JPS62298029A - スポツト位置エラ−検出系 - Google Patents

スポツト位置エラ−検出系

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JPS62298029A
JPS62298029A JP61141721A JP14172186A JPS62298029A JP S62298029 A JPS62298029 A JP S62298029A JP 61141721 A JP61141721 A JP 61141721A JP 14172186 A JP14172186 A JP 14172186A JP S62298029 A JPS62298029 A JP S62298029A
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JP
Japan
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photodetector
reflected
split
beams
area
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JP61141721A
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Yutaka Yamanaka
豊 山中
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明はスポット位置エラー検出系に関し、特に光によ
り記録や再生等を行なうための光ピツクアップ装置に用
いるスポット位置エラー検出系に関する。
〔従来の技術〕
第3図は従来のかかるスポット位置エラー検出系の第一
の例を含む光ピツクアップ装置の基本的な光学系を示し
ている。
レーザ光源11からの出射光をコリメートレンズ12、
偏光ビームスプリッタ13.1/′4波長板14、集光
レンズ15を介して記録媒体16上に集光させる。記録
媒体16からの反射光は1/74波長板14と偏光ビー
ムスプリッタ13とで構成されるサーキュレータによっ
て分離される。反射光の一部はハーフミラ−17を透過
して2分割光検出器であるトラックエラー検出器18に
、残りは収束レンズ2とナイフェツジ19とを介して2
分割光検出器であるフォーカスエラー検出器20に入射
する。
この光ピツクアップ装置のスポット位置エラー検出系は
、ハーフミラ−17、トララフエラー検出器18、収束
レンズ2、ナイフェツジ19、フォーカスエラー検出器
20から成っている。トラックエラーはファーフィール
ドの片寄りを検出するプッシュプル法で、フォーカスエ
ラーはナイフェツジ法で検出されることになる。
ところで、第3図に示す従来例はこのようにトラックエ
ラーとフォーカスエラーを別々の光検出器より得るため
、構成を小型化することが難しい。
そこで、本発明者は以前に4分割プリズムと6分割光検
出器とを用いた新しいスポット位置エラー検出系(第二
の従来例)を提案したく特願6l−014144)。第
4図にその基本構成を示す。
領域A〜Dに分割された四つの領域を有する4分割プリ
ズム1により光ビームは4領域に分割される。このうち
、領域Bおよび領域りの透過光はわずかに光路を左右に
変えて二つの2分割光検出部の分割線上にそれぞれ集光
される。このビームにより、ナイフェツジ法の原理に基
づいてフォーカスエラー検出を行なう。領域Aおよび領
域Cの透過光は光路を左右に大きく変えて独立な光検出
部にそれぞれ集光されプッシュプル法によるトラックエ
ラー検出を行なう9第4図に示す従来例はこのように簡
易な構成でスポット位置エラー検出ができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
第4図に示す従来例では、第5図に示すように、反射光
ビーム10のうち4分割プリズム1の領域AおよびCに
入射する光量の差によりトラックエラー信号を検出する
。これは記録媒体のグループの一次回折光パターンが重
なる領域の光量が、光ピックアック装置の集光スポット
とグループとの位置関係で変化することを利用している
。ところで、トラッキングのため光ピツクアップ装置の
集光レンズを移動すると、反射光ビームのパターンが破
線11で示すように移動する。移動量が大きくなると、
領域AとCとで透過光量が大きく異なり、最終的にはト
ラックエラー検出信号のオフセットどなってしまう。
本発明の目的は上記のようなオフセットの発生量が少な
いスポット位置エラー検出系を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のスポット位置エラー検出系は、収束レンズと、
この収束レンズの前または後に配置した光路分割器と、
二つの2分割光検出部及び二つの独立な光検出部を有す
る6分割型の光検出器とを光軸を一致させて配置し、前
記収束レンズと前記光路分割器とで円形ビームを放射状
に四つの成分に分割し、対角をなす第一組の2成分を前
記光検出器の前記二つの2分割光検出部の分割線上にそ
れぞれ集光し、残りの第二組の2成分を前記光検出器の
前記二つの独立な光検出部にそれぞれ集光する機能を備
えており、かつ前記第二組の2成分の内で前記円形ビー
ムの周辺部の光は前記光検出器に達しないようにしたこ
とを特徴とする。
〔作用〕
本発明においては、反射光ビームの同第4図の領域Aお
よびCに入射した光全部を6分割光検出器3に導かずに
、反射光ビームの周辺部の光は遮光するかまたは6分割
光検出器3外の位置に収束するように設定する。第2図
は本発明における、光デイスク面(記録媒体面)からの
反射光ビーム10と4分割プリズム1との配置を示して
いる。
領域EおよびFは遮光面である。
光ピツクアップ装置の集光レンズ等の移動により、反射
光ビームのパターンが破線11のように移動しても、領
域AおよびCを透過する反射光ビームの面積は変らない
。反射光ビーム内での強度分布は均一でないので透過光
量は多少変化するが、領域AおよびCの透過光量の差か
ら得られるトラックエラー信号のオフセットは、第4図
に示す従来例におけるそれに比べて充分に小さくするこ
とが可能である。領域AとEとの境界線および領域Cと
Fとの境界線は適当な直線でもよい。
〔実施例〕
第1図に本発明の一実施例を示す。
本実施例におけるエラー検出の原理は第4図に示す従来
例の説明で述べたと同じである。6分割光検出器3とし
ては、コンパクトディスク用などに用いられている6分
割光検出器をそのまま流用することができる。例えば、
光軸中心から2分割検出部の中心までが130μm、さ
らに外側の光検出部中心までが600μmとし、収束レ
ンズ2の焦点距離を20+++mとする。4分割プリズ
ム1として出射面角度が水平方向に異なる4つの面を有
するものを用いると、材料がBK−7であれば、領域A
およびCは±3.4°、領域BおよびDは±0.7°そ
れぞれ逆方向に傾きを設ければよい。領域EおよびFは
遮光板を設けたり、散乱面を形成することで所望の特性
が得られる。
なお、4分割プリズム1と収束レンズ2との配置順序は
逆でもよく、また、これらと同一の機能を有する一体形
の部品を用いてもよい。
〔発明の効果〕
本発明により、小型で、しかも反射光ビームの移動によ
るトラックエラー検出信号のオフセットの発生量が小さ
くエラー検出特性の良好な光ピツクアップ装置用のスポ
ット位置エラー検出系を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2図は本発
明の原理を示す説明図、第3図は従来のスポット位置エ
ラー検出系の第一の例を用いる光ピツクアップ装置を示
す光路図、第4図は第二の従来例を示す斜視図、第5図
は第4図に示す従来例におけるオフセット′の発生理由
を示す説明図である。 1・・・4分割プリズム、2・・・収束レンズ、3・・
・6分割光検出器、A〜F・・・領域。 代理人 弁理士  内 原  音 窮1図 Fi2図 ノδニ ト2ツクニラー#ミニ、二)=−、ヨc≦、 
ノタ:ナイフエ7チ° hニス−々λ1クー51ミ2.
−二に万3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  収束レンズと、この収束レンズの前または後に配置し
    た光路分割器と、二つの2分割光検出部及び二つの独立
    な光検出部を有する6分割型の光検出器とを光軸を一致
    させて配置し、前記収束レンズと前記光路分割器とで円
    形ビームを放射状に四つの成分に分割し、対角をなす第
    一組の2成分を前記光検出器の前記二つの2分割光検出
    部の分割線上にそれぞれ集光し、残りの第二組の2成分
    を前記光検出器の前記二つの独立な光検出部にそれぞれ
    集光する機能を備えており、かつ前記第二組の2成分の
    内で前記円形ビームの周辺部の光は前記光検出器に達し
    ない機能を有することを特徴とするスポット位置エラー
    検出系。
JP61141721A 1985-12-19 1986-06-17 スポツト位置エラ−検出系 Expired - Lifetime JPH0630162B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61141721A JPH0630162B2 (ja) 1986-06-17 1986-06-17 スポツト位置エラ−検出系
US06/943,224 US4817074A (en) 1985-12-19 1986-12-18 Method and apparatus for detecting the focusing state and positioning accuracy of a light beam directed onto an optical disk tracking guide in an optical recording system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61141721A JPH0630162B2 (ja) 1986-06-17 1986-06-17 スポツト位置エラ−検出系

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62298029A true JPS62298029A (ja) 1987-12-25
JPH0630162B2 JPH0630162B2 (ja) 1994-04-20

Family

ID=15298657

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61141721A Expired - Lifetime JPH0630162B2 (ja) 1985-12-19 1986-06-17 スポツト位置エラ−検出系

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0630162B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01241028A (ja) * 1988-03-22 1989-09-26 Nec Corp 光ピックアップ用スポット位置エラー検出系
JPH041939A (ja) * 1990-04-18 1992-01-07 Nec Corp 光学式情報記録再生装置の信号検出系
JPH0489637A (ja) * 1990-07-25 1992-03-23 Nec Corp 光学式情報記録再生装置
KR20000010263A (ko) * 1998-07-31 2000-02-15 이형도 광픽업의 포토다이오드

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH041939A (ja) * 1990-04-18 1992-01-07 Nec Corp 光学式情報記録再生装置の信号検出系
JPH0489637A (ja) * 1990-07-25 1992-03-23 Nec Corp 光学式情報記録再生装置
KR20000010263A (ko) * 1998-07-31 2000-02-15 이형도 광픽업의 포토다이오드

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JPH0630162B2 (ja) 1994-04-20

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