JPS63294925A - 水素分離用膜及び水素分離用膜の製造法 - Google Patents
水素分離用膜及び水素分離用膜の製造法Info
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- JPS63294925A JPS63294925A JP62128480A JP12848087A JPS63294925A JP S63294925 A JPS63294925 A JP S63294925A JP 62128480 A JP62128480 A JP 62128480A JP 12848087 A JP12848087 A JP 12848087A JP S63294925 A JPS63294925 A JP S63294925A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B3/00—Hydrogen; Gaseous mixtures containing hydrogen; Separation of hydrogen from mixtures containing it; Purification of hydrogen
- C01B3/50—Separation of hydrogen or hydrogen containing gases from gaseous mixtures, e.g. purification
- C01B3/501—Separation of hydrogen or hydrogen containing gases from gaseous mixtures, e.g. purification by diffusion
-
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- C01B21/0433—Physical processing only
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- C01B21/0444—Physical processing only by making use of membranes characterised by the membrane
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B32/00—Carbon; Compounds thereof
- C01B32/50—Carbon dioxide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B2203/00—Integrated processes for the production of hydrogen or synthesis gas
- C01B2203/04—Integrated processes for the production of hydrogen or synthesis gas containing a purification step for the hydrogen or the synthesis gas
- C01B2203/0405—Purification by membrane separation
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は水素分離用膜及び水素分離用膜の製造法に関す
るものである。
るものである。
(従来の技術)
Pdを主体とする水素分離用膜は広く知られている。
本発明者は多数の小孔を有する耐熱性多孔質体の表面に
Pdを主体とする膜を化学メッキ法によって形成させる
ことをにより性能の極めて良好な水素分離用膜の得られ
ることを見出し、特願昭61−113576号(先願発
明という)として特許出願した。
Pdを主体とする膜を化学メッキ法によって形成させる
ことをにより性能の極めて良好な水素分離用膜の得られ
ることを見出し、特願昭61−113576号(先願発
明という)として特許出願した。
(発明が解決しようとする問題点)
Pdを主体とする薄膜は水素の透過選択性及び水素の透
過速度が大きく、水素分離用膜として好適なものである
が3009C以下の低温ではPdの水素化合物形成によ
りひび割れ等が生じ易い問題点を有する。
過速度が大きく、水素分離用膜として好適なものである
が3009C以下の低温ではPdの水素化合物形成によ
りひび割れ等が生じ易い問題点を有する。
本発明は従来技術が有していた上記問題点を解消するこ
とを目的とするものである。
とを目的とするものである。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は前述の問題点を解決すべくなされたものてあり
、Pd及びCuを主体とする合金薄膜よりなることを特
徴とする水素分離用膜及び多数の小孔を有する耐熱性多
孔体の表面にPd薄膜を、PdQ膜上にCu薄膜を夫々
化学メッキ法によって形成させ次いで加熱処理を行なう
ことを特徴とする水素分離用膜の製造法を提供するもの
である。
、Pd及びCuを主体とする合金薄膜よりなることを特
徴とする水素分離用膜及び多数の小孔を有する耐熱性多
孔体の表面にPd薄膜を、PdQ膜上にCu薄膜を夫々
化学メッキ法によって形成させ次いで加熱処理を行なう
ことを特徴とする水素分離用膜の製造法を提供するもの
である。
次に本願第1発明(以下単に第1発明という)を更に具
体的に説明する。
体的に説明する。
第1発明においてはPd及びCuを主体とする合金(以
下本合金という)薄膜を水素分離用膜として使用する。
下本合金という)薄膜を水素分離用膜として使用する。
本合金としてはPd71〜94wt%、好ましくは80
〜92wt%、Cu6〜29 wt%、好ましくは8〜
20wt%のものが適当である。
〜92wt%、Cu6〜29 wt%、好ましくは8〜
20wt%のものが適当である。
Cuの量があまり少ない場合、本発明の効果が充分てな
く、又Cuの量かあまり多いと水素の透過選択性、水素
の透過速度が低下し易い。
く、又Cuの量かあまり多いと水素の透過選択性、水素
の透過速度が低下し易い。
なお本合金中に若干のNi、 W、 N等の副成分を含
有させることもでき、本合金はこれら副成分を含有する
合金を含むものである。
有させることもでき、本合金はこれら副成分を含有する
合金を含むものである。
本合金薄膜の製造法に特に限定はないが、Pd、Cu等
の合金成分を所定割合に混合しArのような不活性雰囲
気中で溶融して合金となし、得られた合金を60〜10
0g程度に伸延することによって製造することがてきる
。
の合金成分を所定割合に混合しArのような不活性雰囲
気中で溶融して合金となし、得られた合金を60〜10
0g程度に伸延することによって製造することがてきる
。
このようにして得られた薄膜は支持枠て支持して水素分
離用に好適に使用でき、300℃以下の低温で使用して
もひび割れ等を生ずることはない。
離用に好適に使用でき、300℃以下の低温で使用して
もひび割れ等を生ずることはない。
次に本願第2発明(以下単に第2発明という)を更に具
体的に説明する。
体的に説明する。
第2発明においては多数の小孔を有する耐熱性多孔質体
(以下単に多孔質体と言う)の表面にPd薄膜(以下単
にPd膜という)を化学メッキ法によって形成させ、得
られたPd膜上に化学メッキ法によってCu薄膜(以下
単にCu膜という)を形成させ、次いで加熱処理を行な
うことによってPd、 Cuを拡散させ、 Pd、 C
uを主体とする合金(本合金)よりなる水素分離菌用膜
を形成させる。
(以下単に多孔質体と言う)の表面にPd薄膜(以下単
にPd膜という)を化学メッキ法によって形成させ、得
られたPd膜上に化学メッキ法によってCu薄膜(以下
単にCu膜という)を形成させ、次いで加熱処理を行な
うことによってPd、 Cuを拡散させ、 Pd、 C
uを主体とする合金(本合金)よりなる水素分離菌用膜
を形成させる。
第2発明によって得られる水素分離用膜は先願発明で開
示したように多孔質体の小孔を覆って形成されこの多孔
質体で支持されているため、本合金を伸延する場合に比
し遥かに薄く(1p程度迄)した場合でも工業的使用に
耐える充分な機械的強度を有し、ピンホールもなく、水
素透過速度を大とすることができ、しかも高価なPdを
使用量を大幅に節減することができる。
示したように多孔質体の小孔を覆って形成されこの多孔
質体で支持されているため、本合金を伸延する場合に比
し遥かに薄く(1p程度迄)した場合でも工業的使用に
耐える充分な機械的強度を有し、ピンホールもなく、水
素透過速度を大とすることができ、しかも高価なPdを
使用量を大幅に節減することができる。
多孔質体としては、300°C以上、望ましくは400
℃以上の温度に耐える耐熱性を有し、処理すべき気体と
反応性を有せず、且つ20〜30 、000人望ましく
は40〜s、ooo人の均一な小孔を有する多孔質体を
使用するのが適当である。
℃以上の温度に耐える耐熱性を有し、処理すべき気体と
反応性を有せず、且つ20〜30 、000人望ましく
は40〜s、ooo人の均一な小孔を有する多孔質体を
使用するのが適当である。
多孔質体としてはAQtO+等のセラミック微粒の焼結
体、多孔質硝子が例示されるが、多孔質硝子を使用する
のが好ましい。
体、多孔質硝子が例示されるが、多孔質硝子を使用する
のが好ましい。
多孔質硝子としてはバイコール硝子、或は5i0245
〜70 wt%、 BzO,J8〜30 wt%、Ca
O3〜25wt%、AQz03 S 〜15 wt%、
Na2O3〜8%、K2O1〜5%、Na2O+ K2
O4〜13 wt%、MgO0〜8wt%なる組成を有
する硝子(以下硝子Aという)又はSiO□45〜70
wt%、 BzOi8〜30wt%、CaO3〜25
wt%、AΩ2035〜15%なる組成を有する硝子(
以下硝子Bという)を熱処理してB2O3、CaOを主
体とする相を分相せしめ、この相を溶解除去することに
よって得られる多孔質硝子(以下、多孔質硝子A又はB
と呼ぶ)が適当であり、多孔質硝子Aを使用することに
よって特に好適な結果をつることができる。
〜70 wt%、 BzO,J8〜30 wt%、Ca
O3〜25wt%、AQz03 S 〜15 wt%、
Na2O3〜8%、K2O1〜5%、Na2O+ K2
O4〜13 wt%、MgO0〜8wt%なる組成を有
する硝子(以下硝子Aという)又はSiO□45〜70
wt%、 BzOi8〜30wt%、CaO3〜25
wt%、AΩ2035〜15%なる組成を有する硝子(
以下硝子Bという)を熱処理してB2O3、CaOを主
体とする相を分相せしめ、この相を溶解除去することに
よって得られる多孔質硝子(以下、多孔質硝子A又はB
と呼ぶ)が適当であり、多孔質硝子Aを使用することに
よって特に好適な結果をつることができる。
上述した多孔質体としては1〜0.2 mmの厚みを有
する円筒状、又は板状のものを使用するのか適当であり
、このような多孔質体は所定形状に成型した原料硝子に
分相処理、溶解処理を施こすことによって得ることがで
きる。
する円筒状、又は板状のものを使用するのか適当であり
、このような多孔質体は所定形状に成型した原料硝子に
分相処理、溶解処理を施こすことによって得ることがで
きる。
硝子A、Bを所定形状に成型した後熱処理してCaO、
B20:Iを主体とする相(以下CaO、B20*相と
いう)を分相せしめる。加熱処理温度が高い程、又熱処
理時間が長い程Ca0 、820:l相は大きくなり、
従って得られる多孔硝子の小孔の径は大きくなる傾向を
有し、熱処理条件を選択することによって小孔の径を5
0〜so、ooo人の範囲の所望の値とすることができ
る。このようにして得られた多孔質硝子は、小孔の径は
均一であり、本発明の目的を達成するのに極めて好適な
ものである。
B20:Iを主体とする相(以下CaO、B20*相と
いう)を分相せしめる。加熱処理温度が高い程、又熱処
理時間が長い程Ca0 、820:l相は大きくなり、
従って得られる多孔硝子の小孔の径は大きくなる傾向を
有し、熱処理条件を選択することによって小孔の径を5
0〜so、ooo人の範囲の所望の値とすることができ
る。このようにして得られた多孔質硝子は、小孔の径は
均一であり、本発明の目的を達成するのに極めて好適な
ものである。
加熱処理を行った硝子なH(に) 、 +I□SO1等
の酸中に浸漬してCaO、B2O3相を溶解除去する。
の酸中に浸漬してCaO、B2O3相を溶解除去する。
なお酸処理を行なうに先立ち、HF溶液で短時間その表
面をエツチング処理するのが望ましい。
面をエツチング処理するのが望ましい。
熱処理の条件によって、得られる多孔硝子の小孔の径を
制御することができ、又小孔の径は多孔質硝子中に残存
するB2O3の量に応じて変化すること及びこのB2O
3の量は熱処理、酸処理の条件によって左右されること
が判明した。モしてB2O3が望ましく 0.5 wt
%以上残存するようこれらの条件を定めることにより特
に好適な結果の得られることか判明した。
制御することができ、又小孔の径は多孔質硝子中に残存
するB2O3の量に応じて変化すること及びこのB2O
3の量は熱処理、酸処理の条件によって左右されること
が判明した。モしてB2O3が望ましく 0.5 wt
%以上残存するようこれらの条件を定めることにより特
に好適な結果の得られることか判明した。
望ましい処理条件は次の通りである。
加熱温度 600〜850℃
加熱時間 2〜48hr、望ましくは12〜24hr酸
の種類 HCΩ、 H2SO,HNO3酸の濃度 0.
01〜2.ON、望ましくは0.1〜1、ON 処理時間 2〜20hr、望ましくは4〜16hr温
度 50〜95℃、望ましくは80〜90℃上述した
多孔質体に化学メッキ法によりPd膜を形成させる。
の種類 HCΩ、 H2SO,HNO3酸の濃度 0.
01〜2.ON、望ましくは0.1〜1、ON 処理時間 2〜20hr、望ましくは4〜16hr温
度 50〜95℃、望ましくは80〜90℃上述した
多孔質体に化学メッキ法によりPd膜を形成させる。
化学メッキを施こす前に多孔質体の表面に付着する汚れ
を除去するため洗浄を行なうのが望ましい。好適な汚れ
除去法としては、トリクロロエチレンを用いた超音波洗
浄法が例示できる。トリクロロエチレンによる洗浄後エ
タノール等の低級アルコールによる洗浄を行ない多孔質
体に残存するトリクロロエチレンをアルコールで置換し
、次いて乾燥するのが適当である。
を除去するため洗浄を行なうのが望ましい。好適な汚れ
除去法としては、トリクロロエチレンを用いた超音波洗
浄法が例示できる。トリクロロエチレンによる洗浄後エ
タノール等の低級アルコールによる洗浄を行ない多孔質
体に残存するトリクロロエチレンをアルコールで置換し
、次いて乾燥するのが適当である。
その後化学メッキに先立ち、多孔質体の活性化を行ない
、多孔質体に活性化されたPdを被着するのが適当であ
る。
、多孔質体に活性化されたPdを被着するのが適当であ
る。
活性化は例えば、SnCΩ2溶液及びPdCQ2溶液に
よる浸漬処理を交互に行なうことによって好適な結果を
つることができる。好ましい処理液の組成として5nC
Q* ・2Hz01 g / fL + 37%HCQ
1mfL/ l 、 PdCQ20.1 g/ l +
37%HCQ O,1m / lを例示することがで
きる。なお、これらの溶液による処理を交互に行なう際
、一方の溶液の処理路後、純水による充分な洗浄を行な
うのが適当である。
よる浸漬処理を交互に行なうことによって好適な結果を
つることができる。好ましい処理液の組成として5nC
Q* ・2Hz01 g / fL + 37%HCQ
1mfL/ l 、 PdCQ20.1 g/ l +
37%HCQ O,1m / lを例示することがで
きる。なお、これらの溶液による処理を交互に行なう際
、一方の溶液の処理路後、純水による充分な洗浄を行な
うのが適当である。
次いで多孔質体を以下示すようなメッキ液に浸漬するこ
とにより、前述の処理によって形成された活性化Pd上
にPdを析出させ、多孔質体の表面側開口部を覆ってP
d膜を生成せしめることかできる。この際マスキング等
によって多孔質体の必要な部分のみにPd膜を形成させ
るのが適当である。
とにより、前述の処理によって形成された活性化Pd上
にPdを析出させ、多孔質体の表面側開口部を覆ってP
d膜を生成せしめることかできる。この際マスキング等
によって多孔質体の必要な部分のみにPd膜を形成させ
るのが適当である。
例えば円筒状の多孔質体の外表面にPd膜を形成させる
場合、円筒の両端面に閉塞することにより外面のみにP
d膜を形成させることができる。或は又[Pd(NH:
+)4] CO2・H,0を主体とするメッキ液を用い
る場合、アルコール、水のような液体を滲み込ませてお
くことにより、小孔内部にはPd膜を形成させることな
く、多孔質体表面のみPd膜を形成させることかできる
。
場合、円筒の両端面に閉塞することにより外面のみにP
d膜を形成させることができる。或は又[Pd(NH:
+)4] CO2・H,0を主体とするメッキ液を用い
る場合、アルコール、水のような液体を滲み込ませてお
くことにより、小孔内部にはPd膜を形成させることな
く、多孔質体表面のみPd膜を形成させることかできる
。
上記手段のうち低級アルコールを用いることは本発明の
目的を達成するのに特に有効である。
目的を達成するのに特に有効である。
[Pd(NH:+)4] CO2が低級アルコールに溶
解性を有しないためと思われる。
解性を有しないためと思われる。
化学メッキによってPd膜を形成させるために好適に用
いられるメッキ液として次の組成の溶液が例示される。
いられるメッキ液として次の組成の溶液が例示される。
[Pd(NH3)n] cQz ・820 5.4
gelEDTA ・2Na 67.2g
/文NH,(28%水溶液) 651.3 ta1
文H,NNH2・H2O0,46m又/ipH11,3 温度 50℃ 形成させるPd膜の厚みが小さい程水素の透過速度が大
となり、且つ高価なPd使用量を減少することができる
が、あまりこの厚みを小とするとPd膜にピンホールが
生じ水素以外の気体がリークし易くなる。この傾向は、
小孔開口部の径が大きくなる程増大する。
gelEDTA ・2Na 67.2g
/文NH,(28%水溶液) 651.3 ta1
文H,NNH2・H2O0,46m又/ipH11,3 温度 50℃ 形成させるPd膜の厚みが小さい程水素の透過速度が大
となり、且つ高価なPd使用量を減少することができる
が、あまりこの厚みを小とするとPd膜にピンホールが
生じ水素以外の気体がリークし易くなる。この傾向は、
小孔開口部の径が大きくなる程増大する。
好適なPd膜の厚さは小孔の径が3,000人の場合0
.01mm程度である。
.01mm程度である。
メッキ所要時間はPd膜の厚みが大となる程大きくする
必要があるが、厚み0.01m■の場合17hr程度で
ある。
必要があるが、厚み0.01m■の場合17hr程度で
ある。
このようにして形成されたPd膜上に化学メッキ法によ
ってCu膜を形成させる。
ってCu膜を形成させる。
なお多孔質体上に化学メッキ法によってCu膜を形成さ
せ、次いで化学メッキ法によってPd膜を形成させるこ
とも試みたが、好適な結果をうることばてきなかった。
せ、次いで化学メッキ法によってPd膜を形成させるこ
とも試みたが、好適な結果をうることばてきなかった。
メッキ液としては次の組成の溶液か例示される。
Cu(NO+)2・3H209,6g/IEDTA・2
Na 29.8 g/1(−(:JJ)
z 20 tsg/I AK4[F
e(CN)sl ・3H2050mg/lpH12,
5 HCHO(35%水溶液) BA 8
0m1 + 810m1 温度 60°C なおAのpHはNaOH添加により調整する。
Na 29.8 g/1(−(:JJ)
z 20 tsg/I AK4[F
e(CN)sl ・3H2050mg/lpH12,
5 HCHO(35%水溶液) BA 8
0m1 + 810m1 温度 60°C なおAのpHはNaOH添加により調整する。
メッキ所要時間は厚みが0.0023mmの場合5hr
程度である。
程度である。
Pd膜、・Cu膜を形成後、好ましくは洗浄真空乾燥後
熱処理を行なうことによりPd、 Cuを拡散させ、P
d、 Cuを含む合金よりなる氷膜を形成させることか
できる。
熱処理を行なうことによりPd、 Cuを拡散させ、P
d、 Cuを含む合金よりなる氷膜を形成させることか
できる。
熱処理温度は300〜540°C1好ましくは400〜
500°C1処理時間は5〜40hr望ましくは12〜
16hr程度とするのが適当である。
500°C1処理時間は5〜40hr望ましくは12〜
16hr程度とするのが適当である。
なお処理はAr、或はN2とN2の混合ガスのような不
活性又は還元性雰囲気で行なうのが適当である。
活性又は還元性雰囲気で行なうのが適当である。
Pd膜とCu膜の厚みを所定比に保つことにより所望組
成を有する氷膜をうろことができる。
成を有する氷膜をうろことができる。
熱処理によりパラジウムと銅とが合金化することはX線
回折法により確認された。第1図にそのX線回折結果を
示す。第1図のa)は多孔質ガラス上にパラジウムをメ
ッキしたもの、b)は同様に銅をメッキしたもの、C)
はパラジウムメッキをし、それを下地として銅メッキを
したもの、d)はC)と同様なものを450°Cで5時
間アルゴン気流中で熱処理したもののそれぞれX線回折
図である。ここでa)、b)によりそれぞれの金属は良
好にメッキしうることが確認できる。またd)によりパ
ラジウムと銅とは熱処理により容易に合金化させること
が可能なことがわかる。
回折法により確認された。第1図にそのX線回折結果を
示す。第1図のa)は多孔質ガラス上にパラジウムをメ
ッキしたもの、b)は同様に銅をメッキしたもの、C)
はパラジウムメッキをし、それを下地として銅メッキを
したもの、d)はC)と同様なものを450°Cで5時
間アルゴン気流中で熱処理したもののそれぞれX線回折
図である。ここでa)、b)によりそれぞれの金属は良
好にメッキしうることが確認できる。またd)によりパ
ラジウムと銅とは熱処理により容易に合金化させること
が可能なことがわかる。
なおPdとCuを同時に化学メッキにより析出させるこ
とも試みたが、良好な結果をうることができなかった。
とも試みたが、良好な結果をうることができなかった。
熱処理を行なわない膜(第1図Cの膜)は水素の透過性
を示さないが、熱処理を行ない、Pd、 Cuの拡散、
合金化が進行するにつれ、水素の透過性は大幅に上昇す
る。
を示さないが、熱処理を行ない、Pd、 Cuの拡散、
合金化が進行するにつれ、水素の透過性は大幅に上昇す
る。
第2図は3,000人の平均径を有する多孔質硝子A上
に25hrのメッキで形成させた厚み0.01mmのP
d膜の上に5hrのCuメッキで形成した厚み0.00
2:11111のCu膜を使用し、400℃において、
N2、N2の等モル混合物を使用し圧力差5 kg/c
rn”のもとに行なった水素の透過速度の変化を示すグ
ラフである。
に25hrのメッキで形成させた厚み0.01mmのP
d膜の上に5hrのCuメッキで形成した厚み0.00
2:11111のCu膜を使用し、400℃において、
N2、N2の等モル混合物を使用し圧力差5 kg/c
rn”のもとに行なった水素の透過速度の変化を示すグ
ラフである。
このグラフに示すように初期には約10 ml/win
の水素透過能を示すにすぎないが、合金化の進行ととも
に水素透過能は増加し、約15時間後には一定の透過量
となった。さらにこの膜をアルゴン気流中にてs o
o ’cで処理しても、その透過量は変化しなかった。
の水素透過能を示すにすぎないが、合金化の進行ととも
に水素透過能は増加し、約15時間後には一定の透過量
となった。さらにこの膜をアルゴン気流中にてs o
o ’cで処理しても、その透過量は変化しなかった。
また透過ガス中の水素モル分率は、図の黒丸プロットで
示したように初期から100%であった。なお、初期に
微少の水素透過がみられるのは、アルゴン気流中で40
0°Cまで昇温する際に合金化が一部起こったためと考
えられる。
示したように初期から100%であった。なお、初期に
微少の水素透過がみられるのは、アルゴン気流中で40
0°Cまで昇温する際に合金化が一部起こったためと考
えられる。
この膜は長時間使用しても性能は劣化せず、又300°
C以下の低温で使用してもひび割れ等を生ずることもな
い。
C以下の低温で使用してもひび割れ等を生ずることもな
い。
(実施例1)
Pd88wt%、Cu12wt%よりなる合金を伸延し
、80ルの薄膜とした。
、80ルの薄膜とした。
この薄膜の200°C1差圧5 kg/crlfにおけ
る水素の透過速度は43m1/minであり、長時間使
用しても性能の低下、ひび割れを生ずることはなく、純
度100%の水素をうることができた。
る水素の透過速度は43m1/minであり、長時間使
用しても性能の低下、ひび割れを生ずることはなく、純
度100%の水素をうることができた。
(実施例2)
SiO□49 w t%、820:l 18 wt%、
Ga013wt%、 AQ20. 9 wし%、 N
a2O5wt%、 K2O2wt%、Ng04wt%な
る組成を有する硝子型の厚み0.51110、内径10
mm、長さ500mmの円筒体を710°Cに20hr
加熱してCaO、B2O3を主体とする相を分相せしめ
、2%HF溶液て30m1nエツチングし、次いて80
°CのHCQIN溶液中に16hr浸漬してCaO、B
20*を主体とする相を溶解除去して小孔径3,000
人の多孔質体を得た。
Ga013wt%、 AQ20. 9 wし%、 N
a2O5wt%、 K2O2wt%、Ng04wt%な
る組成を有する硝子型の厚み0.51110、内径10
mm、長さ500mmの円筒体を710°Cに20hr
加熱してCaO、B2O3を主体とする相を分相せしめ
、2%HF溶液て30m1nエツチングし、次いて80
°CのHCQIN溶液中に16hr浸漬してCaO、B
20*を主体とする相を溶解除去して小孔径3,000
人の多孔質体を得た。
ついで、トリクロロエチレンとエタノールによる超音波
洗浄を行なった。トリクロロエチレンによる洗浄は、主
に脱脂及びごみやガラスに残留している粉の除去を目的
として30分間行なった。
洗浄を行なった。トリクロロエチレンによる洗浄は、主
に脱脂及びごみやガラスに残留している粉の除去を目的
として30分間行なった。
エタノールによる洗浄は脱脂効果もあるか、主に水にほ
とんど不溶のトリクロロエチレンとの置換を目的として
同様に30分間行なった。以上の洗浄工程ののちに、真
空乾燥を約4〜5時間行なった。この時間は多孔質ガラ
スにエタノールの臭いがほとんどしなくなる程度の時間
である。以上の工程の後に次の表面活性化処理をおこな
った。
とんど不溶のトリクロロエチレンとの置換を目的として
同様に30分間行なった。以上の洗浄工程ののちに、真
空乾燥を約4〜5時間行なった。この時間は多孔質ガラ
スにエタノールの臭いがほとんどしなくなる程度の時間
である。以上の工程の後に次の表面活性化処理をおこな
った。
基板表面の活性化は二液型でおこなった。すなわち5n
CQ2感受性化処理C3nCQ2・2 B20 + 3
7%HCQ1ml/l)およびPdCQ、活性化処理(
Pd(:920.1g/fL+37%HCQ O,1m
fL / !;L)である。
CQ2感受性化処理C3nCQ2・2 B20 + 3
7%HCQ1ml/l)およびPdCQ、活性化処理(
Pd(:920.1g/fL+37%HCQ O,1m
fL / !;L)である。
表面のパラジウム核をできるたけ密にするために、各浸
漬時間を1分として、交互に10回おこなった。(各溶
液から引きあげた後におのおの充分な純水による洗浄を
おこなった。)なお、これらの処理は外面のみメッキを
施す目的のため、上下をメッキ用テープ(スコッチ社製
)で目かくしをして管内部に液がはいりこまないように
工夫した。
漬時間を1分として、交互に10回おこなった。(各溶
液から引きあげた後におのおの充分な純水による洗浄を
おこなった。)なお、これらの処理は外面のみメッキを
施す目的のため、上下をメッキ用テープ(スコッチ社製
)で目かくしをして管内部に液がはいりこまないように
工夫した。
表面活性化を行なった多孔質ガラスは、上下の目かくし
をしたテープをはりかえエタノール中に浸漬し、純水で
洗浄した後1u中に[Pd(NH3)n]CQ2・B2
05.4 gr、 EDTA・2Naを67.2g 、
NH40t(を350 gr 、H2N NH2・B
20を0.4t1M含有する506Cのメッキ液に25
hr浸漬した。
をしたテープをはりかえエタノール中に浸漬し、純水で
洗浄した後1u中に[Pd(NH3)n]CQ2・B2
05.4 gr、 EDTA・2Naを67.2g 、
NH40t(を350 gr 、H2N NH2・B
20を0.4t1M含有する506Cのメッキ液に25
hr浸漬した。
なお、このメッキ液はメッキ速度をなるべく一定とする
ため1時間に1回交換した。
ため1時間に1回交換した。
次いで下記のA液、B液を8=1の割合て混合してなる
60℃メッキ液中に5hr浸漬してCuメッキを行なっ
た。
60℃メッキ液中に5hr浸漬してCuメッキを行なっ
た。
なおこのメッキ液はメッキ速度をなるべく一定とするた
め1時間に1回交換した。
め1時間に1回交換した。
Cu(NO3)2・3H209,6g/IEDTA・2
Na 29.8 g/1(−C5H,N
)220 mg/I AK−+[Fe(CN)6
1 6 311□0 50 a+g/lpH12,5 11cIO(35%水溶液) BA
80m1 + B 10m1 温度 60・C 洗滌、乾燥後Ar雰囲気中で、500℃に12hr加熱
し、Pd、 Cuを拡散させ、Pd88 wt%、Cu
12wt%よりなる厚み16gの水素分離用膜を得た。
Na 29.8 g/1(−C5H,N
)220 mg/I AK−+[Fe(CN)6
1 6 311□0 50 a+g/lpH12,5 11cIO(35%水溶液) BA
80m1 + B 10m1 温度 60・C 洗滌、乾燥後Ar雰囲気中で、500℃に12hr加熱
し、Pd、 Cuを拡散させ、Pd88 wt%、Cu
12wt%よりなる厚み16gの水素分離用膜を得た。
この膜(有効面積75.4crn’)の第1実施例と同
条件て測定した水素の透過速度は214m見/l1in
であり、300°C以下て長時間使用しても性能の低下
、ひび割れを生ずることはなかった。
条件て測定した水素の透過速度は214m見/l1in
であり、300°C以下て長時間使用しても性能の低下
、ひび割れを生ずることはなかった。
(発明の効果)
水素の選択透過性は良好であり300°C以下の低温で
長時間使用しても性能の劣化、ひび割れを生ずることは
く、純度100%の水素をうることかできる。
長時間使用しても性能の劣化、ひび割れを生ずることは
く、純度100%の水素をうることかできる。
第1図はX線回折結果を示すグラフ、第2図は加熱時間
と水素透過量の関係を示すグラフである。
と水素透過量の関係を示すグラフである。
Claims (3)
- (1)Pd及びCuを主体とする合金薄膜よりなること
を特徴とする水素分離用膜。 - (2)合金薄膜はPdを71〜94wt%、Cuを6〜
29wt%含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の水素分離用膜。 - (3)多数の小孔を有する耐熱性多孔体の表面にPd薄
膜を、Pd薄膜上にCu薄膜を夫々化学メッキ法によっ
て形成させ、次いで加熱処理を行なうことを特徴とする
水素分離用膜の製造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62128480A JPS63294925A (ja) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | 水素分離用膜及び水素分離用膜の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62128480A JPS63294925A (ja) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | 水素分離用膜及び水素分離用膜の製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63294925A true JPS63294925A (ja) | 1988-12-01 |
Family
ID=14985778
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62128480A Pending JPS63294925A (ja) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | 水素分離用膜及び水素分離用膜の製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63294925A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5181941A (en) * | 1991-12-16 | 1993-01-26 | Texaco Inc. | Membrane and separation process |
JPH05137979A (ja) * | 1991-11-25 | 1993-06-01 | Mitsubishi Kakoki Kaisha Ltd | 水素分離膜の製造方法 |
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US5989319A (en) * | 1996-07-08 | 1999-11-23 | Ngk Insulators, Ltd. | Gas separator |
EP1096026A2 (en) * | 1999-10-19 | 2001-05-02 | Ford Global Technologies, Inc. | Method of manufacturing thin metal alloy foils |
CN1076212C (zh) * | 1996-05-08 | 2001-12-19 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种超薄钯-陶瓷复合膜的制备方法 |
US6503348B1 (en) | 1997-09-03 | 2003-01-07 | Ballard Power Systems Ag | Method of making a metal membrane foil made of a palladium alloy for hydrogen separation |
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US6773472B2 (en) | 2000-06-27 | 2004-08-10 | Nisshin Steel Co., Ltd. | Gas reformer for recovery of hydrogen |
EP1499452A4 (en) * | 2002-04-03 | 2006-07-05 | Colorado School Of Mines | PROCESS FOR THE PREPARATION OF PALLADIUM ALLOY COMPOSITE MEMBRANES FOR USE IN THE SEPARATION OF HYDROGEN, PALLADIUM ALLOY COMPOSITE MEMBRANES AND PRODUCTS COMPRISING THE MEMBRANES OR PRODUCED THEREFROM |
US8101243B2 (en) | 2002-04-03 | 2012-01-24 | Colorado School Of Mines | Method of making sulfur-resistant composite metal membranes |
US8778058B2 (en) | 2010-07-16 | 2014-07-15 | Colorado School Of Mines | Multilayer sulfur-resistant composite metal membranes and methods of making and repairing the same |
US9044715B2 (en) | 2007-08-22 | 2015-06-02 | Colorado School Of Mines | Unsupported palladium alloy membranes and methods of making same |
-
1987
- 1987-05-27 JP JP62128480A patent/JPS63294925A/ja active Pending
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9044715B2 (en) | 2007-08-22 | 2015-06-02 | Colorado School Of Mines | Unsupported palladium alloy membranes and methods of making same |
US8778058B2 (en) | 2010-07-16 | 2014-07-15 | Colorado School Of Mines | Multilayer sulfur-resistant composite metal membranes and methods of making and repairing the same |
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