JPH0630162B2 - スポツト位置エラ−検出系 - Google Patents
スポツト位置エラ−検出系Info
- Publication number
- JPH0630162B2 JPH0630162B2 JP61141721A JP14172186A JPH0630162B2 JP H0630162 B2 JPH0630162 B2 JP H0630162B2 JP 61141721 A JP61141721 A JP 61141721A JP 14172186 A JP14172186 A JP 14172186A JP H0630162 B2 JPH0630162 B2 JP H0630162B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- error detection
- recording medium
- detection system
- reflected light
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はスポット位置エラー検出系に関し、特に光によ
り記録や再生等を行なうための光ピックアップ装置に用
いるスポット位置エラー検出系に関する。
り記録や再生等を行なうための光ピックアップ装置に用
いるスポット位置エラー検出系に関する。
第３図は従来のかかるスポット位置エラー検出系の第一
の例を含む光ピックアップ装置の基本的な光学系を示し
ている。
の例を含む光ピックアップ装置の基本的な光学系を示し
ている。
レーザ光源１１からの出射光をコリメートレンズ１２、
偏光ビームスプリッタ１３、１／４波長板１４、集光レ
ンズ１５を介して記録媒体１６上に集光させる。記録媒
体１６からの反射光は１／４波長板１４と偏光ビームス
プリッタ１３とで構成されるサーキュレータによって分
離される。反射光の一部はハーフミラー１７を透過して
２分割光検出器であるトラックエラー検出器１８に、残
りは収束レンズ２とナイフエッジ１９とを介して２分割
光検出器であるフォーカスエラー検出器２０に入射す
る。
偏光ビームスプリッタ１３、１／４波長板１４、集光レ
ンズ１５を介して記録媒体１６上に集光させる。記録媒
体１６からの反射光は１／４波長板１４と偏光ビームス
プリッタ１３とで構成されるサーキュレータによって分
離される。反射光の一部はハーフミラー１７を透過して
２分割光検出器であるトラックエラー検出器１８に、残
りは収束レンズ２とナイフエッジ１９とを介して２分割
光検出器であるフォーカスエラー検出器２０に入射す
る。
この光ピックアップ装置のスポット位置エラー検出系
は、ハーフミラー１７、トラックエラー検出器１８、収
束レンズ２、ナイフエッジ１９、フォーカスエラー検出
器２０から成っている。トラックエラーはファーフィー
ルドの片寄りを検出するプッシュプル法で、フォーカス
エラーはナイフエッジ法で検出されることになる。
は、ハーフミラー１７、トラックエラー検出器１８、収
束レンズ２、ナイフエッジ１９、フォーカスエラー検出
器２０から成っている。トラックエラーはファーフィー
ルドの片寄りを検出するプッシュプル法で、フォーカス
エラーはナイフエッジ法で検出されることになる。
ところで、第３図に示す従来例はこのようにトラックエ
ラーとフォーカスエラーを別々の光検出器より得るた
め、構成を小型化することが難しい。そこで、本発明者
は以前に４分割プリズムと６分割光検出器とを用いた新
しいスポット位置エラー検出系（第二の従来例）を提案
した（特願６２−１４５５３６号公報）。第４図にその
基本構成を示す。領域Ａ〜Ｄに分割された四つの領域を
有する４分割プリズム１により光ビームは４領域に分割
される。このうち、領域Ｂおよび領域Ｄの透過光はわず
かに光路を左右に変えて二つの２分割光検出部の分割線
上にそれぞれ集光される。このビームにより、ナイフエ
ッジ法の原理に基づいてフォーカスエラー検出を行な
う。領域Ａおよび領域Ｃの透過光は光路を左右に大きく
変えて独立な光検出部にそれぞれ集光されプッシュプル
法によるトラックエラー検出を行なう。第４図に示す従
来例はこのように簡易な構成でスポット位置エラー検出
ができる。
ラーとフォーカスエラーを別々の光検出器より得るた
め、構成を小型化することが難しい。そこで、本発明者
は以前に４分割プリズムと６分割光検出器とを用いた新
しいスポット位置エラー検出系（第二の従来例）を提案
した（特願６２−１４５５３６号公報）。第４図にその
基本構成を示す。領域Ａ〜Ｄに分割された四つの領域を
有する４分割プリズム１により光ビームは４領域に分割
される。このうち、領域Ｂおよび領域Ｄの透過光はわず
かに光路を左右に変えて二つの２分割光検出部の分割線
上にそれぞれ集光される。このビームにより、ナイフエ
ッジ法の原理に基づいてフォーカスエラー検出を行な
う。領域Ａおよび領域Ｃの透過光は光路を左右に大きく
変えて独立な光検出部にそれぞれ集光されプッシュプル
法によるトラックエラー検出を行なう。第４図に示す従
来例はこのように簡易な構成でスポット位置エラー検出
ができる。
第４図に示す従来例では、第５図に示すように、反射光
ビーム１０のうち４分割プリズム１の領域ＡおよびＣに
入射する光量の差によりトラックエラー信号を検出す
る。これは記録媒体のグルーブの一次回折光パターンが
重なる領域の光量が、光ピックアック装置の集光スポッ
トとグルーブとの位置関係で変化することを利用してい
る。ところで、トラッキングのため光ピックアップ装置
の集光レンズを移動すると、反射光ビームのパターンが
破線１１で示すように移動する。移動量が大きくなる
と、領域ＡとＣとで透過光量が大きく異なり、最終的に
はトラックエラー検出信号のオフセットとなってしま
う。
ビーム１０のうち４分割プリズム１の領域ＡおよびＣに
入射する光量の差によりトラックエラー信号を検出す
る。これは記録媒体のグルーブの一次回折光パターンが
重なる領域の光量が、光ピックアック装置の集光スポッ
トとグルーブとの位置関係で変化することを利用してい
る。ところで、トラッキングのため光ピックアップ装置
の集光レンズを移動すると、反射光ビームのパターンが
破線１１で示すように移動する。移動量が大きくなる
と、領域ＡとＣとで透過光量が大きく異なり、最終的に
はトラックエラー検出信号のオフセットとなってしま
う。
本発明の目的は上記のようなオフセットの発生量が少な
いスポット位置エラー検出系を提供することにある。
いスポット位置エラー検出系を提供することにある。
本発明のスポット位置エラー検出系は、記録媒体上に集
光した光源からの出射光の前記記録媒体からの反射光か
ら集光位置の誤差を検出するスポット位置エラー検出系
であって、前記反射光の中心軸と光軸を一致させて配置
した収束レンズと、この収束レンズの前または後に配置
され前記反射光の円形ビームの直径のうち前記記録媒体
上の前記集光位置における前記記録媒体の進行方向に平
行な直径に対して対称となる２本の直径を境界線として
前記円形ビームを前記進行方向に平行な直径を含む第１
及び第２の成分ならびに残りの第３及び第４の成分の四
つの成分に分割し前記収束レンズと共に前記四つの成分
を前記反射光の中心軸の近傍かつ互いに異る位置に集光
する光路分割器と、それぞれの分割線が前記進行方向に
平行な前記直径の方向と直交し前記第１及び第２の成分
の集光位置を通るように配置した二つの２分割光検出部
ならびに前記第３及び第４の成分の集光位置にそれぞれ
配置した二つの独立な光検出部を有する６分割型の光検
出器と、前記第３及び第４の成分のうち前記円形ビーム
の周辺部の光が前記光検出器に到達するのを阻止する遮
光手段とを備えて構成される。
光した光源からの出射光の前記記録媒体からの反射光か
ら集光位置の誤差を検出するスポット位置エラー検出系
であって、前記反射光の中心軸と光軸を一致させて配置
した収束レンズと、この収束レンズの前または後に配置
され前記反射光の円形ビームの直径のうち前記記録媒体
上の前記集光位置における前記記録媒体の進行方向に平
行な直径に対して対称となる２本の直径を境界線として
前記円形ビームを前記進行方向に平行な直径を含む第１
及び第２の成分ならびに残りの第３及び第４の成分の四
つの成分に分割し前記収束レンズと共に前記四つの成分
を前記反射光の中心軸の近傍かつ互いに異る位置に集光
する光路分割器と、それぞれの分割線が前記進行方向に
平行な前記直径の方向と直交し前記第１及び第２の成分
の集光位置を通るように配置した二つの２分割光検出部
ならびに前記第３及び第４の成分の集光位置にそれぞれ
配置した二つの独立な光検出部を有する６分割型の光検
出器と、前記第３及び第４の成分のうち前記円形ビーム
の周辺部の光が前記光検出器に到達するのを阻止する遮
光手段とを備えて構成される。
本発明においては、反射光ビームの内第４図の領域Ａお
よびＣに反射した光全体を６分割光検出器３に導かず
に、反射光ビームの周辺部の光は遮光するかまたは６分
割光検出器３外の位置に収束するように設定する。第２
図は本発明における、光ディスク面（記録媒体面）から
の反射光ビーム１０と４分割プリズム１との配置を示し
ている。領域ＥおよびＦは遮光面である。
よびＣに反射した光全体を６分割光検出器３に導かず
に、反射光ビームの周辺部の光は遮光するかまたは６分
割光検出器３外の位置に収束するように設定する。第２
図は本発明における、光ディスク面（記録媒体面）から
の反射光ビーム１０と４分割プリズム１との配置を示し
ている。領域ＥおよびＦは遮光面である。
光ピックアップ装置の集光レンズ等の移動により、反射
光ビームのパターンが破線１１のように移動しても、領
域ＡおよびＣを透過する反射光ビームの面積は変らな
い。反射光ビーム内での強度分布は均一でないので透過
光量は多少変化するが、領域ＡおよびＣの透過光量の差
から得られるトラックエラー信号のオフセットは、第４
図に示す従来例におけるそれに比べて充分に小さくする
ことが可能である。領域ＡとＥとの境界線および領域Ｃ
とＦとの境界線は適当な直線でもよい。
光ビームのパターンが破線１１のように移動しても、領
域ＡおよびＣを透過する反射光ビームの面積は変らな
い。反射光ビーム内での強度分布は均一でないので透過
光量は多少変化するが、領域ＡおよびＣの透過光量の差
から得られるトラックエラー信号のオフセットは、第４
図に示す従来例におけるそれに比べて充分に小さくする
ことが可能である。領域ＡとＥとの境界線および領域Ｃ
とＦとの境界線は適当な直線でもよい。
第１図に本発明の一実施例を示す。
本実施例の構成は、４分割プリズム１に領域Ｅ，Ｆを設
けた点を除き、第４図に示す従来例の構成と同じであ
り、エラー検出の原理も、領域Ｅ，Ｆの作用を除き、第
４図に示す従来例のエラー検出原理と同じである。
けた点を除き、第４図に示す従来例の構成と同じであ
り、エラー検出の原理も、領域Ｅ，Ｆの作用を除き、第
４図に示す従来例のエラー検出原理と同じである。
記録媒体からの反射光に光軸を一致させて、４分割プリ
ズム１、収束レンズ２、６分割光検出器３を順次配置す
る。２本の矢印で図示した記録媒体からの反射光の円形
ビームは４分割プリズム１の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより
４分割される。領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの境界をなす２本の
直線は、それぞれ円形ビームの直径をなし、記録媒体上
のスポット位置における記録媒体の進行方向（第１図に
おいて上下方向）に平行な円形ビームの直径に対して対
称にする。記録媒体の進行方向に平行な円形ビームの直
径を含む領域を領域Ｂ，Ｄとし、残りの領域を領域Ａ，
Ｃとする。円形ビームのうち領域Ｂ，Ｄを通る成分は、
収束レンズ２を経て、６分割光検出器３の二つの２分割
光検出部の分割線上に集光する。２分割光検出部の分割
線は、記録媒体の進行方向に平行な円形ビームの直径の
方向に対して直交させる。円形ビームのうち領域Ａ，Ｃ
を通る成分は、収束レンズ２を経て、６分割光検出器３
の二つの独立な光検出部上に集光する。この際、円形ビ
ームの周辺部の光は、領域Ｅ，Ｆに阻止されて、光検出
部には到達しない。６分割光検出器３としては、コンパ
クトディスク用などに用いられている６分割光検出器を
そのまま流用することができる。例えば、光軸中心から
２分割検出部の中心までが１３０μｍ、さらに外側の光
検出部中心までが６００μｍとし、収束レンズ２の焦点
距離を２０mmとする。４分割プリズム１として出射面角
度が水平方向に異なる４つの面を有するものを用いる
と、材料がＢＫ−７であれば、領域ＡおよびＣは±３．
４゜、領域ＢおよびＤは±０．７゜それぞれ逆方向に傾
きを設ければよい。領域ＥおよびＦは遮光板を設けた
り、散乱面を形成することで所望の特性が得られる。
ズム１、収束レンズ２、６分割光検出器３を順次配置す
る。２本の矢印で図示した記録媒体からの反射光の円形
ビームは４分割プリズム１の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより
４分割される。領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの境界をなす２本の
直線は、それぞれ円形ビームの直径をなし、記録媒体上
のスポット位置における記録媒体の進行方向（第１図に
おいて上下方向）に平行な円形ビームの直径に対して対
称にする。記録媒体の進行方向に平行な円形ビームの直
径を含む領域を領域Ｂ，Ｄとし、残りの領域を領域Ａ，
Ｃとする。円形ビームのうち領域Ｂ，Ｄを通る成分は、
収束レンズ２を経て、６分割光検出器３の二つの２分割
光検出部の分割線上に集光する。２分割光検出部の分割
線は、記録媒体の進行方向に平行な円形ビームの直径の
方向に対して直交させる。円形ビームのうち領域Ａ，Ｃ
を通る成分は、収束レンズ２を経て、６分割光検出器３
の二つの独立な光検出部上に集光する。この際、円形ビ
ームの周辺部の光は、領域Ｅ，Ｆに阻止されて、光検出
部には到達しない。６分割光検出器３としては、コンパ
クトディスク用などに用いられている６分割光検出器を
そのまま流用することができる。例えば、光軸中心から
２分割検出部の中心までが１３０μｍ、さらに外側の光
検出部中心までが６００μｍとし、収束レンズ２の焦点
距離を２０mmとする。４分割プリズム１として出射面角
度が水平方向に異なる４つの面を有するものを用いる
と、材料がＢＫ−７であれば、領域ＡおよびＣは±３．
４゜、領域ＢおよびＤは±０．７゜それぞれ逆方向に傾
きを設ければよい。領域ＥおよびＦは遮光板を設けた
り、散乱面を形成することで所望の特性が得られる。
なお、４分割プリズム１と収束レンズ２との配置順序は
逆でもよく、また、これらと同一の機能を有する一体形
の部品を用いてもよい。
逆でもよく、また、これらと同一の機能を有する一体形
の部品を用いてもよい。
本発明により、小型で、しかも反射光ビームの移動によ
るトラックエラー検出信号のオフセットの発生量が小さ
くエラー検出特性の良好な光ピックアップ装置用のスポ
ット位置エラー検出系を得ることができる。
るトラックエラー検出信号のオフセットの発生量が小さ
くエラー検出特性の良好な光ピックアップ装置用のスポ
ット位置エラー検出系を得ることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す斜視図、第２図は本発
明の原理を示す説明図、第３図は従来のスポット位置エ
ラー検出系の第一の例を用いる光ピックアップ装置を示
す光路図、第４図は第二の従来例を示す斜視図、第５図
は第４図に示す従来例におけるオフセットの発生理由を
示す説明図である。 １……４分割プリズム、２……収束レンズ、３……６分
割光検出器、Ａ〜Ｆ……領域。
明の原理を示す説明図、第３図は従来のスポット位置エ
ラー検出系の第一の例を用いる光ピックアップ装置を示
す光路図、第４図は第二の従来例を示す斜視図、第５図
は第４図に示す従来例におけるオフセットの発生理由を
示す説明図である。 １……４分割プリズム、２……収束レンズ、３……６分
割光検出器、Ａ〜Ｆ……領域。
Claims (1)
- 【請求項１】記録媒体上に集光した光源からの出射光の
前記記録媒体からの反射光から集光位置の誤差を検出す
るスポット位置エラー検出系であって、前記反射光の中
心軸と光軸を一致させて配置した収束レンズと、この収
束レンズの前または後に配置され前記反射光の円形ビー
ムの直径のうち前記記録媒体上の前記集光位置における
前記記録媒体の進行方向に平行な直径に対して対称とな
る２本の直径を境界線として前記円形ビームを前記進行
方向に平行な直径を含む第１及び第２の成分ならびに残
りの第３及び第４の成分の四つの成分に分割し前記収束
レンズと共に前記四つの成分を前記反射光の中心軸の近
傍かつ互いに異る位置に集光する光路分割器と、それぞ
れの分割線が前記進行方向に平行な前記直径の方向と直
交し前記第１及び第２の成分の集光位置を通るように配
置した二つの２分割光検出部ならびに前記第３及び第４
の成分の集光位置にそれぞれ配置した二つの独立な光検
出部を有する６分割型の光検出器と、前記第３及び第４
の成分のうち前記円形ビームの周辺部の光が前記光検出
器に到達するのを阻止する遮光手段とを備えたことを特
徴とするスポット位置エラー検出系。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61141721A JPH0630162B2 (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | スポツト位置エラ−検出系 |
| US06/943,224 US4817074A (en) | 1985-12-19 | 1986-12-18 | Method and apparatus for detecting the focusing state and positioning accuracy of a light beam directed onto an optical disk tracking guide in an optical recording system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61141721A JPH0630162B2 (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | スポツト位置エラ−検出系 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62298029A JPS62298029A (ja) | 1987-12-25 |
| JPH0630162B2 true JPH0630162B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=15298657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61141721A Expired - Lifetime JPH0630162B2 (ja) | 1985-12-19 | 1986-06-17 | スポツト位置エラ−検出系 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0630162B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01241028A (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | Nec Corp | 光ピックアップ用スポット位置エラー検出系 |
| JP2669103B2 (ja) * | 1990-04-18 | 1997-10-27 | 日本電気株式会社 | 光学式情報記録再生装置の信号検出系 |
| JP2643555B2 (ja) * | 1990-07-25 | 1997-08-20 | 日本電気株式会社 | 光学式情報記録再生装置 |
| KR20000010263A (ko) * | 1998-07-31 | 2000-02-15 | 이형도 | 광픽업의 포토다이오드 |
-
1986
- 1986-06-17 JP JP61141721A patent/JPH0630162B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62298029A (ja) | 1987-12-25 |
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