JPS63314660A - キャッシュ試験方式 - Google Patents

キャッシュ試験方式

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Publication number
JPS63314660A
JPS63314660A JP62150584A JP15058487A JPS63314660A JP S63314660 A JPS63314660 A JP S63314660A JP 62150584 A JP62150584 A JP 62150584A JP 15058487 A JP15058487 A JP 15058487A JP S63314660 A JPS63314660 A JP S63314660A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
cache
memory
cache memory
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62150584A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoko Ubusawa
生澤 直子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP62150584A priority Critical patent/JPS63314660A/ja
Publication of JPS63314660A publication Critical patent/JPS63314660A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はキャッシュ試験方式に関し、特に情報処理シス
テムに用いられているキャッシュメモリのコンパートメ
ント毎の試験方式に関する。
従来技術 従来、この種のキャッシュメモリの各コンパートメント
においては、主記憶装置からキャッシュコンパートメン
トへのデータの書込み、あるいは、主記憶装置へのキャ
ッシュコンパートメントからのデータの読出しをともな
う通常のソフトウェア命令を用いて、キャッシュメモリ
の各コンパートメントに対する試験プログラムが構成さ
れており、その試験プログラムの実行結果の正常性を判
断することによりキャッシュメモリの各コンパートメン
トに対する試験がなされていた。
このキャッシュメモリの各コンパートメントは主記憶装
置の複数の領域に対応づけられ、て設けられており、そ
の対応づけられている主記憶装置の領域とのみデータの
読出しおよび書込みが行われている。
このような従来のキャッシュメモリの各コンパートメン
トに対する試験方式では、主記憶装置とキャッシュメモ
リの各コンパートメントとの対応関係と、主記憶装置か
らキャッシュメモリの各コンパートメントにデータを読
出して書込むタイミングと、キャッシュメモリの各コン
パートメントから主記憶装置に夫々データを占込むタイ
ミングとを常に意識して試験プログラムを作成しなけれ
ばならないので、試験プログラムの作成条件が複雑とな
り、試験プログラムの作成に多大な工数を必要とすると
いう欠点がある。
発明の目的 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたちので、キャッシュコンパートメントのアルゴリ
ズムをM識することなく、容易にキャッシュコンパート
メントに対する試験プログラムを作成することができ、
試験プログラムの作成に要する工数を削減することがで
きるキャッシュ試験方式の提供を目的とする。
発明の構成 本発明によるキャッシュ試験方式は、複数のキャッシュ
メモリの試験時に前記キャッシュメモリに書込まれる試
験データが格納された主記憶装置を含む情報処理システ
ムのキャッシュ試験方式であって、前記主記憶装置から
前記試験データを読出して格納する格納手段を設け、前
記キャッシュメモリの試験時に、前記格納手段に格納さ
れた試験データを前記キャッシュメモリに書込み、口の
書込まれた試験データを前記キャッシュメモリから読出
して前記キャッシュメモリの試験を行うようにしたこと
を特徴とする。
実施例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第2図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、本発明の一実施例による情報処理シテ
スムは、中央処理装置1と、主記憶装置2とにより構成
されている。
中央処理装置1は、キャッシュメモリ11と、キャッシ
ュ試験用命令実行回路12と、制御記憶回路13とによ
り構成されている。また、主記憶装置2にはキャッシュ
試験用命令を含む試験プログラム21が格納されている
第2図は第1図のキャッシュ試験用命令実行回路12の
動作を示すフローチャートである。
これら第1図と第2図とを用いて本発明の一実施例の動
作について説明する。
主記憶装置2に格納された試験プログラム21内のキャ
ッシュ試験用命令が実行されると、中央処理装置1内の
キャッシュ試験用命令実行回路12に1III@が移る
。キャッシュ試験用命令実行回路12では制御記憶回路
13にキャッシュ試験用命令により指示されたキャッシ
ュメモリ11内の試験対像コンパートメント名と、その
コンパートメントへの書込みデータと試験結果に対する
期待値とからなるデータパターンと、試験プログラム2
1内に設けられた試験結果格納アドレスとを格納する(
第2図ステップ31)。
次に、キャッシュ試験用命令実行回路12は制御記憶回
路13に格納されたデータパターンのうちの1つを読出
すく第2図ステップ32)。このデータパターンの書込
みデータをキャッシュメモリ11内の試験対象コンパー
トメントに書込み、そのコンパートメントに書込まれた
データを読出す(第2図ステップ33)。
この畠込みデータと読出しデータとを比較し、その比較
結果が試験結果として制御記憶回路13に格納された期
待値と比較される(第2図ステップ34)。
キャッシュ試験用命令実行回路12はこれら試験結果と
期待値とが一致しているか否かを判断しく第2図ステッ
プ35)。一致していれば、ステップ32で制御記憶回
路13から読出したデータパターンが制御記憶回路13
に格納されたデータパターンのうち最後のデータパター
ンかを判断しく第2図ステップ37)、最後のデータパ
ターンでなければステップ32に戻り、最後のデータパ
ターンであればこのキャッシュ試験用命令が終了する。
ステップ35での判断が一致していなければ、キャッシ
ュ試験用命令実行回路12はその試験結果を、制御記憶
回路13に格納されている試験結果格納アドレスで指定
される試験プログラム21内のエリアに格納する(第2
図ステップ36)。
試験プログラム21内のエリアに試験結果を格納後、ス
テップ32で制御記憶回路13から読出したデータパタ
ーンが制御記憶回路13に格納されたデータパターンの
うち最後のデータパターンかを判断しく第2図ステップ
37)、最後のデータパターンでなければステップ32
に戻り、最後のデータパターンであればこのキャッシュ
試験用命令が終了する。
上述のようなキャッシュ試験用命令実行回路12での処
理動作が制御記憶回路13に格納されたデータパターン
すべてに対して行われると、全データパターンの試験対
象コンパートメントへのデータの書込み/読出し試験が
終了する。
このように、主記憶装置に格納されたキャッシュメモリ
に書込まれる試験データを制御記憶回路13に格納し、
キャッシュメモリの試験時にこの制御記憶回路13に格
納された試験データを順次読出してキャッシュメモリの
各コンパートメントに書込み、この書込まれた試験デー
タをキャッシュメモリの各コンパートメントから読出し
てキャッシュメモリのコンパートメント毎に試験を行う
ようにすることによって、ファームウェアで作成したキ
ャッシュ試験用命令を用いて試験プログラム21が作成
されることとなるので、キャッシュコンパートメントの
アルゴリズムを意識することなく、容易にキャッシュコ
ンパートメントに対する試験プログラムを作成すること
ができる。
発明の詳細 な説明したように本発明によれば、主記憶装置に格納さ
れた複数のキャッシュメモリ夫々に書込まれる試験デー
タを中央処理装置に一時格納し、キャッシュメモリの試
験時に、一時格納された試験データをキャッシュメモリ
に書込み、この書込まれた試験データをキャッシュメモ
リから読出してキャッシュメモリ各々の試験を行うよう
にすることによって、キャッシュメモリの各コンパート
メントのアルゴリズムを意識することなく、容易にキャ
ッシュメモリの各コンパートメントに対する試験プログ
ラムを作成することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は第1図のキャッシュ試験用命令実行回路の動作を
示すフローヂャートである。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・中央処理装置 2・・・・・・主配憶回路 11・・・・・・キャッシュメモリ 12・・・・・・キャッシュ試験用命令実行回路13・
・・・・・制御記憶回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数のキャッシュメモリの試験時に前記キャッシュメモ
    リに書込まれる試験データが格納された主記憶装置を含
    む情報処理システムのキャッシュ試験方式であって、前
    記主記憶装置から前記試験データを読出して格納する格
    納手段を設け、前記キャッシュメモリの試験時に、前記
    格納手段に格納された試験データを前記キャッシュメモ
    リに書込み、この書込まれた試験データを前記キャッシ
    ュメモリから読出して前記キャッシュメモリの試験を行
    うようにしたことを特徴とするキャッシュ試験方式。
JP62150584A 1987-06-17 1987-06-17 キャッシュ試験方式 Pending JPS63314660A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62150584A JPS63314660A (ja) 1987-06-17 1987-06-17 キャッシュ試験方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62150584A JPS63314660A (ja) 1987-06-17 1987-06-17 キャッシュ試験方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63314660A true JPS63314660A (ja) 1988-12-22

Family

ID=15500079

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62150584A Pending JPS63314660A (ja) 1987-06-17 1987-06-17 キャッシュ試験方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7556197B2 (en) 1999-12-03 2009-07-07 Sega Corporation Card stack reader, card thereof, card case, method for manufacturing card, game machine using the same, computer-readable storage medium on which game program is recorded

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