JPS633346A - デイジタルパタ−ン発生器 - Google Patents
デイジタルパタ−ン発生器Info
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- JPS633346A JPS633346A JP61146010A JP14601086A JPS633346A JP S633346 A JPS633346 A JP S633346A JP 61146010 A JP61146010 A JP 61146010A JP 14601086 A JP14601086 A JP 14601086A JP S633346 A JPS633346 A JP S633346A
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- Japan
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- pulse
- memory
- frequency
- pattern
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- Pending
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、特にディジタル信号処理回路を有する装置の
試験の際に好適なディジタルパターン発生器に関するも
のである。
試験の際に好適なディジタルパターン発生器に関するも
のである。
(従来の技術)
従来、この種の装置としては、特公昭59−49606
号公報に開示されたものがある。
号公報に開示されたものがある。
従来のディジタルパターン発生器は第2図に示すように
、周波数設定用のスイッチ回路1.2と、該スイッチ回
路1.2の出力符号を一方の入力とする2進化10進加
搾回路3.4と、該加葦回路3.4の出力を一時記憶す
る置¥l器5,6と、出力関数、例えば正弦波の一周期
を所定の数て・等分した各点のサンプリング値(パター
ン)を、置数器5.6の出力に対応して出力する符号変
換回路7と、クロック回路8とから構成されている。
、周波数設定用のスイッチ回路1.2と、該スイッチ回
路1.2の出力符号を一方の入力とする2進化10進加
搾回路3.4と、該加葦回路3.4の出力を一時記憶す
る置¥l器5,6と、出力関数、例えば正弦波の一周期
を所定の数て・等分した各点のサンプリング値(パター
ン)を、置数器5.6の出力に対応して出力する符号変
換回路7と、クロック回路8とから構成されている。
前記回路によれば、クロック回路8よりクロックパルス
が印加される毎に、スイッチ回路1゜2に設定された値
が順次、置数器5,6に加算されていき、この出力符号
に応じて符号変換回路7より各パターンが出力され、こ
れらによってディジタルパターンが形成される。
が印加される毎に、スイッチ回路1゜2に設定された値
が順次、置数器5,6に加算されていき、この出力符号
に応じて符号変換回路7より各パターンが出力され、こ
れらによってディジタルパターンが形成される。
第3図は、前記回路の出力ディジタルパターンをアナロ
グ的に表わしたもので、同図(a)はスイッチ回路1.
2の設定値が「1」であって、符号変換回路7に記憶さ
れたパターンが順次読出された場合のディジタルパター
ンを示し、同図(b)はスイッチ回路2の設定値が「2
」であって、符号変換回路7に記憶されたパターンが1
つ置きに読出された場合のディジタルパターンを示し、
同図(C)はスイッチ回路2の設定値が「3」であって
、符号変換回路7に記憶されたパターンが2つ置きに読
出された場合のディジタルパターンを示している。
グ的に表わしたもので、同図(a)はスイッチ回路1.
2の設定値が「1」であって、符号変換回路7に記憶さ
れたパターンが順次読出された場合のディジタルパター
ンを示し、同図(b)はスイッチ回路2の設定値が「2
」であって、符号変換回路7に記憶されたパターンが1
つ置きに読出された場合のディジタルパターンを示し、
同図(C)はスイッチ回路2の設定値が「3」であって
、符号変換回路7に記憶されたパターンが2つ置きに読
出された場合のディジタルパターンを示している。
ここで、第3図(b)のディジタルパターンは同図(a
)のディジタルパターンに対して2倍の周波数となり、
同図(C)のディジタルパターンは同図(a)のディジ
タルパターンに対して3倍の周波数となっている。
)のディジタルパターンに対して2倍の周波数となり、
同図(C)のディジタルパターンは同図(a)のディジ
タルパターンに対して3倍の周波数となっている。
(発明が解決しようとする問題点)
前述したように従来のディジタルパターン発生器では、
スイッチ回路1.2の設定値を変えることにより、その
ディジタルパターンの周波数を基準となる周波数(第3
図(a)における周波数)の整数倍に変更することが可
能であるが、該ディジタルパターンの周波数を任意の値
に変更するためには、クロック回路8から発生するクロ
ックパルスの周波数、即ち各パターンの発生周期を変更
しなければならない。
スイッチ回路1.2の設定値を変えることにより、その
ディジタルパターンの周波数を基準となる周波数(第3
図(a)における周波数)の整数倍に変更することが可
能であるが、該ディジタルパターンの周波数を任意の値
に変更するためには、クロック回路8から発生するクロ
ックパルスの周波数、即ち各パターンの発生周期を変更
しなければならない。
ところで、アナログ・ディジタル変換器等のディジタル
信号処理回路を有する装置を試験する場合、そのサンプ
リング周期と、試験信号としてのディジタルパターン中
の各パターンの発生国1’JJとを一致(同期)させる
必要があるが、−般にサンプリング周期は一定の値に固
定されている。
信号処理回路を有する装置を試験する場合、そのサンプ
リング周期と、試験信号としてのディジタルパターン中
の各パターンの発生国1’JJとを一致(同期)させる
必要があるが、−般にサンプリング周期は一定の値に固
定されている。
従って、従来のディジタルパターン発生器を用いて前記
装置を試験する場合、試験信号としてのディジタルパタ
ーンの周波数を任意の値、例えばlH2毎の連続的な値
に変更することができず、充分な試験が行えないという
問題点があった。
装置を試験する場合、試験信号としてのディジタルパタ
ーンの周波数を任意の値、例えばlH2毎の連続的な値
に変更することができず、充分な試験が行えないという
問題点があった。
本発明は前記問題点を除去し、各パターンの発生周期を
変えることなく、任意の周波数のディジタルパターンを
発生し得る装置を提供することを目的とする。
変えることなく、任意の周波数のディジタルパターンを
発生し得る装置を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明では前記問題点を解決するため、出力関数の一周
期を所定の数で等分した各点のサンプリング値を記憶し
たメモリと、該メモリに対する読出しアドレスを作成す
るメモリアドレス作成回路と、前記メモリの出力値を一
時記憶するラッチ回路と、前記メモリアドレス作成回路
に対Jるアドレス歩進パルスを発生する第1のパルス発
生器と、前記ラッチ回路に対するストローブパルスを発
生する第2のパルス発生器とを備え、少なくとも第1の
パルス発生器の周波数を可変となした。
期を所定の数で等分した各点のサンプリング値を記憶し
たメモリと、該メモリに対する読出しアドレスを作成す
るメモリアドレス作成回路と、前記メモリの出力値を一
時記憶するラッチ回路と、前記メモリアドレス作成回路
に対Jるアドレス歩進パルスを発生する第1のパルス発
生器と、前記ラッチ回路に対するストローブパルスを発
生する第2のパルス発生器とを備え、少なくとも第1の
パルス発生器の周波数を可変となした。
(作 用)
本発明によれば、第1のパルス発生器より入力されるア
ドレス歩進パルスにより、メモリアドレス作成回路のア
ドレス値が歩進され、該歩進されたアドレス値に対応す
るサンプリング値(パターン)がメモリより順次出力さ
れるが、ラッチ回路には第2のパルス発生器よりストロ
ーブパルスが入力された時のみ、前記パターンがラッチ
され、これが繰返され、最終的にディジタルパターンと
して出力される。従って、ストローブパルスの周波数、
即ちディジタルパターン中の各パターンの発生周期を一
定とした場合でも、第1のパルス発生回路によるアドレ
ス歩進パルスの周波数を変えることにより、ディジタル
パターンの周波数は任意に変更される。
ドレス歩進パルスにより、メモリアドレス作成回路のア
ドレス値が歩進され、該歩進されたアドレス値に対応す
るサンプリング値(パターン)がメモリより順次出力さ
れるが、ラッチ回路には第2のパルス発生器よりストロ
ーブパルスが入力された時のみ、前記パターンがラッチ
され、これが繰返され、最終的にディジタルパターンと
して出力される。従って、ストローブパルスの周波数、
即ちディジタルパターン中の各パターンの発生周期を一
定とした場合でも、第1のパルス発生回路によるアドレ
ス歩進パルスの周波数を変えることにより、ディジタル
パターンの周波数は任意に変更される。
(実施例)
第1図は本発明のディジタルパターン発生器の一実施例
を示すものである。図中、11および12はそれぞれ第
1および第2のパルス発生器、13はメモリアドレス作
成回路、14はメモリ、15はラッチ回路である。
を示すものである。図中、11および12はそれぞれ第
1および第2のパルス発生器、13はメモリアドレス作
成回路、14はメモリ、15はラッチ回路である。
パルス発生器11は、メモリアドレス作成回路13に送
出するアドレス歩進パルス21を発生するもので、その
周波数は図示しないダイヤル等を操作することにより、
任意の周波数に変更可能となっている。
出するアドレス歩進パルス21を発生するもので、その
周波数は図示しないダイヤル等を操作することにより、
任意の周波数に変更可能となっている。
また、パルス発生器12は、ラッチ回路15に対するス
トローブパルス22を発生するもので、その周波数は固
定であり、例えば試験しようとする装置のサンプリング
周波数と同一である。
トローブパルス22を発生するもので、その周波数は固
定であり、例えば試験しようとする装置のサンプリング
周波数と同一である。
メモリアドレス作成回路13は、パルス発生器11から
供給されるアドレス歩進パルス21をカウントし、メモ
リ14に対するアドレス値23を発生するもので、その
ビット数はメモリ14の容量により任意に設定される。
供給されるアドレス歩進パルス21をカウントし、メモ
リ14に対するアドレス値23を発生するもので、その
ビット数はメモリ14の容量により任意に設定される。
なお、該アドレス値23は所定値、例えばrnJに達す
ると、初期値、例えば「1」に復帰し、以下、アドレス
歩進パルス21が加えられている間、これを繰返す。
ると、初期値、例えば「1」に復帰し、以下、アドレス
歩進パルス21が加えられている間、これを繰返す。
メモリ14は、出力関数、例えば正弦波の一周期を所定
の数、例えばnで等分した各点のサンプリング値(パタ
ーン)を、順次、アドレスの「1」番地よりrnJ番地
に記憶させたものであり、メモリアドレス作成回路13
からのアドレス値23で指定されたアドレス内のパター
ンを出力する如くなっている。
の数、例えばnで等分した各点のサンプリング値(パタ
ーン)を、順次、アドレスの「1」番地よりrnJ番地
に記憶させたものであり、メモリアドレス作成回路13
からのアドレス値23で指定されたアドレス内のパター
ンを出力する如くなっている。
ラッチ回路15は、メモリ14の出カバターン24を、
パルス発生器12から出力されるストローブパルス22
でラッチし、ディジタルパターン25として出力する。
パルス発生器12から出力されるストローブパルス22
でラッチし、ディジタルパターン25として出力する。
前記構成によれば、パルス発生器11より入力されるア
ドレス歩進パルス21により、メモリアドレス作成回路
13のアドレス値23が歩進され、該歩進されたアドレ
ス値23に対応するアドレス内のパターン24がメモリ
14より順次出力される。
ドレス歩進パルス21により、メモリアドレス作成回路
13のアドレス値23が歩進され、該歩進されたアドレ
ス値23に対応するアドレス内のパターン24がメモリ
14より順次出力される。
一方、ラッチ回路15にはパルス発生器12′よりアド
レス歩進パルス21と非同期なストローブパルス22が
入力され又おり、該ストローブパルス22の入力時点に
おける前記メモリ14の出カバターン24がラッチされ
、これが繰返されて最終的にディジタルパターン25と
して出力される。
レス歩進パルス21と非同期なストローブパルス22が
入力され又おり、該ストローブパルス22の入力時点に
おける前記メモリ14の出カバターン24がラッチされ
、これが繰返されて最終的にディジタルパターン25と
して出力される。
第4図(a)は、メモリ14の出カバターン24および
ストローブパルス22の一例を示すものである。
ストローブパルス22の一例を示すものである。
出力ディジタルパターンの一周期の時間は、メモリ14
からそのnuのデータを全て読出すために必要な時間で
ある。アドレス歩進パルス21の周波数をfcとすると
、その1クロツクの周期は1/fCであり、n個のデー
タを全て読出すために必要な時間はn/fCとなる。
からそのnuのデータを全て読出すために必要な時間で
ある。アドレス歩進パルス21の周波数をfcとすると
、その1クロツクの周期は1/fCであり、n個のデー
タを全て読出すために必要な時間はn/fCとなる。
ここで、ディジタルパターン25の周波数をfxとする
と、 fx = fc / n ・・・・
・(1)となり、メモリ14内のデータ数(「))を固
定にした場合、周波数fxはfcによって変化すること
がわかる。従って、パルス発生器11の周波数fcを変
えることより、ストローブパルス22の周波数、即ち各
パターンの発生周期を変えることなく、任意の周波数f
xのディジタルパターンを作り出すことができる。
と、 fx = fc / n ・・・・
・(1)となり、メモリ14内のデータ数(「))を固
定にした場合、周波数fxはfcによって変化すること
がわかる。従って、パルス発生器11の周波数fcを変
えることより、ストローブパルス22の周波数、即ち各
パターンの発生周期を変えることなく、任意の周波数f
xのディジタルパターンを作り出すことができる。
また、前記ディジタルパターン25を、ディジタルフィ
ルタ等を通してディジタル・アナログ変換器に接続する
ことにより、アナログ信号に変換することもでき、アナ
ログ信号の発生器としても使用可能である。
ルタ等を通してディジタル・アナログ変換器に接続する
ことにより、アナログ信号に変換することもでき、アナ
ログ信号の発生器としても使用可能である。
なお、前記実施例ではパルス発生器120周波数を固定
としたが、試験する装置のサンプリング周波数に合♂て
変更可能な構成とすることもでき、この場合でも、スト
[コープパルス22の周波数とは無関係に、任意の周波
数のディジタルパターンを作り出すことができる。
としたが、試験する装置のサンプリング周波数に合♂て
変更可能な構成とすることもでき、この場合でも、スト
[コープパルス22の周波数とは無関係に、任意の周波
数のディジタルパターンを作り出すことができる。
また、前記実施例において、アドレス歩進パルス21と
ストローブパルス22とが非同期であるため、メモリ1
4の出カバターン24とストローブパルス22との間に
位相のずれが生じ、これが原因となってノイズが発生し
、信号対l g比(S/N)の良い信号が得られなくな
る場合(特にストローブパルスの周波数に対して、メモ
リの出力の周波数が低い時など)があるが、これに対し
ては、メ七り14内のデータ砧を増やすことにより、S
/Nの良い信号を得ることができる。
ストローブパルス22とが非同期であるため、メモリ1
4の出カバターン24とストローブパルス22との間に
位相のずれが生じ、これが原因となってノイズが発生し
、信号対l g比(S/N)の良い信号が得られなくな
る場合(特にストローブパルスの周波数に対して、メモ
リの出力の周波数が低い時など)があるが、これに対し
ては、メ七り14内のデータ砧を増やすことにより、S
/Nの良い信号を得ることができる。
第4図(b)は第4図(a)に対して、メモリ14内の
データ拍を2倍とした場合の例を示す。
データ拍を2倍とした場合の例を示す。
なお、この場合、出力ディジタルパターンの周波数を同
一とするためには、前記(1)式からも明らかなように
、アドレス歩進パルス21の周波数も2倍とする必要が
ある。
一とするためには、前記(1)式からも明らかなように
、アドレス歩進パルス21の周波数も2倍とする必要が
ある。
(′R,明の効果)
以上説明したように本発明によれば、簡単な回路構成に
より、各パターンの発生周期を変えることなく、任意の
周波数のディジタルパターンを発生し得る装置を実現す
ることができ、ディジタル信号処理回路を有でる装置の
試験用のパターン発生器として有効に用いることかでき
る等の利点がある。
より、各パターンの発生周期を変えることなく、任意の
周波数のディジタルパターンを発生し得る装置を実現す
ることができ、ディジタル信号処理回路を有でる装置の
試験用のパターン発生器として有効に用いることかでき
る等の利点がある。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は従来
のディジタルパターン発生器の構成図、第3図は第2図
の回路による信号の波形図、第4図tよ第1図の回路に
よる信号の波形図である。 11.12・・・パルス発生器、13・・・メモリアド
レス作成回路、14・・・メモリ、15・・・ラッチ回
路。
のディジタルパターン発生器の構成図、第3図は第2図
の回路による信号の波形図、第4図tよ第1図の回路に
よる信号の波形図である。 11.12・・・パルス発生器、13・・・メモリアド
レス作成回路、14・・・メモリ、15・・・ラッチ回
路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 出力関数の一周期を所定の数で等分した各点のサンプリ
ング値を記憶したメモリと、 該メモリに対する読出しアドレスを作成するメモリアド
レス作成回路と、 前記メモリの出力値を一時記憶するラッチ回路と、 前記メモリアドレス作成回路に対するアドレス歩進パル
スを発生する第1のパルス発生器と、前記ラッチ回路に
対するストローブパルスを発生する第2のパルス発生器
とを備え、 少なくとも第1のパルス発生器の周波数を可変となした ことを特徴とするディジタルパターン発生器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61146010A JPS633346A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | デイジタルパタ−ン発生器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61146010A JPS633346A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | デイジタルパタ−ン発生器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS633346A true JPS633346A (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=15398051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61146010A Pending JPS633346A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | デイジタルパタ−ン発生器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS633346A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6488848A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Anritsu Corp | Device for evaluating digital signal processing circuit |
-
1986
- 1986-06-24 JP JP61146010A patent/JPS633346A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6488848A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Anritsu Corp | Device for evaluating digital signal processing circuit |
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