JPH0373425A - 焦点検出装置 - Google Patents
焦点検出装置Info
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- JPH0373425A JPH0373425A JP20963389A JP20963389A JPH0373425A JP H0373425 A JPH0373425 A JP H0373425A JP 20963389 A JP20963389 A JP 20963389A JP 20963389 A JP20963389 A JP 20963389A JP H0373425 A JPH0373425 A JP H0373425A
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- prism
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- objective lens
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光ディスク、光磁気ディスク、光カード等
の光記録媒体に対物レンズを経て光ビームを投射して情
報を記録および/または再生する装置において、光記録
媒体からの反射光に基づいて対物レンズの光記録媒体に
対する焦点状態を検出する焦点検出装置に関する。
の光記録媒体に対物レンズを経て光ビームを投射して情
報を記録および/または再生する装置において、光記録
媒体からの反射光に基づいて対物レンズの光記録媒体に
対する焦点状態を検出する焦点検出装置に関する。
従来の焦点検出装置として、例えば特開昭575383
9号公報において第11図に示すようなものが提案され
ている。この焦点検出装置はフーコー法によるもので、
光源1からコリメートレンズ2、ビームスプリッタ3お
よび対物レンズ4を経て光デイスク5に投射された光の
反射光を、対物レンズ4およびビームスプリッタ3を経
てビームスプリッタ6に入射させて2分割し、その一方
の光束をトラッキングエラー検出用の受光素子7に、他
方の光束を集光レンズ8およびフーコープリズム9を経
てフォーカスエラー検出用の2個の受光素子10.1.
1にそれぞれ入射させるようにしたものである。受光素
子7.10および11は、第12図に平面図を示すよう
に、それぞれ2分割した受光領域をもって構成され、受
光素子7の受光領域7a、7bの出力を差動増幅器12
に供給することによりトラッキングエラー信号(TE)
を、受光素子10.11の光軸に対して外側の受光領域
10a、 llaの出力の和と内Illの受光領域10
b、 llbの出力の和とを差動増幅器13に供給する
ことによりフォーカスエラー信号(FE)を得るように
している。
9号公報において第11図に示すようなものが提案され
ている。この焦点検出装置はフーコー法によるもので、
光源1からコリメートレンズ2、ビームスプリッタ3お
よび対物レンズ4を経て光デイスク5に投射された光の
反射光を、対物レンズ4およびビームスプリッタ3を経
てビームスプリッタ6に入射させて2分割し、その一方
の光束をトラッキングエラー検出用の受光素子7に、他
方の光束を集光レンズ8およびフーコープリズム9を経
てフォーカスエラー検出用の2個の受光素子10.1.
1にそれぞれ入射させるようにしたものである。受光素
子7.10および11は、第12図に平面図を示すよう
に、それぞれ2分割した受光領域をもって構成され、受
光素子7の受光領域7a、7bの出力を差動増幅器12
に供給することによりトラッキングエラー信号(TE)
を、受光素子10.11の光軸に対して外側の受光領域
10a、 llaの出力の和と内Illの受光領域10
b、 llbの出力の和とを差動増幅器13に供給する
ことによりフォーカスエラー信号(FE)を得るように
している。
すなわち、この焦点検出装置においては、第13図Aに
示すように、光デイスク5が対物レンズ4の焦点位置に
位置する合焦状態では、フーコープリズム9で2分割さ
れる光束を受光素子10.11のそれぞれの受光領域の
分割線上に結像させて、差動増幅器13からFE=0の
信号を得、第13図Bに示すように、光デイスク5が対
物レンズ4の焦点位置よりも対物レンズ4側に位置して
光デイスク5からの反射光が発散光となる非合焦状態で
は、フーコープリズム9で2分割される光束のスポット
を、受光素子10.11の内側の受光領域10blbに
スポットが広がらせて、差動増幅器13からFE<0の
信号を得、また逆に第13図Cに示すように、光デイス
ク5が対物レンズ4の焦点位置よりも遠ざかって光デイ
スク5からの反射光が収束光となる非合焦状態では、フ
ーコープリズム9で2分割される光束を受光素子10.
11の手前で結像させて、そのスポットを受光素子10
.11の外側の受光領域10a、11.aに広がらせて
、差動増幅器13からFE>0の信号を得るようにして
いる。
示すように、光デイスク5が対物レンズ4の焦点位置に
位置する合焦状態では、フーコープリズム9で2分割さ
れる光束を受光素子10.11のそれぞれの受光領域の
分割線上に結像させて、差動増幅器13からFE=0の
信号を得、第13図Bに示すように、光デイスク5が対
物レンズ4の焦点位置よりも対物レンズ4側に位置して
光デイスク5からの反射光が発散光となる非合焦状態で
は、フーコープリズム9で2分割される光束のスポット
を、受光素子10.11の内側の受光領域10blbに
スポットが広がらせて、差動増幅器13からFE<0の
信号を得、また逆に第13図Cに示すように、光デイス
ク5が対物レンズ4の焦点位置よりも遠ざかって光デイ
スク5からの反射光が収束光となる非合焦状態では、フ
ーコープリズム9で2分割される光束を受光素子10.
11の手前で結像させて、そのスポットを受光素子10
.11の外側の受光領域10a、11.aに広がらせて
、差動増幅器13からFE>0の信号を得るようにして
いる。
また、従来の他の焦点検出装置として、特開昭48−8
4626号公報には、第14図に示すように、焦点状態
を検出すべきレンズおよびフィルム等の媒体を経た光を
、集光レンズ15および臨界角プリズム16を経て受光
素子17で受光し、その出力に基づいて焦点状態を検出
するようにしたものが提案されている。ここで、臨界角
プリズム16は、その斜面16a、 16bが平行光に
対して臨界角に設定されており、稜線i6cは反射面と
なっている。
4626号公報には、第14図に示すように、焦点状態
を検出すべきレンズおよびフィルム等の媒体を経た光を
、集光レンズ15および臨界角プリズム16を経て受光
素子17で受光し、その出力に基づいて焦点状態を検出
するようにしたものが提案されている。ここで、臨界角
プリズム16は、その斜面16a、 16bが平行光に
対して臨界角に設定されており、稜線i6cは反射面と
なっている。
すなわち、第14図に示す焦点検出装置においては、臨
界角プリズム16に平行光が入射する合焦状態では、入
射光を斜面16a、16bおよび稜線16cで反射させ
て、受光素子17には殆ど入射しないようにし、寵界角
プリズム16に発散光が入射する非合焦状態では、入射
光を斜面16a、16bを透過させて受光素子17に入
射させ、また収束光が入射する非合焦状態では、入射光
を斜面16a、16bで反射されたのち、反対側の斜面
16b、 16aを透過させて受光素子17に入射させ
るようにして、受光素子17から第15図に示すように
、合焦状態では小さく9、非合焦状態では大きくなる焦
点状態検出信号を得るようにしている。
界角プリズム16に平行光が入射する合焦状態では、入
射光を斜面16a、16bおよび稜線16cで反射させ
て、受光素子17には殆ど入射しないようにし、寵界角
プリズム16に発散光が入射する非合焦状態では、入射
光を斜面16a、16bを透過させて受光素子17に入
射させ、また収束光が入射する非合焦状態では、入射光
を斜面16a、16bで反射されたのち、反対側の斜面
16b、 16aを透過させて受光素子17に入射させ
るようにして、受光素子17から第15図に示すように
、合焦状態では小さく9、非合焦状態では大きくなる焦
点状態検出信号を得るようにしている。
C発明が解決しようとする課題]
しかしながら、第11図に示す従来の焦点検出装置にあ
っては、光デイスク5からの反射光を結像させる集光レ
ンズ8を用いるようにしているため、装置が大形かつコ
スト高になるという問題があると共に、受光素子10.
11を集光レンズ8の焦点位置に配置する必要があるた
め、その位置調整に高い精度が要求され、位置調整がず
れた場合の感度変化が大きくなるという問題がある。ま
た、合焦検出を結像点で行うようにし7ているため、ト
ラッキングエラー検出光学系としてのビームスプリッタ
6を設ける必要があり、これがため装置がさらに大形か
つコスト高になるという問題がある。
っては、光デイスク5からの反射光を結像させる集光レ
ンズ8を用いるようにしているため、装置が大形かつコ
スト高になるという問題があると共に、受光素子10.
11を集光レンズ8の焦点位置に配置する必要があるた
め、その位置調整に高い精度が要求され、位置調整がず
れた場合の感度変化が大きくなるという問題がある。ま
た、合焦検出を結像点で行うようにし7ているため、ト
ラッキングエラー検出光学系としてのビームスプリッタ
6を設ける必要があり、これがため装置がさらに大形か
つコスト高になるという問題がある。
なお、ビームスプリッタ6を設ける代わりに、第16図
AおよびBに示すように、フーコープリズム9で2分割
された光、束の一方を、集光レンズ8の結像点において
2分割した受光領域を有する受光素子1日で受光し、他
方を結像点から離れた位置において2分割した受光領域
を有する受光素子19で受光して、受光素子18の2個
の受光領域の出力の差からFE信号を、受光素子19の
2個の受光領域の出力の差からTE信号を得るようにす
ることも占えられる。
AおよびBに示すように、フーコープリズム9で2分割
された光、束の一方を、集光レンズ8の結像点において
2分割した受光領域を有する受光素子1日で受光し、他
方を結像点から離れた位置において2分割した受光領域
を有する受光素子19で受光して、受光素子18の2個
の受光領域の出力の差からFE信号を、受光素子19の
2個の受光領域の出力の差からTE信号を得るようにす
ることも占えられる。
しかし、このようにフーコープリズム9で2分割された
光束の一方のみでPH倍信号検出するようにすると、光
デイスク5の傾きや周囲温度の変化等による光源1の発
光点の傾き、あるいは光学部品の光軸のずれによって、
集光レンズ8への入射光が傾いたり、光軸と直交する方
向にシフトすると、受光素子1日上に形成されるスポッ
トが移動して合焦ずれが生じるという問題がある。また
、FE信号を検出する受光素子18と、TE倍信号検出
する受光素子19とを光軸方向にずらして配置する必要
があるため、レイアウト上の自由度が小さくなるという
問題がある。さらに、この場合も集光レンズ8が必要に
なるため、第11図の場合と同様に装置が大形かつコス
ト高になるという問題がある。
光束の一方のみでPH倍信号検出するようにすると、光
デイスク5の傾きや周囲温度の変化等による光源1の発
光点の傾き、あるいは光学部品の光軸のずれによって、
集光レンズ8への入射光が傾いたり、光軸と直交する方
向にシフトすると、受光素子1日上に形成されるスポッ
トが移動して合焦ずれが生じるという問題がある。また
、FE信号を検出する受光素子18と、TE倍信号検出
する受光素子19とを光軸方向にずらして配置する必要
があるため、レイアウト上の自由度が小さくなるという
問題がある。さらに、この場合も集光レンズ8が必要に
なるため、第11図の場合と同様に装置が大形かつコス
ト高になるという問題がある。
また、第14図に示す従来の焦点検出装置にあっては、
受光素子17に入射する全光量の変化で焦点状態を検出
するようにしているため、フィルム等の媒体の傷や面ぶ
れによって受光素子17に入射する光量が変化すると合
焦ずれが生じるという問題がある。また、この焦点検出
装置において得られる焦点状態検出信号は、合焦および
非合焦のみで、非合焦の方向性が検出できないため、そ
の焦点状態検出13号に基づいて焦点調整を行う場合に
、調整が面倒になるという問題がある。さらに、臨界角
プリズム16の稜線16cは有限の大きさを持っため、
合焦付近で不感帯が生じ、合焦状態を高精度で検出でき
ないという問題があると共に、臨界角プリズム16の斜
面16a、 16hの角度調整に高精度が要求されるた
め、コスト高になるという問題がある。
受光素子17に入射する全光量の変化で焦点状態を検出
するようにしているため、フィルム等の媒体の傷や面ぶ
れによって受光素子17に入射する光量が変化すると合
焦ずれが生じるという問題がある。また、この焦点検出
装置において得られる焦点状態検出信号は、合焦および
非合焦のみで、非合焦の方向性が検出できないため、そ
の焦点状態検出13号に基づいて焦点調整を行う場合に
、調整が面倒になるという問題がある。さらに、臨界角
プリズム16の稜線16cは有限の大きさを持っため、
合焦付近で不感帯が生じ、合焦状態を高精度で検出でき
ないという問題があると共に、臨界角プリズム16の斜
面16a、 16hの角度調整に高精度が要求されるた
め、コスト高になるという問題がある。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、簡単かつ小形、安価な構成で焦点状態を常に
高精度で検出できると共に、トラッキングエラー信号の
検出にも、簡単かつ小形、安価な構成で容易に対処でき
るよう適切に構成した焦点検出装置を提供することを目
的とする。
たもので、簡単かつ小形、安価な構成で焦点状態を常に
高精度で検出できると共に、トラッキングエラー信号の
検出にも、簡単かつ小形、安価な構成で容易に対処でき
るよう適切に構成した焦点検出装置を提供することを目
的とする。
〔課題を解決するための手段および作用〕上記目的を達
成するため、この発明では、光源と、この光源からの光
を平行光束にするコリメートレンズと、このコリメート
レンズを透過した光束を光記録媒体に収束する対物レン
ズと、前記コリメートレンズおよび対物レンズ間の光路
中に配置され、前記光記録媒体で反射されて前記対物レ
ンズを透過した反射光を分離するビームスプリッタと、
このビームスプリッタで分離された前記反射光の光路中
に配置され、該反射光を2分割するように平行光に対し
てその入射角が臨界角よりも若干小さくなるように設定
した2つの透過斜面を有するプリズムと、このプリズム
で2分割された光束を受光する受光手段とを具え、この
受光手段の出力に基づいて前記対物レンズの前記光記録
媒体に対する焦点状態を検出するよう構成する。
成するため、この発明では、光源と、この光源からの光
を平行光束にするコリメートレンズと、このコリメート
レンズを透過した光束を光記録媒体に収束する対物レン
ズと、前記コリメートレンズおよび対物レンズ間の光路
中に配置され、前記光記録媒体で反射されて前記対物レ
ンズを透過した反射光を分離するビームスプリッタと、
このビームスプリッタで分離された前記反射光の光路中
に配置され、該反射光を2分割するように平行光に対し
てその入射角が臨界角よりも若干小さくなるように設定
した2つの透過斜面を有するプリズムと、このプリズム
で2分割された光束を受光する受光手段とを具え、この
受光手段の出力に基づいて前記対物レンズの前記光記録
媒体に対する焦点状態を検出するよう構成する。
第1図はこの発明の第1実施例を示すものである。半導
体レーザ等の光源21からの光は、コリメートレンズ2
2、ビームスプリッタ23および対物レンズ24を経て
光デイスク25に投射し、その反射光を対物レンズ24
およびビームスプリッタ23を経てフーコープリズム2
6に入射させて2分割し、その2分割された光束を受光
素子27および28でそれぞれ受光するようにする。
体レーザ等の光源21からの光は、コリメートレンズ2
2、ビームスプリッタ23および対物レンズ24を経て
光デイスク25に投射し、その反射光を対物レンズ24
およびビームスプリッタ23を経てフーコープリズム2
6に入射させて2分割し、その2分割された光束を受光
素子27および28でそれぞれ受光するようにする。
フーコープリズム26は、その出射端面(斜面)26a
、26bを平行光束の入射角が臨界角よりも若干小さく
なるように構威して、その入射端面26eに平行光束が
垂直に入射し、かつ稜線26dが入射光束のほぼ中央に
(e[tするように配置する。このようにして、フーコ
ープリズム26により、入射光束を2分割すると共に、
その各光束を紙面平行方向にビーム整形するようにする
。
、26bを平行光束の入射角が臨界角よりも若干小さく
なるように構威して、その入射端面26eに平行光束が
垂直に入射し、かつ稜線26dが入射光束のほぼ中央に
(e[tするように配置する。このようにして、フーコ
ープリズム26により、入射光束を2分割すると共に、
その各光束を紙面平行方向にビーム整形するようにする
。
また、受光素子27および28は、第2図に平面図を示
すように、フーコープリズム26の稜線26dの方向お
よびそれと直交する方向にそれぞれ4分割した受光領域
27a〜27dおよび28a〜28dをもって構威し、
光軸に関して外側の受光領域27a、27dおよび28
a、 28dの出力の和と、内側の受光領域27b、
27cおよび28b、28cの出力の和とを差動増幅器
29に供給してフォーカスエラー(FE)信号を得るよ
うにし、右側の受光領域27a、 27bおよび28a
、 28bの出力の和と、左側の受光領域27c、 2
’ldおよび28c、28dの出力の和とを差動増幅器
30に供給してプッシュプル信号を検出することにより
トラッキングエラー(TE)信号を得るようにする。な
お、これら受光素子27および28は、光デイスク25
が対物レンズ24の焦点位置にある状態で、差動増幅器
29から得られるFE信号が零となるように配置する。
すように、フーコープリズム26の稜線26dの方向お
よびそれと直交する方向にそれぞれ4分割した受光領域
27a〜27dおよび28a〜28dをもって構威し、
光軸に関して外側の受光領域27a、27dおよび28
a、 28dの出力の和と、内側の受光領域27b、
27cおよび28b、28cの出力の和とを差動増幅器
29に供給してフォーカスエラー(FE)信号を得るよ
うにし、右側の受光領域27a、 27bおよび28a
、 28bの出力の和と、左側の受光領域27c、 2
’ldおよび28c、28dの出力の和とを差動増幅器
30に供給してプッシュプル信号を検出することにより
トラッキングエラー(TE)信号を得るようにする。な
お、これら受光素子27および28は、光デイスク25
が対物レンズ24の焦点位置にある状態で、差動増幅器
29から得られるFE信号が零となるように配置する。
以下、この実施例の動作を説明する。
光デイスク25が対物レンズ24の焦点位置にある合焦
状態では、ビームスプリッタ23を経てフーコープリズ
ム26に入射する光デイスク25からの反射光は、第3
図に実線で示すように平行光となる。
状態では、ビームスプリッタ23を経てフーコープリズ
ム26に入射する光デイスク25からの反射光は、第3
図に実線で示すように平行光となる。
ここで、フーコープリズム26の斜面26a、26bは
、平行光に対してその入射角θが臨界角よりも若干小さ
く設定されているので、フーコープリズム26に入射し
た光は、該フーコープリズム26で2分割され、かつ紙
面と平行な方向はビーム整形されて射出され、受光素子
27および28上に第2図に示すように入射する。した
がって、この合焦状態では差動増幅器29からFE=O
の信号が得られる。
、平行光に対してその入射角θが臨界角よりも若干小さ
く設定されているので、フーコープリズム26に入射し
た光は、該フーコープリズム26で2分割され、かつ紙
面と平行な方向はビーム整形されて射出され、受光素子
27および28上に第2図に示すように入射する。した
がって、この合焦状態では差動増幅器29からFE=O
の信号が得られる。
これに対し、光デイスク25が対物レンズ24の焦点位
置よりも遠ざかった状態では、ビームスプリッタ23を
経てフーコープリズム26に入射する光デイスク25か
らの反射光は、第3図に破線で示すように収束光となる
。この場合、光軸近傍の光線は光デイスク25と対物レ
ンズ24との間の距離に殆ど影響を受けないため、合焦
状態のときどほぼ同様の角度で出射するが、光軸から離
れた光線は合焦状態におけるよりも大きな出射角度で射
出することになる。したがって、受光素子27および2
8上に形成されるスポットは、第4図Aに示すように外
側にシフトしたものとなり、差動増幅器29からは阿〉
Oの信号が得られる。
置よりも遠ざかった状態では、ビームスプリッタ23を
経てフーコープリズム26に入射する光デイスク25か
らの反射光は、第3図に破線で示すように収束光となる
。この場合、光軸近傍の光線は光デイスク25と対物レ
ンズ24との間の距離に殆ど影響を受けないため、合焦
状態のときどほぼ同様の角度で出射するが、光軸から離
れた光線は合焦状態におけるよりも大きな出射角度で射
出することになる。したがって、受光素子27および2
8上に形成されるスポットは、第4図Aに示すように外
側にシフトしたものとなり、差動増幅器29からは阿〉
Oの信号が得られる。
逆に、光デイスク25が対物レンズ24の焦点位置より
も対物レンズ24側に近づいた状態では、ビームスプリ
ンタ23を経てフーコープリズム2Gに入射する光デイ
スク25からの反射光は、第3図に一点鎖線で示すよう
に発散光となる。この場合、光軸から離れた光線は合焦
状態におけるよりも小さな出射角度で射出することにな
るため、受光素TF−27および28上に形成されるス
ポットは、第4図Bに示すように内側にシフトしたもの
となり、差動増幅器29からはFE<0の信号が得られ
る。
も対物レンズ24側に近づいた状態では、ビームスプリ
ンタ23を経てフーコープリズム2Gに入射する光デイ
スク25からの反射光は、第3図に一点鎖線で示すよう
に発散光となる。この場合、光軸から離れた光線は合焦
状態におけるよりも小さな出射角度で射出することにな
るため、受光素TF−27および28上に形成されるス
ポットは、第4図Bに示すように内側にシフトしたもの
となり、差動増幅器29からはFE<0の信号が得られ
る。
このように、この実施例によれば、集光レンズを用いる
ことなく、4分割受光素子27および28によりFE倍
信号TE信号とを同時に得ることができるので、装置を
小形かつ安価にできると共に、受光素子27および28
は対物レンズ24のファーフィールドに配置すればよい
ので、その位置調整を容易にできる。また、フーコープ
リズム26の斜面26a、 26bを、平行光の入射光
線に対してその入射角が臨界角よりも若干小さくなるよ
うに構成したので、ツー二J−プリズム26への入射光
線の角度変化に対する射出光線の角度変化が第5図に示
すように大きくなり、したがって焦点状態を高感度で検
出することができる。なお、第5図はフーコープリズム
26の硝材が8に7で、使用光の波長が83Or+mの
ときの射出角特性を示すものである。さらに、フーコー
プリズム26と受光素子27.28との間の距離を変化
させることにより、焦点状態の検出感度を容易に変更す
ることができる。
ことなく、4分割受光素子27および28によりFE倍
信号TE信号とを同時に得ることができるので、装置を
小形かつ安価にできると共に、受光素子27および28
は対物レンズ24のファーフィールドに配置すればよい
ので、その位置調整を容易にできる。また、フーコープ
リズム26の斜面26a、 26bを、平行光の入射光
線に対してその入射角が臨界角よりも若干小さくなるよ
うに構成したので、ツー二J−プリズム26への入射光
線の角度変化に対する射出光線の角度変化が第5図に示
すように大きくなり、したがって焦点状態を高感度で検
出することができる。なお、第5図はフーコープリズム
26の硝材が8に7で、使用光の波長が83Or+mの
ときの射出角特性を示すものである。さらに、フーコー
プリズム26と受光素子27.28との間の距離を変化
させることにより、焦点状態の検出感度を容易に変更す
ることができる。
第6図AおよびBはこの発明の第2実施例の要部の構成
を示すものである。この実施例は、第1実施例において
フーコープリズム26の稜線方向における受光素子27
、28の分割線の幅を大きくして、受光素子27.2
8上にそれぞれ形成されるスポットの周辺光量からFE
倍信号検出するようにしたものである。このように、周
辺光量からFE倍信号検出するようにすれば、FE倍信
号直線性を向上することができ、焦点状態をより高感度
で検出することができるという利点がある。
を示すものである。この実施例は、第1実施例において
フーコープリズム26の稜線方向における受光素子27
、28の分割線の幅を大きくして、受光素子27.2
8上にそれぞれ形成されるスポットの周辺光量からFE
倍信号検出するようにしたものである。このように、周
辺光量からFE倍信号検出するようにすれば、FE倍信
号直線性を向上することができ、焦点状態をより高感度
で検出することができるという利点がある。
第7図はこの発明の第3実施例の要部の構成を示すもの
である。この実施例は、第I実施例における受光素子2
7.28を、6分割した受光領域を有する1つの受光素
子31をもって構成して、受光素子27.28の内側の
4個の受光領域を2個の受光領域で兼用するようにした
ものである。このようにすれば、受光素子数を少なくで
きるので、より安価にできるという利点がある。
である。この実施例は、第I実施例における受光素子2
7.28を、6分割した受光領域を有する1つの受光素
子31をもって構成して、受光素子27.28の内側の
4個の受光領域を2個の受光領域で兼用するようにした
ものである。このようにすれば、受光素子数を少なくで
きるので、より安価にできるという利点がある。
第8図はこの発明の第4実施例の要部の構成を示すもの
である。この実施例は、受光素子27.28をそれぞれ
6分割した受光領域をもって構成し、FE倍信号ついて
は第2実施例と同様に受光素子27゜28上に形成され
るスポットの周辺光量を検出し、TE信号についてはス
ポットの全光量を検出するようにしたものである。この
ようにすれば、TE信号についてはプッシュプル信号の
変調度の大きい領域を使用することになるので、その検
出感度を向上できるという利点がある。
である。この実施例は、受光素子27.28をそれぞれ
6分割した受光領域をもって構成し、FE倍信号ついて
は第2実施例と同様に受光素子27゜28上に形成され
るスポットの周辺光量を検出し、TE信号についてはス
ポットの全光量を検出するようにしたものである。この
ようにすれば、TE信号についてはプッシュプル信号の
変調度の大きい領域を使用することになるので、その検
出感度を向上できるという利点がある。
第9図はこの発明の第5実施例の要部の構成を示すもの
である。この実施例は、第1実施例においてフーコープ
リズム26の形状を台形としたものである。このように
すれば、フーコープリズム26に入射した光束の内、そ
の周辺光のみが受光素子27.28に入射することにな
り、しかも周辺光は上述したように収束および発散状態
の変化に対するフーコープリズム26の斜面26a、
26bでの出射角変化が大きいので、FB倍信号より高
感度で検出できるとい・う利点がある。
である。この実施例は、第1実施例においてフーコープ
リズム26の形状を台形としたものである。このように
すれば、フーコープリズム26に入射した光束の内、そ
の周辺光のみが受光素子27.28に入射することにな
り、しかも周辺光は上述したように収束および発散状態
の変化に対するフーコープリズム26の斜面26a、
26bでの出射角変化が大きいので、FB倍信号より高
感度で検出できるとい・う利点がある。
第1O図AおよびBはこの発明の第6実施例の要部の構
成を示すものである。この実施例は、第5実施例におい
て受光素子27 、28をそれぞれ2分割した受光領域
をもって構成すると共に、フーコープリズム26の上底
を透過する中心部光束を2分割受光領域を有する受光素
子32で受光して、受光素子27.28の出力に基づい
てFE倍信号、受光素子32の出力に基づいてTE信号
をそれぞれ得るようにしたものである。このようにすれ
ば、FE倍信号よびTE信号の検出を共に感度が高い部
分で行うことになるので、より高感度の検出が可能とな
る。
成を示すものである。この実施例は、第5実施例におい
て受光素子27 、28をそれぞれ2分割した受光領域
をもって構成すると共に、フーコープリズム26の上底
を透過する中心部光束を2分割受光領域を有する受光素
子32で受光して、受光素子27.28の出力に基づい
てFE倍信号、受光素子32の出力に基づいてTE信号
をそれぞれ得るようにしたものである。このようにすれ
ば、FE倍信号よびTE信号の検出を共に感度が高い部
分で行うことになるので、より高感度の検出が可能とな
る。
なお、この発明は上記の実施例に限らず、第1〜6実施
例を種々組み合わせて焦点検出装置を構成することも可
能である。また、この発明は光ディスクに限らず、光磁
気ディスク、光カード等の他の光記録媒体に対して情報
の記録および7/または再生を行う装置に有効に適用す
ることができる。
例を種々組み合わせて焦点検出装置を構成することも可
能である。また、この発明は光ディスクに限らず、光磁
気ディスク、光カード等の他の光記録媒体に対して情報
の記録および7/または再生を行う装置に有効に適用す
ることができる。
(発明の効果)
以上のように、この発明によれば、集光レンズを用いる
ことなく、受光素子を対物レンズのファーフィールドに
配置して焦点状態を検出することができると共に、トラ
ッキングエラー信号も同時に検出することができるので
、装置を小形かつ安価にできると共に、受光素子の位置
調整も容易にできる。また、フーコープリズムの斜面を
、平行光の入射光線に対してその入射角が臨界角よりも
若干小さくなるように構成したので、フーコープリズム
への入射光線の角度変化に対する射出光線の角度変化を
大きくでき、したがって焦点状態を高感度で検出するこ
とができる。さらに、フーコープリズムと受光素子との
間の距離を変化させることにより、焦点状態の検出感度
を容易に変更することができる等の種々の効果を得るこ
とができる。
ことなく、受光素子を対物レンズのファーフィールドに
配置して焦点状態を検出することができると共に、トラ
ッキングエラー信号も同時に検出することができるので
、装置を小形かつ安価にできると共に、受光素子の位置
調整も容易にできる。また、フーコープリズムの斜面を
、平行光の入射光線に対してその入射角が臨界角よりも
若干小さくなるように構成したので、フーコープリズム
への入射光線の角度変化に対する射出光線の角度変化を
大きくでき、したがって焦点状態を高感度で検出するこ
とができる。さらに、フーコープリズムと受光素子との
間の距離を変化させることにより、焦点状態の検出感度
を容易に変更することができる等の種々の効果を得るこ
とができる。
第1図はこの発明の第1実施例を示す図、第2図は第1
図に示す受光素子の構成を示す図、第3図、第4図A、
Bおよび第5図は第1実施例の動作を説明するための
図、 第6図AおよびBはこの発明の第2実施例の要部の構成
を示す図、 第7図は同しく第3実施例の要部の構成を示す図、 第8図は同じく第4実施例の要部の構成を示す図、 第9図は同じく第5実施例の要部の構成を示す図、 第10図AおよびBは同じく第6実施例の要部の構成を
示す図、 第11図、第12図、第13図A−C1第14図、第1
5図および第16図A、Bは従来の技術を説明するため
の図である。 2】−光源 22−・コリメートレンズ
23− ビームスプリッタ 24一対物レンズ25〜・
・光ディスク 26 ・フーコープリズム2
7.28−・・受光素子 29.30−差動増幅器
第1図 第5図 第6図 第3図 第4図 第7図 第8図 A 第13@ 第14図 7 第11図 第12図 015 第16図 第15図
図に示す受光素子の構成を示す図、第3図、第4図A、
Bおよび第5図は第1実施例の動作を説明するための
図、 第6図AおよびBはこの発明の第2実施例の要部の構成
を示す図、 第7図は同しく第3実施例の要部の構成を示す図、 第8図は同じく第4実施例の要部の構成を示す図、 第9図は同じく第5実施例の要部の構成を示す図、 第10図AおよびBは同じく第6実施例の要部の構成を
示す図、 第11図、第12図、第13図A−C1第14図、第1
5図および第16図A、Bは従来の技術を説明するため
の図である。 2】−光源 22−・コリメートレンズ
23− ビームスプリッタ 24一対物レンズ25〜・
・光ディスク 26 ・フーコープリズム2
7.28−・・受光素子 29.30−差動増幅器
第1図 第5図 第6図 第3図 第4図 第7図 第8図 A 第13@ 第14図 7 第11図 第12図 015 第16図 第15図
Claims (1)
- 1、光源と、この光源からの光を平行光束にするコリメ
ートレンズと、このコリメートレンズを透過した光束を
光記録媒体に収束する対物レンズと、前記コリメートレ
ンズおよび対物レンズ間の光路中に配置され、前記光記
録媒体で反射されて前記対物レンズを透過した反射光を
分離するビームスプリッタと、このビームスプリッタで
分離された前記反射光の光路中に配置され、該反射光を
2分割するように平行光に対してその入射角が臨界角よ
りも若干小さくなるように設定した2つの透過斜面を有
するプリズムと、このプリズムで2分割された光束を受
光する受光手段とを具え、この受光手段の出力に基づい
て前記対物レンズの前記光記録媒体に対する焦点状態を
検出するよう構成したことを特徴とする焦点検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20963389A JPH0373425A (ja) | 1989-08-15 | 1989-08-15 | 焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20963389A JPH0373425A (ja) | 1989-08-15 | 1989-08-15 | 焦点検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0373425A true JPH0373425A (ja) | 1991-03-28 |
Family
ID=16576025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20963389A Pending JPH0373425A (ja) | 1989-08-15 | 1989-08-15 | 焦点検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0373425A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0773479A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-03-17 | Fujitsu Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
US5559767A (en) * | 1993-12-27 | 1996-09-24 | Nec Corporation | Apparatus for detecting a focus error and a tracking error of an optical head |
US5742572A (en) * | 1993-06-21 | 1998-04-21 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus which detects focal error |
US5793725A (en) * | 1993-06-21 | 1998-08-11 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus having a composite prism with a plurality of emission surfaces |
US6185166B1 (en) | 1993-06-21 | 2001-02-06 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus |
US7916452B2 (en) | 2004-11-25 | 2011-03-29 | Panasonic Corporation | Method of producing a coin-type electrochemical element |
-
1989
- 1989-08-15 JP JP20963389A patent/JPH0373425A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0773479A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-03-17 | Fujitsu Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
US5742572A (en) * | 1993-06-21 | 1998-04-21 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus which detects focal error |
US5793725A (en) * | 1993-06-21 | 1998-08-11 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus having a composite prism with a plurality of emission surfaces |
US6185166B1 (en) | 1993-06-21 | 2001-02-06 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus |
US6339564B2 (en) | 1993-06-21 | 2002-01-15 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus |
US5559767A (en) * | 1993-12-27 | 1996-09-24 | Nec Corporation | Apparatus for detecting a focus error and a tracking error of an optical head |
US7916452B2 (en) | 2004-11-25 | 2011-03-29 | Panasonic Corporation | Method of producing a coin-type electrochemical element |
US8248758B2 (en) | 2004-11-25 | 2012-08-21 | Panasonic Corporation | Coin-type electrochemical element |
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