JPS63276377A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPS63276377A
JPS63276377A JP62110586A JP11058687A JPS63276377A JP S63276377 A JPS63276377 A JP S63276377A JP 62110586 A JP62110586 A JP 62110586A JP 11058687 A JP11058687 A JP 11058687A JP S63276377 A JPS63276377 A JP S63276377A
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JP
Japan
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signal line
horizontal
amplification
signal
vertical
Prior art date
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Pending
Application number
JP62110586A
Other languages
English (en)
Inventor
Kozo Yasuda
好三 安田
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Hitachi Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Japan Display Inc
Original Assignee
Hitachi Device Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、固体撮像装置に関するもので、例えば、光
電変換素子により形成される画素信号をMOSFET 
(絶縁ゲート形電界効果トランジスタ)を介して取り出
す方式の固体撮像装置に利用して有効な技術に関するも
のである。
〔従来の技術〕
従来より、フォトダイオードとスイッチMO3FETと
の組み合わせからなる固体撮像装置が公知である。この
ような固体撮像装置に関しては、例えばコロナ社r撮影
工学」頁126〜頁147.1985年9月「テレビジ
ョン学会技術報告j頁49〜頁54、特開昭56−15
2382号公報等がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記のような従来の固体撮像装置にあっては、いずれも
フォトダイオードにより形成された微小な光電変換信号
をそのまま外部に読み出すものであるため感度が比較的
悪いという欠点がある。そこで、本願発明者は半導体集
積回路の内部に増幅素子を設けることを検討した。製造
技術的には固体撮像装置内に増幅素子を形成することに
は何等支障はないが、同じ半導体チップに形成される複
数の増幅素子間での相互の特性バラツキが比較的大きく
なることからそれが等価的にノイズとして出力されてし
まう、このため、信号がノイズに埋もれてしまう結果と
なり実際には却って感度を悪くしてしまう。
この発明の目的は、高感度を実現した固体撮像装置を提
供することにある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、マトリックス配置された光電変換素子に対応
して、その光電変換信号がゲートに供給される増幅トラ
ンジスタを設けるとともに、上記増幅トランジスタのド
レインとソースとを垂直信号線及び水平信号線にそれぞ
れ結合し、水平及び垂直走査回路の出力信号に従って制
御される第1及び第2のスイッチ回路を介して水平共通
信号線及び垂直共通信号線に結合させて増幅トランジス
タの選択動作を行い、上記水平共通信号線と垂直共通信
号線との間に増幅トランジスタを含む負帰還増幅経路を
設ける。
〔作 用〕
上記した手段によれば、増幅トランジスタにより増幅さ
れた光電変化信号を外部に送出するとともに負帰還ルー
プを構成することにより、その増幅トランジスタの特性
のバラツキと読み出し信号経路におけるノイズを抑制で
きるから固体撮像装置の高感度化が実現できる。
〔実施例〕
第1図には、この発明に係る固体撮像装置の一実施例の
要部回路図が示されている。同図では、3行、2列分の
回路が代表として例示的に示されている。同図の各回路
素子は、公知の半導体集積回路の製造技術によって、特
に制限されないが、単結晶シリンコンのような1個の半
導体基板上において形成される。
1つの画素セルは、フォトダイオードD1と直列形態に
されたリセット選択経路を構成するスイッチMO3FE
T (絶縁ゲート形電界効果トランジスタ)Ql、Q2
と、上記フォトダイオードD1のカソード電極側にゲー
トが結合された増幅MO3FETQ3から構成される。
上記リセット選択経路を構成するスイッチMOSFET
QIのゲートは、横方向に延長される垂直走査′4iA
Vlに結合される。他のスイッチMO3FETQ2は、
特に制限されないが、縦方向に延長される水平走査線H
2’ に結合される。このように、MO3FETQ2の
ゲートを、それが配置される行(Hl)の次の列に対応
する水平走査fiH2’に結合させるものとしたのは、
上記増幅MO3FETQ3を設けることによって、フォ
トダイオードD1の光電変換信号を電圧信号として非破
壊的に読み出すことに対応している。すなわち、上記フ
ォトダイオードD1のリセット(プリチャージ)は、次
の列の選択動作のときに行うようにされる。このことは
、後述する読み出し動作の説明から理解されよう。
上記増幅MO3FETQ3のドレインは、同図において
縦方向に延長される垂直信号線VSIに結合され、ソー
スは同図において横方向に延長される水平信号線PL(
帰還信号線)に結合される。
上記フォトダイオードD1及びスイッチMO3FETQ
1.Q2及びQ3からなる画素セルと同じ行(水平方向
)に配置される他の同様な画素セル(D2.Q4.Q5
及びQ6)等のうち、上記リセット経路を構成する入力
ノードは、同図において横方向に延長される水平リセッ
ト信号1HR1に結合される。他の行についても上記同
様な画素セルが同様に結合される。同図では、他の行に
配列される画素セルを構成する各回路素子には、上記の
ような回路記号が省略されている。上記リセット信号線
HRI等には、それに対応した垂直走査線V1と平行し
て配置される。
例示的に示されている水平走査線H1,H2は、垂直信
号!l、’1Vs1、VS2等を横方向に配置される水
平共通信号線CHに結合させる第1のスイッチ回路を構
成するMOSFETQ7、Q8等のゲートに結合される
。また、上記垂直走査線■1なしい■3は、水平信号線
FLIないしFL3等を縦方向に配置される垂直共通信
号vAcvに結合させる第2のスイッチ回路を構成する
MOSFETQ9ないしQllのゲートに結合される。
これによって、上記水平及び垂直走査線に選択信号を供
給する水平走査回路H3Rと垂直走査回路VSRとによ
る選択動作に応じて、上記水平共通信号線CHと垂直共
通信号線CVとの間には、1つの増幅MOS F ET
のドレイン及びソースがそれぞれ接続される。言い換え
るならば、上記水平/垂直選択動作に応じてフォトダイ
オードの光電変換信号の読み出しが行われる。
特に制限されないが、この実施例では、第2列以降の水
平走査線は、H2,H2’及びH3,H3゛のように2
対から構成される。上記水平走査線H2’やH3’ は
、前述のように1つ前の列に対応したリセット経路を構
成するスイッチMO3FETQ2、Q5等のゲートに結
合される。上記一対の水平走査線H2とH2’ とは、
水平走査回路H3Rの共通の出力端子に結合させるもの
であってもよい。
この実施例では、上記増幅MOSFETQ3等のドレイ
ンに対応した水平共通信号線CHから、読み出し信号が
出力される。そのため、上記水平共通信号線CHは、外
部端子STに結合され、負荷抵抗RLが設けられる。上
記のように、各フォトダイオードの光電変換信号を内蔵
の増幅MO3FETによって増幅させる構成においては
、その増幅作用によって大きな電圧信号に変換された読
み出し信号を得ることができる。しかし、このままでは
、上記各フォトダイオードに対応してそれぞれ設けられ
る各増幅MOSFETにおけるコンダクタンスgmが、
相互に比較的大きな製造バラツキをもって形成される。
それ故、上記出力信号には上記コンダクタンスのバラツ
キに対応して読み出し信号に大きなバラツキが生じて、
これが等価的にノイズとして現れる。そこで、この実施
例では、上記増幅MO3FETのソースが共通に接続れ
る水平信号線FLと垂直共通信号線CVとが帰還経路と
して用いられる。すなわち、上記信号端子STから得ら
れる読み出し信号Voutは、帰還アンプAMPを介し
て、上記垂直共通信号線C■が結合される帰還端子FT
に帰還される。上記端子FTと回路の接地電位点との間
に設けられる抵抗RFは帰還抵抗として作用する。
この構成においては、上記フォトダイオードの光電変換
信号を電圧信号として取り出す増幅MO3FETを含め
て帰還ループを設けることにより、その素子特性のバラ
ツキが抑制される。
第2図には、1つを増幅MO3FETQ3 (フォトダ
イオードDI)に着目した読み出し経路の等価回路図が
示されている。
この等価回路においては、フォトダイオードD1により
形成される光電変換信号は、増幅MO3FETQ3のゲ
ートに供給される。この増幅MO3F ETQ 3のド
レインは、垂直信号線VSIとスイッチMO3FETQ
7とを介して外部の負荷抵抗RLに接続される。また、
上記増幅MO3FETQ3のソースは、水平信号線FL
IとスイッチMO3FETQ9を介して帰還抵抗RFに
接続される。そして、上記増幅MO3FETQ3のドレ
イン出力Voutは、帰還アンプAMP及び上記スイッ
チMO3FETQ9や水平信号線FLからなる帰還ルー
プを通してソース側に負帰還される。
これによって、増幅MO3FETQ3は、上記外部の帰
還アンプAMPとともにゲートに供給された入力信号を
増幅してドレインから出力し、それがソースに帰還され
るという負帰還アンプとじての増幅動作を行うものであ
る。
上記第1図の固体撮像装置の読み出し動作の一例を第3
図のタイミング図を参照して簡単に説明する。
垂直走査線■1がハイレベルのとき、第1行目の読み出
し動作が水平走査線H1ないしHnが時系列的に順次ハ
イレベルにされることによって行われる。すなわち、上
記垂直走査線v1のハイレベルによって、増幅MOSF
ETQ3に対応して設けられる第1スイッチMO3FE
TQ7と第2のスイッチMO3FETQ9がオン状態に
される。
それ故、増幅MO3FETQIが選択されて、それに対
応してフォトダイオードD1の光電変換信号を増幅して
水平共通信号線CHから出力する。
この増幅動作は、前記のように帰還アンプAMPと垂直
共通信号線CVや水平信号線FLI等からなる帰還ルー
プにより決定される利得を持って行われる。
上記1つの列の読み出しが終了すると、次の列に対応し
た水平走査線H2とH2’がハイレベルに切り換えられ
る。上記水平走査線H2のハイレベルによって、スイッ
チMOSFETQ7に代えてスイッチMO3FETQ8
がオン状態になるため、フォトダイオードD2の光電変
換信号が増幅MO3FETQ6の増幅動作により出力さ
れる。
このとき、水平走査線H2°がハイレベルにされること
によって、前の列の画素セルにおけるスイッチMO3F
ETQ2がオン状態にされる。これによって、バイアス
電圧VBが垂直走査線V1のハイレベルによってオン状
態にされているスイッチMO3FBTQ12を介して水
平リセット信号線HRIに伝えられていることから、上
記読み出しが終了したフォトダイオードD1のリセット
(プリチャージ)が上記第2列目の画素セルの読み出し
と並行して行われる。
このように、読み出しが終了した画素セルのフォトダイ
オードのリセット動作は、次の列(画素セル)の読み出
しと並行して同時行われる。このことから、その行の最
終列(第n番目)に配置される画素セルのリセットを行
うため、n+1番目にハイレベルにされるダミーの読み
出し動作(上記リセット動作)を行う水平選択信号Hn
+1’が形成される。したがって、このダミー水平選択
動作Hn+1°の後に、水平帰線期間Tが設けられるも
のである。
なお、上記非選択状態に置かれる次の行(■2)に対応
した水平リセット信号線HR2等においては、画素セル
のスイッチMO3FETが結合されるものであり、その
ドレイン接合部が寄生光電素子として作用し、受光に応
答してスメアやブルーミングというた偽信号N1を発生
させる。このような偽信号Nlは、その行(V2)の最
初の読み出しの次に行われる前記リセット動作により除
去される。ただし、この実施例では、フォトダイオード
の光電変換信号を直接増幅MO3FETのゲートに供給
して読み出す構成を採るため、上記のような偽信号N1
等が生じても何等影響を受けるものではない。
この実施例では、第1図又は第2図の等価回路に示すよ
うに、各フォトダイオードに対応して設けられる各増幅
MOS F ETのコンダクタンスの相互のバラツキは
、上記のように増幅MO3FET自身が負帰還ループ内
にあることから抑制される。上記構成の帰還アンプにお
いて、増幅MO3FETの増幅度をaとし、外部のl1
ffi還アンプAMPの増幅度をfとし、全系の増幅度
をAとお(と、次式(1)により表される。
A=a/(1+af)  ・・・・・・−−・−(L)
上記増幅MO3FETのコンダクタンスgm1つまり増
幅度aがdaだけバラツキを生じたとすると、全系での
増幅度の変化dAは、次式(2)により表される。
dA−1/ (1+a f)” Xda −−−・12
)上式(2)より、増幅度の変化の割合は、次式(3)
のようになる。
dA/A=1/ (1+af)Xda/a   (3)
したがって、読み出し増幅回路における全系における増
幅度の変化の割合は、上記増幅M OS FETの増幅
度のバラツキdaが1/(1+af)に抑圧される。こ
れによって、事実上、各増幅M03FET間における素
子特性のプロセスバラツキを実質的に無視することがで
きる。したがって、半4体集積回路内部で光電変換信号
の増幅信号を形成して出力させることでき、従来のよう
に信号電荷の転送に伴う雑音の発生や偽信号が混入され
ることがないため高感度化が可能になる。
さらに、増幅MOS F ETはそれが上記のような帰
還ループ内にあること、及び各信号線Vs、FL、CH
,CVや選択スイッチMOSFETも帰還ループ内にあ
り、それらの寄生容量や等価オン抵抗により発生する雑
音も抑圧できる。すなわち、雑音発生源とみなされる各
信号線の寄生容量や分布抵抗値及びスイッチMO3FE
Tのオン抵抗値等は、全系の帰還抵抗の一部とみなされ
、上記増幅回路の全系における負帰還動作によって大幅
に低減できる。このように、主なノイズ発生源を読み出
し増幅回路を構成する帰還ループ内に入れることによっ
て、従来の固体撮像装置に比べて雑音を大幅に低減でき
るものである。
上記の実施例から得られる作用効果は、下記の通りであ
る。すなわち、 (1)マトリックス配置された光電変換素子に対応して
、その光電変換信号がゲートに供給される増幅トランジ
スタを設けるともに、上記増幅トランジスタのドレイン
とソースとを垂直信号線及び水平信号線にそれぞれ結合
し、水平及び垂直走査回路の出力信号に従って制御され
る第1及び第2のスイッチ回路を介して水平共通信号線
及び垂直共通信号線に結合させて増幅トランジスタの選
択動作を行い、上記水平共通信号線と垂直共通信号線と
の間に増幅トランジスタを含む負帰還増幅経路を設ける
ことによって、その増幅トランジスタの特性のバラツキ
と読み出し信号経路におけるノイズを抑制できるから固
体撮像装置の実際的な高感度化が実現できるという効果
が得られる。
(2)上記のように増幅トランジスタの出力信号を外部
に送出する構成においては、従来のように信号電荷の転
送に伴う雑音の発生やスメアやプルーミングといった偽
信号の混入を防止できるから、低ノイズ化が可能となり
、上記増幅作用と相俟って低ノイズで高感度化を実現で
きるという効果が得られる。
(3)上記内蔵の増幅トランジスタを含む読み出し信号
経路が負帰還ループ内に設けられることによって、そこ
で発生する雑音を大幅に抑圧することができる。これに
よって、信号対雑音比(S/N)を大きくできること、
言い換えるならば、雑音に対する信号を相対的に大きく
できることがら、上記+11や(2)の効果を相俟って
いっそうの高感度化が実現できるという効果が得られる
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。例えば、第1図の実施例
回路において、増幅トランジスタとしては、低ノイズ化
が実現できるジ島ンクシッンFETを用いるものであっ
てもよい。このように、増幅トランジスタとしては、高
入力インピーダンスのものであれば何であってもよい。
また、画素セルのリセット(プリチャージ)動作は、水
平帰線期間において行うものとしてもよい。例えば、第
1図において、水平走査線H2’ないし)in+l’に
対して、水平帰線期間にハイレベルの選択信号を供給す
るものであってもよい、この場合、リセットすべき行に
対応した垂直走査線は、上記水平帰線期間において上記
リセット動作が終了した後にロウレベルの非選択レベル
にされる。また、上記水平帰線期間において1つの行の
画素セルを一斉にリセットさせる方式を採る場合、画素
セルに設けられるリセット経路を構成するMOSFET
は、1 つ(7)MOS F ETとして、上記水平帰
線期間において順次発生されるタイミング信号でオン状
態にさせるものとしてもよい。この構成においては、画
素セルを構成するMOS F ETは、上記リセットM
OS F ETと増幅MO3FETの2つから構成でき
るため、画素セルを高密度に形成することができる。
画素アレイの読み出し動作は、奇数フィールドと偶数フ
ィールドとで1本分づらせて一対づつ選択状態にするよ
うにしてもよい。これにより、インタレースに対応した
空間的重心が上下に移動させた画像信号を得ることがで
きる。この場合、上記一対つづ選択される水平信号線に
対応して一対からなる出力線を設けるものとしてもよい
この発明は、スイッチ素子を介して光電変化素子の出力
信号を読み出す方式の固体撮像装置に広く利用できるも
のである。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。すなわち、マトリックス配置された光電変換素子に対
応して、その光電変換信号がゲートに供給される増幅ト
ランジスタを設けるともに、上記増幅トランジスタのド
レインとソースとを垂直信号線及び水平信号線にそれぞ
れ結合し、水平及び垂直走査回路の出力信号に従って制
御される第1及び第2のスイッチ回路を介して水平共通
信号線及び垂直共通信号線に結合させて増幅トランジス
タの選択動作を行い、上記水平共通信号線と垂直共通信
号線との開に増幅トランジスタを含む負帰還増幅経路を
設けることによって、その増幅トランジスタの特性のバ
ラツキと読み出し信号経路におけるノイズを抑制できる
から固体撮像装置の実際的な高感度化が実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示す要部回路図、 第2図は、その等価回路図、 第3図は、その続み出し動作の一例を説明するためのタ
イミング図である。 H3P・・水平走査回路、VSR・・垂直走査回路、A
M?・・帰還アンプ 一゛\ 代理人弁理士 小川 勝’C、・\ \、−2,′ 第1図 第2図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、マトリックス配置された光電変換素子に対応して、
    その光電変換信号がゲートに供給される増幅トランジス
    タと、上記増幅トランジスタのドレインとソースがそれ
    ぞれ結合される垂直信号線及び水平信号線と、上記垂直
    信号線を水平走査回路の出力信号に従って水平共通信号
    線に結合させる第1のスイッチ回路と、上記水平信号線
    を垂直走査回路の出力信号に従って垂直共通信号線に結
    合させる第2のスイッチ回路とを含み、上記水平共通信
    号線と垂直共通信号線との間に上記増幅トランジスタを
    含む負帰還増幅経路を設けることを特徴とする固体撮像
    装置。 2、上記光電変換素子は、上記垂直走査回路の出力信号
    が供給される垂直走査線にゲートが結合されるスイッチ
    MOSFETと、上記水平走査回路の出力信号が供給さ
    れる水平走査線にゲートが結合されたスイッチMOSF
    ETとを介して、水平方向に配置されるリセット信号線
    に結合されるものであり、上記リセット信号線は、上記
    垂直走査線にゲートが結合されたスイッチMOSFET
    を介してバイアス電圧端子に結合されるものであること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の固体撮像装置
JP62110586A 1987-05-08 1987-05-08 固体撮像装置 Pending JPS63276377A (ja)

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