JPS63122026A - 光ピツクアツプの光学系 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産１しヒΔ月」じＬｌ この発明は、ナイフェツジ法によるフォーカシングエラ
ー検出を行う光ピックアップの光学系の改良に関するも
のである。

良未匹抜帆 この種の光ピックアップの光学系としては、従来から第
５図に示したようなものがある。

図示されるようにこの光学系Ａは、ビームを発するレー
ザー素子１、このビームを平行光束とするコリメートレ
ンズ２．偏光ビームスプリッタ−３，１／４波長板４、
ビームを光ディスクＤに結像させる対物レンズ５、反射
されたビームを集束させる集光レンズ６、フォーカシン
グエラー用光検出器７、ナイフェツジ法によるフォーカ
シングエラー検出を行うため集光レンズ６とフォーカシ
ングエラー用光検出器７との間に配設されてビームの略
半分を遮るナイフェツジ８．そして、このナイフェツジ
８と集光レンズ７との間に設けられてトラッキングエラ
ー用光検出器９に反射ビームの一部を照射するハーフミ
ラ−プリズム１０を有している。

このような構成とされた光学系Ａでは、レーザー素子１
から発して光ディスクＤで反射されたビームは、集光レ
ンズ６でフォーカシングエラー用光検出器７に向かって
集束され、更にハーフミラ−プリズム１０で部分される
。

ハーフミラ−プリズム１０を透過したビームは。

ナイフェツジ８でその略半分が遮られ、遮られない部分
がフォーカシングエラー用光検出器７に結像する一方、
ハーフミラープリズム１０で反射したビームは、そのま
まトラッキングエラー用光検出器９に結像する。各光検
出器７．９は、その結像状態からエラー信号を出力する
。

なお、上記のフォーカシングエラー用光検出器７は第６
図に示したように二つの受光部７ａ、７ｂから成り、対
物レンズ５の合焦時における反射ビームの集束位置に配
置されている。

そのため反射ビームは、光ディスクＤと対物レンズ５と
の距離が近すぎるときは第６図に示したように上側の受
光部７ａを照射し、遠すぎるときには第７図に示したよ
うに下側の受光部７ｂを照射し。

合焦時には第８図に示したように上下の受光部の間に結
像する。すなわち、ビームが光ディスクＤに合焦状態で
結像している際には、何れの受光部の出力も略０となる
。

なお、追記型の光ディスクでは、プッシュプル法による
トラッキングエラー成分が最大となるよう構成されてい
るため、ビームの合焦時にも受光部７ａ、７ｂ上に反射
ビームが照射されていると、この反射ビームに包含され
るトラッキングエラー成分がフォーカシングエラー信号
へ干渉し、正確なフォーカシングエラー検出が行い雛く
なる。そこで、光学系Ａでは上記のような構成として干
渉を防止している。

明が解決しようとする問題点 しかしながら、上述したような従来の光ピックアップの
光学系Ａにおいては、フォーカシングエラー検出用の光
検出器とトラッキングエラー検出用の光検出器とを独立
して別個に設けなければならないために部品点数が多く
、光学系が大型化すると共に、この光学系を利用する光
デイスク装置も大型化するという問題点があった。

また、両方のエラーを一つの光検出器で同時に検出する
方式も従来からあるが、この場合にはトラッキングエラ
ー検出を行うために反射ビームを常に受光部上に結像さ
せておく必要があり、従って上述したように検出された
フォーカシングエラー信号にトラッキングエラー成分が
干渉し、正確なフォーカシングエラー検出を行い難いと
いう問題点があった。

１里立豆煎 この発明は、上述した問題点に鑑みてなされたものであ
り、反射ビーム中のトラッキングエラー成分によるフォ
ーカシングエラー検出への干渉を防ぎつつ、しかも、光
学系の部品点数の少ない光ピックアップの光学系を提供
することを目的とする。

Ｉ３　　へを　　するための この発明は、上記の目的を達成させるため、対物レンズ
の合焦時における反射ビームの集束位置に配置した光検
出器に、プッシュプル法によるトラッキングエラー検出
を行うためのトラッキングエラー検出用受光部をフォー
カシングエラー検出用受光部の両側に設け、ナイフェツ
ジをこのナイフェツジが遮ったビームを更に部分してト
ラッキングエラー検出用受光部の各々に結像させる構成
としたことを特徴とするものである。

±皿 この発明は、上述したような構成としたため、光ディス
クで反射されて光検出器に向かって集束するビームのう
ち、ナイフェツジに遮られない部分をナイフェツジ法に
よるフォーカスエラー検出に利用し、ナイフェツジに遮
られた部分をプッシュプル法によるトラッキングエラー
検出に利用するとかできる。

夫１吋 以下、この発明を図面に基づいて説明する。第１図〜第
３図はこの発明の一実施例を示したものである。

図示されるようにこの光学系Ｂは、従来と同様のレーザ
ー素子１．コリメートレンズ２、偏光ビームスプリッタ
−３，１７４波長板４．対物レンズ５、集光レンズ６を
有しており、対物レンズ５の合焦時における反射ビーム
の集束位置には第２図に示したような光検出器２０が配
置されている。この光検出器２０は、図中上下に並ぶ２
つのフォーカシングエラー検出用受光部２１．２２と、
このフォーカシングエラー検出用受光部２１．２２を挟
んで両側に設けられた二つのトラッキングエラー検出用
受光部２３．２４とを有している。

また、集光レンズ６と光検出器２０との間には、ナイフ
ェツジ法によるフォーカシングエラー検出を行うために
第３図（第１図のＰ方向からの矢視図）に示したように
ビームの略半分を遮ると共に、遮ったビームを更に部分
して二つのトラッキングエラー検出用受光部２３．２４
の各々に結像させるウエッヂプリズム型のナイフェツジ
３０が設けられている。

次に、上記の光学系Ｂの作用を説明する。

レーザー素子１が発する直線偏光のビームは、コリメー
トレンズ２で平行光束とされて偏光ビームスプリッタ−
３を透過し、１７４波長板４で円偏光とされて対物レン
ズ５に入射する。そして、対物レンズ５によって光ディ
スクＤ上に結像すると共にこの光ディスクＤで反射され
て入射時とは逆回転する円偏光となり、１／４波長板４
で入射時とは直交する直線偏光とされる。

直線偏光とされた反射ビームは、偏光ビームスプリッタ
−３で反射されて集光レンズ７を透過し、その略半分は
第１図に破線で示したように光検出器２０の中央に設け
られたフォーカシングエラー検出用受光部２１．２２に
向って集束され、ナイフェツジ３０に遮られた部分は第
１図に実線で示したようにナイフェツジ３０で２分割さ
れてそれぞれトラッキングエラー検那用受光部２３，２
４に向って集束される。

光ディスクＤと対物レンズ５との距離と光検出器２０上
における結像状態との関係は、従来と同様で第６図〜第
８図に示した通りであり、ビームが光ディスクＤに合焦
状態で結像している際には反射ビームはフォーカシング
エラー検出用受光部２１．２２の何れにも入射しない。

従って、この状態ではフォーカシングエラー信号にトラ
ッキングエラー成分が干渉する虞はなく、正確なフォー
カシングエラー検出を行うことができる。

一方、ビームが光ディスクＤに合焦状態で結像している
際、光検出器２０のトラッキングエラー検出用受光部２
３．２４には第２図に示したように扇形の像が結ばれる
。

トラッキングエラー検出用受光部２３．２４に結ばれた
それぞれの像は、光ディスクＤ上のスポットをトラック
幅方向の中央で分割した成分に相当しており、これらの
像の光量を検知したトラッキングエラー検出用受光部２
３．２４の出力を引算することによってプッシュプル法
によるトラッキングエラー信号を検出することができる
。

なお、第４図はナイフェツジの他の例を示したものであ
り、平行平面板を中央で折曲した形状を呈している。

このナイフェツジ４０を使用した場合には透過したビー
ムが前述の例のように交差しないので、各トラッキング
エラー検出用受光部２２．２３からの出力が上述したウ
エッヂプリズム型のナイフェツジ３０を使用した場合と
は反対の特性を示すこととなる。

肱果 以上、説明してきたようにこの発明は、光検出器のフォ
ーカシングエラー検出用受光部の両側に、プッシュプル
法によるトラッキングエラー検出を行うためのトラッキ
ングエラー検出用受光部を設け、ナイフェツジをこのナ
イフェツジが遮ったビームを更に部分してトラッキング
エラー検出用受光部の各々に結像させる構成としたため
、トラッキングエラー成分によるフォーカシングエラー
検出への干渉を防ぎつつ、１つの光検出器でトラッキン
グエラー、フォーカシングエラーの両方を検出すること
ができ、部品点数を減らし、光学系あるいはこの光学系
が設けられる光デイスク装置の小型化を図ることができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る光ピックアップの光学系の一実
施例を示す説明図、第２図は第１図に示した光検出器の
平面図、第３図は第１図のナイフェツジを異なる方向か
ら見た説明図、第４図はナイフェツジの他の例を示す説
明図、第５図は従来の光学系を示す説明図、第６図〜第
８図は第５図に示したフォーカシングエラー用光検出器
の受光状態を示す平面図である。 ５・・・対物レンズ ６・・・集光レンズ ２０・・・光検出器 ２１・・・フォーカシングエラー検出用受光部２２．２
３・・・トラッキングエラー検出用受光部３０．４０・
・・ナイフェツジ 第１図 第２図 第３図 第４図 第６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ビームを光ディスクに結像させる対物レンズと、前記光
   ディスクで反射されたビームを集束させる集光レンズと
   、前記対物レンズの合焦時における反射ビームの集束位
   置に配置された光検出器と、ナイフエッジ法によるフォ
   ーカシングエラー検出を行うため前記集光レンズと前記
   光検出器との間に位置してビームの略半分を遮るナイフ
   エッジとを有する光ピックアップの光学系において、前
   記光検出器には、プッシュプル法によるトラッキングエ
   ラー検出を行うためのトラッキングエラー検出用受光部
   がフォーカシングエラー検出用受光部の両側に設けられ
   、前記ナイフエッジは、遮ったビームを更に二分して前
   記トラッキングエラー検出用受光部の各々に結像させる
   構成とされたことを特徴とする光ピックアップの光学系
   。