JPS63254732A - エッチング終点判定方法 - Google Patents
エッチング終点判定方法Info
- Publication number
- JPS63254732A JPS63254732A JP8881487A JP8881487A JPS63254732A JP S63254732 A JPS63254732 A JP S63254732A JP 8881487 A JP8881487 A JP 8881487A JP 8881487 A JP8881487 A JP 8881487A JP S63254732 A JPS63254732 A JP S63254732A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- waveform
- end point
- initial
- etching
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 22
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 9
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 2
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
- 125000003580 L-valyl group Chemical group [H]N([H])[C@]([H])(C(=O)[*])C(C([H])([H])[H])(C([H])([H])[H])[H] 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はエツチング終点判定装置に関するものである。
従来のエツチング終点判定装置は、特開昭60−607
27号に記載のようにエツチング処理時光量を光電子増
倍管等の電気信号変換手段によって電気信号に変換し、
IV変換器等の変換器で他の電気量に変換した後、記憶
保持手段、例えば、サンプルホールド器に入力する。記
憶保持手段の出力は直流分除去値を設定するための装置
、例えば、マイクロコンピュータに入力すると共に、直
流分除去器に入力する。直流分除去器ではマイクロコン
ピュータで設定された直流分除去値を入力値から除去し
、直流分除去器の出力は増幅器でマイクロコンピュータ
によって設定された増幅率にしたがって増幅した後、マ
イクロコンピュータに入力してエツチング処理の終点を
判定するようになっている。
27号に記載のようにエツチング処理時光量を光電子増
倍管等の電気信号変換手段によって電気信号に変換し、
IV変換器等の変換器で他の電気量に変換した後、記憶
保持手段、例えば、サンプルホールド器に入力する。記
憶保持手段の出力は直流分除去値を設定するための装置
、例えば、マイクロコンピュータに入力すると共に、直
流分除去器に入力する。直流分除去器ではマイクロコン
ピュータで設定された直流分除去値を入力値から除去し
、直流分除去器の出力は増幅器でマイクロコンピュータ
によって設定された増幅率にしたがって増幅した後、マ
イクロコンピュータに入力してエツチング処理の終点を
判定するようになっている。
上記従来技術は同一プロセス中においてウェハのエツチ
ング終了時の発光量変化の増1Ijlを一定にした終点
判定を容易にする点について配慮さnておらず、増幅器
による増幅は一定の値で行われるので、エツチング処理
の轢り返しにより発生検出部の汚しが進行し検出する発
光量が減少すると。
ング終了時の発光量変化の増1Ijlを一定にした終点
判定を容易にする点について配慮さnておらず、増幅器
による増幅は一定の値で行われるので、エツチング処理
の轢り返しにより発生検出部の汚しが進行し検出する発
光量が減少すると。
エツチング終了時の発光量変化の増幅量が減少し。
終点判定が難しくなるという問題があった。
本発明の目的は、エツチング処理が繰り返し行わnて、
発光検出部から採光する発光量が減少しても、初期のエ
ツチング終点判定と同じように容易に判定することので
きるエツチング終点判定装置を提供することにある。
発光検出部から採光する発光量が減少しても、初期のエ
ツチング終点判定と同じように容易に判定することので
きるエツチング終点判定装置を提供することにある。
上記目的は、エツチング処理時の発光量を電気信号に変
換する電気信号変換手段と、電気信号変換手段によって
入力した初期の電気信号の波形および該波形の補正を行
うオフセット値、ゲイン値を記憶する記憶手段と、電気
信号変換手段によって入力する初期以降の波形と最初の
波形とを比較し比率を算出する比率算出手段と、比率に
よってオフセット値およびゲイン値を再設定する補正値
算出手段と、補正値算出手段によって再設定されたオフ
セット値およびゲイン値により現在入力している電気信
号を補正する入力値補正手段と、入力値補正手段によっ
て補正された電気信号の波形によりエツチング終点を判
定する終点判定手段とを具備することにより、達成され
る。
換する電気信号変換手段と、電気信号変換手段によって
入力した初期の電気信号の波形および該波形の補正を行
うオフセット値、ゲイン値を記憶する記憶手段と、電気
信号変換手段によって入力する初期以降の波形と最初の
波形とを比較し比率を算出する比率算出手段と、比率に
よってオフセット値およびゲイン値を再設定する補正値
算出手段と、補正値算出手段によって再設定されたオフ
セット値およびゲイン値により現在入力している電気信
号を補正する入力値補正手段と、入力値補正手段によっ
て補正された電気信号の波形によりエツチング終点を判
定する終点判定手段とを具備することにより、達成され
る。
最初に処理した試料の発光を電気信号変換手段によって
電気信号に変換し、そのときに得らnる電気信号の波形
および該波形を用いて終点判定をしやすくするための補
正値であるオフセット値。
電気信号に変換し、そのときに得らnる電気信号の波形
および該波形を用いて終点判定をしやすくするための補
正値であるオフセット値。
ゲイン値を記憶手段に記憶させておいて、試料の処理を
行う。このとき、W記聞様に初期以降の試料処理によっ
て生ずる発光を電気信号に変換し、比率算出手段によっ
て該電気信号と記憶しておいた初期時の電気信号と比較
してその比率を算出し。
行う。このとき、W記聞様に初期以降の試料処理によっ
て生ずる発光を電気信号に変換し、比率算出手段によっ
て該電気信号と記憶しておいた初期時の電気信号と比較
してその比率を算出し。
補正値算出手段によって算出した比率を基に記憶してお
いたオフセット値およびゲイン値を算出して、入力値補
正手段によって該算出値に従い入力した電気信号を補正
し、終点判定手段によつて該補正した電気信号を基にエ
ツチング終点を補正する。こしにより、毎回の処理ごと
に減少する発生検出量の光量に関係なく、一定した電気
信号が得らn、初期時と変わらない精度でエツチング終
点判定が行える。
いたオフセット値およびゲイン値を算出して、入力値補
正手段によって該算出値に従い入力した電気信号を補正
し、終点判定手段によつて該補正した電気信号を基にエ
ツチング終点を補正する。こしにより、毎回の処理ごと
に減少する発生検出量の光量に関係なく、一定した電気
信号が得らn、初期時と変わらない精度でエツチング終
点判定が行える。
以下、本発明の一実施例を第1図から第6図により説明
する。
する。
第1図はエツチング終点判定装置を示す。電気信号変換
手段である光電変換器lからの電気信号はバッフ12を
介して、一方はアナログスイッチ9およびA/D変換変
換器l弁して記憶手!9L2および比率算出手段13に
入るようになっており、他方は減算器3およびゲインア
ンプ4を順次通りアナログスイッチおよびA/D変換器
10を介しておのおの終点判定手段11および信号出力
用D/A変換器16に入る。信号出力用D/A変換器1
6を出た信号は、表示装置である例えばペンレコーダ1
7に入る。
手段である光電変換器lからの電気信号はバッフ12を
介して、一方はアナログスイッチ9およびA/D変換変
換器l弁して記憶手!9L2および比率算出手段13に
入るようになっており、他方は減算器3およびゲインア
ンプ4を順次通りアナログスイッチおよびA/D変換器
10を介しておのおの終点判定手段11および信号出力
用D/A変換器16に入る。信号出力用D/A変換器1
6を出た信号は、表示装置である例えばペンレコーダ1
7に入る。
ゲイン設定用可変抵抗器7およびオフセット調整用可変
抵抗器8はそれぞれにアナログスイッチ9およびA/D
変換変換器l弁し、一方は記憶手段稔に入力さn、ゲイ
ン設定用可変抵抗器7側の他方はゲインアンプ4に入り
、オフセット調整用可変抵抗器8側の他方はオフセット
調整用D/A変換器5を介して減算器3に入力さnる。
抵抗器8はそれぞれにアナログスイッチ9およびA/D
変換変換器l弁し、一方は記憶手段稔に入力さn、ゲイ
ン設定用可変抵抗器7側の他方はゲインアンプ4に入り
、オフセット調整用可変抵抗器8側の他方はオフセット
調整用D/A変換器5を介して減算器3に入力さnる。
記憶手段校は光電変換器lからの直接の信号とゲイン設
定用可変抵抗器71オフセット#4gl用可変抵抗器8
からの信号および後述する補正値算出手段14からの信
号を入力し記憶するようになっており、比率算出手段1
3および補正値算出手段14に記憶内容を出力するよう
になっている。
定用可変抵抗器71オフセット#4gl用可変抵抗器8
からの信号および後述する補正値算出手段14からの信
号を入力し記憶するようになっており、比率算出手段1
3および補正値算出手段14に記憶内容を出力するよう
になっている。
比率算出手段Bは記憶手段臆に記憶された光電変換器l
からの初期の電気信号と初期以降に光電変換器lから入
力される電気信号との強さを比較し比率を算出して、補
正値算出手段14にその値を出力する。このときの比率
は次のような考えによって決めらnている。
からの初期の電気信号と初期以降に光電変換器lから入
力される電気信号との強さを比較し比率を算出して、補
正値算出手段14にその値を出力する。このときの比率
は次のような考えによって決めらnている。
試料であるウェハのエツチング処理を繰り返すに従い、
第2図(a)に示す最初の処理によって得らnる光電変
換器1からの電気信号は、第2図(b)に示すように電
気信号の信号強度が弱(なる。第2図(a)に示す1枚
目のウェハを処理したときの時間tl後のエツチング中
の信号強度Va1およびエツチング終了後の信号強度V
blは、第2図(b)に示すn枚目のウェハを処理した
ときの時間tl後のエツチング中の信号強度Vanおよ
びエツチング終了後の信号強度Vbnに減少するととも
に、’tl’alとvbtとの差がn枚目の処理時には
Va−とVbnとの差のように小さくなる。こしらの間
にほの関係が成り立つことが実験によりて確かめらして
おり、このことからVal/ Van・・・・・・(2
)の比率が求められる。
第2図(a)に示す最初の処理によって得らnる光電変
換器1からの電気信号は、第2図(b)に示すように電
気信号の信号強度が弱(なる。第2図(a)に示す1枚
目のウェハを処理したときの時間tl後のエツチング中
の信号強度Va1およびエツチング終了後の信号強度V
blは、第2図(b)に示すn枚目のウェハを処理した
ときの時間tl後のエツチング中の信号強度Vanおよ
びエツチング終了後の信号強度Vbnに減少するととも
に、’tl’alとvbtとの差がn枚目の処理時には
Va−とVbnとの差のように小さくなる。こしらの間
にほの関係が成り立つことが実験によりて確かめらして
おり、このことからVal/ Van・・・・・・(2
)の比率が求められる。
次に、補正値算出手段14゛は比率算出手段13からの
比率を基に記憶手段121こ記憶されたオフセット値お
よびゲイン値を補正して新たに算出し、オフセット調整
用D/A変換器5およびゲインアンプ4に算出値を送る
とともに、記憶手段鵞に送つて記憶させておく。このと
きに求める算出値は次のような考えによって決めらnて
いる。
比率を基に記憶手段121こ記憶されたオフセット値お
よびゲイン値を補正して新たに算出し、オフセット調整
用D/A変換器5およびゲインアンプ4に算出値を送る
とともに、記憶手段鵞に送つて記憶させておく。このと
きに求める算出値は次のような考えによって決めらnて
いる。
通常、光電変換器lによって変換された電気信号はその
ママではエツチング中とエツチング終了時との信号強度
の差が小さく終点判定しにくいので、光電変換器lから
の電気信号をオフセリトし、増幅してエツチング中とエ
ツチング終了時との信号強度の差を大きくして終点判定
をしや丁くしている。このときのオフセット値や増幅の
ためのゲイン値は最初に設定され、こしによって補正さ
れた電気信号は第3図に示すようになる。第3図はペン
レコーダ17に出力さした1枚目のウェハの処理時の出
力電圧である。
ママではエツチング中とエツチング終了時との信号強度
の差が小さく終点判定しにくいので、光電変換器lから
の電気信号をオフセリトし、増幅してエツチング中とエ
ツチング終了時との信号強度の差を大きくして終点判定
をしや丁くしている。このときのオフセット値や増幅の
ためのゲイン値は最初に設定され、こしによって補正さ
れた電気信号は第3図に示すようになる。第3図はペン
レコーダ17に出力さした1枚目のウェハの処理時の出
力電圧である。
第2図(a)に示すオフセット値Voffl (1枚目
ウェハ処理時)から時間t!後のエツチング中の信号強
度までの間を増幅率G、で増幅した値が第3図の出力電
圧Vflであり、第2図(a)に示すオフセット値Vo
fflからエツチング終了時の信号強度までの間を増幅
率Glで増幅した値が第3図の出力電圧vglである。
ウェハ処理時)から時間t!後のエツチング中の信号強
度までの間を増幅率G、で増幅した値が第3図の出力電
圧Vflであり、第2図(a)に示すオフセット値Vo
fflからエツチング終了時の信号強度までの間を増幅
率Glで増幅した値が第3図の出力電圧vglである。
このときの関係式は次のようになる。
V’fx = (Vas −Voffl ) X Gt
−−−(31Vgt = (vbl−VofLl
) X Gt ・−−(41ここで、通常であ
nばn枚目のウェハの処理時には、オフセット値Vof
f1でオフセットした後、増幅率G、で増幅した値は第
4図に示す時間t1に達するまでの出力電圧のようにな
り、第3図に示す1枚目のウェハのときとは減少してし
まう。そこで第4図に示すように1時間tl後は増幅率
を変えて出力電圧Vfnが第3図の出力電圧Vftに近
(なるように増幅する。しかし、第2図に示すようにn
枚目のウェハでは信号強度VllnとVbnとの差が小
さくなっているので、第4図に示すようにエツチング後
の出力電圧vgnとエツチング中の出力電圧vfnとの
差は第3図に示す1枚目のときの差よすも小さく、終点
判定がしにくくなる。
−−−(31Vgt = (vbl−VofLl
) X Gt ・−−(41ここで、通常であ
nばn枚目のウェハの処理時には、オフセット値Vof
f1でオフセットした後、増幅率G、で増幅した値は第
4図に示す時間t1に達するまでの出力電圧のようにな
り、第3図に示す1枚目のウェハのときとは減少してし
まう。そこで第4図に示すように1時間tl後は増幅率
を変えて出力電圧Vfnが第3図の出力電圧Vftに近
(なるように増幅する。しかし、第2図に示すようにn
枚目のウェハでは信号強度VllnとVbnとの差が小
さくなっているので、第4図に示すようにエツチング後
の出力電圧vgnとエツチング中の出力電圧vfnとの
差は第3図に示す1枚目のときの差よすも小さく、終点
判定がしにくくなる。
そこで本発明は、n枚目のウェハの処理時にはまず前記
f21式の比率によって次式のようにn枚目の増幅率(
ゲイン値)Gnを決める。
f21式の比率によって次式のようにn枚目の増幅率(
ゲイン値)Gnを決める。
次に、n枚目の出力電圧VfnがVf n w Vf
t・・・・・・(6)となるように、n枚目のオフセッ
ト値Voffnを設定する。このときの関係式は次のよ
うになる。
t・・・・・・(6)となるように、n枚目のオフセッ
ト値Voffnを設定する。このときの関係式は次のよ
うになる。
(Van −Voffn ) X G(1= Vfiこ
のように、n枚目のウェハの処理時のオフセット値Vo
ffnおよびゲイン値Gnを補正値算出手段14によっ
て算出して、設定する。二nによって、ペンレコーダ1
7に出力さnる電圧VfnおよびVgnは以下のように
なる。
のように、n枚目のウェハの処理時のオフセット値Vo
ffnおよびゲイン値Gnを補正値算出手段14によっ
て算出して、設定する。二nによって、ペンレコーダ1
7に出力さnる電圧VfnおよびVgnは以下のように
なる。
Vfo = (Van −Voffn ) X GnV
gn = (Vbn −Voffn ) X Gnここ
で、 +31. t6+、 +81式の関係をまとめる
ととなり、(8)式は Vfn = (v暑1− Vofft ) X Gl
・・・・・・・・・・・・・・・ Uυとなる。
gn = (Vbn −Voffn ) X Gnここ
で、 +31. t6+、 +81式の関係をまとめる
ととなり、(8)式は Vfn = (v暑1− Vofft ) X Gl
・・・・・・・・・・・・・・・ Uυとなる。
また、00式は
となり、さらに(1)式は
となり、uカ、03式より(9)式は
= (Vbt−Voffl ) X G+
・・・・・・・・・・・・・・・ α勾となる。
・・・・・・・・・・・・・・・ α勾となる。
これにより、+31. (1υ式と(4)、04式はV
f t = Vfn vg、 = vgn となって、n枚目の処理時にもペンレコーダ17に衷示
さnる時間t1以後の出力電圧は第5図に示すように、
lfi目の処理時のときの出力電圧と同じになる。
f t = Vfn vg、 = vgn となって、n枚目の処理時にもペンレコーダ17に衷示
さnる時間t1以後の出力電圧は第5図に示すように、
lfi目の処理時のときの出力電圧と同じになる。
補正値算出手段14によって算出したオフセット値は、
オフセット調整用D/^変換器5を介してアナログ値に
変換されて減算器3に入力さn、光電変換器lからの電
気信号に減算さnる。また。
オフセット調整用D/^変換器5を介してアナログ値に
変換されて減算器3に入力さn、光電変換器lからの電
気信号に減算さnる。また。
補正値算出手段14によって算出したゲイン値は、ゲイ
ンアンプ4に入力さn、減算器3から出力された電気信
号を増幅する。
ンアンプ4に入力さn、減算器3から出力された電気信
号を増幅する。
なお、この場合、入力値補正手段6は減算器3およびゲ
インアンプ3で成り、終点判定手段11゜記憶手段12
.比率算出手段13および補正値算出手段14はマイク
ロコンピュータ15内に構成されたものである。
インアンプ3で成り、終点判定手段11゜記憶手段12
.比率算出手段13および補正値算出手段14はマイク
ロコンピュータ15内に構成されたものである。
上記構成の装置によって、第6図に示すステップによっ
てエツチング終点判定が行わnる。
てエツチング終点判定が行わnる。
まず、製品となるべきウェハのエツチング処理を連続的
に行う前に、サンプルウェハをエツチング処理し、その
ときの発光を採光して光電変換器1によって電気信号に
変換し入力するとともに、ペンレコーダ17に衷示さn
る出力電圧の波形を見ながら、オフセット調整用可変抵
抗器8およびゲイン設定用可変抵抗器7を調整して、オ
フセット値およびゲイン値を設定し、終点判定に適した
波形となるように初期設定を行う(これをステップ20
に示す。)。
に行う前に、サンプルウェハをエツチング処理し、その
ときの発光を採光して光電変換器1によって電気信号に
変換し入力するとともに、ペンレコーダ17に衷示さn
る出力電圧の波形を見ながら、オフセット調整用可変抵
抗器8およびゲイン設定用可変抵抗器7を調整して、オ
フセット値およびゲイン値を設定し、終点判定に適した
波形となるように初期設定を行う(これをステップ20
に示す。)。
次に、この初期設定のときに入力した光電変換器1から
のそのままの電気信号を記憶手J!itzに記憶させて
お−とともに、初期設定で決めらnたオフセット値およ
びゲイン値を記憶手段12に記憶させておく(二〇をス
テップ21に示す。)。なお、この場合に記憶する電気
信号は時間illでの電気信号を記憶している。
のそのままの電気信号を記憶手J!itzに記憶させて
お−とともに、初期設定で決めらnたオフセット値およ
びゲイン値を記憶手段12に記憶させておく(二〇をス
テップ21に示す。)。なお、この場合に記憶する電気
信号は時間illでの電気信号を記憶している。
次に、これから製品となるウェハのエツチング処理を開
始しく二〇をステップ22に示す。)、処理時の発光を
採光して光電変換器lによって電気信号に変換して入力
する(こnをステップ23に示す。)。このとき減算器
3およびゲインアンプ4は、記憶手段戎に記憶しておい
た初期設定時のオフセット値およびゲイン値で設定され
、光電変換器lからの電気信号を補正して、ペンレコー
ダ17に出力する。
始しく二〇をステップ22に示す。)、処理時の発光を
採光して光電変換器lによって電気信号に変換して入力
する(こnをステップ23に示す。)。このとき減算器
3およびゲインアンプ4は、記憶手段戎に記憶しておい
た初期設定時のオフセット値およびゲイン値で設定され
、光電変換器lからの電気信号を補正して、ペンレコー
ダ17に出力する。
また、光電変換器lからの電気信号はそのままの値で比
率算出手段13に入力され、初期設定時の電気信号と比
較して比率Vat / Vanを算出しく二〇をステッ
プ24に示す。)、この比率を基に補正値算出手段14
によってオフセット値Voffnおよびゲイン値Goを
算出して(これをステップ25に示す。)、減算器3お
よびゲインアンプ4を再設定する(二〇をステップ26
に示す。)。二〇により、終点判定手段11に入力さn
る値は、初期の値と同じものになる。
率算出手段13に入力され、初期設定時の電気信号と比
較して比率Vat / Vanを算出しく二〇をステッ
プ24に示す。)、この比率を基に補正値算出手段14
によってオフセット値Voffnおよびゲイン値Goを
算出して(これをステップ25に示す。)、減算器3お
よびゲインアンプ4を再設定する(二〇をステップ26
に示す。)。二〇により、終点判定手段11に入力さn
る値は、初期の値と同じものになる。
このとき番こ再設定されたオフセット値およびゲイン値
を、初期設定時に設定したオフセット値およびゲイン値
に置き換えて記憶手段じに記憶させておき(これをステ
ップ27に示す。)、次処理のときには再設定された値
で時間t1までの間は補正さnる。
を、初期設定時に設定したオフセット値およびゲイン値
に置き換えて記憶手段じに記憶させておき(これをステ
ップ27に示す。)、次処理のときには再設定された値
で時間t1までの間は補正さnる。
このように、初期時の波形と同じに補正された電気信号
によって、公知の終点判定方法を用いた終点判定手段に
よりエツチング終点を判定する(こしをステップ28に
示す。)。
によって、公知の終点判定方法を用いた終点判定手段に
よりエツチング終点を判定する(こしをステップ28に
示す。)。
終点判定が終わり、処理さしたウェハが処理室から搬送
され、また次に新しいウニへの処理がある場合にはステ
ップ22に戻り、ない場合には終わる(二〇をステップ
29に示す。)。
され、また次に新しいウニへの処理がある場合にはステ
ップ22に戻り、ない場合には終わる(二〇をステップ
29に示す。)。
以上5本−実施例によれば、初期設定時に補正した電気
信号の波形と同じ波形のものを、毎回の処理時に得るこ
とができるので、エツチング終点判定が容易になるとと
もに、一定したエツチング終点判定ができ、同一プロセ
ス中のつ、/−の品質が均一になるという効果がある。
信号の波形と同じ波形のものを、毎回の処理時に得るこ
とができるので、エツチング終点判定が容易になるとと
もに、一定したエツチング終点判定ができ、同一プロセ
ス中のつ、/−の品質が均一になるという効果がある。
なお、本−実施例ではエツチング時の光量が増加する場
合について述べたが、逆にエツチング時の光量が減少す
るものであっても良い。
合について述べたが、逆にエツチング時の光量が減少す
るものであっても良い。
本発明によれば、エツチング処理が繰り返し行わnて、
−51光検出部から採光する発光量が減少しても、初期
のエツチング終点判定と同じように容易に判定すること
ができるという効果がある。
−51光検出部から採光する発光量が減少しても、初期
のエツチング終点判定と同じように容易に判定すること
ができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例であるエツチング終点判定装
置を示すブロック図、第2図(a)は1枚目の処理時曇
こ光Kf換器で変換された電気信号の波形を示す図、第
2図(b)はn枚目の処理時に光′電変換器で変換され
た電気信号の波形を示す図、第3図は1枚目の処理時に
電気信号を補正したときの波形を示す図、第4図はn枚
目の処理時に前回補正した電気信号をそのまま増幅した
ときの波形を示す図、第5図はn枚目の処理時に本発明
によって補正したときあ波形を示す図、第6図は第1図
の作用を示すフローチャート図である。 l・・・・・・光電変換器、6・・・・・・入力値補正
手段、11・・・・・・終点判定手段、L・・・・・・
記憶手段、13・・・・・・比率43圀 第4図 /15図 46図
置を示すブロック図、第2図(a)は1枚目の処理時曇
こ光Kf換器で変換された電気信号の波形を示す図、第
2図(b)はn枚目の処理時に光′電変換器で変換され
た電気信号の波形を示す図、第3図は1枚目の処理時に
電気信号を補正したときの波形を示す図、第4図はn枚
目の処理時に前回補正した電気信号をそのまま増幅した
ときの波形を示す図、第5図はn枚目の処理時に本発明
によって補正したときあ波形を示す図、第6図は第1図
の作用を示すフローチャート図である。 l・・・・・・光電変換器、6・・・・・・入力値補正
手段、11・・・・・・終点判定手段、L・・・・・・
記憶手段、13・・・・・・比率43圀 第4図 /15図 46図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、エッチング処理時の発光量を電気信号に変換する電
気信号変換手段と、 該電気信号変換手段によって入力した初期の電気信号の
波形および該波形の補正を行うオフセット値、ゲイン値
を記憶する記憶手段と、前記電気信号変換手段によつて
入力する初期以降の波形と前記最初の波形とを比較し比
率を算出する比率算出手段と、 該比率によってオフセット値およびゲイン値を再設定す
る補正値算出手段と、 該補正値算出手段によつて再設定されたオフセット値お
よびゲイン値により現在入力している電気信号を補正す
る入力値補正手段と、 該入力値補正手段によって補正された電気信号の波形に
よりエッチング終点を判定する終点判定手段と を具備することを特徴とするエツチング終点判定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62088814A JPH07114195B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | エッチング終点判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62088814A JPH07114195B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | エッチング終点判定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63254732A true JPS63254732A (ja) | 1988-10-21 |
JPH07114195B2 JPH07114195B2 (ja) | 1995-12-06 |
Family
ID=13953372
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62088814A Expired - Lifetime JPH07114195B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | エッチング終点判定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07114195B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01241127A (ja) * | 1988-03-23 | 1989-09-26 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
JPH0348423A (ja) * | 1989-07-17 | 1991-03-01 | Hitachi Ltd | 終点判定方法および装置 |
US5118378A (en) * | 1989-10-10 | 1992-06-02 | Hitachi, Ltd. | Apparatus for detecting an end point of etching |
US6596551B1 (en) | 1998-12-01 | 2003-07-22 | Hitachi, Ltd. | Etching end point judging method, etching end point judging device, and insulating film etching method using these methods |
KR20150010627A (ko) | 2013-07-18 | 2015-01-28 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | 플라즈마 처리 장치 및 플라즈마 처리 장치의 운전 방법 |
US11569135B2 (en) | 2019-12-23 | 2023-01-31 | Hitachi High-Tech Corporation | Plasma processing method and wavelength selection method used in plasma processing |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2225226B1 (en) | 2007-12-26 | 2016-08-17 | Critical Outcome Technologies, Inc. | Compounds and their use in a method for treatment of cancer |
CA2730890C (en) | 2008-07-17 | 2018-05-15 | Critical Outcome Technologies Inc. | Thiosemicarbazone inhibitor compounds and cancer treatment methods |
EP3235818A3 (en) | 2010-04-01 | 2018-03-14 | Critical Outcome Technologies, Inc. | Compounds for the treatment of hiv |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5994423A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-31 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
JPS6228430U (ja) * | 1985-07-31 | 1987-02-20 | ||
JPS6265424A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-24 | Hitachi Ltd | エツチング終点検出方法 |
-
1987
- 1987-04-13 JP JP62088814A patent/JPH07114195B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5994423A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-31 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
JPS6228430U (ja) * | 1985-07-31 | 1987-02-20 | ||
JPS6265424A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-24 | Hitachi Ltd | エツチング終点検出方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01241127A (ja) * | 1988-03-23 | 1989-09-26 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
JPH0348423A (ja) * | 1989-07-17 | 1991-03-01 | Hitachi Ltd | 終点判定方法および装置 |
US5118378A (en) * | 1989-10-10 | 1992-06-02 | Hitachi, Ltd. | Apparatus for detecting an end point of etching |
US6596551B1 (en) | 1998-12-01 | 2003-07-22 | Hitachi, Ltd. | Etching end point judging method, etching end point judging device, and insulating film etching method using these methods |
KR20150010627A (ko) | 2013-07-18 | 2015-01-28 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | 플라즈마 처리 장치 및 플라즈마 처리 장치의 운전 방법 |
US9767997B2 (en) | 2013-07-18 | 2017-09-19 | Hitachi High-Technologies Corporation | Plasma processing apparatus and operational method thereof |
US11424110B2 (en) | 2013-07-18 | 2022-08-23 | Hitachi High-Tech Corporation | Plasma processing apparatus and operational method thereof |
US11569135B2 (en) | 2019-12-23 | 2023-01-31 | Hitachi High-Tech Corporation | Plasma processing method and wavelength selection method used in plasma processing |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07114195B2 (ja) | 1995-12-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5885472A (en) | Method for detecting etching endpoint, and etching apparatus and etching system using the method thereof | |
US5118378A (en) | Apparatus for detecting an end point of etching | |
US5659355A (en) | CCD dark mean level correction circuit employing digital processing and analog subtraction requiring no advance knowledge of dark mean level | |
US4786969A (en) | Black level correction circuit for video camera | |
JPS63254732A (ja) | エッチング終点判定方法 | |
KR20030005163A (ko) | 이미지센서를 위한 전위신호를 처리하는 방법 및 장치 | |
JPH0364216A (ja) | アナログ信号を正確にディジタル化するための方法と装置 | |
JPH0563572A (ja) | 自動ゲイン切替機能付信号処理装置 | |
JP2821132B2 (ja) | エッチング終点判定方法 | |
JP2001148230A (ja) | 走査形電子顕微鏡 | |
JPH04286477A (ja) | 赤外線撮像装置 | |
JPS5928340A (ja) | エッチング終点検出方法 | |
JPH03237310A (ja) | X線厚み計 | |
JPH03276972A (ja) | 映像信号のデジタル信号処理装置 | |
JPH074553Y2 (ja) | 測光装置 | |
JPH0348423A (ja) | 終点判定方法および装置 | |
JPH0575895A (ja) | 映像信号の自動利得調整回路 | |
KR950010063B1 (ko) | 영상신호의 자동 이득 조절 및 클램핑 회로 | |
JPH01235336A (ja) | エッチング終点判定装置 | |
JPH08331571A (ja) | テレビジョンカメラ | |
JPH0249075B2 (ja) | ||
JPS61240118A (ja) | 変動データ補正装置 | |
KR970008101B1 (ko) | 텔레비젼 수상기의 중간주파수 이득레벨 설정회로 | |
JPH0572525B2 (ja) | ||
JPH0255475A (ja) | ディジタル信号処理回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071206 Year of fee payment: 12 |