JPS63283200A - フラットパッケ−ジｉｃの装着機 - Google Patents
フラットパッケ−ジｉｃの装着機Info
- Publication number
- JPS63283200A JPS63283200A JP62117099A JP11709987A JPS63283200A JP S63283200 A JPS63283200 A JP S63283200A JP 62117099 A JP62117099 A JP 62117099A JP 11709987 A JP11709987 A JP 11709987A JP S63283200 A JPS63283200 A JP S63283200A
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- Japan
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- fpic
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- nozzle
- deformation
- leads
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- Pending
Links
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- 210000000078 claw Anatomy 0.000 abstract description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract description 3
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はフラットパッケージＩＣの装着機の改良に関す
るものである。
るものである。
［従来の技術］
第３図はフラットパッケージＩＣ（以下ＦＰＩＣと称す
る）のリードの変形を検査して良品のみを基板上に搭載
する装着機で、第４図はその要部の検査装置の構成図あ
る。図中１は装着機、２はＸ方向案内架台、３はＹ方向
案内架台、４は作業梁、５は吸着ノズル、６は位置決め
用爪、７は作業台、８はＩＣ用ケース、９はＦＰＩＣ，
９ａはそのリード、１０は照明源、１１はカメラ、１２
はＣＰＵ、１３は表示装置、１４は画像である。
る）のリードの変形を検査して良品のみを基板上に搭載
する装着機で、第４図はその要部の検査装置の構成図あ
る。図中１は装着機、２はＸ方向案内架台、３はＹ方向
案内架台、４は作業梁、５は吸着ノズル、６は位置決め
用爪、７は作業台、８はＩＣ用ケース、９はＦＰＩＣ，
９ａはそのリード、１０は照明源、１１はカメラ、１２
はＣＰＵ、１３は表示装置、１４は画像である。
装着前のリードの検査に当たっては、第３図に示すよう
に作業梁４を案内架台２．３上を移動させてＩＣ用ケー
ス８内よりＦＰＩＣ１個をノズル５に吸着させて取り出
し、位置決め用爪６を操作して所定位置に位置決めする
。ついで第４図にみるように、ＦＰＩＣのリード９ａに
照明を当て、リード９ａの状況をカメラ１１により撮影
し、その画（！？！１４をＣＰＵ１２を介して表示装置
１３に表示する。この画像１４を見てリード９ａの浮き
その他の変形を検知し、不良品は排出しく図示せず）良
品のみを基板１６上に搭載するのである。
に作業梁４を案内架台２．３上を移動させてＩＣ用ケー
ス８内よりＦＰＩＣ１個をノズル５に吸着させて取り出
し、位置決め用爪６を操作して所定位置に位置決めする
。ついで第４図にみるように、ＦＰＩＣのリード９ａに
照明を当て、リード９ａの状況をカメラ１１により撮影
し、その画（！？！１４をＣＰＵ１２を介して表示装置
１３に表示する。この画像１４を見てリード９ａの浮き
その他の変形を検知し、不良品は排出しく図示せず）良
品のみを基板１６上に搭載するのである。
［発明が解決しようとする問題点コ
ところで上°記装着機においては、吸着ノズル５でＦＰ
ＩＣを吸着した際、ノズル５のＦＰＩＣを吸着する状況
によってはＦＰＩＣ９のパッケージ面が水平にならずに
傾斜した状態になることがあり、この場合は画像１４の
歪みがリード９ａの変形によるものなのかパッケージ面
の傾斜によるものなのか判断がつかないことがあるため
検査精度が落ち、この装着機の問題点となっていた。
ＩＣを吸着した際、ノズル５のＦＰＩＣを吸着する状況
によってはＦＰＩＣ９のパッケージ面が水平にならずに
傾斜した状態になることがあり、この場合は画像１４の
歪みがリード９ａの変形によるものなのかパッケージ面
の傾斜によるものなのか判断がつかないことがあるため
検査精度が落ち、この装着機の問題点となっていた。
本発明は従来装置の上記問題点を解消するためなされた
もので、ＦＰＩＣ９のリード９ａの変形を確実に検知し
得る装着機を提供しようとするものである。
もので、ＦＰＩＣ９のリード９ａの変形を確実に検知し
得る装着機を提供しようとするものである。
［問題点を解決するための手段］
上記目的を達成するため、本発明はＦＰＩＣのリードの
変形検査機において、上部に基準面を有する基■台を備
え、検査に当たってＦＰＩＣのパッケージ部の下面をこ
の基準台に押圧し、傾斜を矯正した上でリードの画像を
得るようにした。
変形検査機において、上部に基準面を有する基■台を備
え、検査に当たってＦＰＩＣのパッケージ部の下面をこ
の基準台に押圧し、傾斜を矯正した上でリードの画像を
得るようにした。
［作用］
ＦＰＩＣのリードの変形検査装置を上記のように構成し
たので、ＦＰＩＣを常に水平に置いた状態でリードの画
像を検査することになり、リードの変形検査の精度が向
上した。
たので、ＦＰＩＣを常に水平に置いた状態でリードの画
像を検査することになり、リードの変形検査の精度が向
上した。
［発明の実施例］
第１図は本発明の一実施例である検査機の要部の検査装
置の構成図、第２図は基準台の斜視図である。図中５〜
１４は従来装置と同一部品、１５は基準台、１５ａはそ
の基準面、１５ｂはその脚である。
置の構成図、第２図は基準台の斜視図である。図中５〜
１４は従来装置と同一部品、１５は基準台、１５ａはそ
の基準面、１５ｂはその脚である。
図に示すように４個の脚１５ｂの上部に基準面１５ａを
形成してなる基準台１５を、作業台７の周辺に配設し、
駆動装置（図示せず）により上下動自在に構成した。
形成してなる基準台１５を、作業台７の周辺に配設し、
駆動装置（図示せず）により上下動自在に構成した。
検査に当たっては第３図に示す作業梁４を作動せしめて
吸着ノズル５によりＩＣケース８内よりＦＰ Ｉ Ｃ９
を１個取出し、第１図の基準台１５の基準面１５ａ上に
載置し、ノズル５を解放する。
吸着ノズル５によりＩＣケース８内よりＦＰ Ｉ Ｃ９
を１個取出し、第１図の基準台１５の基準面１５ａ上に
載置し、ノズル５を解放する。
ついで基準台１５を作業台７の位置まで下降せしめ、位
置決め用爪６を操作してＦＰ Ｉ Ｃ９の芯出しを行な
った後、再び基準台１５を上昇させる。
置決め用爪６を操作してＦＰ Ｉ Ｃ９の芯出しを行な
った後、再び基準台１５を上昇させる。
続いてノズル５でＦＰ Ｉ Ｃ９を吸着するとともに基
準台１５を上昇せしめると、ＦＰ Ｉ Ｃ９は基準台の
基準面１５ａとノズル５との間で押圧され、ＦＰ Ｉ
Ｃ９のパッケージ部の下面は水平となる。
準台１５を上昇せしめると、ＦＰ Ｉ Ｃ９は基準台の
基準面１５ａとノズル５との間で押圧され、ＦＰ Ｉ
Ｃ９のパッケージ部の下面は水平となる。
ついでノズル５でＦＰ Ｉ Ｃ９を吸着した状態で基準
台１５のみを下降させ、ノズル５によりＦＰＩＣ９を検
査の所定位置に位置せしめ、リード９ａの変形検査を行
う。以上の操作により、検査を受けるＦＰ Ｉ Ｃ９の
パッケージ下面は常に水平を保持することになるので、
ＦＰＩＣのリード９ａの変形の検査は正確に行われるよ
うになった。
台１５のみを下降させ、ノズル５によりＦＰＩＣ９を検
査の所定位置に位置せしめ、リード９ａの変形検査を行
う。以上の操作により、検査を受けるＦＰ Ｉ Ｃ９の
パッケージ下面は常に水平を保持することになるので、
ＦＰＩＣのリード９ａの変形の検査は正確に行われるよ
うになった。
なお本実施例においては基準台１５を作業台７の周辺に
設けたが、この位置に限るものでなく作業台７の近傍の
他の位置でもよい。
設けたが、この位置に限るものでなく作業台７の近傍の
他の位置でもよい。
［発明の効果］
本発明はＦＰＩＣのリードの変形を検査して良品のみを
基板上に搭載する装着機において、基準面を有する基準
台を備え、検査に当たって、ＦＰＩＣのパッケージ下面
が常に水平になるように構成したので、検査装置の検査
精度を格段に向上せしめることができた。
基板上に搭載する装着機において、基準面を有する基準
台を備え、検査に当たって、ＦＰＩＣのパッケージ下面
が常に水平になるように構成したので、検査装置の検査
精度を格段に向上せしめることができた。
第１図は本発明の一実施例である装着機の要部の検査装
置の構成図、第２図は基準台の斜視図、第３図は従来の
装着機の斜視図、第４図はその要部の検査装置の構成図
である。 図中５は吸着ノズル、６は位置決め用爪、７は作業台、
９はＦＰＩＣ，９ａはそのリード、１０は照明源、１１
はカメラ、１２はＣＰＵ、１Ｂは表示装置、１４は画像
、１５は基準台、１５ａはその基準面、１５ｂはその脚
、１６は基板である。 なお図中同一符号は同−又は相当部品を示すものとする
。
置の構成図、第２図は基準台の斜視図、第３図は従来の
装着機の斜視図、第４図はその要部の検査装置の構成図
である。 図中５は吸着ノズル、６は位置決め用爪、７は作業台、
９はＦＰＩＣ，９ａはそのリード、１０は照明源、１１
はカメラ、１２はＣＰＵ、１Ｂは表示装置、１４は画像
、１５は基準台、１５ａはその基準面、１５ｂはその脚
、１６は基板である。 なお図中同一符号は同−又は相当部品を示すものとする
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 フラットパッケージＩＣのリードの変形を検査して、良
品のみを基板上に搭載する装着機において、 上部に水平基準面を有し上下動自在の基準台を備え、上
記ＩＣのリードの変形検査に当たって、ＩＣのパッケー
ジ部下面を水平に保持するように構成したことを特徴と
するフラットパッケージＩＣの装着機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62117099A JPS63283200A (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | フラットパッケ−ジｉｃの装着機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62117099A JPS63283200A (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | フラットパッケ−ジｉｃの装着機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63283200A true JPS63283200A (ja) | 1988-11-21 |
Family
ID=14703375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62117099A Pending JPS63283200A (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | フラットパッケ−ジｉｃの装着機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63283200A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002176300A (ja) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | リードのコプラナリティ検出装置，電子部品状況検出装置および電子部品装着システム |
-
1987
- 1987-05-15 JP JP62117099A patent/JPS63283200A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002176300A (ja) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | リードのコプラナリティ検出装置，電子部品状況検出装置および電子部品装着システム |
| JP4607313B2 (ja) * | 2000-12-08 | 2011-01-05 | 富士機械製造株式会社 | 電子部品装着システム |
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