JPS63191322A - 光ピツクアツプの光学系 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、ナイフェツジ法によるフォーカシングエラ
ー検出を行う光ピックアップの光学系の改良に関するも
のである。

の　　、　びその口 この種の光ピックアップの光学系としては、従来から第
３図に示したようなものがある。

図示されるようにこの光学系Ａは、ビームを発するレー
ザー素子１、このビームを平行光束とするコリメートレ
ンズ２．偏光ビームスプリッタ−１１７４波長板４．光
ディスクＤにスポットを結ばせる対物レンズ５、反射さ
れたビームを集束させる集光レンズ６、フォーカシング
エラー検出用受光素子７、ナイフェツジ法によるフォー
カシングエラー検出を行うため集光レンズ６とフォーカ
シングエラー検出用受光素子７との間に配設されてビー
ろの略半分を遮るナイフェツジ８、そして、このナイフ
ェツジ８と集光レンズ７との間に設けられてトラッキン
グエラー検出用受光素子９に反射ビームの一部を照射す
るハーフミラ−プリズム１０を有している。

このような構成とされた光学系Ａにおいては、レーザー
素子１から発して光ディスクＤで反射されたビームが、
集光レンズ６でフォーカシングエラー検出用受光素子７
に向かって集束され、更にハーフミラ−プリズム１０で
部分される。

そして、ハーフミラ−プリズムｌＯを透過したビームは
ナイフェツジ８でその略半分が遮られ、遮られない部分
がフォーカシングエラー検出用受光素子７を照射する。

一方、ハーフミラ−プリズムｌＯで反射したビームは、
そのままトラッキングエラー検出用受光素子９に照射さ
れる。各受光素子７．９は、その受光状態からエラー信
号を出力する。

なお、上記のフォーカシングエラー検出用受光素子７は
第４図に示したような二分割素子であり、対物レンズ５
の合焦時における反射ビームの集束位置に配置されてい
る。

そのため反射ビームは、光ディスクＤと対物レンズ５と
の距離が近すぎるときは第４図に示したように上側の受
光領域７ａを照射し、還すざるときには第５図に示した
ように下側の受光領域７ｂを照射し１合焦時には第６図
に示したように上下の受光領域の間に集束する。

しかしながら、このような光ピックアップの光学系Ａに
おいては、フォーカシングエラー検出用の受光素子とト
ラッキングエラー検出用の受光素子とを独立して別個に
設けなければならないために部品点数が多く、光学系が
大型化するという問題点があった。

この問題点を解決し、１つの受光素子で両方のエラー信
号を検出できるようにした光学系も従来からある。その
−例を第７図に示す。

ここでは、ナイフェツジ８が対物レンズの合焦時におけ
る反射ビームの集束位置に配置されており、図示したよ
うな４分割の受光素子１１を用いている。このような構
成とすれば、受光素子１１の各受光領域ａ、ｂ、Ｑ、ｄ
の出力を加算、引算して両方のエラーを同時に検出する
ことができる〔フォーカシングエラー：　（ａ＋ｂ）−
（ｃ＋ｄ）、　トラッキングエラー：　（ａｒｃ）−（
ｂａｄ））が、この光学系においては、トラッキングエ
ラー信号、及び再生信号を得るためにビームが常に受光
素子を照射するように保つ必要がある。

ところが、追記型の光ディスクでは、プッシュプル法に
よるトラッキングエラー成分が最大となるよう構成され
ているため、上記のように合焦時にもビームが受光領域
を照射していると、ビームに包含されるトラッキングエ
ラー成分がフォーカシングエラー信号へ干渉し、正確な
フォーカシングエラー検出が行い難いという別の問題点
を生じていた。

Ｗ口り昨 この発明は、上述した各問題点に鑑みてなされたもので
あり、ビーム中のトラッキングエラー成分によるフォー
カシングエラー信号への干渉を防ぎつつ、しかも、光学
系の部品点数が少なく、コンパクトな光ピックアップの
光学系を提供することを目的とする。

４　、を　　するための この発明は、上記の目的を達成させるため、光ディスク
で反射されたビームが集光レンズを出射した際に、ビー
ム中のトラック幅方向に相当する方向の直径を境とする
一側は、受光素子のフォーカシングエラー検出用受光部
に向ってそのまま集束され、他側はビームの光軸と直交
する面に対して傾斜して設けられた平行平面板を透過し
て受光素子にフォーカシングエラー検出用受光部とは独
立して設けられたトラッキングエラー検出用受光部に向
って集束する構成としたことを特徴としたものである。

ｊす１ この発明は、上述したような構成としたため、光ディス
クで反射されて受光素子に向かって集束するビームのう
ち、平行平面板に入射した部分をトラッキングエラー検
出に利用することができ、平行平面板に入射しない部分
をナイフェツジ法によるフォーカシングエラー検出に利
用できる。

ス皇舅 以下、この発明を図面に基づいて説明する。第１図及び
第２図はこの発明の一実施例を示したものである。

図示されるようにこの光学系Ｂは、従来と同様のレーザ
ー素子１、コリメートレンズ２、偏光ビームスプリッタ
−３，１７４波長板４、対物レンズ５、集光レンズ６を
有しており、対物レンズ５の合焦時における反射ビーム
の集束位置には受光素子２０が配置されている。

この受光素子２０には、第２図に示したように、フォー
カシングエラー検出用受光部２１とトラッキングエラー
検出用受光部２２とが図中上下に並んで設けられている
。そして、フォーカシングエラー検出用受光部２１は図
中上下に並ぶ一対の受光領域２１ａ、２１ｂから成り、
トラッキングエラー検出用受光部２２は図中左右に並ぶ
一対の受光領域２２ａ、２２ｂから成る。

また、集光レンズ６と受光素子２０との間には、平行平
面板３０がビームの光軸と直交する面に対して傾斜して
設けられている。

この平行平面板３０は、ビーム内に侵入する稜線を、ビ
ーム中のトラック幅方向に相当する方向の直径と一致さ
せて設けられており、集光レンズ６を出射したビームの
うち、平行平面板３０に入射しない部分に対しては従来
と同様のナイフェツジとして機能し、平行平面板３０に
入射した部分に対しては光路を変更させる機能を有する
。

次に、上記の光学系Ｂの作用を説明する。

レーザー素子１が発する直線偏光のビームは、コリメー
トレンズ２で平行光束とされて偏光ビームスプリッタ−
３を透過し、１７４波長板４で円偏光とされて対物レン
ズ５に入射する。そして、対物レンズ５によって光ディ
スクＤ上に結像すると共にこの光ディスクＤで反射され
て入射時とは逆回転する円偏光となり、１７４波長板４
で入射時とは直交する直線偏光とされる。

直線偏光とされた反射ビームは、偏光ビームスプリッタ
−３で反射されて集光レンズ７を透過し。

その略半分はそのまま受光素子２０のフォーカシングエ
ラー検出用受光部２１に向って集束される。

そして、平行平面板３０に入射した部分はこの平行平面
板３０に入射する際、及び出射する際に屈折し、トラッ
キングエラー検出用受光部２２に向って集束される。な
お、平行平面板３０に入射したビームの集束点は、入射
しないビームの集束点より図中右上方に位置する。

光ディスクＤと対物レンズ５との距離と受光素子２０の
受光状態との関係は、従来と同様で第４図〜第６図に示
した通りであり、ビームが光ディスクＤに合焦状態で結
像している際には第２図に示したように反射ビームはフ
ォーカシングエラー検出用受光部２１の受光領域２１ａ
、２１ｂの何れにも入射しない。従って、この状態では
フォーカシングエラー信号にトラッキングエラー成分が
干渉する虞はなく、正確なフォーカシングエラー検出を
行うことができる。

一方、対物レンズ５の合焦時、受光素子２０のトラッキ
ングエラー検出用受光部２２には、第２図に示したよう
にフォーカシングエラー検出用受光部２１に結ばれたス
ポットよりも大きな半円形のスポットが結ばれる。

そして、トラッキングエラー検出用受光部２２の各受光
領域２２ａ、２２ｂの出力を引算することによってプッ
シュプル法によるトラッキングエラー信号を検出するこ
とができる。

再生信号はトラッキングエラー検出用受光部２２の各受
光領域２２ａ、２２ｂの出力を加算することによって得
られる。

なお、フォーカシングエラー検出用のスポットとトラッ
キングエラー検出用のスポットとの間隔は、平行平面板
３０の屈折率、厚さ、光軸と垂直な面とのなす角度を適
宜に設定することによって選択できる。

また、受光素子２０の受光状態の、調整方向は、フォー
カシングエラー検出用受光部２１は第２図中のｆ、トラ
ッキングエラー検出用受光部２２はｔと互いに垂直であ
るため、一方の調整のために受光素子２０を全体として
動かしたとしても他方の受光状態には影響しない。

羞米 以上、説明してきたようにこの発明は、光ディスクで反
射されたビームが集光レンズを出射した際に、ビーム中
のトラック幅方向に相当する方向の直径を境とする一側
は、受光素子のフォーカシングエラー検出用受光部に向
ってそのまま集束され、他側はビームの光軸と直交する
面に対して傾斜して設けられた平行平面板を透過して受
光素子にフォーカシングエラー検出用受光部とは独立し
て設けられたトラッキングエラー検出用受光部に向って
集束する構成としたため、トラッキングエラー成分によ
るフォーカシングエラー検出への干渉を防ぎつつ、１つ
の受光素子でトラッキングエラー、フォーカシングエラ
ーの両方を検出することができ１部品点数を減らし、光
学系の小型化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る光ピックアップの光学系の一実
施例を示す説明図、第２図は第１図の要部説明図、第３
図は従来の光学系を示す説明図。 第４図〜第６図は第３図に示したフォーカシングエラー
用受光素子の受光状態を示す平面図、第７図は従来の他
の光学系を示す説明図である。 ５・・・対物レンズ ６・・・集光レンズ ２０・・・受光素子 ２１・・・フォーカシングエラー検出用受光部ｚ２・・
・トラッキングエラー検出用受光部３０・・・平行平面
板 第３図 箒４図 第７図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 対物レンズを介して光ディスク上にスポットを結び該光
   ディスクで反射されたビームが、このビームを集束させ
   る集光レンズを出射した際に、ビーム中のトラック幅方
   向に相当する方向の直径を境とする一側は、前記対物レ
   ンズの合焦時における前記集光レンズによるビームの集
   束位置に配置された受光素子のフォーカシングエラー検
   出用受光部に向ってそのまま集束され、 他側はビームの光軸と直交する面に対して傾斜して設け
   られた平行平面板を透過して前記受光素子に前記フォー
   カシングエラー検出用受光部とは独立して設けられたト
   ラッキングエラー検出用受光部に向って集束する構成と
   されたことを特徴とする光ピックアップの光学系。