JPS63274959A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS63274959A JPS63274959A JP11021487A JP11021487A JPS63274959A JP S63274959 A JPS63274959 A JP S63274959A JP 11021487 A JP11021487 A JP 11021487A JP 11021487 A JP11021487 A JP 11021487A JP S63274959 A JPS63274959 A JP S63274959A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
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- G03G5/07—Polymeric photoconductive materials
- G03G5/075—Polymeric photoconductive materials obtained otherwise than by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電子写真方式の複写機、光プリンタ等に用い
られる電子写真感光体に関するものである。
られる電子写真感光体に関するものである。
従来の技術
電子写真感光体だおける光導電体として、1゜〜40
atmチの水素を局在化状態密度を減少せしめる修飾物
質として含む非晶質シリコン(以下a−Si : Hと
記す)が高い光感度、無公害性、及び高い硬度を有する
ことにより注目され利用されている。
atmチの水素を局在化状態密度を減少せしめる修飾物
質として含む非晶質シリコン(以下a−Si : Hと
記す)が高い光感度、無公害性、及び高い硬度を有する
ことにより注目され利用されている。
しかしながら、上記のa−Si:Hで構成きれる電子写
真感光体ではまだまだ解決すべき問題も多い。
真感光体ではまだまだ解決すべき問題も多い。
例えば、第1の問題としてa−8i:Hは、他の感光体
材料である有機光半導体(以下OPCと記す)、あるい
はセレン(Sθ)に比較して誘電率が約11と太きく(
opc:約3、Se:約6)静電容量が大きいため、表
面への帯電処理を行う際には非常に大きな帯電電流を必
要とする。
材料である有機光半導体(以下OPCと記す)、あるい
はセレン(Sθ)に比較して誘電率が約11と太きく(
opc:約3、Se:約6)静電容量が大きいため、表
面への帯電処理を行う際には非常に大きな帯電電流を必
要とする。
また、実用表面電位(〜400V )を得るには表面電
荷の電荷密度も高く、この電荷を光除電するためには多
くの光エネルギーを必要とするため、実際の光感度は十
分高い、とは言えない。
荷の電荷密度も高く、この電荷を光除電するためには多
くの光エネルギーを必要とするため、実際の光感度は十
分高い、とは言えない。
さらに、第2の問題としてa−Si:H膜の製膜に際し
て最も良く用いられるシラン(SiH4と記す)ガスを
原料ガスとしたプラズマCvD法では、堆積速度も10
μm/h以下と遅く、シランガスも高価であることから
、製造コストの低減は困難である。
て最も良く用いられるシラン(SiH4と記す)ガスを
原料ガスとしたプラズマCvD法では、堆積速度も10
μm/h以下と遅く、シランガスも高価であることから
、製造コストの低減は困難である。
また、第3の問題は、膜厚においても30μm以下で使
用されることが多く帯電電界強度も30V/μm程度か
ら、実用の表面電位はSs感光体のaoovに比べ5o
ov以下と低い電位で使用されるため、通常の2成分現
像剤では十分な画像濃度のコピーが得られないと言った
問題がある。
用されることが多く帯電電界強度も30V/μm程度か
ら、実用の表面電位はSs感光体のaoovに比べ5o
ov以下と低い電位で使用されるため、通常の2成分現
像剤では十分な画像濃度のコピーが得られないと言った
問題がある。
このような諸問題を解決する手段として、特開昭54−
143645号公報には有機半導体材料を用いた機能分
離型の感光体の構成が開示されている。
143645号公報には有機半導体材料を用いた機能分
離型の感光体の構成が開示されている。
発明が解決しようとする問題点
この有機半導体材料を用いた光導電層を像形成物として
用いた場合、誘電率の減少による帯電電位の向上が望め
るものの有機半導体材料は硬度が小さいため、Sl を
含む非晶質光導電膜の持つ高い硬度の長寿命感光体とし
ての特長が生かせない。 ′また、従来の有機半導
体上に温度160′C以上で良質なa−5i:H膜を形
成するには耐熱性に乏しいため良好な電子写真感光体が
得られない。あるいは、耐熱性を有するポリアクリロニ
トリル(pAN )fJ:加熱処理を行うことも提案さ
れているが、十分なキャリアの移動度、キャリア寿命の
ものが得られていないため、残留電位が高く、感度も十
分とは言えないという問題があった。
用いた場合、誘電率の減少による帯電電位の向上が望め
るものの有機半導体材料は硬度が小さいため、Sl を
含む非晶質光導電膜の持つ高い硬度の長寿命感光体とし
ての特長が生かせない。 ′また、従来の有機半導
体上に温度160′C以上で良質なa−5i:H膜を形
成するには耐熱性に乏しいため良好な電子写真感光体が
得られない。あるいは、耐熱性を有するポリアクリロニ
トリル(pAN )fJ:加熱処理を行うことも提案さ
れているが、十分なキャリアの移動度、キャリア寿命の
ものが得られていないため、残留電位が高く、感度も十
分とは言えないという問題があった。
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、残留電位
が高く、かつ十分な感度を得られる写真感光体を提供す
ることを目的とするものである。
が高く、かつ十分な感度を得られる写真感光体を提供す
ることを目的とするものである。
問題点を解決する友めの手段
上記目的全達成するために、本発明の写真感光体は、光
励起に工って移動可能なキャリアを発生する光導電層と
、結晶化度10〜70チの高分子化合物により形成した
電荷移動層を有するものである。
励起に工って移動可能なキャリアを発生する光導電層と
、結晶化度10〜70チの高分子化合物により形成した
電荷移動層を有するものである。
作用
高分子化合物により電荷移動層を形成する際、その結晶
化度が高すぎる場合、すなわち70%を超える場合、そ
の抵抗値が低くなり電子写真感光体として要求される暗
時の帯電保持能が低くなるとともに、機械的強度が低下
し製膜性が著しく低下する。また結晶化度が10%より
低いものに関しては、十分な抵抗値を有するが、トラッ
プ密度が増加し、注入された電荷が効率よく輸送されな
い。そして高分子により電荷移動層を形成する際、高分
子の結晶化度を10〜70%とすることにより、残留電
位の小さな、高感度で帯電電位の大きな電子写真感光体
が得られる。
化度が高すぎる場合、すなわち70%を超える場合、そ
の抵抗値が低くなり電子写真感光体として要求される暗
時の帯電保持能が低くなるとともに、機械的強度が低下
し製膜性が著しく低下する。また結晶化度が10%より
低いものに関しては、十分な抵抗値を有するが、トラッ
プ密度が増加し、注入された電荷が効率よく輸送されな
い。そして高分子により電荷移動層を形成する際、高分
子の結晶化度を10〜70%とすることにより、残留電
位の小さな、高感度で帯電電位の大きな電子写真感光体
が得られる。
実施例
第1図は、本発明における最も基本的な電子写真感光体
の一実施例の断面を模式的に示したものである。
の一実施例の断面を模式的に示したものである。
第1図に示す電子写真感光体は、支持体1上に、環構造
を有する高分子層からなる電荷移動層2と光導電層3と
を有し、前記光導電層3は一方で自由表面4t″有して
いる。
を有する高分子層からなる電荷移動層2と光導電層3と
を有し、前記光導電層3は一方で自由表面4t″有して
いる。
本発明において、光導電層3として硬度の高いシリコン
を含有する非晶質層を用い、光導電層3には、a S
i (: H: X ) 、 a Si 1−ycy
(: H:X)(0(y (1) 、 a Si 1
−yOy(: H: ” ) (0<y<1 )。
を含有する非晶質層を用い、光導電層3には、a S
i (: H: X ) 、 a Si 1−ycy
(: H:X)(0(y (1) 、 a Si 1
−yOy(: H: ” ) (0<y<1 )。
a−sll、Ny(:H:X)(0<7<1 ) 、
a−8i1゜G 15z (: H: X ) (0(
Z (1) 、 トイSi 、−2Gθ2)1−yN、
(:H:X) (0<Y 、 Z(1) 、 IL−(
Si、2Gez)、、O,(:H:X)(0<Y、Z<
1 >、−!たはa−(Si。
a−8i1゜G 15z (: H: X ) (0(
Z (1) 、 トイSi 、−2Gθ2)1−yN、
(:H:X) (0<Y 、 Z(1) 、 IL−(
Si、2Gez)、、O,(:H:X)(0<Y、Z<
1 >、−!たはa−(Si。
1−zGe□) 、、C,(:H:X) (0<7 、
2<1 )(7)単層、あるいはこれらの積層からなる
。また、yt一連続的に変化させた場合も使用できる。
2<1 )(7)単層、あるいはこれらの積層からなる
。また、yt一連続的に変化させた場合も使用できる。
この時の膜厚は、電荷移動層は6〜50μm好適には1
0〜25μm、また光導電層の膜厚は0.6〜10μm
好適には1〜6μmとすれば良い。
0〜25μm、また光導電層の膜厚は0.6〜10μm
好適には1〜6μmとすれば良い。
本発明において、更に電子写真特性を向上させるために
、第1図において、支持体1と電荷移動層2との間に、
支持体1から電荷移動層2に注入するキャリアを効果的
に阻止するため障壁層を設けてもよい。
、第1図において、支持体1と電荷移動層2との間に、
支持体1から電荷移動層2に注入するキャリアを効果的
に阻止するため障壁層を設けてもよい。
障壁層を形成する材料としては、ム1203.Bad。
BaO、Bed、 Bi OCab、 Coo 、
Ce2O3゜La20. 、 Dy20. 、 Lu2
0. 、0r20.、 Cub、 Cu2O。
Ce2O3゜La20. 、 Dy20. 、 Lu2
0. 、0r20.、 Cub、 Cu2O。
FeO、PbO、MgO、SrO、Ta2O3,The
2. ZrO2゜HfOTiOTiO,5iO7,Co
o2.SiO,GeO2’ 21 等の金属酸化物、またはTiN 、ムIN 、 SnN
、NbN。
2. ZrO2゜HfOTiOTiO,5iO7,Co
o2.SiO,GeO2’ 21 等の金属酸化物、またはTiN 、ムIN 、 SnN
、NbN。
TaN 、 GaN等の金属窒化物、またはWC、Sn
C。
C。
Tie等の金属炭化物またはSiC、SiN 、 Ga
C。
C。
GeN 、 BO、BN等の絶縁物、ポリイミド、ポリ
アミドイミド、ポリアクリルニトリル等の有機化合物が
使用される。
アミドイミド、ポリアクリルニトリル等の有機化合物が
使用される。
また、クリーニング性あるいは耐摩耗性あるいは耐コロ
ナ性を向上させるため、自由表面4上に表面被覆層を形
成してもよい。表面被覆層として好適な材料としては、
5ixO,x、 5ixC1−、、5ixNi−X ’
GeX01−X I GeXCl −X ’ GeX
N+ −X ’ BX’i −X。
ナ性を向上させるため、自由表面4上に表面被覆層を形
成してもよい。表面被覆層として好適な材料としては、
5ixO,x、 5ixC1−、、5ixNi−X ’
GeX01−X I GeXCl −X ’ GeX
N+ −X ’ BX’i −X。
BXCl−X’ム1xN1−x(oく工く1)、および
これらに水素あるいはハロゲンを含有する層等の無機物
などが上げられる。
これらに水素あるいはハロゲンを含有する層等の無機物
などが上げられる。
シリコンを含有する光導電層であるa−3i(:H:X
)の作成ニは、SiH4,Si□H6,Si3H8゜S
iF4.5il14. SiHF3. SiH2F2.
SiH3F 。
)の作成ニは、SiH4,Si□H6,Si3H8゜S
iF4.5il14. SiHF3. SiH2F2.
SiH3F 。
5iHC1,、5iH2C12,5iH3C1等の81
原子の原料ガスを用いたプラズマCVD法、または多結
晶シリコンをターゲットとし、ムrとF2(さらにF2
又はC121混合しても良い)の混合ガス中での反応性
スパッタ法が用いられる。また、a−8i、−ア)(”
H: X ) (0<y < ’ ) 、a S
i 、−yOy (” H” ” )(oくy<1)、
a−8i、−、Nア(:H:X)(o<7<1 )の作
成には、更に炭素源として、CH4,02H6゜CsH
8* C4H18+ C2H4,C3H6+ C4H8
、C2H2。
原子の原料ガスを用いたプラズマCVD法、または多結
晶シリコンをターゲットとし、ムrとF2(さらにF2
又はC121混合しても良い)の混合ガス中での反応性
スパッタ法が用いられる。また、a−8i、−ア)(”
H: X ) (0<y < ’ ) 、a S
i 、−yOy (” H” ” )(oくy<1)、
a−8i、−、Nア(:H:X)(o<7<1 )の作
成には、更に炭素源として、CH4,02H6゜CsH
8* C4H18+ C2H4,C3H6+ C4H8
、C2H2。
C5H4” 4”6 ” 6H6等の炭化水素、OH,
F、CH3Cl。
F、CH3Cl。
0H3X 、 C2H5C1、C2H5Br等のハロゲ
ン化アリル、(GjlF3. CF4. CHF3.
C,、F6.03F8等 (7)7゜ンガス、C6H6
−!IIF1.1cm=1〜6)の弗化ベンゼン等のC
原子の原料ガスをプラズマ(jVD法に用いるシリコン
原料ガスと混合して、あるいは、反応性スパッタ法には
ムr等のスパッタガスと混合して用いる。また、酸素源
としてはO2,CO。
ン化アリル、(GjlF3. CF4. CHF3.
C,、F6.03F8等 (7)7゜ンガス、C6H6
−!IIF1.1cm=1〜6)の弗化ベンゼン等のC
原子の原料ガスをプラズマ(jVD法に用いるシリコン
原料ガスと混合して、あるいは、反応性スパッタ法には
ムr等のスパッタガスと混合して用いる。また、酸素源
としてはO2,CO。
C;02. No 、 NO2等、また、窒素源として
はN2゜NH,、No等を混合して用いる。
はN2゜NH,、No等を混合して用いる。
また、!L−8i(: H:X )にGe f添加する
場合もGeH4,Ge2H6,Ge3H8,GeF4.
GeCl4゜GaHF、 、 GeF2F2. G
eH5F 、 GeHCl、 、 GeH2C1□。
場合もGeH4,Ge2H6,Ge3H8,GeF4.
GeCl4゜GaHF、 、 GeF2F2. G
eH5F 、 GeHCl、 、 GeH2C1□。
GaH,01等のガスを上記S1原子の原料ガスと混合
しプラズマCVD法によって形成することも出来る。
しプラズマCVD法によって形成することも出来る。
さらに、本発明において、上記のa−8i(:H:X)
。
。
& −Si、 −yCy (: H: X ) (0<
3’<’ ) 、&−81J 707(:H:X)(0
<7<1 )、a−8i、、N、(:H:X)(0くy
く1)、あるいはこれらにGo添加のこれらの膜中に、
不純物を添加することにより伝導性を制御し、所望の電
子写真特性を得ることができる。
3’<’ ) 、&−81J 707(:H:X)(0
<7<1 )、a−8i、、N、(:H:X)(0くy
く1)、あるいはこれらにGo添加のこれらの膜中に、
不純物を添加することにより伝導性を制御し、所望の電
子写真特性を得ることができる。
p型伝導性を与えるp型不純物としては、周期律表第1
族bK属するB、ムl、Ga、In等があり、好適には
B、ムl 、 Gaが用いられ、n型伝導性を与えるn
型不純物としては、周期律表第V族すに属するN、P、
ムs 、 Sb等が有り、好適にはP。
族bK属するB、ムl、Ga、In等があり、好適には
B、ムl 、 Gaが用いられ、n型伝導性を与えるn
型不純物としては、周期律表第V族すに属するN、P、
ムs 、 Sb等が有り、好適にはP。
ムSが用いられる。
また、これらの不純物全添加する方法として、p型不純
物の場合、B2H6,B4H,。、B5H,。
物の場合、B2H6,B4H,。、B5H,。
B5H,、、B6H1□、 B6H14,BF3. B
CI、 * BBr、。
CI、 * BBr、。
ム101. 、 (OH3)3ムl 、 (C2H5)
、ムl 、 (i −04H,)3ム1゜(OH,)、
Ga、(02H5)3Ga 、InCl、、(02H5
)、Inを、n型不純物の場合、N2. NH,、No
、 N20 、 No□。
、ムl 、 (i −04H,)3ム1゜(OH,)、
Ga、(02H5)3Ga 、InCl、、(02H5
)、Inを、n型不純物の場合、N2. NH,、No
、 N20 、 No□。
PH,、P2H4,PH4I 、 PF、 、 PF5
. PCI、 、 PCl5゜PBr 、 PBr、
、 PI、 、ムsH,,ムsF、 、ムscl、。
. PCI、 、 PCl5゜PBr 、 PBr、
、 PI、 、ムsH,,ムsF、 、ムscl、。
ムsBr 、 SbH3,SbF、 、 SbF5.
5bC1,、5bC15等のガスを、あるいはこれらの
ガス’rH2,H6゜ムrで希釈したガスを、プラズマ
CVD法では、それぞれの膜形成時において、使用する
上記のC原子、 Si原子等の原料ガスと混合して用い
れば良く、反応性スパッタ法では、ムrまたはF2ある
いは’21012に混合して用いれば良い。
5bC1,、5bC15等のガスを、あるいはこれらの
ガス’rH2,H6゜ムrで希釈したガスを、プラズマ
CVD法では、それぞれの膜形成時において、使用する
上記のC原子、 Si原子等の原料ガスと混合して用い
れば良く、反応性スパッタ法では、ムrまたはF2ある
いは’21012に混合して用いれば良い。
高分子物質にエフ形成される電荷移動層2としては、ポ
リイミド、ポリピロメリット酸イミド。
リイミド、ポリピロメリット酸イミド。
ポリビフェニルテトラカルボン酸イミド、ポリベンゾフ
ェノンテトラカルボン酸イミド、ポリエーテルイミド、
ポリアミドイミド等のポリイミド系、また、ポリアクリ
ロニトリル、ポリCP−フェニレンビニレン)、ポリフ
ェニレンサルファイド。
ェノンテトラカルボン酸イミド、ポリエーテルイミド、
ポリアミドイミド等のポリイミド系、また、ポリアクリ
ロニトリル、ポリCP−フェニレンビニレン)、ポリフ
ェニレンサルファイド。
ポリオキサジアゾール等が挙げられる。これら高分子の
結晶化度、もしくは加熱処理後の結晶化度は10〜70
%のものとする。
結晶化度、もしくは加熱処理後の結晶化度は10〜70
%のものとする。
以下本発明について実際に行なった実験例について述べ
る。
る。
実施例1
鏡面研磨したアルミニウム基板上に高分子スルホニウム
塩の1つであるポリ〔キシリレン−α−ジエチルスルホ
ニウムブロマイド)を塗布し減圧下30’Cでフィルム
化を行い高分子層を得た。この高分子層を窒素ガス中に
て200〜400″Cにて1〜15時間の加熱処理を行
った。これにより、ポリ(キシリレ/−α−ジエチルス
ルホニウムブロマイド)のBr、あるいは(C2H3)
2Sが解離すると同時にこれらの高分子間の重合度が進
み共役鎖の長さが増加する。また、光学的禁止帯幅は減
少し、当初可視領域に吸収もなく透明(2,了eV)で
あったものが、〜430nm付近に吸収ピークが現れ黄
色く着色(2,1〜2.46”/)[、たポリ(P−〕
二ニレしプニレン)が得られる。
塩の1つであるポリ〔キシリレン−α−ジエチルスルホ
ニウムブロマイド)を塗布し減圧下30’Cでフィルム
化を行い高分子層を得た。この高分子層を窒素ガス中に
て200〜400″Cにて1〜15時間の加熱処理を行
った。これにより、ポリ(キシリレ/−α−ジエチルス
ルホニウムブロマイド)のBr、あるいは(C2H3)
2Sが解離すると同時にこれらの高分子間の重合度が進
み共役鎖の長さが増加する。また、光学的禁止帯幅は減
少し、当初可視領域に吸収もなく透明(2,了eV)で
あったものが、〜430nm付近に吸収ピークが現れ黄
色く着色(2,1〜2.46”/)[、たポリ(P−〕
二ニレしプニレン)が得られる。
このポリ(P−フェニレンビニレン)は以下の構造を有
する。
する。
(−O−1−)−nX:C2H2n=5〜40このポリ
CP−フェニレンビニレン)の結晶化度を測定すると約
10〜70%であった。
CP−フェニレンビニレン)の結晶化度を測定すると約
10〜70%であった。
上記の高分子層を電荷移動層として加熱処理後の膜厚で
26μm形成した基板を6インチの放電電極を有する平
行平板型の容量結合方式プラズマcvn装置内に配置し
、反応容器内’15X10−6Torr以下に排気後、
基板を150〜200″Cに加熱した。つぎにSiH4
を10〜40500m導入し、圧力Q、 2〜1. Q
TOrr、高周波電力20〜1ooWでノンドープ(
non−doped) a−3i:H層を光導電層とし
て0.5〜5μm形成し、更に、SiH4を10〜30
1100m 、 C2H4を20〜40sccm導入し
、圧力0.2〜10 TOrr、高周波電力50〜16
0Wでsi、−xcx: H(o<x<1 ) ’jc
表面被覆層として0.08〜0.3μm形成して電子写
真感光体を作成した。
26μm形成した基板を6インチの放電電極を有する平
行平板型の容量結合方式プラズマcvn装置内に配置し
、反応容器内’15X10−6Torr以下に排気後、
基板を150〜200″Cに加熱した。つぎにSiH4
を10〜40500m導入し、圧力Q、 2〜1. Q
TOrr、高周波電力20〜1ooWでノンドープ(
non−doped) a−3i:H層を光導電層とし
て0.5〜5μm形成し、更に、SiH4を10〜30
1100m 、 C2H4を20〜40sccm導入し
、圧力0.2〜10 TOrr、高周波電力50〜16
0Wでsi、−xcx: H(o<x<1 ) ’jc
表面被覆層として0.08〜0.3μm形成して電子写
真感光体を作成した。
このようにして得られた電子写真感光体を+6.0KV
でコロナ帯電させたところ、+22007の表面電位
を得ることが出来、白色光で露光したところ、残留電位
+50V以下で半減電位露光量は11ux−Sec以下
と非常に高い感度が得られた。また、この感光体を+9
0ovに帯電させ同じく白色光にて露光したところ、半
減電位露光量は0.21ux−sec以下と感度は非常
に高い。これを、従来のa−3i:Hの20μmからな
る感光体を+400Vに帯電させ白色光で露光した場合
と比較すれば3倍の感度があり、可視光のみに限り露光
を再度行い比較したところ、4倍以上の感度が確認され
友。また、同じコロナ電位での帯電ではa−8i:Hの
みに比べ、帯電電位も4倍以上と少ない帯電電流で高い
感度の感光体が得られる事を示した。
でコロナ帯電させたところ、+22007の表面電位
を得ることが出来、白色光で露光したところ、残留電位
+50V以下で半減電位露光量は11ux−Sec以下
と非常に高い感度が得られた。また、この感光体を+9
0ovに帯電させ同じく白色光にて露光したところ、半
減電位露光量は0.21ux−sec以下と感度は非常
に高い。これを、従来のa−3i:Hの20μmからな
る感光体を+400Vに帯電させ白色光で露光した場合
と比較すれば3倍の感度があり、可視光のみに限り露光
を再度行い比較したところ、4倍以上の感度が確認され
友。また、同じコロナ電位での帯電ではa−8i:Hの
みに比べ、帯電電位も4倍以上と少ない帯電電流で高い
感度の感光体が得られる事を示した。
また、0.2〜2μmの!L−8i:H光導電層に酸素
’1200〜3000pE)m添加した場合も、BfO
,S〜s ppm添加した場合も上記と同様な特性を示
す電子写真感光体を形成できた。
’1200〜3000pE)m添加した場合も、BfO
,S〜s ppm添加した場合も上記と同様な特性を示
す電子写真感光体を形成できた。
一方、結晶化度1oqb未満の電荷移動層は、残留電位
が増加し十分な画像濃度が得られなかった。
が増加し十分な画像濃度が得られなかった。
また、結晶化度70チを越えると、膜審体の機械的強度
が低下し、加熱時の膜剥離が多発し、製膜性が著しく低
下する。
が低下し、加熱時の膜剥離が多発し、製膜性が著しく低
下する。
実施例2
表面研磨したアルミニウムドラムにボリフェニレンサル
フフイド(以下PPSと記す)の粉末を〜300″Cで
不活性ガス中にてホットプレスにより〜20μm形成後
表面を鏡面にわずかに研磨し電荷移動層とする。この状
態でのPPSはわずかに黄色を帯びた透明に近い膜であ
る。
フフイド(以下PPSと記す)の粉末を〜300″Cで
不活性ガス中にてホットプレスにより〜20μm形成後
表面を鏡面にわずかに研磨し電荷移動層とする。この状
態でのPPSはわずかに黄色を帯びた透明に近い膜であ
る。
ppsは、以下の構造においてX : S、n:10〜
3oの高分子であった。
3oの高分子であった。
このドラムを更に空気中にて150〜250°Cにて0
61〜6時間加熱処理を行う。このようにして得られた
ドラムは褐色を帯びたものとなり光学的禁止帯幅で〜2
.4θVであった。
61〜6時間加熱処理を行う。このようにして得られた
ドラムは褐色を帯びたものとなり光学的禁止帯幅で〜2
.4θVであった。
上記と同様の方法で、X線測定用に作製したサンプルを
用い、結晶化度を測定したところ、加熱処理後のpps
の結晶化度は約10〜40%であった。
用い、結晶化度を測定したところ、加熱処理後のpps
の結晶化度は約10〜40%であった。
これを、長さ45CDl、内径16Cmφの円筒型の放
電電極を有する容量結合方式プラズマCVD装置内に配
置し、反応容器内を5 X 10−6Torr以下に排
気後、アルミニウムドラムを160〜200°Cに加熱
した。5iH4f 50〜150 Boom 、 02
H2k 2〜105oon、 B2H615in4に対
し6〜1100pp、圧力0.2〜1.QTOOr、高
周波電力100〜250Wでa−8i、−エCx: H
層f 1〜5 μm形成し、続いて、S iH4に加え
て02H2’i 20〜50secmと増加し、a−3
i、−XCX層0.05〜0.5μmを形成し電子写真
感光体とした。この時の2L −8i1−xCx:H層
の光学的禁止帯幅が1.7〜1.9 eVであり、この
感光体を670nmの1.、EDを光源とする光プリン
タに実装し、正帯電において+500〜aooVの表面
電位で鮮明な印字を確認した。
電電極を有する容量結合方式プラズマCVD装置内に配
置し、反応容器内を5 X 10−6Torr以下に排
気後、アルミニウムドラムを160〜200°Cに加熱
した。5iH4f 50〜150 Boom 、 02
H2k 2〜105oon、 B2H615in4に対
し6〜1100pp、圧力0.2〜1.QTOOr、高
周波電力100〜250Wでa−8i、−エCx: H
層f 1〜5 μm形成し、続いて、S iH4に加え
て02H2’i 20〜50secmと増加し、a−3
i、−XCX層0.05〜0.5μmを形成し電子写真
感光体とした。この時の2L −8i1−xCx:H層
の光学的禁止帯幅が1.7〜1.9 eVであり、この
感光体を670nmの1.、EDを光源とする光プリン
タに実装し、正帯電において+500〜aooVの表面
電位で鮮明な印字を確認した。
また、a−3i、xcx: HにGeを添加したa−(
5i1−2Ge2)、−xcx: Hf−用いれば更に
感度の向上が計られた。
5i1−2Ge2)、−xcx: Hf−用いれば更に
感度の向上が計られた。
また、電荷移動層として硫化高分子層を用いたが、Sa
、あるいはTO化嵩高分子も同様な特性が得られる。
、あるいはTO化嵩高分子も同様な特性が得られる。
表面被覆層としてa −8工1−XCX層に代わる材料
として0.1〜0.5μmのa−Gol−xOx:H(
0(x〈1)をプラズマCvD法で形成し、同様に光プ
リンタに実装したところ、この構成の電子写真感光体が
耐熱性、耐湿性に優れ、50万枚の耐刷性を有すること
を解認した。
として0.1〜0.5μmのa−Gol−xOx:H(
0(x〈1)をプラズマCvD法で形成し、同様に光プ
リンタに実装したところ、この構成の電子写真感光体が
耐熱性、耐湿性に優れ、50万枚の耐刷性を有すること
を解認した。
電荷移動層の結晶化度10チ未満では、実施例1と同じ
く残留電位の増加が見られ、移動度の低下になるもので
ある。
く残留電位の増加が見られ、移動度の低下になるもので
ある。
発明の効果
本発明による電子写真感光体は、光励起によって移動可
能なキャリアを発生する光導電層と、結晶化度10〜7
0%の高分子化合物により形成された電荷移動層を備え
た構成としたために、暗時の抵抗値が犬きく、かつキャ
リア移動度の大きな電荷移動層を形成することが可能と
なる。
能なキャリアを発生する光導電層と、結晶化度10〜7
0%の高分子化合物により形成された電荷移動層を備え
た構成としたために、暗時の抵抗値が犬きく、かつキャ
リア移動度の大きな電荷移動層を形成することが可能と
なる。
以上の相乗効果により、残留電位の小さな、高感度で帯
電電位の大きな電子写真感光体が得られる。
電電位の大きな電子写真感光体が得られる。
図は本発明の一実施例における電子写真感光体の断面図
である。 1・・・・・・支持体、2・・・・・・電荷移動層、3
・・・・・・光導電層、4・・・・・・自由表面。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名f−
−−支fr俸 、 ’t−bm&i
である。 1・・・・・・支持体、2・・・・・・電荷移動層、3
・・・・・・光導電層、4・・・・・・自由表面。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名f−
−−支fr俸 、 ’t−bm&i
Claims (4)
- (1)光励起によって移動可能なキャリアを発生する光
導電層と、前記キャリアを輸送する電荷移動層とを有し
、前記電荷移動層は結晶化度10〜70%の高分子化合
物からなる電子写真感光体。 - (2)光導電層は、局在化状態密度を減少させる修飾物
質を含む非晶質層であることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の電子写真感光体。 - (3)電荷移動層は、電子受容体として弗化砒素(AS
F_5)、酸化イオウ(SO_3)、弗化アンチモン(
SbF_5)、臭素(Br_2)、ヨウ素(I_2)、
あるいは7,7,8,8−テトラシアノキシメジメタン
(TCNQ)の少なくとも1つを0.01〜0.4wt
%含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電
子写真感光体。 - (4)光導電層は、少なくとも水素あるいはハロゲン元
素のいずれか一方を含むことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62110214A JP2595536B2 (ja) | 1987-05-06 | 1987-05-06 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62110214A JP2595536B2 (ja) | 1987-05-06 | 1987-05-06 | 電子写真感光体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63274959A true JPS63274959A (ja) | 1988-11-11 |
JP2595536B2 JP2595536B2 (ja) | 1997-04-02 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0449117A2 (en) * | 1990-03-23 | 1991-10-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Organic polymer and preparation and use thereof |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1987
- 1987-05-06 JP JP62110214A patent/JP2595536B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62187353A (ja) * | 1986-02-14 | 1987-08-15 | Fuji Xerox Co Ltd | 電子写真用感光体 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0449117A2 (en) * | 1990-03-23 | 1991-10-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Organic polymer and preparation and use thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP2595536B2 (ja) | 1997-04-02 |
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