JPS63317669A - 合金タ−ゲットの製造方法 - Google Patents

合金タ−ゲットの製造方法

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Publication number
JPS63317669A
JPS63317669A JP15202387A JP15202387A JPS63317669A JP S63317669 A JPS63317669 A JP S63317669A JP 15202387 A JP15202387 A JP 15202387A JP 15202387 A JP15202387 A JP 15202387A JP S63317669 A JPS63317669 A JP S63317669A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
alloy
ingot
target
alloy target
sputtering
Prior art date
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Pending
Application number
JP15202387A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiji Natori
栄治 名取
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP15202387A priority Critical patent/JPS63317669A/ja
Publication of JPS63317669A publication Critical patent/JPS63317669A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁性薄膜などに用いられるスパッタリングター
ゲットの製造方法に関する。
〔従来の技術〕
最近、セラミック、樹脂、金R等の基板に所望組成の薄
膜をスパッタリングにより形成した電子部品が多用され
るようになってきた。この種のスパッタリングに用いら
れる合金ターゲットはその製造方法により焼結ターゲッ
トと鋳造ターゲットに分けることが出来る。焼結ターゲ
ットは、所定成分の合金を真空中又は不活性ガス雰囲気
中で溶解、鋳造して得られた合金インゴットを粉砕し、
得られた粉末を成形し焼結することにより作られる。ま
た鋳造ターゲットは前述した合金インゴットを所定の形
状に研府しそのまま合金ターゲットとして用いるもので
ある0通常、希土類金属など活性の強い金属を使用する
合金ターゲットでは焼結ターゲットの場合、インゴット
粉砕中に酸素や窒素を多量に含んでしまうため鋳造ター
ゲットが用いられる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら鋳造ターゲットを使用すると、鋳造偏析に
より、装置の成膜条件を一定にしても実際のスパッタ条
件は異なり、製品間の特性バラツキが大きい、またスパ
ッタ時に割れ易いという問題があった。
本発明はこの様な問題を解決するものであり、その目的
は高品質な薄膜を得られ且つスパッタ時に於いて割れず
らく使い易い合金ターゲットを得んとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
上記の問題を解決するため本発明の合金ターゲットの製
造方法は基本組成が希土類金属と遷移金属より成る合金
ターゲットに於いて、溶解、鋳造後に得られた合金イン
ゴットを1000°C〜1200℃で熱処理することを
特徴とする。
〔実施例〕
以下実施例に従い本発明の詳細な説明する。まず第−表
に示した組成になる様に原料を秤量配合し、アルゴンガ
ス雰囲気中で、高周波炉により溶解する。次に溶湯をS
S41材より成り、500°C〜600℃に加熱した鋳
型に流し込み凝固せしめ合金インゴットを得た。
第1表 ここでMMはミツシュメタル 次に得られた合金インゴットをアルゴンガス雰囲気中に
於いて熱処理を301−1行なった。熱処理温度はfr
f2表に示した温度であり、室温までの冷却は2〜b を308としたのはアルゴンガスの置換を完全に行うこ
とは不可能であり長時間熱処理を行うと酸化が進行して
特性を低下させるためである。30Hはその限度といえ
る。
第2表      単位℃ これら熱処理を行なった合金インゴットの組織を顕微鏡
で観察した所as  castのものは細かな偏析した
組織であるが熱処理品はas  castに比べ結晶粒
が成長して均質な相となっていた。これは鋳造時の偏析
相が拡散により均質化したためである。また処理温度別
に見ると処理温度3が最も均質化しており、次に処理温
度2、処理塩rX4、処理温度1の順に良かった。処理
温度1は拡散不足、処理温度4は部分的にメルトしたた
め逆に相に相が乱れたものと思われる。
次に該合金インゴットを研削研磨した合金ターゲットを
得た。この研削研磨は荒れた表面チル局の除去と所定の
形状に作り込むため行なう。尚得られた合金ターゲット
の形状はφ102mmt7mmである。
これらの合金ターゲットを用いて薄膜をパイレックス基
板上に形成し評価した。成膜条件、評価方法、結果は以
下の通りである。また表面には酸化防止用保護膜として
AβNlI2を形成した。
まず最初の膜はDCスパッタによるものであり初期真空
度は2X10−’ Torr1Ar圧2mTo r r
1出力1kwである。尚膜形成前には逆スパツタにより
パイレックス基板上の遊+am素の除去を行なった。次
の保N膜はRFスパックによるものでありAβNターゲ
ットを用い、初期真空度4X10−’ TorrAr圧
5mTo r r% N1分圧20%、出力500Wで
ある。尚この2層の形成は大気に晒すことなく連続して
行ない、膜厚はそれぞれ1000人である。
次に得られた膜の7アラデ一回転角(A〜F合金ターゲ
ット使用)と保持力(G〜に合金ターゲット使用)を測
定し、同じ合金ターゲットに於いてのスパッタ時間(成
膜枚数)によるバラツキを調べた。結果を第8表に示し
た。値は200枚成膜した中でのMin値とMax値の
比(min/max)である。また比較例として熱処理
しないもの(as  cast)も示した。
第3表  min/max 表より明らかな様に合金インゴットを熱処理することに
よりバラツキが少なくなり品質が安定してくることが判
る。また熱処理温度によっても差がをる。処理温度2と
処理温3がより良い結果となっており、組成により適性
熱処理温度は異なるが1000℃〜1200℃の範囲内
であれば安定した品質の膜を得られるといえる。
スパッタに於ける合金ターゲットの割れの発生は熱処理
なしではCDEF I J合金で見られたが熱処理品は
皆無であった。
(発明の効果〕 以上述べた様に本発明によれば合金インゴットを熱処理
することにより合金ターゲットの鋳造偏析を無くし均質
化することが出来るためスパッタ時間が安定し、膜の製
品間のバラツキが少なくなり、高品質なものとなる。ま
た熱処理により結晶粒が成長すると共に内部応力が少な
くなりスパッタに於ける割れの発生が無くなり、使い易
い合金ターゲットとなる。
以  上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 最 上  務 他1名7″、 ・  ′ )

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基本組成が希土類金属と遷移金属より成る合金ターゲッ
    トの製造に於いて、溶解・鋳造後に得られた合金インゴ
    ットを1000℃〜1200℃で熱処理することを特徴
    とする合金ターゲットの製造方法。
JP15202387A 1987-06-18 1987-06-18 合金タ−ゲットの製造方法 Pending JPS63317669A (ja)

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JP15202387A JPS63317669A (ja) 1987-06-18 1987-06-18 合金タ−ゲットの製造方法

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JP15202387A JPS63317669A (ja) 1987-06-18 1987-06-18 合金タ−ゲットの製造方法

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JPS63317669A true JPS63317669A (ja) 1988-12-26

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ID=15531370

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JP15202387A Pending JPS63317669A (ja) 1987-06-18 1987-06-18 合金タ−ゲットの製造方法

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