JPS6334104Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6334104Y2
JPS6334104Y2 JP9088682U JP9088682U JPS6334104Y2 JP S6334104 Y2 JPS6334104 Y2 JP S6334104Y2 JP 9088682 U JP9088682 U JP 9088682U JP 9088682 U JP9088682 U JP 9088682U JP S6334104 Y2 JPS6334104 Y2 JP S6334104Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical axis
lens
cylindrical lens
optical
collimator lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP9088682U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58193334U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP9088682U priority Critical patent/JPS58193334U/ja
Publication of JPS58193334U publication Critical patent/JPS58193334U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6334104Y2 publication Critical patent/JPS6334104Y2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、光ピツクアツプに係り、特に、対
物レンズの光軸がコリメータレンズの光軸からず
れるよう、該対物レンズを配置するとともに、シ
リンドリカルレンズの中心軸が該コリメータレン
ズの光軸と平行または直交し、かつ、該シリンド
リカルレンズの光軸が合焦時の反射光光軸からず
れるよう、該シリンドリカルレンズを配置したこ
とを特徴とする光ピツクアツプに関するものであ
る。
従来、光ビデオ・オーデイオデイスクプレーヤ
ーの光ピツクアツプにおいて、そのトラツキング
エラー信号およびフオーカスエラー信号を第1図
に示す方法で検出しているものがある。第1図に
基づいて説明すると、半導体レーザ1からの出射
光は、偏光ビームスプリツタ2、コリメータレン
ズ3、1/4波長板4、対物レンズ5を経て、デイ
スク6に入射し、デイスク6からの反射光は対物
レンズ5、1/4波長板4、コリメータレンズ3を
経て、偏光ビームスプリツタ2で90゜偏向され、
シリンドリカルレンズ7を経て4分割光センサ8
で受光される。
対物レンズ5の光軸5Aはコリメータレンズ3
の光軸3Aと一致しており、シリンドリカルレン
ズ7の中心軸7Aはコリメータレンズ3の光軸3
Aに対して45゜傾斜しており、シリンドリカルレ
ンズ7の受光面7Bは偏光ビームスプリツタ2の
反射光出射面2Aと対向しており、シリンドリカ
ルレンズ7の光軸7Dは反射光光軸LAと一致し
ている。また4分割光センサ8の受光面はコリメ
ータレンズ3の光軸3Aと平行でかつシリンドリ
カルレンズ7の出光面7Cと対向しており、4分
割光センサ8の分割線はコリメータレンズ3の光
軸3Aと平行かつ直交している。
なおA,Bはデイスク6のトラツキング方向
(ラジアル方向)を示すためのもので、偏光ビー
ムスプリツタ2の偏向面2B、シリンドリカルレ
ンズ7の受光面7B、4分割光センサ8の受光面
においては図示のように表われる。
トラツキングエラー信号Teは、加算器AD、減
算器SBを介して4分割光センサ8の上部(#2
+#3)と下部(#1+#4)との差出力から検
出しており、またフオーカスエラー信号Feは、
加算器AD、減算器SBを介して4分割光センサ8
の対角部(#1+#3)と対角部(#2+#4)
との差出力から検出している。
この従来技術においてシリンドリカルレンズ7
の取付の際、前記の45゜の精度が出ていないと、
トラツキングエラー信号Teおよびフオーカスエ
ラー信号Feが正しく検出されない。45゜の精度出
しについては、シリンドリカルレンズ7自体のず
れと取り付ける際のずれを考慮しなければならな
い。そこで、シリンドリカルレンズ7の取付につ
いては、第2図に示すようにデイスク6に対応す
る所に反射体9を設け、ヘリウム・ネオンガスレ
ーザ光ビーム10を偏光ビームスプリツタ2、コ
リメータレンズ3、1/4波長板4、対物レンズ5
経て、反射体9に照射する。そして対物レンズ
5、1/4波長板4、コリメータレンズ3、偏光ビ
ームスプリツタ2を経た反射体9からの反射光が
シリンドリカルレンズ7を通過すると、その反射
光はシリンドリカルレンズ7のビーム進行方向焦
点以遠においては、長軸大なる楕円光ビーム
EPLとなる。この楕円光ビームEPLをシリンド
リカルレンズ7のビーム進行方向焦点以遠に配置
されたスクリーン11上に投影し、スクリーン1
1上に予め設定した45゜基準線Bに楕円光ビーム
EPLが一致するように、シリンドリカルレンズ
7を調整している。なお第2図においては楕円光
ビームEPLが45゜基準線Bよりある角度θずれて
いる場合を示している。
さらに4分割光センサ8を配置した後に、これ
の位置調整をする場合は、第3図に示すようにデ
イスク6の代りにボイスコイル式駆動の可動ミラ
ー12を配置し、可動ミラー12を一定周波数、
一定振幅で動作させて、4分割光センサ8の各エ
レメント#1,#2,#3,#4の出力(振幅、
位相等)を測定する。そして4分割光センサ8の
各エレメントごとの可動ミラー12動作による出
力が均一になるようにコリメータレンズ3および
半導体レーザ1の位置を上下に調整しなければな
らない。
このように従来技術においては、シリンドリカ
ルレンズ7の45゜配置が困難であり、コリメータ
レンズ3および半導体レーザ1の微調整を必要と
するなど製作も困難であるという問題点があつ
た。
この考案は、このような従来技術の問題点に着
目してなされたもので、対物レンズの光軸がコリ
メータレンズの光軸からずれるよう、該対物レン
ズを配置するとともに、シリンドリカルレンズの
中心軸が該コリメータレンズの光軸と平行または
直交し、かつ、該シリンドリカルレンズの光軸が
合焦時の反射光光軸からずれるよう、該シリンド
リカルレンズを配置したことによつて、上記問題
点を解決することを目的としている。
以下、この考案を図面に基づいて説明する。
第4図は、この考案の一実施例を示す図であ
る。
1は半導体レーザ、2は偏光ビームスプリツ
タ、3はコリメータレンズ、4は1/4波長板、5
は対物レンズ、6はデイスク、7はシリンドリカ
ルレンズ、8は4分割光センサである。
コリメータレンズ3と対物レンズ5とはそれぞ
れの光軸3A,5Aが一致しないでずれるように
配置されている。光軸3Aと光軸5Aをずらすの
は、シリンドリカルレンズ7の光軸7Dを合焦時
の反射光光軸LAからずらす場合に、シリンドリ
カルレンズ7の上下微調整をなくするためであ
る。なお、光軸3Aと光軸5Aを入射光径の5〜
10%ずらせるとデイスク6からの反射光Rは10〜
20%ずれる。
シリンドリカルレンズ7は、シリンドリカルレ
ンズ7の中心軸7Aがコリメータレンズ3の光軸
3Aに対して平行になるよう、シリンドリカルレ
ンズ7の受光面7Bが偏光ビームスプリツタ2の
反射光出射面2Aと対向になるよう、またシリン
ドリカルレンズ7の光軸7Dが合焦時の反射光光
軸LAとずれるように配置されている。シリンド
リカルレンズ7の中心軸7Aがコリメータレンズ
3の光軸3Aに対して直交する場合を第8図に示
す。シリンドリカルレンズ7の中心軸7Aをコリ
メータレンズ3の光軸3Aに対して平行または直
交にすることによつて、従来技術の45゜精度出し
は不要であり、かつ平行または直交出しは45゜精
度出しに比べてきわめて容易である。シリンドリ
カルレンズ7の光軸7Dを合焦時の反射光光軸
LAとずらすのは、シリンドリカルレンズ7の円
弧状の出光面7Cから出射される反射光Rを偏向
させ、反射光Rの形状を楕円にするためである。
4分割光センサ8は、4分割光センサ8の受光面
がコリメータレンズ3の光軸3Aと平行でかつシ
リンドリカルレンズ7の出光面7Cと対向になる
よう、4分割光センサ8の分割線がコリメータレ
ンズ3の光軸3Aと平行かつ直交になるよう、ま
た合焦時の反射光光軸LAが分割線の交点と一致
するように配置されている。製作時には従来技術
のコリメータレンズ3および半導体レーザ1の上
下の位置調整は不要で、4分割光センサ8の上下
位置の微調整だけでよく、その調整は、コリメー
タレンズ3および半導体レーザ1の複合調整に比
べてきわめて容易である。
なお第4図はコリメータレンズ3の光軸3Aと
対物レンズ5の光軸5Aとが平行である場合を示
したが、直交である場合を第5図に示す。第5図
において13は90゜偏光ミラーである。
第5図および第6図におけるA,Bは、デイス
ク6のトラツキング方向(ラジアル方向)を示す
ためのもので、偏光ビームスプリツタ2の偏向面
2B、シリンドリカルレンズ7の受光面7Bおよ
び4分割光センサ8の受光面においては図示のよ
うに表われる。
第6図は第4図の光学系を光軸について示した
もので、aは半導体レーザ1の光軸1Aとコリメ
ータレンズ3の光軸3Aが一致する場合を示し、
bは一致しない場合を示す。第7図は4分割光セ
ンサ8の受光パターンおよびトラツキングエラー
信号Te、フオーカスエラー信号Feの検出を示す。
なお第6図および第7図において、Aはデイスク
6が遠すぎる場合、Bは合焦状態、Cは近すぎる
場合を示す。
以上説明してきたように、この考案は、対物レ
ンズの光軸がコリメータレンズの光軸からずれる
よう、該対物レンズを配置するとともに、シリン
ドリカルレンズの中心軸が該コリメータレンズの
光軸と平行または直交し、かつ、該シリンドリカ
ルレンズの光軸が合焦時の反射光光軸からずれる
よう、該シリンドリカルレンズを配置したことに
よつて、シリンドリカルレンズの45゜配置調整お
よびコリメータレンズと半導体レーザの複合調整
を不要としたので製作がきわめて容易にできると
いう効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光ピツクアツプの光学系の斜視図およ
び4分割光センサの信号処理系を示す図、第2図
はシリンドリレンズの位置設定を説明する図、第
3図は4分割光センサの出力設定を説明する図、
第4図、第5図および第8図はこの考案の実施例
を示す図、第6図は第4図の光学系を光軸につい
て示す図で、aは半導体レーザの光軸とコリメー
タレンズの光軸が一致する場合、bは一致しない
場合、第7図は4分割光センサの受光パターンお
よびトラツキングエラー信号、フオーカスエラー
信号の検出を示す図である。 1……半導体レーザ、2……偏光ビームスプリ
ツタ、3……コリメータレンズ、4……1/4波長
板、5……対物レンズ、6……デイスク、7……
シリンドリカルレンズ、8……4分割光センサ、
13……90゜偏向ミラー。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体レーザからの出射光を偏光ビームスプリ
    ツタ、コリメータレンズ、1/4波長板、対物レン
    ズを経てデイスクの情報面に入射し、その反射光
    を該対物レンズ、該1/4波長板、該偏光ビームス
    プリツタ、シリンドリカルレンズを経て4分割光
    センサに入射して、加算器、減算器を介してトラ
    ツキングエラー信号、フオーカスエラー信号を得
    ている光ピツクアツプにおいて、該対物レンズの
    光軸が該コリメータレンズの光軸からずれるよ
    う、該対物レンズを配置するとともに、該シリン
    ドリカルレンズの中心軸が該コリメータレンズの
    光軸と平行または直交し、かつ、該シリンドリカ
    ルレンズの光軸が合焦時の反射光光軸からずれる
    よう、該シリンドリカルレンズを配置したことを
    特徴とする光ピツクアツプ。
JP9088682U 1982-06-19 1982-06-19 光ピツクアツプ Granted JPS58193334U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9088682U JPS58193334U (ja) 1982-06-19 1982-06-19 光ピツクアツプ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9088682U JPS58193334U (ja) 1982-06-19 1982-06-19 光ピツクアツプ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58193334U JPS58193334U (ja) 1983-12-22
JPS6334104Y2 true JPS6334104Y2 (ja) 1988-09-09

Family

ID=30099333

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9088682U Granted JPS58193334U (ja) 1982-06-19 1982-06-19 光ピツクアツプ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58193334U (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60169706A (ja) * 1984-02-14 1985-09-03 Olympus Optical Co Ltd 表面形状測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58193334U (ja) 1983-12-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3548259B2 (ja) 光磁気ヘッド装置
JPS59147306A (ja) フオ−カス誤差検出装置
JPS6334104Y2 (ja)
JPS6322370B2 (ja)
JP3044667B2 (ja) 光学式読取り装置
US6396638B1 (en) Optical pickup device capable of stable tracking
JPH0237609B2 (ja)
JPS62298029A (ja) スポツト位置エラ−検出系
JP3071013B2 (ja) 光ピックアップ装置
JPS5845629A (ja) 焦点誤差信号検出機能を備えた集光装置
JP2734685B2 (ja) 光検出器の調整方法および焦点誤差検出装置
JP2690550B2 (ja) 光ピックアップ装置
JPH07302436A (ja) 光ピックアップ装置
JPS6124038A (ja) 光学式ピツクアツプ
JP2531904Y2 (ja) 焦点制御装置
US5905254A (en) Compact sized optical pickup system
JPH0210491B2 (ja)
JPH04286729A (ja) フォーカス検出装置
JPH04265528A (ja) フォーカスエラー信号検出装置
JPH0548534B2 (ja)
JPH1166609A (ja) 光ピックアップ装置及び製造方法
JPH06203400A (ja) 光学式トラッキングエラー検出方法及び検出機構
KR19980057997A (ko) 광 픽-업장치
JPS63131338A (ja) 光ヘツド装置
JPH0434738A (ja) 光学式情報記録再生装置