CN108855962A - 一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,包括工作台、上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置、OK承放装置、NG承放装置和吸盘机械手,所述OK承放装置设置在CCD检测装置右侧,NG承放装置设置有多组,吸盘机械手包括第一吸盘机械手和第二吸盘机械手,还包括控制装置,控制装置分别与上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置、吸盘机械手、NG承放装置和OK承放装置相连接。与现有技术相对比,本发明无需人工操作,大大的提高了检测效率,而且不确定因数低。

Description

一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机
技术领域
本发明涉及检测设备领域,特别涉及一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机。
背景技术
电陶瓷微粒电容在加工时,需要将其压入到治具板上进行后续加工,完成加工后再将电陶瓷微粒电容压出,该治具板上设置有多个放置电陶瓷微粒电容的硅胶孔,该治具板是可以重复使用的,使用次数过多后,该硅胶孔就会变大,从而引起压入该硅胶孔的电陶瓷微粒容易脱落,造成不良,而且治具板在多次使用后还会出现平面不平整、外观有缺陷的情况出现;一旦治具板存在上述问题,而又继续用于电陶瓷微粒电容的生产,会使得电陶瓷微粒电容有很高的不良率;而现有技术中一般是采用人工抽检的方式进行检查,但人工抽检效率低,不确定因素高。
发明内容
本发明的目的是提供一种检测效率高,不确定因素小的用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机。
为了实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,包括工作台、用于承载治具板的上料装置、用于检测治具板平面度的平面度检测装置、用于检测治具板上的硅胶孔张力的张力检测装置、用于检测治具板外观是否有缺陷的CCD检测装置、用于放置检测结果为良品的OK承放装置、用于放置检测结构为不良品的NG承放装置和用于输送治具板到各个装置上的吸盘机械手,所述上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置按检测顺序依次从左往右设置在工作台上,所述OK承放装置设置在CCD检测装置右侧,所述NG承放装置设置有多组,且分别设置在平面度检测装置、张力检测装置以及CCD检测装置的一侧,所述吸盘机械手包括第一吸盘机械手和第二吸盘机械手,所述第一吸盘机械手设置在工作台的左侧,所述第二吸盘机械手设置在工作台右侧,所述用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机还包括控制装置,所述控制装置分别与上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置、吸盘机械手、NG承放装置和OK承放装置相连接。
进一步地,所述上料装置包括上料承载板和驱动上料承载板做升降运动的第一升降装置,所述上料承载板上可承载多层治具板,所述第一升降装置通过向上驱动上料承载板来驱动治具板的上料。
进一步地,所述平面度检测装置包括真空吸附承载板,所述真空吸附承载板上设置有真空度压力传感器和真空吸附槽,所述真空度压力传感器与控制装置相连接,所述平面度检测装置还包括真空表,所述真空表与控制装置相连接,所述真空吸附槽环绕真空吸附承载板设置有多个。
进一步地,所述张力检测装置包括张力检测承载板、设置在张力检测承载板上方的压力传感装置、驱动压力传感装置下降的第二升降驱动装置,所述压力传感装置设置有5组,所述每组压力传感装置均设置有可驱动压力传感装置沿X轴方向或Y轴方向运动的第一XY平台驱动装置。
进一步地,所述压力传感装置包括压力传感器,所述压力传感器的下端设置有测针,所述压力传感器与控制装置相连接。
进一步地,所述CCD检测装置包括CCD检测承载板、设置在CCD检测承载板上方前侧的相机和可驱动CCD检测承载板移动到相机下方的的第二XY平台驱动装置,所述相机上还设置有发光装置,所述CCD检测承载板包括最上层的高透光玻璃、设置在高透光玻璃下层的导光板和设置在导光板一侧的LED灯。
进一步地,CCD检测装置还包括用于将治具板翻转到CCD检测承载板上的翻转机构。
进一步地,所述吸盘机械手包括第一吸盘机械手和第二吸盘机械手,所述第一吸盘机械手包括第一X轴移动模组、第一Y轴移动模组和第一真空吸盘组件,所述第一Y轴移动模组设置在第一X轴移动模组上,所述第一Y轴移动模组设置有三组,所述第一真空吸盘组件分别设置在每组第一Y轴移动模组上,且分别用于输送上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置上的治具板。
进一步地,所述第二吸盘机械手第二X轴移动模组、第二Y轴移动模组和第二真空吸盘组件,所述第二Y轴移动模组设置在第二X轴移动模组上,所述第二真空吸盘组件设置在第二Y轴移动模组上,且用于将CCD检测装置上的治具板输送。
本发明的有益效果为:
本发明通过设置上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置、OK承放装置、NG承放装置和吸盘机械手;检测时,先将治具板放置在上料装置上,且该上料装置可放置多层治具板,当上料装置的治具板减少时,可以通过第一升降装置将下层的治具板向上升起到指定位置;
吸盘机械手可将治具板从上料装置上输送到平面度检测装置上进行平面度的检测,检测完后通过控制装置进行判断,该治具板是良品还是不良品,当为良品时,吸盘机械手继续将治具板输送到张力检测装置上检测,当为不良品时,吸盘机械手则将该治具板输送到设置在平面度检测装置一侧的NG承放装置上;
当治具板来到张力检测装置上进行硅胶孔张力检测后,当为良品时,吸盘机械手继续将治具板输送到CCD检测装置上检测,当为不良品时,吸盘机械手则将该治具板输送到设置在张力检测装置一侧的NG承放装置上;
当治具板来到CCD检测装置上进行外观是否有缺陷的检测时,需要分别对治具板的两面都进行检测,当第一面为良品时,吸盘机械手将治具板输送到CCD检测装置的翻转机构上,翻转机构将治具板进行翻转到第二面,然后继续检测,若该面也为良品则吸盘机械手将其输送到OK承放装置上,当第一面检测为不良品时,吸盘机械手则将该治具板输送到设置在NG承放装置上,当第二面检测为不良品时,吸盘机械手同样将该治具板输送至NG承放装置上;
与现有技术相对比,本发明无需人工操作,大大的提高了检测效率,而且不确定因数低。
附图说明
图1是本发明的立体结构示意图;
图2是本发明的上料装置的结构示意图;
图3是本发明的平面度检测装置的结构示意图;
图4是本发明的张力检测装置的结构示意图;
图5是本发明的感应装置的结构示意图;
图6是本发明的CCD检测装置的结构示意图;
图7是本发明的CCD检测承载板的结构示意图;
图8是本发明的翻转结构的结构示意图;
图9是本发明的吸盘机械手的结构示意图。
具体实施方式
下面对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
以下结合附图对本发明进行进一步说明:
如图1所示的,一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,包括工作台1、用于承载治具板9的上料装置2、用于检测治具板9平面度的平面度检测装置3、用于检测治具板0上的硅胶孔张力的张力检测装置4、用于检测治具板9外观是否有缺陷的CCD检测装置5、用于放置检测结果为良品的OK承放装置7、用于放置检测结构为不良品的NG承放装置8和用于输送治具板到各个装置上的吸盘机械手6,所述上料装置2、平面度检测装置3、张力检测装置4、CCD检测装置5按检测顺序依次从左往右设置在工作台1上,所述OK承放装置7设置在CCD检测装置5右侧,所述NG承放装置8设置有多组,且分别设置在平面度检测装置3、张力检测装置4以及CCD检测装置5的一侧,所述吸盘机械手6包括第一吸盘机械手和第二吸盘机械手,所述第一吸盘机械手设置在工作台1的左侧,所述第二吸盘机械手设置在工作台2右侧,所述用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机还包括控制装置,所述控制装置分别与上料装置2、平面度检测装置3、张力检测装置4、CCD检测装置5、吸盘机械手6、NG承放装置8和OK承放装置7相连接。
如图2所示的,上料装置2包括上料承载板21和驱动上料承载板21做升降运动的第一升降装置22,所述上料承载板21上可承载多层治具板9,所述第一升降装置22通过向上驱动上料承载板21来驱动治具板9的上料。第一升降装置22包括电机221、丝杆222和导柱223,电机221通过丝杆222驱动上料承载板21沿导柱223做升降运动,并且该上料承载板21的四周设置有导向柱,用于对治具板9在上升时的导向作用,为了保证治具板9的整齐,该导向柱安装板通过铰链压紧装置压紧在工作台上,且该导向柱安装板上还设置有提手,方便移动该导向柱安装板。
该NG承放装置8和OK承放装置7与上料装置结构2相同。
如图3所示的,平面度检测装置3包括真空吸附承载板31,所述真空吸附承载板31上设置有真空度压力传感器32和真空吸附槽33,所述真空度压力传感器32与控制装置相连接,所述平面度检测装置3还包括真空表,所述真空表与控制装置相连接,所述真空吸附槽33环绕真空吸附承载板31设置有多个。
检测治具板9的平面度时,第一吸盘机械手将治具板9放入真空吸附承载板31上贴合销钉定位,真空吸附承载板31上有按指定位置开的真空吸附槽33,开真空,看在指定的时间内看真空表的数值是否能达到指定值,根据真空值真空表反馈一个信号给控制装置,控制装置处理为OK(即为良品)或者NG(即为不良品),NG时第一吸盘机械手将产品放入平面度NG承放装置8上,OK时流入下一个工位。
如图4到图5所示的,所述张力检测装置4包括张力检测承载板41、设置在张力检测承载板41上方的压力传感装置42、驱动压力传感装置42下降的第二升降驱动装置45,所述压力传感装置42设置有5组,所述每组压力传感装置42均设置有可驱动压力传感装置42沿X轴方向或Y轴方向运动的第一XY平台驱动装置46。
所述压力传感装置42包括压力传感器43,所述压力传感器43的下端设置有测针44,所述压力传感器43与控制装置相连接。
治具板9的硅胶孔张力检测时,第一吸盘机械手将治具板9放入张力检测承载板41,销钉孔定位治具板9,控制装置根据输入型号,压力传感器43跟随第一XY平台驱动装置46自动调整一个位置(每个压力传感器43都有一个XY移动平台),位置移动完成,第二升降驱动装置45驱动压力传感器43快速下降到近测压位,五个压力传感器43同时打开,第二升降驱动装置45在匀速将接在压力传感器43的测针同时插入治具板9的硅胶孔中,压力传感器43将实时数据发送到控制装置上,第二升降驱动装置45直到将测针44完全露出产品时停止下降,测试完成控制装置对数据进行分析,判定硅胶孔的张力,OK第一吸盘机械手将产品吸入下一工位,NG则吸到孔张力NG承放装置8上。
如图6到图7所示的,所述CCD检测装置5包括CCD检测承载板51、设置在CCD检测承载板51上方前侧的相机52和可驱动CCD检测承载板51移动到相机52下方的的第二XY平台驱动装置53,所述相机51上还设置有发光装置,所述CCD检测承载板51包括最上层的高透光玻璃511、设置在高透光玻璃511下层的导光板512和设置在导光板512一侧的LED灯。
如图8所示的,CCD检测装置5还包括用于将治具板9翻转到CCD检测承载板51上的翻转机构54,该翻转机构54包括安装座541、翻转转轴542、翻转电机543、翻转升降电机544、翻转丝杆和翻转承载板546,翻转转轴542安装在安装座541上,翻转承载板546安装在翻转转轴542上,翻转电机543驱动翻转转轴542做旋转运动,翻转升降电机544设置在安装座541底部,可通过翻转丝杆驱动安装座541做升降运动。
治具板9的外观检测时,第一吸盘机械手将治具板9放入CCD检测承载板51,CCD检测承载板51包括高透光玻璃511,设置在高透光玻璃511下层的导光板512和设置在导光板512一侧的LED灯,可以对产品进行整面打光,用于检测硅胶孔的堵塞问题,由于产品面积大检测精度高,所以CCD检测承载板51安装在第二XY平台驱动装置53上,对产品分12区域检测,产品上放安装一个跟相机52一起的发光装置用用于检测产品表面的脏污及破损,每个区域检测一次将数据输送控制装置上,拍完一面后控制装置判断其为硅胶孔堵塞则被搬运到硅胶孔堵塞NG承接装置8上,外观NG或者破损则搬运到外观NG承接装置8上,如果OK则翻转装置54动作将其翻转一面再次检测其硅胶孔和外观是否堵塞或破损,OK则搬入OK承接装置7工位,硅胶孔堵塞则被搬运到硅胶孔堵塞NG承接装置8上,外观破损则搬入外观NG承接装置8工位,循环完成。
所述吸盘机械手6包括第一吸盘机械手和第二吸盘机械手,所述第一吸盘机械手包括第一X轴移动模组611、第一Y轴移动模组612和第一真空吸盘组件613,所述第一Y轴移动模组611设置在第一X轴移动模组612上,所述第一Y轴移动模组612设置有三组,所述第一真空吸盘组件613分别设置在每组第一Y轴移动模组612上,且分别用于输送上料装置2、平面度检测装置3、张力检测装置4、CCD检测装置5上的治具板9。
所述第二吸盘机械手第二X轴移动模组621、第二Y轴移动模组622和第二真空吸盘组件623,所述第二Y轴移动模组621设置在第二X轴移动模组622上,所述第二真空吸盘组件623设置在第二Y轴移动模组622上,且用于将CCD检测装置5上的治具板9输送。
本发明的工作原理为:
本发明通过设置上料装置2、平面度检测装置3、张力检测装置4、CCD检测装置5、OK承放装置7、NG承放装置8和吸盘机械手6;检测时,先将治具板9放置在上料装置2上,且该上料装置2可放置多层治具板9,当上料装置2的治具板9减少时,还可以通过第一升降装置22将剩下的治具板9向上升起到指定位置;
吸盘机械手6可将治具板从上料装置2上输送到平面度检测装置3上进行平面度的检测,检测完后通过控制装置进行判断,该治具板9是良品还是不良品,当为良品时,吸盘机械手6继续将治具板9输送到张力检测装置4上检测,当为不良品时,吸盘机械手6则将该治具板9输送到设置在平面度检测装置3一侧的NG承放装置8上;
当治具板9来到张力检测装置4上进行硅胶孔张力检测后,当为良品时,吸盘机械手6继续将治具板9输送到CCD检测装置5上检测,当为不良品时,吸盘机械手6则将该治具板9输送到设置在张力检测装置4一侧的NG承放装置8上;
当治具板9来到CCD检测装置5上进行外观是否有缺陷的检测时,需要分别对治具板9的两面都进行检测,当第一面为良品时,吸盘机械手6将治具板9输送到CCD检测装置5的翻转机构54上,翻转机构54将治具板9进行翻转到第二面,然后继续检测,若该面也为良品则吸盘机械手6将其输送到OK承放装置7上,当第一面检测为不良品时,吸盘机械手6则将该治具板9输送到设置在NG承放装置8上,当第二面检测为不良品时,吸盘机械手6同样将该治具板输送至NG承放装置8上;
与现有技术相对比,本发明无需人工操作,大大的提高了检测效率,而且不确定因数低。
以上所述并非对本发明的技术范围作任何限制,凡依据本发明技术实质对以上的实施例所作的任何修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明的技术方案的范围内。

Claims (9)

1.一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:包括工作台、用于承载治具板的上料装置、用于检测治具板平面度的平面度检测装置、用于检测治具板上的硅胶孔张力的张力检测装置、用于检测治具板外观是否有缺陷的CCD检测装置、用于放置检测结果为良品的OK承放装置、用于放置检测结构为不良品的NG承放装置和用于输送治具板到各个装置上的吸盘机械手,所述上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置按检测顺序依次从左往右设置在工作台上,所述OK承放装置设置在CCD检测装置右侧,所述NG承放装置设置有多组,且分别设置在平面度检测装置、张力检测装置以及CCD检测装置的一侧,所述吸盘机械手包括第一吸盘机械手和第二吸盘机械手,所述第一吸盘机械手设置在工作台的左侧,所述第二吸盘机械手设置在工作台右侧,所述用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机还包括控制装置,所述控制装置分别与上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置、吸盘机械手、NG承放装置和OK承放装置相连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:所述上料装置包括上料承载板和驱动上料承载板做升降运动的第一升降装置,所述上料承载板上可承载多层治具板,所述第一升降装置通过向上驱动上料承载板来驱动治具板的上料。
3.根据权利要求1所述的一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:所述平面度检测装置包括真空吸附承载板,所述真空吸附承载板上设置有真空度压力传感器和真空吸附槽,所述真空度压力传感器与控制装置相连接,所述平面度检测装置还包括真空表,所述真空表与控制装置相连接,所述真空吸附槽环绕真空吸附承载板设置有多个。
4.根据权利要求1所述的一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:所述张力检测装置包括张力检测承载板、设置在张力检测承载板上方的压力传感装置、驱动压力传感装置下降的第二升降驱动装置,所述压力传感装置设置有5组,所述每组压力传感装置均设置有可驱动压力传感装置沿X轴方向或Y轴方向运动的第一XY平台驱动装置。
5.根据权利要求4所述的一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:所述压力传感装置包括压力传感器,所述压力传感器的下端设置有测针,所述压力传感器与控制装置相连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:所述CCD检测装置包括CCD检测承载板、设置在CCD检测承载板上方前侧的相机和可驱动CCD检测承载板移动到相机下方的的第二XY平台驱动装置,所述相机上还设置有发光装置,所述CCD检测承载板包括最上层的高透光玻璃、设置在高透光玻璃下层的导光板和设置在导光板一侧的LED灯。
7.根据权利要求6所述的一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:CCD检测装置还包括用于将治具板翻转到CCD检测承载板上的翻转机构。
8.根据权利要求1所述的一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:所述吸盘机械手包括第一吸盘机械手和第二吸盘机械手,所述第一吸盘机械手包括第一X轴移动模组、第一Y轴移动模组和第一真空吸盘组件,所述第一Y轴移动模组设置在第一X轴移动模组上,所述第一Y轴移动模组设置有三组,所述第一真空吸盘组件分别设置在每组第一Y轴移动模组上,且分别用于输送上料装置、平面度检测装置、张力检测装置、CCD检测装置上的治具板。
9.根据权利要求8所述的一种用于压入电陶瓷微粒电容的治具板的检测机,其特征在于:所述第二吸盘机械手第二X轴移动模组、第二Y轴移动模组和第二真空吸盘组件,所述第二Y轴移动模组设置在第二X轴移动模组上,所述第二真空吸盘组件设置在第二Y轴移动模组上,且用于将CCD检测装置上的治具板输送。
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