設けたものである。
第7図の感光体では、像露光された光は電荷搬送層を透
過して電荷発生層15に到達し、この部分のジスアゾ顔
料13で電荷の生成が起こり、一方、電荷搬送層17は
電荷の注入を受けその搬送を行うもので、光減衰に必要
な電荷の生成はジスアゾ顔料13で行われ、また電荷の
搬送は電荷搬送層17でというメカニズムである。
過して電荷発生層15に到達し、この部分のジスアゾ顔
料13で電荷の生成が起こり、一方、電荷搬送層17は
電荷の注入を受けその搬送を行うもので、光減衰に必要
な電荷の生成はジスアゾ顔料13で行われ、また電荷の
搬送は電荷搬送層17でというメカニズムである。
第8図の感光体は導電性支持体11上に主としてジスア
ゾ顔料13、電荷搬送物質および絶縁性結合剤からなる
感光層192を設けたものである。
ゾ顔料13、電荷搬送物質および絶縁性結合剤からなる
感光層192を設けたものである。
ここでもジスアゾ顔料13は電荷発生物質として働く。
その他の感光体として、例えば第7図の電荷発生層と電
荷搬送層とを逆にすることも可能である。
荷搬送層とを逆にすることも可能である。
感光層の厚さは、第7図のもので電荷発生層15の厚さ
は0.01〜5μmが適当であり、好ましくは0.05
〜2μ四である。この厚さが0.01μm未満であると
電荷の発生は十分でなく、また、5μmを超えると残留
電位が高くなる。電荷搬送層17の厚さは3〜50μm
が適当であり、好ましくは5〜20μmである。この厚
さが3μm未満であると帯電量が不十分であり、50μ
mを超えると残留電位が高くなる。
は0.01〜5μmが適当であり、好ましくは0.05
〜2μ四である。この厚さが0.01μm未満であると
電荷の発生は十分でなく、また、5μmを超えると残留
電位が高くなる。電荷搬送層17の厚さは3〜50μm
が適当であり、好ましくは5〜20μmである。この厚
さが3μm未満であると帯電量が不十分であり、50μ
mを超えると残留電位が高くなる。
電荷発生層15は、前記の一般式(1)で示されるジス
アゾ顔料を主体とし、さらに結合剤、可塑剤などを含有
することができる。また、電荷発生層中のジスアゾ顔料
の割合は、好ましくは30重量%以上、さらに好ましく
は50重量%以上である。
アゾ顔料を主体とし、さらに結合剤、可塑剤などを含有
することができる。また、電荷発生層中のジスアゾ顔料
の割合は、好ましくは30重量%以上、さらに好ましく
は50重量%以上である。
電荷搬送層17は電荷搬送物質と結合剤を主体とし、さ
らに可塑剤などを含有することができる。電荷搬送層中
の電荷搬送物質の割合は10〜95重量%が適当であり
、好ましくは30〜90重量%である。電荷搬送物質の
占める割合が10重量%未満であると、電荷の搬送はほ
とんど行われず、また95重量%を超えると感光体被膜
の機械的強度が悪くなる。
らに可塑剤などを含有することができる。電荷搬送層中
の電荷搬送物質の割合は10〜95重量%が適当であり
、好ましくは30〜90重量%である。電荷搬送物質の
占める割合が10重量%未満であると、電荷の搬送はほ
とんど行われず、また95重量%を超えると感光体被膜
の機械的強度が悪くなる。
第8図に示した感光体の場合は、感光層192の厚さは
3〜50μmが適当であり、好ましくは5〜20μmで
ある。また、感光層192中のジスアゾ顔料の割合は、
好ましくは50重量%以下、さらに好ましくは20重重
重以下であり、また、電荷搬送物質の割合は好ましくは
10〜95重量%、さらに好ましくは30〜90重量%
である。
3〜50μmが適当であり、好ましくは5〜20μmで
ある。また、感光層192中のジスアゾ顔料の割合は、
好ましくは50重量%以下、さらに好ましくは20重重
重以下であり、また、電荷搬送物質の割合は好ましくは
10〜95重量%、さらに好ましくは30〜90重量%
である。
本発明は、電子写真感光体における電荷発生物質として
、前記一般式(1)で表わされる特定のジスアゾ顔料を
再結晶処理したものを用いることを骨子とするものであ
り、導電性支持体、電荷搬送物質など他の構成要素とし
ては従来知られていたもののいずれもが使用できるが、
それらについて以下に具体的に説明する。
、前記一般式(1)で表わされる特定のジスアゾ顔料を
再結晶処理したものを用いることを骨子とするものであ
り、導電性支持体、電荷搬送物質など他の構成要素とし
ては従来知られていたもののいずれもが使用できるが、
それらについて以下に具体的に説明する。
本発明の感光体において使用される導電性支持体として
は、アルミニウム、銅、亜鉛等の金属板、ポリエステル
等のプラスチックシートまたはプラスチックフィルムに
アルミニウム、SnO2等の導電材料を蒸着したもの、
あるいは導電処理を施した紙等が使用される。
は、アルミニウム、銅、亜鉛等の金属板、ポリエステル
等のプラスチックシートまたはプラスチックフィルムに
アルミニウム、SnO2等の導電材料を蒸着したもの、
あるいは導電処理を施した紙等が使用される。
結合剤としては、ポリアミド、ポリウレタン、ポリエス
テル、エポキシ樹脂、ポリケトン、ポリカーボネートな
どの縮合系樹脂やポリビニルケトン、ポリスチレン、ポ
リ−N−ビニルカルバゾール、ポリアクリルアミドなど
のビニル重合体などが挙げられるが、絶縁性でかつ接着
性のある樹脂はすべて使用される。
テル、エポキシ樹脂、ポリケトン、ポリカーボネートな
どの縮合系樹脂やポリビニルケトン、ポリスチレン、ポ
リ−N−ビニルカルバゾール、ポリアクリルアミドなど
のビニル重合体などが挙げられるが、絶縁性でかつ接着
性のある樹脂はすべて使用される。
可塑剤としては、ハロゲン化パラフィン、ポリ塩化ビフ
ェニル、ジメチルナフタレン、ジブチルフタレートなど
が挙げられる。その他感光体の表面性をよくするために
シリコンオイル等を加えてもよい。
ェニル、ジメチルナフタレン、ジブチルフタレートなど
が挙げられる。その他感光体の表面性をよくするために
シリコンオイル等を加えてもよい。
電荷搬送物質には正孔搬送物質と電子搬送物質とがある
。正孔搬送物質としては、例えば以下の一般式(1)〜
(11)に示されるような化合物が例示できる。
。正孔搬送物質としては、例えば以下の一般式(1)〜
(11)に示されるような化合物が例示できる。
(式中、R工1.はメチル基、エチル基、2−ヒドロキ
シエチル基または2−クロルエチル基を表わし、R工6
はメチル基、エチル基、ベンジル基またはフェニル基を
表わし、Rloは水素、塩素、臭素、炭素数1〜4のア
ルキル基、炭素数1〜4のアルコキシ基、ジアルキルア
ミノ基またはニトロ基を表わす。) (式中、A r 3はナフタレン環、アントラセン環、
スチリル基およびそれらの置換体あるいはピリジン環、
フラン環、チオフェン環を表わし、R工6はアルキル基
またはベンジル基を表おす。) (式中、R15,はアルキル基、ベンジル基、フェニル
基、ナフチル基を表わし、R1,は水素、炭素数1〜3
のアルキル基、炭素数1〜3のアルコキシ基、ジアルキ
ルアミノ基、ジアラルキルアミノ基またはジアリールア
ミノ基を表わし、nは1〜4の整数を表わし、nが2以
上のときはR工s5は同じでも異なっていてもよい。R
1□5は水素またはメトキシ基を表わす。) (以下余白) (式中、R工□は炭素数1〜11のアルキル基、置換も
しくは無置換のフェニル基または複素環基を表わし、R
□□、 R,。、はそれぞれ同一でも異なっていてもよ
く水素、炭素数1〜4のアルキル基、ヒドロキシアルキ
ル基、クロルアルキル基、置換または無置換のアラルキ
ル基を表わし、また、R1□とR2゜5は互いに結合し
窒素を含む複素環を形成していてもよい。R21,は同
一でも異なっていてもよく、水素、炭素数1〜4のアル
キル基、アルコキシ基またはハロゲンを表わす。) (式中、R2□5は水素またはハロゲン原子を表わし、
Ar、は置換または無置換のフェニル基、ナフチル基、
アントリル基あるいはカルバゾリル基を表わす。) (式中、R235は水素、ハロゲン、シアノ基、炭素数
1〜4のアルコキシ基または炭素数1〜4のアルキル基
を表わし、Arsは を表わし、R245は炭素数1〜4のアルキル基を表わ
し、R255は水素、ハロゲン、炭素数1〜4のアルキ
ル基、炭素数1〜4のアルコキシ基またはジアルキルア
ミノ基を表わし、nは1または2であって、nが2のと
きはRzssは同一でも異なってもよく、R2G5およ
びR2□、は水素、炭素数1〜4の置換または無置換の
アルキル基あるいは置換または無置換のベンジル基を表
わす。) (式中、R28sおよびR2g、はカルバゾリル基、ピ
リジル基、チエニル基、インドリル基、フリル基、ある
いはそれぞれ置換もしくは非置換のフェニル基、スチリ
ル基、ナフチル基またはアントリル基であって、これら
の置換基がジアルキルアミノ基、アルキル基、アルコキ
シ基、カルボキシ基またはそのエステル、ハロゲン原子
、シアノ基、アラルキルアミノ基、N−アルキル−N−
アラルキルアミノ基、アミノ基、ニトロ基およびアセチ
ルアミノ基からなる群から選ばれた基を表わす。)R3
゜5 (式中、R,o5は低級アルキル基またはベンジル基を
表わし、R□0.は水素原子、低級アルキル基、低級ア
ルコキシ基、ハロゲン原子、ニトロ基、アミノ基あるい
は低級アルキル基またはベンジル基で置換されたアミノ
基を表わし、nは1または2の整数を表わす。)(式中
、R12,水素原子、アルキル基、アルコキシ基または
ハロゲン原子を表わし、R13sおよびR34,はアル
キル基、置換または無置換のアリール基を表わし、R1
55は水素原子または置換もしくは無置換のフェニル基
を表わし、また、Ar、はフェニル基またはフチル基を
表わす。) [式中、nはOまたは1の整数、R16,は水素原子、
アルキル基または置換もしくは無置換のフェニル基を示
し、A1は 9−アントリル基または置換もしくは無置換のN−アル
キルカルバゾル基を表ねし、ここでR3,5は水素原子
、または Rffg。
シエチル基または2−クロルエチル基を表わし、R工6
はメチル基、エチル基、ベンジル基またはフェニル基を
表わし、Rloは水素、塩素、臭素、炭素数1〜4のア
ルキル基、炭素数1〜4のアルコキシ基、ジアルキルア
ミノ基またはニトロ基を表わす。) (式中、A r 3はナフタレン環、アントラセン環、
スチリル基およびそれらの置換体あるいはピリジン環、
フラン環、チオフェン環を表わし、R工6はアルキル基
またはベンジル基を表おす。) (式中、R15,はアルキル基、ベンジル基、フェニル
基、ナフチル基を表わし、R1,は水素、炭素数1〜3
のアルキル基、炭素数1〜3のアルコキシ基、ジアルキ
ルアミノ基、ジアラルキルアミノ基またはジアリールア
ミノ基を表わし、nは1〜4の整数を表わし、nが2以
上のときはR工s5は同じでも異なっていてもよい。R
1□5は水素またはメトキシ基を表わす。) (以下余白) (式中、R工□は炭素数1〜11のアルキル基、置換も
しくは無置換のフェニル基または複素環基を表わし、R
□□、 R,。、はそれぞれ同一でも異なっていてもよ
く水素、炭素数1〜4のアルキル基、ヒドロキシアルキ
ル基、クロルアルキル基、置換または無置換のアラルキ
ル基を表わし、また、R1□とR2゜5は互いに結合し
窒素を含む複素環を形成していてもよい。R21,は同
一でも異なっていてもよく、水素、炭素数1〜4のアル
キル基、アルコキシ基またはハロゲンを表わす。) (式中、R2□5は水素またはハロゲン原子を表わし、
Ar、は置換または無置換のフェニル基、ナフチル基、
アントリル基あるいはカルバゾリル基を表わす。) (式中、R235は水素、ハロゲン、シアノ基、炭素数
1〜4のアルコキシ基または炭素数1〜4のアルキル基
を表わし、Arsは を表わし、R245は炭素数1〜4のアルキル基を表わ
し、R255は水素、ハロゲン、炭素数1〜4のアルキ
ル基、炭素数1〜4のアルコキシ基またはジアルキルア
ミノ基を表わし、nは1または2であって、nが2のと
きはRzssは同一でも異なってもよく、R2G5およ
びR2□、は水素、炭素数1〜4の置換または無置換の
アルキル基あるいは置換または無置換のベンジル基を表
わす。) (式中、R28sおよびR2g、はカルバゾリル基、ピ
リジル基、チエニル基、インドリル基、フリル基、ある
いはそれぞれ置換もしくは非置換のフェニル基、スチリ
ル基、ナフチル基またはアントリル基であって、これら
の置換基がジアルキルアミノ基、アルキル基、アルコキ
シ基、カルボキシ基またはそのエステル、ハロゲン原子
、シアノ基、アラルキルアミノ基、N−アルキル−N−
アラルキルアミノ基、アミノ基、ニトロ基およびアセチ
ルアミノ基からなる群から選ばれた基を表わす。)R3
゜5 (式中、R,o5は低級アルキル基またはベンジル基を
表わし、R□0.は水素原子、低級アルキル基、低級ア
ルコキシ基、ハロゲン原子、ニトロ基、アミノ基あるい
は低級アルキル基またはベンジル基で置換されたアミノ
基を表わし、nは1または2の整数を表わす。)(式中
、R12,水素原子、アルキル基、アルコキシ基または
ハロゲン原子を表わし、R13sおよびR34,はアル
キル基、置換または無置換のアリール基を表わし、R1
55は水素原子または置換もしくは無置換のフェニル基
を表わし、また、Ar、はフェニル基またはフチル基を
表わす。) [式中、nはOまたは1の整数、R16,は水素原子、
アルキル基または置換もしくは無置換のフェニル基を示
し、A1は 9−アントリル基または置換もしくは無置換のN−アル
キルカルバゾル基を表ねし、ここでR3,5は水素原子
、または Rffg。
(但し、R3g、およびR3,、はアルキル基、置換ま
たは無置換のアラルキル基、置換または無置換のアリー
ル基を示し、R385およびR,,5は環を形成しても
よい。)を表わし、mは0,1゜2または3の整数であ
って、mが2以上のときはR17,は同一でも異なって
もよい。](以下余白) (式中、R4゜5、R41、およびR425は水素、低
級アルキル基、低級アルコキシ基、ジアルキルアミノ基
またはハロゲン基を表わし、nはOまたは1を表わす、
) 一般式(1)で表わされる化合物には、たとえば、9−
エチルカルバゾール−3アルデヒド1−メチル−1−フ
ェニルヒドラゾン、9−エチルカルバゾール−3−アル
デヒド1−ベンジル−1−フェニルヒドラゾン、9−エ
チルカルバゾール−3−アルデヒド1,1−ジフェニル
ヒドラゾンなどがある。
たは無置換のアラルキル基、置換または無置換のアリー
ル基を示し、R385およびR,,5は環を形成しても
よい。)を表わし、mは0,1゜2または3の整数であ
って、mが2以上のときはR17,は同一でも異なって
もよい。](以下余白) (式中、R4゜5、R41、およびR425は水素、低
級アルキル基、低級アルコキシ基、ジアルキルアミノ基
またはハロゲン基を表わし、nはOまたは1を表わす、
) 一般式(1)で表わされる化合物には、たとえば、9−
エチルカルバゾール−3アルデヒド1−メチル−1−フ
ェニルヒドラゾン、9−エチルカルバゾール−3−アル
デヒド1−ベンジル−1−フェニルヒドラゾン、9−エ
チルカルバゾール−3−アルデヒド1,1−ジフェニル
ヒドラゾンなどがある。
一般式(2)で表わされる化合物には、たとえば、4−
ジエチルアミノスチレン−β−アルデヒド1−メチル−
1−フェニルヒドラゾン、4−メドキシナフタレン−1
−アルデヒド1−ベンジル−1−フェニルヒドラゾンな
どがある。
ジエチルアミノスチレン−β−アルデヒド1−メチル−
1−フェニルヒドラゾン、4−メドキシナフタレン−1
−アルデヒド1−ベンジル−1−フェニルヒドラゾンな
どがある。
一般式(3)で表わされる化合物には、たとえば、4−
メトキシベンズアルデヒド1−メチル−1−フェニルヒ
ドラゾン、2,4−ジメトキシベンズアルデヒド1−ベ
ンジル−1−フェニルヒドラゾン、4−ジエチルアミノ
ベンズアルデヒド1,1−ジフェニルヒドラゾン、4−
メトキシベンズアルデヒド1−ベンジル−1−(4−メ
トキシ)フェニルヒドラゾン、4−ジフェニルアミノベ
ンズアルデヒド1−ベンジル1−フェニルヒドラゾン、
4−ジベンジルアミノベンズアルデヒド1,1−ジフェ
ニルヒドラゾンなどがある。
メトキシベンズアルデヒド1−メチル−1−フェニルヒ
ドラゾン、2,4−ジメトキシベンズアルデヒド1−ベ
ンジル−1−フェニルヒドラゾン、4−ジエチルアミノ
ベンズアルデヒド1,1−ジフェニルヒドラゾン、4−
メトキシベンズアルデヒド1−ベンジル−1−(4−メ
トキシ)フェニルヒドラゾン、4−ジフェニルアミノベ
ンズアルデヒド1−ベンジル1−フェニルヒドラゾン、
4−ジベンジルアミノベンズアルデヒド1,1−ジフェ
ニルヒドラゾンなどがある。
一般式(4)で表わされる化合物には、たとえば、1,
1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル)プロパン、
トリス(4−ジエチルアミノフェニル)メタン、1,1
−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル)プロパン、2
,2′−ジメチル−4,4′−ビス(ジエチルアミノ)
−トリフェニルメタンなどがある。
1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル)プロパン、
トリス(4−ジエチルアミノフェニル)メタン、1,1
−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル)プロパン、2
,2′−ジメチル−4,4′−ビス(ジエチルアミノ)
−トリフェニルメタンなどがある。
一般式(5)で表わされる化合物には、たとえば、9−
(4−ジエチルアミノスチリル)アントラセン、9−ブ
ロム−10−(4−ジエチルアミノスチリル)アントラ
センなどがある。
(4−ジエチルアミノスチリル)アントラセン、9−ブ
ロム−10−(4−ジエチルアミノスチリル)アントラ
センなどがある。
一般式(6)で表わされる化合物には、たとえば、9−
(4−ジメチルアミノベンジリデン)フルオレン、3−
(9−フルオレニリデン)−9−エチル力ルバゾールな
どがある。
(4−ジメチルアミノベンジリデン)フルオレン、3−
(9−フルオレニリデン)−9−エチル力ルバゾールな
どがある。
一般式(7)で表わされる化合物には、たとえば、1,
2−ビス(4−ジエチルアミノスチリル)ベンゼン、1
,2−ビス(2,4−ジメトキキシスチリル)ベンゼン
などがある。
2−ビス(4−ジエチルアミノスチリル)ベンゼン、1
,2−ビス(2,4−ジメトキキシスチリル)ベンゼン
などがある。
一般式(8)で表わされる化合物には、たとえば、3−
スチリル−9−エチルカルバゾール。
スチリル−9−エチルカルバゾール。
3−(4−メトキシスチリル)−9−エチルカルバゾー
ルなどがある。
ルなどがある。
一般式(9)で表わされる化合物には、たとえば4−ジ
フェニルアミノスチルベン、4−ジベンジルアミノスチ
ルベン、4−ジトリルアミノスチルベン、1−(4−ジ
フェニルアミノスチリル)ナフタレン、1−(4−ジエ
チルアミノスチリル)ナフタレンなどがある。
フェニルアミノスチルベン、4−ジベンジルアミノスチ
ルベン、4−ジトリルアミノスチルベン、1−(4−ジ
フェニルアミノスチリル)ナフタレン、1−(4−ジエ
チルアミノスチリル)ナフタレンなどがある。
一般式(10)で表わされる化合物には、たとえば、4
′−ジフェニルアミノ−α−フェニルスチルベン、4′
−メチルフェニルアミノ−α−フェニルスチルベンなど
がある。
′−ジフェニルアミノ−α−フェニルスチルベン、4′
−メチルフェニルアミノ−α−フェニルスチルベンなど
がある。
一般式(11)で表わされる化合物には、たとえば、1
−フェニル−3−(4−ジエチルアミノスチリル)−5
−(4−ジエチルアミノフェニル)ピラゾリン、1−フ
ェニル−3−(4−ジメチルアミノスチリル)−5−(
4−ジメチルアミノフェニル)ピラゾリンなどがある。
−フェニル−3−(4−ジエチルアミノスチリル)−5
−(4−ジエチルアミノフェニル)ピラゾリン、1−フ
ェニル−3−(4−ジメチルアミノスチリル)−5−(
4−ジメチルアミノフェニル)ピラゾリンなどがある。
この他の正孔搬送物質としては、たとえば、2.5−ビ
ス(4−ジエチルアミノフェニル)−1,3,4−オキ
サジアゾール、2,5−ビス(4−(4−ジエチルアミ
ノスチリル)フェニルゴー1.3.4−オキサジアゾー
ル、2−(9−エチルカルバゾリル−3)−5−(4−
ジエチルアミノフェニル)−1,3,4−オキサジアゾ
ールなどのオキサジアゾール化合物=2−ビニル−4−
(2−クロルフェニル)−5−(4−ジエチルアミノフ
ェニル)オキサゾール、2−(4−ジエチルアミノフェ
ニル)−4−フェニルオキサゾールなどのオキサゾール
化合物等の低分子化合物がある。また、ポリ−N−ビニ
ルカルバゾール、ハロゲン化ポリ−N−ビニルカルバゾ
ール、ポリビニルピレン、ポリビニルアントラセン、ピ
レンホルムアルデヒド樹脂、エチルカルバゾールホルム
アルデヒド樹脂などの高分子化合物も使用できる。
ス(4−ジエチルアミノフェニル)−1,3,4−オキ
サジアゾール、2,5−ビス(4−(4−ジエチルアミ
ノスチリル)フェニルゴー1.3.4−オキサジアゾー
ル、2−(9−エチルカルバゾリル−3)−5−(4−
ジエチルアミノフェニル)−1,3,4−オキサジアゾ
ールなどのオキサジアゾール化合物=2−ビニル−4−
(2−クロルフェニル)−5−(4−ジエチルアミノフ
ェニル)オキサゾール、2−(4−ジエチルアミノフェ
ニル)−4−フェニルオキサゾールなどのオキサゾール
化合物等の低分子化合物がある。また、ポリ−N−ビニ
ルカルバゾール、ハロゲン化ポリ−N−ビニルカルバゾ
ール、ポリビニルピレン、ポリビニルアントラセン、ピ
レンホルムアルデヒド樹脂、エチルカルバゾールホルム
アルデヒド樹脂などの高分子化合物も使用できる。
電子搬送物質としては、たとえば、クロルアニル、ブロ
ムアニル、テトラシアノエチレン、テトラシアノキノン
ジメタン、2,4.7−ドリニトロー9−フルオレノン
、2,4,5.7−テトラニトロ−9−フルオレノン、
2,4゜5.7−チトラニトロキサントン、2,4.8
−トリニドロチオキサントン、2,6.8−)−リニト
ロー4H−インデノ[1,2−b]チオフェン−4−オ
ン、1,3.7−トリニトロジベンゾチオフエンー5,
5−ジオキサイドなどがある。
ムアニル、テトラシアノエチレン、テトラシアノキノン
ジメタン、2,4.7−ドリニトロー9−フルオレノン
、2,4,5.7−テトラニトロ−9−フルオレノン、
2,4゜5.7−チトラニトロキサントン、2,4.8
−トリニドロチオキサントン、2,6.8−)−リニト
ロー4H−インデノ[1,2−b]チオフェン−4−オ
ン、1,3.7−トリニトロジベンゾチオフエンー5,
5−ジオキサイドなどがある。
これらの電荷搬送物質は、単独または2種以上混合して
用いられる。
用いられる。
なお、以上のようにして得られる感光体には、いずれも
導電性支持体と感光層の間に必要に応じて接着層または
バリヤ層を設けることができる。これらの層に用いられ
る材料としては、ポリアミド、ニトロセルロース、酸化
アルミニウムなどが適当で、また膜厚は1μm以下が好
ましい。
導電性支持体と感光層の間に必要に応じて接着層または
バリヤ層を設けることができる。これらの層に用いられ
る材料としては、ポリアミド、ニトロセルロース、酸化
アルミニウムなどが適当で、また膜厚は1μm以下が好
ましい。
第7図の感光体を作成するには、ジスアゾ顔料の微粒子
を必要とあれば結合剤を溶解した適当な溶剤中に分散し
、これを導電性支持体上に塗布乾燥し、更に必要とあれ
ば、たとえば特開昭51−90827号公報に示されて
いるようなパフ研磨等の方法により表面仕上げをするか
、膜厚を?:A整した後、電荷搬送物質および結合剤を
含む溶液を塗布乾燥して得られる。
を必要とあれば結合剤を溶解した適当な溶剤中に分散し
、これを導電性支持体上に塗布乾燥し、更に必要とあれ
ば、たとえば特開昭51−90827号公報に示されて
いるようなパフ研磨等の方法により表面仕上げをするか
、膜厚を?:A整した後、電荷搬送物質および結合剤を
含む溶液を塗布乾燥して得られる。
第8図の感光体を作成するにはジスアゾ顔料の微粉末を
電荷搬送物質および結合剤を溶解した溶液中に分散せし
め、これを導電性支持体上に塗布乾燥すればよい。
電荷搬送物質および結合剤を溶解した溶液中に分散せし
め、これを導電性支持体上に塗布乾燥すればよい。
いずれの場合も本発明で使用されるジスアゾ顔料は、ボ
ールミル等により粒径5μm以下、好ましくは2μm以
下に粉砕して用いることが望ましい。塗布方法は通常の
手段、例えばドクターブレード、ディッピング、ワイヤ
ーバーなどで行なう。
ールミル等により粒径5μm以下、好ましくは2μm以
下に粉砕して用いることが望ましい。塗布方法は通常の
手段、例えばドクターブレード、ディッピング、ワイヤ
ーバーなどで行なう。
本発明の感光体を用いて複写を行なうには、感光層に帯
電、露光を施した後、現像を行ない、必要によって、紙
などへ転写を行なうことにより達成される。
電、露光を施した後、現像を行ない、必要によって、紙
などへ転写を行なうことにより達成される。
次に、本発明のジスアゾ顔料を光電変換素子における光
活性物質として応用する場合について説明する。
活性物質として応用する場合について説明する。
透光性フロント電極、光活性層および背面電極を有する
光電変換素子において、再結晶処理した前記一般式(I
)で示されるジスアゾ顔料を含む光活性層を用いること
により、安価で大面積の素子を容易に製造でき、しかも
、可視光領域から近赤外領域にわたり高い変換効率を有
する光電変換素子が実現できる。この素子は太陽電池や
センサなどとして用いることができ、太陽光スペクトル
とも良く適合する。。
光電変換素子において、再結晶処理した前記一般式(I
)で示されるジスアゾ顔料を含む光活性層を用いること
により、安価で大面積の素子を容易に製造でき、しかも
、可視光領域から近赤外領域にわたり高い変換効率を有
する光電変換素子が実現できる。この素子は太陽電池や
センサなどとして用いることができ、太陽光スペクトル
とも良く適合する。。
このような光変換素子は、本発明のアゾ顔料を含む光活
性層が2つの電極(フロント電極、背面電極)にサンド
イッチされた構成からなる。
性層が2つの電極(フロント電極、背面電極)にサンド
イッチされた構成からなる。
ここで光変換素子とは、フロントおよび背面電極間に外
部電圧を印加しないで光照射した場合に起電力または電
流もしくはその両方を生じ、また外部電圧印加の状態で
は大きな光電流が取り出せる素子のことである。
部電圧を印加しないで光照射した場合に起電力または電
流もしくはその両方を生じ、また外部電圧印加の状態で
は大きな光電流が取り出せる素子のことである。
フロント、背面電極とも単独で使用されてもよいし、支
持体が設けられていてもよい。フロント電極側から光が
入射するため、フロント電極は光透過性となっている。
持体が設けられていてもよい。フロント電極側から光が
入射するため、フロント電極は光透過性となっている。
第9A図〜第11B図は光変換素子の構成例を示す概略
図であり、第9A図では背面電極41と透光性フロント
電極21との間に光活性層(I)31が設けられている
。透過性フロント電極21、背面電極41は、リード線
等により外部回路と接続され、実際の使用に供される。
図であり、第9A図では背面電極41と透光性フロント
電極21との間に光活性層(I)31が設けられている
。透過性フロント電極21、背面電極41は、リード線
等により外部回路と接続され、実際の使用に供される。
光活性層(1)31は、光照射で正孔と電子を発生させ
る層である。このためには1店内に電界が存在すること
が必要で、これはフロント電極21と背面電極41の間
に外部から電圧を印加するか、または光活性層(I)2
1がフロントまたは背面電極21,41 (第9B図で
は光活性層(II)33]と接合した時にお互いのフェ
ルミレベル(または仕事関数)の違いにより、熱キャリ
アが移動することで外部電圧なしでも達成される。
る層である。このためには1店内に電界が存在すること
が必要で、これはフロント電極21と背面電極41の間
に外部から電圧を印加するか、または光活性層(I)2
1がフロントまたは背面電極21,41 (第9B図で
は光活性層(II)33]と接合した時にお互いのフェ
ルミレベル(または仕事関数)の違いにより、熱キャリ
アが移動することで外部電圧なしでも達成される。
光活性層(I)31は、特定の有機溶媒で再結晶処理さ
れた前記一般式(1)のアゾ顔料を主成分として含む層
である。該アゾ顔料に対し再結晶処理を施すと、顔料の
光吸収波長端が大幅に長波長まで伸び、これを光変換素
子として適用した場合、これに応じて感光波長域も長波
長に広がることが見い出された。
れた前記一般式(1)のアゾ顔料を主成分として含む層
である。該アゾ顔料に対し再結晶処理を施すと、顔料の
光吸収波長端が大幅に長波長まで伸び、これを光変換素
子として適用した場合、これに応じて感光波長域も長波
長に広がることが見い出された。
光活性層(1)31は、アゾ顔料だけあってもよいし、
後記の様な樹脂中に分散されていてもよいし、更に後述
する様な添加剤を含んでいてもよい。
後記の様な樹脂中に分散されていてもよいし、更に後述
する様な添加剤を含んでいてもよい。
樹脂との分散の場合、顔料/樹脂比は1010〜1/4
(重量比)が適当であり、好ましくは1010〜1/2
である。電荷は通常顔料を通して移動すると考えられ、
樹脂が多くなると発生した電荷の移動が困難となってく
る。添加剤は光活性層(I)31中で発生した電荷の移
動効率を向上させるためや、光による電荷の発生効率を
向上させるために用いられる。
(重量比)が適当であり、好ましくは1010〜1/2
である。電荷は通常顔料を通して移動すると考えられ、
樹脂が多くなると発生した電荷の移動が困難となってく
る。添加剤は光活性層(I)31中で発生した電荷の移
動効率を向上させるためや、光による電荷の発生効率を
向上させるために用いられる。
添加剤の量は顔料と樹脂の総重量に対し5〜50重量%
が適当である。
が適当である。
光活性層(1)31の膜厚は0.01〜10μmで適当
である。最適膜厚は用いるアゾ顔料の種類や樹脂によっ
ても異なるが0.05〜3μmが好ましい。
である。最適膜厚は用いるアゾ顔料の種類や樹脂によっ
ても異なるが0.05〜3μmが好ましい。
薄いと光吸収質が小さくなり、またフロント/背面電極
間でピンホールの確率が高くなる。厚くなると発生した
正孔および電子の一方が電極に到達する間での距離が長
くなり、途中で失活する確率が高まり、効率が低下する
。
間でピンホールの確率が高くなる。厚くなると発生した
正孔および電子の一方が電極に到達する間での距離が長
くなり、途中で失活する確率が高まり、効率が低下する
。
なお、光活性層(I)は、上記顔料を、必要ならば樹脂
添加剤とともに、適当な溶媒中に混合し、ボールミル等
の方法で顔料を粉砕し、均一なスラリーを作製して、こ
れを背面電極あるいはフロント電極上に塗布して形成さ
れる。
添加剤とともに、適当な溶媒中に混合し、ボールミル等
の方法で顔料を粉砕し、均一なスラリーを作製して、こ
れを背面電極あるいはフロント電極上に塗布して形成さ
れる。
このようにして形成された光活性層は、可視部および近
赤外部に強い感光域を有し、外部電圧なしの場合には、
高い開放電圧(Voc)と有機材料としては高い短絡電
流(Jsc)をもたらす。
赤外部に強い感光域を有し、外部電圧なしの場合には、
高い開放電圧(Voc)と有機材料としては高い短絡電
流(Jsc)をもたらす。
この場合の変換効率(η)は次式、
(Pin:入射エネルギー、
ff=フィルファクター)
で決定される。
本発明のジスアゾ顔料を用いた素子は、可視光に対し有
機材料を用いたものとしては高い変換効率をもたらし、
再結晶処理を施さない顔料を使用した素子に比べ近赤外
部までの光に対し・て高い変換効率を示す。
機材料を用いたものとしては高い変換効率をもたらし、
再結晶処理を施さない顔料を使用した素子に比べ近赤外
部までの光に対し・て高い変換効率を示す。
これは、再結晶化で顔料分子が再配列し、近赤外部まで
光吸収を起こすような結晶形に移行したためと考えられ
る。
光吸収を起こすような結晶形に移行したためと考えられ
る。
またもちろん、外部から電圧を印加した場合にも、前述
の大きな量子効率のため大きな光電流がとり出せ、従っ
て感度に優れた光変換素子として用いられる。
の大きな量子効率のため大きな光電流がとり出せ、従っ
て感度に優れた光変換素子として用いられる。
第9B図は、さらに光活性層(II)33を設けた構成
例を示す。光活性(n)33は、次のような機能を有す
る層である。
例を示す。光活性(n)33は、次のような機能を有す
る層である。
(a) 本発明の再結晶処理されたアゾ顔料の感光感
度の比較的低い波長領域を補うための他の光活性物質層
。
度の比較的低い波長領域を補うための他の光活性物質層
。
(b) 光活性!(1)との間で接合障壁を形成する
層。
層。
(c) 光活性MCI)で発生した正孔、電子のいず
れかを有効に移動させる。
れかを有効に移動させる。
このうち、(a)の目的で設ける場合は、フタロシアニ
ン系顔料、ペリレン顔料、芳香族多環キノン顔料、チオ
インジゴ顔料、キナクリドン顔料等の顔料を前記光活性
層(1)と同様に塗布して光活性層(II )33を形
成する。
ン系顔料、ペリレン顔料、芳香族多環キノン顔料、チオ
インジゴ顔料、キナクリドン顔料等の顔料を前記光活性
層(1)と同様に塗布して光活性層(II )33を形
成する。
(b)の目的で設ける場合は、酸化亜鉛、酸化チタン、
硫化カドミウム、セレン結晶、酸化鉛等の微粒子を結着
剤樹脂に分散して形成する。
硫化カドミウム、セレン結晶、酸化鉛等の微粒子を結着
剤樹脂に分散して形成する。
(c)の場合は、前記光活性層(1)の添加物を、正孔
移動剤としては後述する電子供与体を、電子移動剤とし
ては電子受容体を、適当な樹脂に混合して、光活性層(
II)33が形成される。
移動剤としては後述する電子供与体を、電子移動剤とし
ては電子受容体を、適当な樹脂に混合して、光活性層(
II)33が形成される。
また、第9B図ではフロント?1Vi21側に光活性層
(1)31を設けた場合を示したが、光活性層(n)3
3をフロント電極21側に設けることもできる。
(1)31を設けた場合を示したが、光活性層(n)3
3をフロント電極21側に設けることもできる。
第10A図ではフロント電極支持体23を、第11A図
はさらに背面電極支持体43を設けた構成例を示す。第
10B図および第11B図は、それぞれ対応するA図に
おいてさらに光活性層(n)33を設けた構成例である
。
はさらに背面電極支持体43を設けた構成例を示す。第
10B図および第11B図は、それぞれ対応するA図に
おいてさらに光活性層(n)33を設けた構成例である
。
次に、このような光変換素子で用いられる各材料につい
て説明する。
て説明する。
本発明のアゾ顔料を分散させる樹脂の例としては、ポリ
エリチル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂
、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂、アルキッド樹脂、
フェノール樹脂、メラミン樹脂、アクリル樹脂、セルロ
ース樹脂、酢酸ビニル樹脂、塩化ビニル樹脂、塩化ビニ
ルデン樹脂、フッ化ビニリデン樹脂、ブチラール樹脂、
ポリビニルカルバゾール樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリ
イミド樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、塩ビー酢ビ共
重合体、スチレン−無水マレイン酸共重合体、スチレン
−ブタジェン共重合体等が挙げられる。
エリチル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂
、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂、アルキッド樹脂、
フェノール樹脂、メラミン樹脂、アクリル樹脂、セルロ
ース樹脂、酢酸ビニル樹脂、塩化ビニル樹脂、塩化ビニ
ルデン樹脂、フッ化ビニリデン樹脂、ブチラール樹脂、
ポリビニルカルバゾール樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリ
イミド樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、塩ビー酢ビ共
重合体、スチレン−無水マレイン酸共重合体、スチレン
−ブタジェン共重合体等が挙げられる。
本発明で使用される添加剤としては、酸化亜鉛、酸化チ
タン、酸化鉛、アルミナ等の金属酸化物や、次で示され
る電荷供与物質や電荷受容物質がある。
タン、酸化鉛、アルミナ等の金属酸化物や、次で示され
る電荷供与物質や電荷受容物質がある。
電子供与物質としては、たとえば、9−エチルカルバゾ
ール−3−アルデヒド1−メチル−1−フェニルヒドラ
ゾン、9−エチルカルバゾール−3−アルデヒド1−ベ
ンジル−1−フェニルヒドラゾン、4−ジエチルアミノ
スチレン−β−アルデヒド1−メチル−1−フェニルヒ
ドラゾン、1,1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニ
ル)プロパン、トリス(4−ジエチルアミノフェニル)
メタン、1,1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル
)プロパン、9−(4−ジエチルアミノスチリル)アン
ドランセン、1゜2−ビス(4−ジエチルアミノスチリ
ル)ベンゼン、3−スチリル−9−エチルカルバゾール
、4−シフエルアミノスチルベン、4−ジベンジルアミ
ノスチルベン、4−ジトリルアミノスチルベン、4′−
ジフェニルアミノ−α−フェニルスチルベン、4′−メ
チルフェニルアミノ−α−フェニルスチルベン、1−フ
ェニル−3−(4−ジエチルアミノスチリル)−5−(
4−ジエチルアミノフェニル)ピラゾリン、1−フェニ
ル−3−(4−ジメチルアミノスチリル)−5−(4−
ジメチルアミノフェニル)ピラゾリンなどの低分子化合
物がある。また、ポリ−N−ビニルカルバゾール、ハロ
ゲン化ポリ−N−ビ二ルカルバゾール、ポリビニルピレ
ン、ポリビニルアントラセン、ピレンホルムアルデヒド
樹脂、エチルカルバゾールホルムアルデヒド樹脂等の高
分子化合物も使用できる。
ール−3−アルデヒド1−メチル−1−フェニルヒドラ
ゾン、9−エチルカルバゾール−3−アルデヒド1−ベ
ンジル−1−フェニルヒドラゾン、4−ジエチルアミノ
スチレン−β−アルデヒド1−メチル−1−フェニルヒ
ドラゾン、1,1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニ
ル)プロパン、トリス(4−ジエチルアミノフェニル)
メタン、1,1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル
)プロパン、9−(4−ジエチルアミノスチリル)アン
ドランセン、1゜2−ビス(4−ジエチルアミノスチリ
ル)ベンゼン、3−スチリル−9−エチルカルバゾール
、4−シフエルアミノスチルベン、4−ジベンジルアミ
ノスチルベン、4−ジトリルアミノスチルベン、4′−
ジフェニルアミノ−α−フェニルスチルベン、4′−メ
チルフェニルアミノ−α−フェニルスチルベン、1−フ
ェニル−3−(4−ジエチルアミノスチリル)−5−(
4−ジエチルアミノフェニル)ピラゾリン、1−フェニ
ル−3−(4−ジメチルアミノスチリル)−5−(4−
ジメチルアミノフェニル)ピラゾリンなどの低分子化合
物がある。また、ポリ−N−ビニルカルバゾール、ハロ
ゲン化ポリ−N−ビ二ルカルバゾール、ポリビニルピレ
ン、ポリビニルアントラセン、ピレンホルムアルデヒド
樹脂、エチルカルバゾールホルムアルデヒド樹脂等の高
分子化合物も使用できる。
電荷受容物質としては、たとえば、クロルアニル、ブロ
ムアニル、テトラシアノエチレン。
ムアニル、テトラシアノエチレン。
テトラシアノキノンジメタン、2,4.7−ドリニトロ
ー9−フルオレノン、2,4,5.7−テトラニトロ−
9−フルオレノン、2,4゜5.7−チトラニトロキサ
ントン、2,4.8−トリニドロチオキサントン、2,
6.8−トリニトロ−4H−インデノ[1,2−bコオ
チフエン−4−オン、1,3.7−トリニトロジベンゾ
チオフエンー5,5−ジオキサイドなどがある。 フロ
ント電極およびその支持体としては、アルミニウム、鉛
、亜鉛4タンタル、ニッケル、チタン、コバルト、ニオ
ブ、銅、)λステロイC1金、白金、銀、パラジウム等
の半透明の金属や、酸化スズ、ITO等の金属酸化物等
がフロント電極として使用でき、支持体とじては、ガラ
ス、透明プラスチックフィルムが用いられる。
ー9−フルオレノン、2,4,5.7−テトラニトロ−
9−フルオレノン、2,4゜5.7−チトラニトロキサ
ントン、2,4.8−トリニドロチオキサントン、2,
6.8−トリニトロ−4H−インデノ[1,2−bコオ
チフエン−4−オン、1,3.7−トリニトロジベンゾ
チオフエンー5,5−ジオキサイドなどがある。 フロ
ント電極およびその支持体としては、アルミニウム、鉛
、亜鉛4タンタル、ニッケル、チタン、コバルト、ニオ
ブ、銅、)λステロイC1金、白金、銀、パラジウム等
の半透明の金属や、酸化スズ、ITO等の金属酸化物等
がフロント電極として使用でき、支持体とじては、ガラ
ス、透明プラスチックフィルムが用いられる。
背面電極としては、はとんどの金属が使用でき、また、
支持体としてはガラス、透明プラスチックフィルムなど
が用いられる。
支持体としてはガラス、透明プラスチックフィルムなど
が用いられる。
^匪辺処米
本発明の再結晶処理された一般式(1)のジスアゾ顔料
は、従来のジスアゾ顔料と異なる結晶構造を有し、種々
の用途への応用が期待されている。特に、再結晶処理前
の結晶構造のジスアゾ顔料と比較して、光感度を有する
波長領域が長波長側まで伸び、電子写真感光体における
電荷発生顔料や、太陽電池、光センサなどの種々の光電
変換デバイスにおける光活性物質として有用である。
は、従来のジスアゾ顔料と異なる結晶構造を有し、種々
の用途への応用が期待されている。特に、再結晶処理前
の結晶構造のジスアゾ顔料と比較して、光感度を有する
波長領域が長波長側まで伸び、電子写真感光体における
電荷発生顔料や、太陽電池、光センサなどの種々の光電
変換デバイスにおける光活性物質として有用である。
実施例1
下記の構造式を示すジスアゾ顔料(顔料Nα44)が以
下に示すような一般的な方法で製造された。
下に示すような一般的な方法で製造された。
(以下余白)
1.4−ビス(4−アミノスチリル)ベンゼン16.1
gを濃塩酸を加えて60℃で約30分間よく攪拌する。
gを濃塩酸を加えて60℃で約30分間よく攪拌する。
次にこの混合物を約o′Cに冷却し、これに、亜硝酸ナ
トリウム7.5gを水12mflに溶解した溶液を一1
℃〜0℃で約30分間にわたって添加する。その後同温
度で30分間程度攪拌し、少量の未反応物を濾別し、そ
の濾液を42%ホウフッ化水素酸80mΩ中に注入して
、析出する結晶を濾取し水洗した後、乾燥して26.5
g (収率89.8%)のテトラゾニウムジフロオロ
ボレートを赤橙色結晶(分解点二′約130°C)とし
て得る。
トリウム7.5gを水12mflに溶解した溶液を一1
℃〜0℃で約30分間にわたって添加する。その後同温
度で30分間程度攪拌し、少量の未反応物を濾別し、そ
の濾液を42%ホウフッ化水素酸80mΩ中に注入して
、析出する結晶を濾取し水洗した後、乾燥して26.5
g (収率89.8%)のテトラゾニウムジフロオロ
ボレートを赤橙色結晶(分解点二′約130°C)とし
て得る。
このようにして得たテトラゾニウム塩2.0gと、カッ
プリング成分として3−ヒドロキシ−3−ナフトエ酸(
2,4−ジメチルアニリド)282gとを、冷却したN
、N−ジメチルホルムアミド370m flに溶解し、
これに酢酸ナトリウム3.9gおよび水62mQからな
る溶液を4〜8℃で1時間ににわたって滴下し、冷却を
中止した後、更に室温で3時間攪拌する。その後、生成
した沈殿を濾取し、N、N−ジメチルホルムアミド30
0mρで80℃で3回洗浄してから、水300mQで3
回洗浄する。これを100℃で減圧し乾燥し本発明の顔
料(顔料Nα44)を得た。
プリング成分として3−ヒドロキシ−3−ナフトエ酸(
2,4−ジメチルアニリド)282gとを、冷却したN
、N−ジメチルホルムアミド370m flに溶解し、
これに酢酸ナトリウム3.9gおよび水62mQからな
る溶液を4〜8℃で1時間ににわたって滴下し、冷却を
中止した後、更に室温で3時間攪拌する。その後、生成
した沈殿を濾取し、N、N−ジメチルホルムアミド30
0mρで80℃で3回洗浄してから、水300mQで3
回洗浄する。これを100℃で減圧し乾燥し本発明の顔
料(顔料Nα44)を得た。
C(%) 78.58 78.39H(%)
5.28 5.14N(%)
9,16 8.93この顔料の赤外線吸収スペ
クトル(kBr錠剤法)を第1図に、X線回折パターン
を第2図に示す。
5.28 5.14N(%)
9,16 8.93この顔料の赤外線吸収スペ
クトル(kBr錠剤法)を第1図に、X線回折パターン
を第2図に示す。
このX線回折パターンで示される顔料の結晶構造を以後
α型と呼ぶ。このα型の結晶構造はN。
α型と呼ぶ。このα型の結晶構造はN。
N−ジメチルホルムアミド、メタノール、テトラヒドロ
フラン、アセトンなどの有機溶媒中で80℃以下で加熱
攪拌しても変化が見られなかった。
フラン、アセトンなどの有機溶媒中で80℃以下で加熱
攪拌しても変化が見られなかった。
このα型の顔料を5.33gを、ニトロベンゼン2.4
Qにリフラックス状態で溶解し、これを熱時濾過した。
Qにリフラックス状態で溶解し、これを熱時濾過した。
この溶液を室温で一晩放置し、析出した緑色の金属光沢
のある黒色結晶を濾出した。この結晶をメタノール30
0mff1で3回洗浄し、100℃で減圧乾燥し、5.
03g(収率94.4%)の顔料を得た。
のある黒色結晶を濾出した。この結晶をメタノール30
0mff1で3回洗浄し、100℃で減圧乾燥し、5.
03g(収率94.4%)の顔料を得た。
C(%) 78.58 78.65H(%)
5.28 5.14H% 9
,16 8.99再結晶処理顔料の赤外線吸収スペ
クトル(KBrBr法)を第3図に、X線回折パターン
を第4図に示す。このX線回折パターンで示される顔料
の結晶構造を以後γ型と呼ぶ。このγ型の結晶構造の顔
料はN、N−ジメチルホルムアミド。
5.28 5.14H% 9
,16 8.99再結晶処理顔料の赤外線吸収スペ
クトル(KBrBr法)を第3図に、X線回折パターン
を第4図に示す。このX線回折パターンで示される顔料
の結晶構造を以後γ型と呼ぶ。このγ型の結晶構造の顔
料はN、N−ジメチルホルムアミド。
メタノール、テトラヒドロフラン、アセトンなどの有機
溶媒中に浸漬しても変化が見られなかった・ 前記のα型、γ型の顔料をそれぞれブチラール樹脂と2
対1の重量比で、テトラヒドロフラン(固形分濃度5v
t%)中でボールミル粉砕し、その液をスライドガラス
上に何枚か厚さを変えてコーティングし可視吸収スペク
トルを測定した結果を、それぞれ第5図、第6図に示す
、α型に比べγ型の可視吸収スペクトルが、長波長側に
シフトしていることが判る。
溶媒中に浸漬しても変化が見られなかった・ 前記のα型、γ型の顔料をそれぞれブチラール樹脂と2
対1の重量比で、テトラヒドロフラン(固形分濃度5v
t%)中でボールミル粉砕し、その液をスライドガラス
上に何枚か厚さを変えてコーティングし可視吸収スペク
トルを測定した結果を、それぞれ第5図、第6図に示す
、α型に比べγ型の可視吸収スペクトルが、長波長側に
シフトしていることが判る。
実施例2
実施例1で得られた再結晶処理顔料0.8gを、ブチラ
ール樹脂(U C0社 XYHL)(715%テトラヒ
ドロフラン溶液8gとともに3日間ボールミリングした
後に更に希釈し。
ール樹脂(U C0社 XYHL)(715%テトラヒ
ドロフラン溶液8gとともに3日間ボールミリングした
後に更に希釈し。
5%it%の塗布液を作製した。
この塗布液をウェットギャップ10μmにてアルミニウ
ム蒸着ポリエステルフィルム(厚さ約75μm)上に塗
布し、室温にて乾燥して電荷発生層を形成した後、下記
の溶液をウェットギャップ175μmにて塗布し、80
℃で25分間、次に100℃で5分間乾燥して、電荷搬
送層を形成した。
ム蒸着ポリエステルフィルム(厚さ約75μm)上に塗
布し、室温にて乾燥して電荷発生層を形成した後、下記
の溶液をウェットギャップ175μmにて塗布し、80
℃で25分間、次に100℃で5分間乾燥して、電荷搬
送層を形成した。
ポリカポネート(音大化成製
Pan1ite K−1300) 5 gテトラ
ヒドロフラン 40gこのようにして
作製した電子写真感光体を。
ヒドロフラン 40gこのようにして
作製した電子写真感光体を。
暗所にてコロナ帯電し、ついでモノクロメータを用いて
740nmに分光した1gw/aJの淡色光を感光体に
照射した。そしてその表面電位が1/2減衰するまでの
時間を求め、半減露光量を算出したところ2.5μJ/
dとなった。
740nmに分光した1gw/aJの淡色光を感光体に
照射した。そしてその表面電位が1/2減衰するまでの
時間を求め、半減露光量を算出したところ2.5μJ/
dとなった。
比較例1
実施例1の再結晶処理を施さない前記ジスアゾ顔料を、
実施例2に記載された方法にてボールミリングして5v
t%の塗布液を作製した。
実施例2に記載された方法にてボールミリングして5v
t%の塗布液を作製した。
この塗布液を実施例2記載の方法で、塗布し、さらに、
同様の方法で電荷搬送層を形成して比較例の感光体を作
成した。
同様の方法で電荷搬送層を形成して比較例の感光体を作
成した。
この感光体に対し、実施例2の方法で740nmにおけ
る感度を測定したところ、30μJ/d以上の露光をし
ても1/2減衰までは至らなかった。
る感度を測定したところ、30μJ/d以上の露光をし
ても1/2減衰までは至らなかった。
実施例3
実施例1の再結晶処理顔料0.8gをブチラール樹脂(
UCC社XYHL)の5%テトラヒドロフラン溶液8g
と共に3日間ボールミリングした後に更に希釈し、5w
t%の塗布液を作成した。
UCC社XYHL)の5%テトラヒドロフラン溶液8g
と共に3日間ボールミリングした後に更に希釈し、5w
t%の塗布液を作成した。
この塗布液にインジウムをドープした酸化スズ展(以下
ITO)を設けたガラス基板を浸漬し、10ma+/s
ecの速度で基板を引き上げ、ITO基板上に顔料分散
膜を設けて光活性層を形成した。
ITO)を設けたガラス基板を浸漬し、10ma+/s
ecの速度で基板を引き上げ、ITO基板上に顔料分散
膜を設けて光活性層を形成した。
この層の膜厚は、0.35μmであった。
この上に560nmにおける透過率が約8%になるよう
に半透明のアルミニウムを真空蒸着した後、ITOとア
ルミニウムに銀ペーストにて銅の細線を接続して光電変
換素子を作成した。
に半透明のアルミニウムを真空蒸着した後、ITOとア
ルミニウムに銀ペーストにて銅の細線を接続して光電変
換素子を作成した。
この素子に対し、アルミニウム電極側から顔料分散膜に
到達した光量(Pin’)を1.4μす/dに設定して
、700nmの単色光を照射しながら、画電極に6mV
/secで掃引されるランプ波を印加して、電流−電圧
特性を測定した。その結果、Voc=0.90V J sc = 26nA / ci f f =0.29 であった。
到達した光量(Pin’)を1.4μす/dに設定して
、700nmの単色光を照射しながら、画電極に6mV
/secで掃引されるランプ波を印加して、電流−電圧
特性を測定した。その結果、Voc=0.90V J sc = 26nA / ci f f =0.29 であった。
電極の透過率を補正した700r+n+における光電変
換効率(η′)は0.48%であった。
換効率(η′)は0.48%であった。
比較例2
実施例1の再結晶処理を施さない前記(α型)を、実施
例3記載の方法で、塗布、素子作成を行い、光電変換効
果の測定を行った。
例3記載の方法で、塗布、素子作成を行い、光電変換効
果の測定を行った。
その結果、 700nmにおける結果は以下のようにな
った。
った。
Voc=0.90V
Jsc=19nA/cj
f f =0.23
η’ =0.28%
第1図はα型の顔料の、第3図はγ型の顔料の赤外吸収
スペクトル(KBr錠剤法)である。 第2図はα型の顔料の、第4図はγ型の顔料のXm回折
パターン(粉末法、Cu−にα線、管電圧80KV、管
電流30mA)である。第5図はα型の、第6図はγ型
の顔料の樹脂分散系でコーティングした膜の可視吸収ス
ペクトルである。 第7図および第8図は電子写真感光体の構成例を示す概
略断面図である。 第9A図、第9B図、第10A図、第10B図。 第11A図および第11B図は、光電変換素子の構成例
を概略的に示す断面図である。 11・・・導電性支持体 13・・・顔料15・・
・電荷発生層 17・・・電荷搬送層191.1
92・・・感光層 21・・・フロント電極31・
・・光活性層(1) 33・・・光活性!(II
)41・・・背面電極
スペクトル(KBr錠剤法)である。 第2図はα型の顔料の、第4図はγ型の顔料のXm回折
パターン(粉末法、Cu−にα線、管電圧80KV、管
電流30mA)である。第5図はα型の、第6図はγ型
の顔料の樹脂分散系でコーティングした膜の可視吸収ス
ペクトルである。 第7図および第8図は電子写真感光体の構成例を示す概
略断面図である。 第9A図、第9B図、第10A図、第10B図。 第11A図および第11B図は、光電変換素子の構成例
を概略的に示す断面図である。 11・・・導電性支持体 13・・・顔料15・・
・電荷発生層 17・・・電荷搬送層191.1
92・・・感光層 21・・・フロント電極31・
・・光活性層(1) 33・・・光活性!(II
)41・・・背面電極
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、下記一般式( I ) ▲数式、化学式、表等があります▼…( I ) (式中、Aはカップラー残基を表わす) で表わされるジスアゾ顔料を再結晶処理して得られたも
のであることを特徴とする新しい結晶構造を有するジス
アゾ顔料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18161686A JPS6337162A (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | 新しい結晶構造を有するジスアゾ顔料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18161686A JPS6337162A (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | 新しい結晶構造を有するジスアゾ顔料 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6337162A true JPS6337162A (ja) | 1988-02-17 |
Family
ID=16103913
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18161686A Pending JPS6337162A (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | 新しい結晶構造を有するジスアゾ顔料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6337162A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0293016A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-04-03 | Kawasaki Steel Corp | 高nステンレス鋼の精錬方法 |
US5357675A (en) * | 1992-02-28 | 1994-10-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Cotter assembling the method and cotter assembling apparatus |
JPH06346131A (ja) * | 1993-06-11 | 1994-12-20 | Kawasaki Steel Corp | ステンレス溶鋼の真空脱ガス, 脱炭処理方法 |
-
1986
- 1986-08-01 JP JP18161686A patent/JPS6337162A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0293016A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-04-03 | Kawasaki Steel Corp | 高nステンレス鋼の精錬方法 |
US5357675A (en) * | 1992-02-28 | 1994-10-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Cotter assembling the method and cotter assembling apparatus |
JPH06346131A (ja) * | 1993-06-11 | 1994-12-20 | Kawasaki Steel Corp | ステンレス溶鋼の真空脱ガス, 脱炭処理方法 |
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