JPS62267759A - 電子写真感光体 - Google Patents
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- JPS62267759A JPS62267759A JP11048186A JP11048186A JPS62267759A JP S62267759 A JPS62267759 A JP S62267759A JP 11048186 A JP11048186 A JP 11048186A JP 11048186 A JP11048186 A JP 11048186A JP S62267759 A JPS62267759 A JP S62267759A
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-
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08285—Carbon-based
-
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- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08221—Silicon-based comprising one or two silicon based layers
- G03G5/08228—Silicon-based comprising one or two silicon based layers at least one with varying composition
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、電子写真方式の複写機、光プリンタ等に用い
られる電子写真感光体に関するものである。
られる電子写真感光体に関するものである。
(従来の技術)
従来、電子写真感光体における光導電体として、10な
いし40atm%の水素を局在化状態密度を減少させる
修飾物質として含む非晶質シリコン(以下a−3i:H
と記す)が高い光感度、無公害性および高い硬度を有す
ることにより注目され利用されている。
いし40atm%の水素を局在化状態密度を減少させる
修飾物質として含む非晶質シリコン(以下a−3i:H
と記す)が高い光感度、無公害性および高い硬度を有す
ることにより注目され利用されている。
しかし、上記のa−3i:Hで構成される電子写真感光
体ではまだ解決しなければならない問題が多い。
体ではまだ解決しなければならない問題が多い。
たとえば、第1の間層としてa−3i:Hは、他の感光
体材料である有機光半導体(以下OPCと記す)、ある
いはSeに比較して誘電率が約11と大きく(OPC:
約3、Se:約6)静電容量が大きいため、表面への帯
電処理を行う際には非常に大きな帯電電流を必要とする
。
体材料である有機光半導体(以下OPCと記す)、ある
いはSeに比較して誘電率が約11と大きく(OPC:
約3、Se:約6)静電容量が大きいため、表面への帯
電処理を行う際には非常に大きな帯電電流を必要とする
。
また、実用表面電位(〜400 V )を得るには表面
電荷の電荷密度も高く、この電荷を光除電するためには
多くの光エネルギーを必要とするため、実際の光感度は
十分高いとは言えない。
電荷の電荷密度も高く、この電荷を光除電するためには
多くの光エネルギーを必要とするため、実際の光感度は
十分高いとは言えない。
さらに、a−3i:H膜の製膜に際して最もよく用いら
れるシラン(SiH4と記す)ガスを原料ガスとしたプ
ラズマCVD法では、堆積速度も10μs/H以下と遅
く、シランガスも高価であることから、製造原価の低減
は困難であった。
れるシラン(SiH4と記す)ガスを原料ガスとしたプ
ラズマCVD法では、堆積速度も10μs/H以下と遅
く、シランガスも高価であることから、製造原価の低減
は困難であった。
また、膜厚においても30pm以下で使用されることか
ら、実用の表面電位はSe感光体の800■に比べ50
0v以下と低い電位で使用されるため、通常の2成分現
像剤では十分な画像濃度コピーが得られない欠点があっ
た。
ら、実用の表面電位はSe感光体の800■に比べ50
0v以下と低い電位で使用されるため、通常の2成分現
像剤では十分な画像濃度コピーが得られない欠点があっ
た。
上記の諸問題を解決する手段として、特開昭54−14
3645号公報には有機半導体材料を用いた機能分離型
の感光体が、また特開昭56−24355号公報には無
機半導体材料を用いた機能分離感光体が開示されている
。
3645号公報には有機半導体材料を用いた機能分離型
の感光体が、また特開昭56−24355号公報には無
機半導体材料を用いた機能分離感光体が開示されている
。
前者の有機半導体材料を用いた場合、誘電率の減少によ
る帯電電位の向上が望めるものの有機半導体材料は硬度
が小さいため、 a−5i:Hの持つ高い硬度の長寿命
感光体としての特長が生かせないことから、決して有効
な手段とは言えない。
る帯電電位の向上が望めるものの有機半導体材料は硬度
が小さいため、 a−5i:Hの持つ高い硬度の長寿命
感光体としての特長が生かせないことから、決して有効
な手段とは言えない。
また、後者においては多結晶しやすいカルコゲン材料、
あるいは誘電率の大きなSiC等を用いるため温度特性
の低下、あるいは表面電位の向上が期待されない欠点が
あった。
あるいは誘電率の大きなSiC等を用いるため温度特性
の低下、あるいは表面電位の向上が期待されない欠点が
あった。
このため、光励起によって移動可能なキャリアを発生す
る光導電層と、誘電率が2.3ないし6と小さな非晶質
カーボンを主成分とする電荷移動層を積層し、感光体全
体の誘電率を減少することによって、帯電時の帯電電流
が減少し、また表面電荷密度も減少することから光感度
も向上させることが可能となる。
る光導電層と、誘電率が2.3ないし6と小さな非晶質
カーボンを主成分とする電荷移動層を積層し、感光体全
体の誘電率を減少することによって、帯電時の帯電電流
が減少し、また表面電荷密度も減少することから光感度
も向上させることが可能となる。
また、誘電率2.3ないし6と小さな非晶質カーボンは
a−5i:H膜だけで形成される感光体の1/4ないし
115の膜厚で同程度の電子写真特性を得ることができ
る。さらに、非晶質カーボンの製膜にはプラズマCVD
法を使用した場合、原料ガスとしてSiH4ガスに比べ
て安価なCH,、C,H,、C,H,。
a−5i:H膜だけで形成される感光体の1/4ないし
115の膜厚で同程度の電子写真特性を得ることができ
る。さらに、非晶質カーボンの製膜にはプラズマCVD
法を使用した場合、原料ガスとしてSiH4ガスに比べ
て安価なCH,、C,H,、C,H,。
CzHt −CJs 、 CJsなどのガス使用可能な
ため、感光体に製造原価も大幅に低減できる。
ため、感光体に製造原価も大幅に低減できる。
(発明が解決しようとする問題点)
誘電率の小さな非晶質カーボンを電荷移動層として用い
た場合、低価格で、高感度な電子写真感光体が得られる
反面、光学的禁止帯幅が大きいため、電荷発生層からの
電荷注入効率が悪い欠点があった。
た場合、低価格で、高感度な電子写真感光体が得られる
反面、光学的禁止帯幅が大きいため、電荷発生層からの
電荷注入効率が悪い欠点があった。
電荷発生層から電荷移動層への電荷注入効率は単に光感
度、残留電位の問題だけでなく、荷電発生層に生じた電
荷が、電荷移動層との界面に蓄積され、過剰電荷は層の
面方向に拡散するため、コピー画像のボケ、解像度不良
の原因となっていた。
度、残留電位の問題だけでなく、荷電発生層に生じた電
荷が、電荷移動層との界面に蓄積され、過剰電荷は層の
面方向に拡散するため、コピー画像のボケ、解像度不良
の原因となっていた。
本発明の目的は、従来の欠点を解消し、非晶質カーボン
を主成分とする誘電率が、2.3ないし6である電荷移
動層と光導電層とを積層する際、光導電層に不純物を添
加し、その量を電荷移動層との界面近傍に第1の層領域
と、さらに第1の層領域と接して、光源電性に優れた第
2の層領域を形成することにより、帯電時のコロナ電流
が極めて小さく、可視光に対して非常に高感度で、しか
も過飽和の光量に対しても、解像度劣化が見られない優
れた電子写真感光体を提供することである。
を主成分とする誘電率が、2.3ないし6である電荷移
動層と光導電層とを積層する際、光導電層に不純物を添
加し、その量を電荷移動層との界面近傍に第1の層領域
と、さらに第1の層領域と接して、光源電性に優れた第
2の層領域を形成することにより、帯電時のコロナ電流
が極めて小さく、可視光に対して非常に高感度で、しか
も過飽和の光量に対しても、解像度劣化が見られない優
れた電子写真感光体を提供することである。
(問題点を解決するための手段)
本発明の電子写真感光体は、光励起によって移動可能な
キャリヤを発生する光導電層と、非晶質カーボンを主成
分とする電荷移動層が積層された電子写真感光体におい
て、光導電層が不純物を層厚方向に不均一に含み、電荷
移動層との界面側に第1の層領域と、さらに、第1の層
領域と接し、光導電性に優れた第2の層領域を有し、不
純物濃度が第1の層領域で高濃度であるものである。
キャリヤを発生する光導電層と、非晶質カーボンを主成
分とする電荷移動層が積層された電子写真感光体におい
て、光導電層が不純物を層厚方向に不均一に含み、電荷
移動層との界面側に第1の層領域と、さらに、第1の層
領域と接し、光導電性に優れた第2の層領域を有し、不
純物濃度が第1の層領域で高濃度であるものである。
また、非晶質カーボン層が少なくとも水素あるいはハロ
ゲン元素を含むものであり、光導電層が局在状態密度を
減少させる修飾物質を含む非晶質層であり、また光導電
層が、少なくとも水素あるいはハロゲン元素のいずれか
を含むものであり、不純物が周期律表第■族B、あるい
は第■族Bの元素であり、また不純物が炭素、酸素ある
いは窒素のうち少なくともいずれか1つであり、さらに
自由表面に表面被覆層を形成したものである。
ゲン元素を含むものであり、光導電層が局在状態密度を
減少させる修飾物質を含む非晶質層であり、また光導電
層が、少なくとも水素あるいはハロゲン元素のいずれか
を含むものであり、不純物が周期律表第■族B、あるい
は第■族Bの元素であり、また不純物が炭素、酸素ある
いは窒素のうち少なくともいずれか1つであり、さらに
自由表面に表面被覆層を形成したものである。
(作 用)
本発明は、光導電層が多層構造を有した電子写真感光体
において、第2の層領域において光励起によって発生し
た移動可能なキャリアは、帯電処理された感光体の内部
に生じる電界により、第1の層領域を通り、積層された
非晶質カーボンを主成分とする電荷移動層に注入される
。
において、第2の層領域において光励起によって発生し
た移動可能なキャリアは、帯電処理された感光体の内部
に生じる電界により、第1の層領域を通り、積層された
非晶質カーボンを主成分とする電荷移動層に注入される
。
第1の層領域には、注入される電荷の移動を防げる効果
を持つ不純物を含ませる。このため、第1の層領域の不
純物は、第2の層領域より高濃度とすることが必要であ
り、また第1の層領域の層厚は、電荷が移動可能な膜厚
以下の薄い方がよい。
を持つ不純物を含ませる。このため、第1の層領域の不
純物は、第2の層領域より高濃度とすることが必要であ
り、また第1の層領域の層厚は、電荷が移動可能な膜厚
以下の薄い方がよい。
このような電子写真感光体では、強い光の露光でも、優
れた解像特性を有する。
れた解像特性を有する。
(実施例)
本発明の実施例を図に基づいて説明する。
図は本発明の最も基本的な電子写真感光体の断面図の模
式図である。
式図である。
図に示す電子写真感光体は、電子写真感光体としての支
持体1上に、少なくとも水素またはハロゲン原子(X)
を含有する非晶質カーボン(以下a−C(:H:X)と
略す。ただしX=F、C7l、BrまたはI)からなる
電荷移動層2とシリコンを含む光導電層3を有し、光導
電層3は第1の層領域3aと第2の層領域3bを有し、
一方で自由表面4を有している。
持体1上に、少なくとも水素またはハロゲン原子(X)
を含有する非晶質カーボン(以下a−C(:H:X)と
略す。ただしX=F、C7l、BrまたはI)からなる
電荷移動層2とシリコンを含む光導電層3を有し、光導
電層3は第1の層領域3aと第2の層領域3bを有し、
一方で自由表面4を有している。
本発明において、光導電層としてシリコンを含有するa
−Si(:H:X)、またはa−(Si、−zGez)
1−、C,(:H:X)(0<y、z<1)層を、不純
物としてシリコンを含有する光導電層の価電子制御が可
能なP型伝導性を与える同期体表筒■族すに属するB
、 Al、 Ga、 In等、好適にはB、AN、Ga
が、また、n型伝導性を与える不純物としては、周期律
表第■族すに属するN、 P 、 As、 Sb等を、
好適にはP、Asを用いる。
−Si(:H:X)、またはa−(Si、−zGez)
1−、C,(:H:X)(0<y、z<1)層を、不純
物としてシリコンを含有する光導電層の価電子制御が可
能なP型伝導性を与える同期体表筒■族すに属するB
、 Al、 Ga、 In等、好適にはB、AN、Ga
が、また、n型伝導性を与える不純物としては、周期律
表第■族すに属するN、 P 、 As、 Sb等を、
好適にはP、Asを用いる。
さらに他の不純物として酸素、炭素、窒素を含む層とし
て、a−5L、、C,(:H:X) (0<y(1)、
a−5i、−,0゜(:H:X)(0<y<1)、 a
−Slt−yNy(:H:X)(0<y<t)、a−5
i、−2Gez(:H:X)(0<z(1)、 a−(
Si、−tGaz)x−yNy(:H:X)(0(yl
z<1)、 a−(Sit−tGaz)z−yOy(
:H:X)(Oくylz<1)、あるいはこれらの積層
からなる。またyを連続的に変化させた層としても使用
できる。
て、a−5L、、C,(:H:X) (0<y(1)、
a−5i、−,0゜(:H:X)(0<y<1)、 a
−Slt−yNy(:H:X)(0<y<t)、a−5
i、−2Gez(:H:X)(0<z(1)、 a−(
Si、−tGaz)x−yNy(:H:X)(0(yl
z<1)、 a−(Sit−tGaz)z−yOy(
:H:X)(Oくylz<1)、あるいはこれらの積層
からなる。またyを連続的に変化させた層としても使用
できる。
このときの膜厚は、電荷移動管は5ないし50μm好適
には10ないし25μm、また光導電層の膜厚は0.5
ないし10pm好適には1ないし5pIaとすればよい
。また、光導電層の第1の層領域としては、o、oos
ないし0.5pmとする。
には10ないし25μm、また光導電層の膜厚は0.5
ないし10pm好適には1ないし5pIaとすればよい
。また、光導電層の第1の層領域としては、o、oos
ないし0.5pmとする。
本発明において、さらに電子写真特性を向上させるため
に、図において、支持体1と電荷移動層2との間に、支
持体1から電荷移動層2に注入するキャリアを効果的に
阻止するため障壁層を設けてもよい。
に、図において、支持体1と電荷移動層2との間に、支
持体1から電荷移動層2に注入するキャリアを効果的に
阻止するため障壁層を設けてもよい。
障壁層を形成する材料としては、AI!20. 、 B
ad。
ad。
Bad、 、 Bed、 Bi2O,、Cab、 Ce
O,、Ce2O,、La20. 。
O,、Ce2O,、La20. 。
Dy20. 、 Lu、Ol、 Cr、O,、Cub、
Cu2O,FeO+ PbO+MHO,SrO,Ta
、O,、The□、 ZrO2,HfO2,Tie、
、 Tie。
Cu2O,FeO+ PbO+MHO,SrO,Ta
、O,、The□、 ZrO2,HfO2,Tie、
、 Tie。
Sin、 、 Gem2. Sin、 GeO等の金属
酸化物またはTiN 。
酸化物またはTiN 。
AIN、 SnN、 NbN、 TaN、 GaN等の
金属窒化物、またはVC,SnC,TiC等の金属炭化
物またはSiC,SiN。
金属窒化物、またはVC,SnC,TiC等の金属炭化
物またはSiC,SiN。
GeC,GeN、 BC,BN等の絶縁物、ポリエチレ
ン、ポリカーボネート、ポリウレタン、ポリパラキシレ
ン等の有機化合物が使用される。
ン、ポリカーボネート、ポリウレタン、ポリパラキシレ
ン等の有機化合物が使用される。
また、クリーニング性あるいは耐摩耗性あるいは耐コロ
ナ性を向上させるため、図において、自由表面4上に表
面被覆層を形成する。表面被覆層として好適な材料とし
ては、5ixO1−x、SixC1−x。
ナ性を向上させるため、図において、自由表面4上に表
面被覆層を形成する。表面被覆層として好適な材料とし
ては、5ixO1−x、SixC1−x。
5ixNz−xr GexOl−xr GexCl−x
r GexNx−xr BxNl−xrBxC>−xt
AIIxNl−x(o<x<t)、およびこれらに水
素あるいはハロゲンを含有する層等の無機物、あるいは
ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボーネート、ポ
リプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリビニルアルコール
、ポリスチレン、ポリアミド、ポリ四弗化エチレン、ポ
リ三弗化塩化エチレン、ポリ弗化ビニリデン、ポリウレ
タン等の合成樹脂などがあげられる。
r GexNx−xr BxNl−xrBxC>−xt
AIIxNl−x(o<x<t)、およびこれらに水
素あるいはハロゲンを含有する層等の無機物、あるいは
ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボーネート、ポ
リプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリビニルアルコール
、ポリスチレン、ポリアミド、ポリ四弗化エチレン、ポ
リ三弗化塩化エチレン、ポリ弗化ビニリデン、ポリウレ
タン等の合成樹脂などがあげられる。
ここで、a−C(:)l:X)の作成には、CH4−C
Ja 。
Ja 。
C,H,、C,H,。、 C,H4,C,H,、C4H
,、C2H,、C,H,。
,、C2H,、C,H,。
C,H,、C,H,等の炭化水素、CH3F、 CH,
CI、 CH,I。
CI、 CH,I。
C,H,CI、 C,11,B、等のハロゲン化アリル
、CCIF、。
、CCIF、。
CF4. CHF、 、 C,F、 、 C,F、等の
フロンガス、cs us −−F−(m =1〜6)の
弗化ベンゼン等のC原子の原料ガスを用いたプラズマC
VD法、または、グラファイトをターゲットとした、A
r l H2# F21 CL 9C2H4,c、o、
中での反応型スパッタリング法が使用される。
フロンガス、cs us −−F−(m =1〜6)の
弗化ベンゼン等のC原子の原料ガスを用いたプラズマC
VD法、または、グラファイトをターゲットとした、A
r l H2# F21 CL 9C2H4,c、o、
中での反応型スパッタリング法が使用される。
また、第1および第2の層領域を含む、光導電層である
a−3i(:H:X) I a−3ll−tcy (:
)l:X) (0(y<l) ta−3x、−yOy(
:)l:X)(0<y<1)、あるいはa−5il−t
Ny(:H:X) (0<yl<)(7)作成には、5
IH4t Sit H@ * S13 Ha +SiF
4.5LCI!4.5iHF、、 SiH2F2.5i
)I、F、 5L)Icら。
a−3i(:H:X) I a−3ll−tcy (:
)l:X) (0(y<l) ta−3x、−yOy(
:)l:X)(0<y<1)、あるいはa−5il−t
Ny(:H:X) (0<yl<)(7)作成には、5
IH4t Sit H@ * S13 Ha +SiF
4.5LCI!4.5iHF、、 SiH2F2.5i
)I、F、 5L)Icら。
5i82CI!2. SiH,CI2等(7)Si原子
の原料ガスを用いたプラズマCVD法、または多結晶シ
リコンをターゲットとし、ArとH,(さらにF2また
はC1zを混合してもよい)の混合ガス中での反応性ス
パッタリング法が用いられる。
の原料ガスを用いたプラズマCVD法、または多結晶シ
リコンをターゲットとし、ArとH,(さらにF2また
はC1zを混合してもよい)の混合ガス中での反応性ス
パッタリング法が用いられる。
また− a−5iz−1ct (:o:x)(0<y
l<)l a−siz−yoy (:o:X)(0<
y<1)、 a−3i、−、N、(:H:X)(0<y
l<)(7)作成には。
l<)l a−siz−yoy (:o:X)(0<
y<1)、 a−3i、−、N、(:H:X)(0<y
l<)(7)作成には。
さらに炭素源として、CH,、C,H,、C,H,、C
4H工。。
4H工。。
C,H4,C,H,、C,H,、C,H,、C1H4,
C4H,、C,H,等の炭化水素、C)I、F、 CI
、(J、 CH,I、 C,H,(J、 C2H,B。
C4H,、C,H,等の炭化水素、C)I、F、 CI
、(J、 CH,I、 C,H,(J、 C2H,B。
等のハロゲン化アリル、 CCI!F3 、 CF4−
C)IFm 、 CJa +C,F、等のフロンガス
、 C5Hs−、F、、(m=1−6)の弗化ベンゼン
等のC原子の原料ガスをプラズマCVD法に用いるシリ
コン原料ガスと混合して、あるいは反応性スパッタリン
グ法にはAr等のスパッタガスと混合して用いる。また
、酸素源としてはO,、CO。
C)IFm 、 CJa +C,F、等のフロンガス
、 C5Hs−、F、、(m=1−6)の弗化ベンゼン
等のC原子の原料ガスをプラズマCVD法に用いるシリ
コン原料ガスと混合して、あるいは反応性スパッタリン
グ法にはAr等のスパッタガスと混合して用いる。また
、酸素源としてはO,、CO。
CO□、 No、 NO,等、また窒素源としてはN、
、NH,、NO等を混合して用いる。
、NH,、NO等を混合して用いる。
また、光導電層であるa−3L(:H:X)にGeを添
加する場合もGeH,、Ge、H,、G6J、 、 G
eF4+ GeCl1* pGeHF、 、 GeH,
F、 + GeH,F 、 GeHCe、 、 GeH
2CI22゜GeH,(j!等のガスを上記Si原子の
原料ガスと混合し゛てプラズマCVD法によって形成す
ることもできる。
加する場合もGeH,、Ge、H,、G6J、 、 G
eF4+ GeCl1* pGeHF、 、 GeH,
F、 + GeH,F 、 GeHCe、 、 GeH
2CI22゜GeH,(j!等のガスを上記Si原子の
原料ガスと混合し゛てプラズマCVD法によって形成す
ることもできる。
さらに、本発明において、上記のa−5i(:H:y)
。
。
a−3ix−ycy(:)l:X)(0(yくl)+
a−3ii−yoy(:u:y)(o<y〈tL a
−5xx−yN−(:H:y)(0<y〈l)、あるい
はさらにこれらに不純物を添加する方法として、P型不
純物の場合−B2H6,B4H工。、 B、H,、B、
H□ilBglb21BJt++ BF>+ seI、
、 BBr3. A#Cl13y (CH3)3Alt
(CJs)jl!+ (CJg)aAL (CHi)i
Ga+ (CJs)zGaeInCI2i + (C2
H,)3Inを、n型不純物の場合、N2jN)l、、
No、 N、0. NO,、P)1.、 P、)l、
、 P)14I、 PF、、 PF、。
a−3ii−yoy(:u:y)(o<y〈tL a
−5xx−yN−(:H:y)(0<y〈l)、あるい
はさらにこれらに不純物を添加する方法として、P型不
純物の場合−B2H6,B4H工。、 B、H,、B、
H□ilBglb21BJt++ BF>+ seI、
、 BBr3. A#Cl13y (CH3)3Alt
(CJs)jl!+ (CJg)aAL (CHi)i
Ga+ (CJs)zGaeInCI2i + (C2
H,)3Inを、n型不純物の場合、N2jN)l、、
No、 N、0. NO,、P)1.、 P、)l、
、 P)14I、 PF、、 PF、。
PCt!in PCl55 PBr、、 Pars、
Pl、、 AsH,、AsF、。
Pl、、 AsH,、AsF、。
AsCら+ AsBr、 、 SbH,、SbF、 、
5BFs、 5bC(lx + 5bC4l。
5BFs、 5bC(lx + 5bC4l。
等のガスを、あるいはこれらのガスをH2,He、Ar
で希釈したガスを、プラズマCVD法では、それぞれの
膜形成時において、使用する上記のSL、@子等の原料
ガスと混合して用いればよく、反応性スパッタリング法
では、 ArまたはH2あるいはF、、C42に混合し
て用いればよい、以下、実施例について述べる。
で希釈したガスを、プラズマCVD法では、それぞれの
膜形成時において、使用する上記のSL、@子等の原料
ガスと混合して用いればよく、反応性スパッタリング法
では、 ArまたはH2あるいはF、、C42に混合し
て用いればよい、以下、実施例について述べる。
(実施例1)
鏡面研摩したアルミニウム基板を15.24Ql(6イ
ンチ)の放電電極を有する平行平板型の容量結合方式プ
ラズマCVD装置内に配置し、反応容器内を5 X 1
0””Torr以下に排気後、基板を150℃ないし2
00℃に加熱し、C,H,を10105cないし80S
CCI11、He希釈ガスを15secmないし20s
ecm装置内に導入し。
ンチ)の放電電極を有する平行平板型の容量結合方式プ
ラズマCVD装置内に配置し、反応容器内を5 X 1
0””Torr以下に排気後、基板を150℃ないし2
00℃に加熱し、C,H,を10105cないし80S
CCI11、He希釈ガスを15secmないし20s
ecm装置内に導入し。
反応容器内の圧力を0.ITorrないし0 、8To
rrに調整し、 13.56μmの高周波電力80Wな
いし100Wの条件でa−C:l(層を電荷移動層とし
て25μm形成し、つぎにSiH,を10scc+aな
いし40secm導入し、 B、H,をSiH4に対し
10ppmないし1100ppの割合で添加し、圧力0
.2Torrないし1.0Torr、高周波電力20W
ないし100Wで第1の層領域を0.05μmないし0
.1μm形成し、次にB2H,の添加を停止し、第2の
層領域として、ノンドープ(non−doped )
a−5i :8層を0 、5層mないし5μI形成し光
導電層とする。さらに、5il14を10105eない
し30sccm、 C,fl、を20secmないし4
0secm導入と、圧力0 、2Torrないし1.0
Torr、高周波電力50Wないし150Wで5i1−
xcx:u(o<x<t)を表面被覆層として0.08
μ閣ないし0.3μ■形成して電子写真感光体を形成し
た。
rrに調整し、 13.56μmの高周波電力80Wな
いし100Wの条件でa−C:l(層を電荷移動層とし
て25μm形成し、つぎにSiH,を10scc+aな
いし40secm導入し、 B、H,をSiH4に対し
10ppmないし1100ppの割合で添加し、圧力0
.2Torrないし1.0Torr、高周波電力20W
ないし100Wで第1の層領域を0.05μmないし0
.1μm形成し、次にB2H,の添加を停止し、第2の
層領域として、ノンドープ(non−doped )
a−5i :8層を0 、5層mないし5μI形成し光
導電層とする。さらに、5il14を10105eない
し30sccm、 C,fl、を20secmないし4
0secm導入と、圧力0 、2Torrないし1.0
Torr、高周波電力50Wないし150Wで5i1−
xcx:u(o<x<t)を表面被覆層として0.08
μ閣ないし0.3μ■形成して電子写真感光体を形成し
た。
このときのa−CS8層の誘電率は2.5ないし5と小
さい値を示した。また、この電子写真感光体を−6,O
KVでコロナ帯電させたところ、−3200Vの表面電
位を得ることができ、白色光で露光したところ、残留電
位−30V以下で半減電位露光量は1 #ux−sec
以下と非常に高い感度が得られた。
さい値を示した。また、この電子写真感光体を−6,O
KVでコロナ帯電させたところ、−3200Vの表面電
位を得ることができ、白色光で露光したところ、残留電
位−30V以下で半減電位露光量は1 #ux−sec
以下と非常に高い感度が得られた。
また、この感光体を一900vに帯電させ同じく白色光
で露光したところ、半減電位露出量は0.2Qux−s
ee以下と感度は非常に高い、これを従来のa−Si:
)Iの20p11からなる感光体を+400vに帯電さ
せ白色光で露光した場合と比較すれば3倍の感度があり
、可視光だけに限り露光を再度行い比較すると、4倍以
上の感度が確認された。
で露光したところ、半減電位露出量は0.2Qux−s
ee以下と感度は非常に高い、これを従来のa−Si:
)Iの20p11からなる感光体を+400vに帯電さ
せ白色光で露光した場合と比較すれば3倍の感度があり
、可視光だけに限り露光を再度行い比較すると、4倍以
上の感度が確認された。
また、このような感光体をカスケード現像法を用いて画
像を評価した。第1の層領域を持たない。
像を評価した。第1の層領域を持たない。
a−5i:)lだけの光導電層を用いた感光体では解像
度劣化が生じる飽和光量の2倍でも、最適露光と同等な
解像度が得られ、露光裕度も高いことを示した。これは
、電子写真感光体の誘電率を減少させている誘電率2.
5ないし5のa−C:l(層は電子の電荷移動層として
機能し、電子の注入率は良い上に。
度劣化が生じる飽和光量の2倍でも、最適露光と同等な
解像度が得られ、露光裕度も高いことを示した。これは
、電子写真感光体の誘電率を減少させている誘電率2.
5ないし5のa−C:l(層は電子の電荷移動層として
機能し、電子の注入率は良い上に。
界面での電子の拡散を第1のB添加層領域が防止してい
るためである。
るためである。
また、0.5μ量ないし5μmの第2のa−3i:8層
領域に、Bを0.5ppmないし5 ppm添加した場
合も、上記と同様な特性を示す電子写真感光体を形成で
きた。さらに、Bの分布を連続的に変化させても同様で
あった。
領域に、Bを0.5ppmないし5 ppm添加した場
合も、上記と同様な特性を示す電子写真感光体を形成で
きた。さらに、Bの分布を連続的に変化させても同様で
あった。
また、 C,H4にCF、を1%混合しa−C(:H:
X)膜を形成した場合、誘電率は2.3ないし3.5と
なり、上記と同様な特性が得られた。
X)膜を形成した場合、誘電率は2.3ないし3.5と
なり、上記と同様な特性が得られた。
(実施例2)
鏡面研磨したアルミニウムドラムを、長さ451゜内径
16cmφの円筒型の放電電極を有する容量結合方式プ
ラズマCVD装置内に配置し、反応容器内を5 X t
o−’Torr以下に排気後、アルミニウムドラムを1
50℃ないし200℃に加熱したa SiH4を50s
ecmないし150secm、 H2希釈した400p
pmのB10.を50sccIIないし150secm
導入し、圧力0.2Torrないし1.0Torr、高
周波電力100Wないし250Wで、障壁層としてP型
a−Si : H層を0.3pwrないし1.5pm形
成し。
16cmφの円筒型の放電電極を有する容量結合方式プ
ラズマCVD装置内に配置し、反応容器内を5 X t
o−’Torr以下に排気後、アルミニウムドラムを1
50℃ないし200℃に加熱したa SiH4を50s
ecmないし150secm、 H2希釈した400p
pmのB10.を50sccIIないし150secm
導入し、圧力0.2Torrないし1.0Torr、高
周波電力100Wないし250Wで、障壁層としてP型
a−Si : H層を0.3pwrないし1.5pm形
成し。
つぎにSi!(4を50sec+*ないし150sec
m、圧力0.2Torrないし1 、0Torr、高周
波電力100Wないし250Wで第2の層領域としてノ
ンドープ(non−doped)a−Si:H層を1μ
mないし5μ論形成し、続いて、SiH,に加えてC,
H2を20sec+++ないし50secm導入し、第
1の層領域としてa−3ix−xCx層0.5μmない
し1μmを形成した。次に、5il14を遮断し、 C
,H,だけで5μmないし10pm形成し電子写真感光
体とした。このときのa−C::8層誘電率は、2.3
ないし3であり、光学的禁止帯幅が2.4eVないし2
.6eVであり、この感光体を670nmのLEDを光
源とする光プリンタに実装し、正帯電において+500
vないし+800vの表面電位で鮮明な印字を確認した
。また、光導電性に優れた第2の層であるa−5i:H
ffに代わってa−5i(:H:F)を、第1の層領域
であるa−5i1−xCx層に代わってa−3it−x
Cx層、a−5i1−1Nz層を用いても、上記と同様
な特性を持つ電子写真感光体を形成できた。
m、圧力0.2Torrないし1 、0Torr、高周
波電力100Wないし250Wで第2の層領域としてノ
ンドープ(non−doped)a−Si:H層を1μ
mないし5μ論形成し、続いて、SiH,に加えてC,
H2を20sec+++ないし50secm導入し、第
1の層領域としてa−3ix−xCx層0.5μmない
し1μmを形成した。次に、5il14を遮断し、 C
,H,だけで5μmないし10pm形成し電子写真感光
体とした。このときのa−C::8層誘電率は、2.3
ないし3であり、光学的禁止帯幅が2.4eVないし2
.6eVであり、この感光体を670nmのLEDを光
源とする光プリンタに実装し、正帯電において+500
vないし+800vの表面電位で鮮明な印字を確認した
。また、光導電性に優れた第2の層であるa−5i:H
ffに代わってa−5i(:H:F)を、第1の層領域
であるa−5i1−xCx層に代わってa−3it−x
Cx層、a−5i1−1Nz層を用いても、上記と同様
な特性を持つ電子写真感光体を形成できた。
また、第2の層領域のa−5i:Hあるいは、a−5L
(:H:F)にGeを添加したa−5i1−2Gez
:H,a−5iGe:)I。
(:H:F)にGeを添加したa−5i1−2Gez
:H,a−5iGe:)I。
a−Siz4Gag(:H:X)(0<Z<1)を用い
ることにより、さらに感度の向上が計られた。
ることにより、さらに感度の向上が計られた。
第1の層領域の不純物である、炭素、酸素、窒素を連続
的に変化させても同様である。
的に変化させても同様である。
(実施例3)
実施例2で制作した電子写真感光体に、表面被覆層とし
て0.1,11111ないし0 、5μmのa−Ge、
−xCx:H(0<X〈1)をプラズマCVD法で形成
し、実施例2で使用した光プリンタに実装したところ、
この構成の電子写真感光体が耐熱性、耐湿性に優れ、5
0万枚の耐剛性を有することを確認した。
て0.1,11111ないし0 、5μmのa−Ge、
−xCx:H(0<X〈1)をプラズマCVD法で形成
し、実施例2で使用した光プリンタに実装したところ、
この構成の電子写真感光体が耐熱性、耐湿性に優れ、5
0万枚の耐剛性を有することを確認した。
(実施例4)
実施例2で製作した電子写真感光体に、表面被覆層とし
てポリカーボネート樹脂を乾燥後膜厚が1μmとなるよ
うに均一に塗布し電子写真感光体を得た。実施例2で使
用した光プリンタに実装したところ、この構成の電子写
真感光体は耐湿性に優れ、5万枚以上の耐刷性を有する
ことを確認した。
てポリカーボネート樹脂を乾燥後膜厚が1μmとなるよ
うに均一に塗布し電子写真感光体を得た。実施例2で使
用した光プリンタに実装したところ、この構成の電子写
真感光体は耐湿性に優れ、5万枚以上の耐刷性を有する
ことを確認した。
(実施例5)
表面にMOを蒸着した基板上に、実施例1のプラズマC
VD法により、Bを500原子ppmないし10000
原子ppm含有する誘導率3.5ないし6のa−CS1
層を6Hmと、光導電層として第1の層領域としてPを
0.5原子ppmないし50原子ppm含有するa−5
i:H層を0.05μ髄ないし0.1μ■および第2の
層領域としてノンドープ(non−doped)a−3
L:H層を1μmないし5μm形成し、さらに、Bを1
100pp添加a−5i:H層を0.05μ讃形成し、
表面波rIIMとして5iz−xNx”層を0.1μm
ないし0.2ptm順次積層して電子写真感光体を作成
した。この感光体を+6.OKVでコロナ帯電をしたと
ころ、表面電位+800vを得、白色光に対、し、 0
,4#ux−secの半減電位露光量と高感度で、残留
電位も15■以下であった。
VD法により、Bを500原子ppmないし10000
原子ppm含有する誘導率3.5ないし6のa−CS1
層を6Hmと、光導電層として第1の層領域としてPを
0.5原子ppmないし50原子ppm含有するa−5
i:H層を0.05μ髄ないし0.1μ■および第2の
層領域としてノンドープ(non−doped)a−3
L:H層を1μmないし5μm形成し、さらに、Bを1
100pp添加a−5i:H層を0.05μ讃形成し、
表面波rIIMとして5iz−xNx”層を0.1μm
ないし0.2ptm順次積層して電子写真感光体を作成
した。この感光体を+6.OKVでコロナ帯電をしたと
ころ、表面電位+800vを得、白色光に対、し、 0
,4#ux−secの半減電位露光量と高感度で、残留
電位も15■以下であった。
このような感光体を用い、実施例1と同様に現像を行い
画像評価を行った。この場合も、飽和光量の2倍でも解
像度劣化は見られず、良好なコピー画像が得られた。
画像評価を行った。この場合も、飽和光量の2倍でも解
像度劣化は見られず、良好なコピー画像が得られた。
この場合は、誘電率3.5ないし6のB添加したa−C
:H層は正孔の電荷移動層として機能している。
:H層は正孔の電荷移動層として機能している。
(実施例6)
アルミニウム支持体1上に、C2H,を用いたプラズマ
CVD法により光学的禁示帯幅2 、3sVないし2
、6eV、誘電率2.5ないし4.5のノンドープ(n
on−doped)a−C:H層を10μmないし15
μm形成し、そののちSiH4とSiF、の混合ガスに
、B、 H,を5i)14とSiF4の混合ガスに対し
10ppm+ないし1100ppの割合で添加し、第1
の層領域を0.01層mないし0.1μm形成し、B2
H,を停止したのち、第2の層領域として、a−3i:
)I:F層を1.5Hmないし2.5μm形成し光導電
層とした。
CVD法により光学的禁示帯幅2 、3sVないし2
、6eV、誘電率2.5ないし4.5のノンドープ(n
on−doped)a−C:H層を10μmないし15
μm形成し、そののちSiH4とSiF、の混合ガスに
、B、 H,を5i)14とSiF4の混合ガスに対し
10ppm+ないし1100ppの割合で添加し、第1
の層領域を0.01層mないし0.1μm形成し、B2
H,を停止したのち、第2の層領域として、a−3i:
)I:F層を1.5Hmないし2.5μm形成し光導電
層とした。
次に、SiF4をN2に切り替え、表面被覆層としてa
−5ix −xNx (0<x< 1)をO,Oaμm
ないし0.2μ口形成し電子写真感光体を得た。この感
光体に一〇、6KVのコロナ電圧で帯電処理を行った0
表面電位は一1500■の高い電位が得られ、白色光に
よって半減電位露出光量は0.5Nux−secと高感
度が実証された。これは誘電率2.5ないし4.5のノ
ンドープ(non−doped)a−C:11層が上記
の範囲では電子に対し効率良い電荷移動層として機能し
ていることを裏付けている。
−5ix −xNx (0<x< 1)をO,Oaμm
ないし0.2μ口形成し電子写真感光体を得た。この感
光体に一〇、6KVのコロナ電圧で帯電処理を行った0
表面電位は一1500■の高い電位が得られ、白色光に
よって半減電位露出光量は0.5Nux−secと高感
度が実証された。これは誘電率2.5ないし4.5のノ
ンドープ(non−doped)a−C:11層が上記
の範囲では電子に対し効率良い電荷移動層として機能し
ていることを裏付けている。
このような感光体を、実施例1と同様なカスケード法に
よって画像評価を行った。その結果、飽和光量の2.5
倍の光に対しても、解像度劣化は見られず鮮明なコピー
が得られた。また、表面被覆層としてa−Ge、、Cx
:H(0<X<1)をOApmないし0.5μm形成し
た感光体は、繰り返し帯電の再現が特に優れ。
よって画像評価を行った。その結果、飽和光量の2.5
倍の光に対しても、解像度劣化は見られず鮮明なコピー
が得られた。また、表面被覆層としてa−Ge、、Cx
:H(0<X<1)をOApmないし0.5μm形成し
た感光体は、繰り返し帯電の再現が特に優れ。
上記と同様な特性が再現良く得られることを確認した。
(発明の効果)
本発明によれば、電子写真感光体は、非晶質カーボンを
主成分とする誘電率が2.3ないし6である電荷移動層
と光導電層とを積層する際、光導電層に不純物を添加し
、その量を電荷移動層との界面近傍に第1の層領域と、
さらに第1の層領域と接して、光導電性に優れた第2の
層領域を形成することにより、帯電時のコロナ電流が極
めて小さく、可視光に対して非常に■感度で、しかも過
飽和の光量に対しても、解像度劣化が見られない、低原
価で耐刷性、耐環境性(耐熱性、耐湿性等)に優れたも
のであり、その実用上の効果は大である。
主成分とする誘電率が2.3ないし6である電荷移動層
と光導電層とを積層する際、光導電層に不純物を添加し
、その量を電荷移動層との界面近傍に第1の層領域と、
さらに第1の層領域と接して、光導電性に優れた第2の
層領域を形成することにより、帯電時のコロナ電流が極
めて小さく、可視光に対して非常に■感度で、しかも過
飽和の光量に対しても、解像度劣化が見られない、低原
価で耐刷性、耐環境性(耐熱性、耐湿性等)に優れたも
のであり、その実用上の効果は大である。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例における電子写真感光体の断面図で
ある6 1 ・・・支持体、 2・・・電荷移動層、 3・・・
光導電層、 4 ・・・自由表面、 3a・・・第1
の層領域、3b・・・第2の層領域。
ある6 1 ・・・支持体、 2・・・電荷移動層、 3・・・
光導電層、 4 ・・・自由表面、 3a・・・第1
の層領域、3b・・・第2の層領域。
Claims (7)
- (1)光励起によって移動可能なキャリアを発生する光
導電層と、非晶質カーボンを主成分とする電荷移動層が
積層された電子写真感光体において、前記光導電層が不
純物を層厚方向に不均一に含み、前記電荷移動層との界
面側に第1の層領域と、さらに該第1の層領域と接し、
光導電性に優れた第2の層領域を有し、不純物濃度が前
記第1の層領域で高濃度であることを特徴とする電子写
真感光体。 - (2)非晶質カーボン層が少なくとも水素あるいはハロ
ゲン素を含むことを特徴とする特許請求の範囲第(1)
項記載の電子写真感光体。 - (3)光導電層が局在化状態密度を減少させる修飾物質
を含む非晶質であることを特徴とする特許請求の範囲第
(1)項記載の電子写真感光体。 - (4)光導電層が、少なくとも水素あるいはハロゲン元
素のいずれかを含むことを特徴とする特許請求の範囲第
(3)項記載の電子写真感光体。 - (5)不純物が周期律表第III族B、あるいは第V族B
の元素であることを特徴とする特許請求の範囲第(1)
項記載の電子写真感光体。 - (6)不純物が炭素、酸素あるいは窒素のうち、少なく
ともいずれか1つであることを特徴とする特許請求の範
囲第(1)項記載の電子写真感光体。 - (7)自由表面に表面被覆層を形成したことを特徴とす
る特許請求の範囲第(1)項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11048186A JPS62267759A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11048186A JPS62267759A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62267759A true JPS62267759A (ja) | 1987-11-20 |
Family
ID=14536813
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11048186A Pending JPS62267759A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62267759A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01163751A (ja) * | 1986-09-26 | 1989-06-28 | Canon Inc | 電子写真用感光体 |
-
1986
- 1986-05-16 JP JP11048186A patent/JPS62267759A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01163751A (ja) * | 1986-09-26 | 1989-06-28 | Canon Inc | 電子写真用感光体 |
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