JPH01241127A - エッチング終点判定方法 - Google Patents
エッチング終点判定方法Info
- Publication number
- JPH01241127A JPH01241127A JP6741388A JP6741388A JPH01241127A JP H01241127 A JPH01241127 A JP H01241127A JP 6741388 A JP6741388 A JP 6741388A JP 6741388 A JP6741388 A JP 6741388A JP H01241127 A JPH01241127 A JP H01241127A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- etching
- electric signal
- end point
- processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims abstract description 62
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 10
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 10
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000000504 luminescence detection Methods 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はエツチング終点判定装置に関するものである。
従来のエツチング終点判定装置は、特開昭60−607
27号に記載のようにエツチング処理時光蓋を光電子増
倍管等の電気信号変換手段によって電気信号に変換し、
IV変換器等の変換器で他の電気量に変換した後、記憶
保持手段5例えば。
27号に記載のようにエツチング処理時光蓋を光電子増
倍管等の電気信号変換手段によって電気信号に変換し、
IV変換器等の変換器で他の電気量に変換した後、記憶
保持手段5例えば。
サンプルホールド器に入力する。記憶保持手段の出力は
直流分除去値を設定するための装置、例えば、マイクロ
コンピュータに入力すると共に、直流分除去器に入力す
る。直流分除去器ではマイクロコンピュータで設定され
た直流分除去値を入力値から除去し、直流分除去器の出
力は増幅器でマイクロコンピュータによって設定された
増幅率にしたがって増幅した後、マイクロコンピュータ
に入力してエツチング処理の終点を判定するようになっ
ている。
直流分除去値を設定するための装置、例えば、マイクロ
コンピュータに入力すると共に、直流分除去器に入力す
る。直流分除去器ではマイクロコンピュータで設定され
た直流分除去値を入力値から除去し、直流分除去器の出
力は増幅器でマイクロコンピュータによって設定された
増幅率にしたがって増幅した後、マイクロコンピュータ
に入力してエツチング処理の終点を判定するようになっ
ている。
上記従来技術は同一プロセス中においてウェハのエツチ
ング終了時の発光量変化の増幅量を一定にした終点判定
を容易にする点について配慮されておらず、増幅器によ
る増幅は一定の値で行われるので、エツチング処理の繰
り返しにともない、処理時に発生する反応生成物が検出
部に付着して検出部の汚れが進行し検出する発光量が減
少すると、エツチング終了時の発光量変化の増l#ll
蓋が減少し、終点判定が′難しくなるという問題があっ
九本発明の目的は、エツチング処理が繰り返し行われて
%発光検出部から採光する発光量が減少しても、初期の
エツチング終点判定と同じように容易に判定することの
できるエツチング終点判定装置を提供することにある。
ング終了時の発光量変化の増幅量を一定にした終点判定
を容易にする点について配慮されておらず、増幅器によ
る増幅は一定の値で行われるので、エツチング処理の繰
り返しにともない、処理時に発生する反応生成物が検出
部に付着して検出部の汚れが進行し検出する発光量が減
少すると、エツチング終了時の発光量変化の増l#ll
蓋が減少し、終点判定が′難しくなるという問題があっ
九本発明の目的は、エツチング処理が繰り返し行われて
%発光検出部から採光する発光量が減少しても、初期の
エツチング終点判定と同じように容易に判定することの
できるエツチング終点判定装置を提供することにある。
上記目的は、エツチング処理時の発光量を゛電気信号に
変換する電気信号変換手段と、電気信号変換手段によっ
て入力した電気信号値および該電気信号値の補正を行う
オフセラトイ〔、ゲイン値を記憶する記憶手段と、現処
理以面の処理時のときのエツチング中およびエツチング
終了時の電気信号と、該処理時のゲイン値と、現処理時
のエツチング中の電気信号とを基に現処理時のオフ七っ
ト値およびゲイン値を再設定する補正値算出手段と。
変換する電気信号変換手段と、電気信号変換手段によっ
て入力した電気信号値および該電気信号値の補正を行う
オフセラトイ〔、ゲイン値を記憶する記憶手段と、現処
理以面の処理時のときのエツチング中およびエツチング
終了時の電気信号と、該処理時のゲイン値と、現処理時
のエツチング中の電気信号とを基に現処理時のオフ七っ
ト値およびゲイン値を再設定する補正値算出手段と。
補正値り山手段によって再設定されたオフセット値およ
びゲイン値により処理時に入力する電気信号を補正する
入力値補正手段と、入力値補正手段によって補正された
電気信号の波形によりエツチング終点を判定する終点判
定手段とを具備することにより、達成される。
びゲイン値により処理時に入力する電気信号を補正する
入力値補正手段と、入力値補正手段によって補正された
電気信号の波形によりエツチング終点を判定する終点判
定手段とを具備することにより、達成される。
現処理以順に処理したときの電気信号値および該′電気
信号の波形を補正したオフセット値、ゲイン値を記憶手
段に記憶させておき、境処理によって生ずる発光を電気
信号変換手段によって1!z信号に変換し、補正値算出
手段によって該電気信号と記憶させておいた現処理以餌
の処理時の電気信号およびゲイン値とを基に現処理時の
オフセット値およびゲイン値を算出して、入力値補正手
段によって該算出値に従い入力した電気信号を補正し、
終点判定手段によって該補正した電気信号を基にエツチ
ング終点を判定する。これにより、毎回の処理ごとに減
少する発生検出量の光量に関係なζ、一定した電気信号
が得られ、初期時と変わらない精度でエツチング終点判
定か行える。
信号の波形を補正したオフセット値、ゲイン値を記憶手
段に記憶させておき、境処理によって生ずる発光を電気
信号変換手段によって1!z信号に変換し、補正値算出
手段によって該電気信号と記憶させておいた現処理以餌
の処理時の電気信号およびゲイン値とを基に現処理時の
オフセット値およびゲイン値を算出して、入力値補正手
段によって該算出値に従い入力した電気信号を補正し、
終点判定手段によって該補正した電気信号を基にエツチ
ング終点を判定する。これにより、毎回の処理ごとに減
少する発生検出量の光量に関係なζ、一定した電気信号
が得られ、初期時と変わらない精度でエツチング終点判
定か行える。
以下、本発明の一実施例を第1図から第6図により説明
する。
する。
第1図はエツチング終点判定装置を示す。電気信号変換
手段である光電変換器1からの電気信号はバッフ12を
介して、一方はアナログスイッチ9およびA/D変換器
10を介して記憶手段稔′および補正値算出手段13に
入るようになっており、他方は減算器3およびゲインア
ンプ4を順次通りアナログスイッチ9およびA/D変換
器10を介しておのおの終点判定手段11および信号出
力用D/A変換器15に入る。信号出力用D/A変換器
15を出た信号は、表示装置である例えばペンレコーダ
16に入る。
手段である光電変換器1からの電気信号はバッフ12を
介して、一方はアナログスイッチ9およびA/D変換器
10を介して記憶手段稔′および補正値算出手段13に
入るようになっており、他方は減算器3およびゲインア
ンプ4を順次通りアナログスイッチ9およびA/D変換
器10を介しておのおの終点判定手段11および信号出
力用D/A変換器15に入る。信号出力用D/A変換器
15を出た信号は、表示装置である例えばペンレコーダ
16に入る。
ゲイン設定用可変抵抗器7およびオフセット調整用可変
抵抗器8はそれぞれにアナログスイッチ9およびA/D
変換器10を介し、一方は記憶手段12に入力され、ゲ
イン設定用可変抵抗器7側の他方はゲインアンプ4に入
り、オフセット調整用可変抵抗器8側の他方はオフセッ
ト調整用D/A変換器5を介して減算器3に入力される
。
抵抗器8はそれぞれにアナログスイッチ9およびA/D
変換器10を介し、一方は記憶手段12に入力され、ゲ
イン設定用可変抵抗器7側の他方はゲインアンプ4に入
り、オフセット調整用可変抵抗器8側の他方はオフセッ
ト調整用D/A変換器5を介して減算器3に入力される
。
記憶手段校は光電変換器1からの直接の信号とゲイン設
定用可変抵抗器7.オフセット調整用可変抵抗器8から
の信号および後述する補正値算出手段13からの信号を
入力し記憶するようになっており、補正値算出手段13
に記憶内容を出力するようになっている。
定用可変抵抗器7.オフセット調整用可変抵抗器8から
の信号および後述する補正値算出手段13からの信号を
入力し記憶するようになっており、補正値算出手段13
に記憶内容を出力するようになっている。
補正値算出手段13は現処理時に光電変換器lから入力
される電気信号と、バd憶手段丘に記憶された現処理以
前のt%債号およびゲイン値とを基に、現処理時のオフ
セット値およびゲイン値を新たに算出し、オフセット調
整用D/A変換器5およびゲインアンプ4に算出値を送
るとともに、記憶手段12に送って記憶させておく。こ
のときに求める算出値は次のような考えによって決めら
れている。
される電気信号と、バd憶手段丘に記憶された現処理以
前のt%債号およびゲイン値とを基に、現処理時のオフ
セット値およびゲイン値を新たに算出し、オフセット調
整用D/A変換器5およびゲインアンプ4に算出値を送
るとともに、記憶手段12に送って記憶させておく。こ
のときに求める算出値は次のような考えによって決めら
れている。
第2図(a)に示すn−m枚目の試料であるウェハの処
理によって得られる光電変換器1からの電気信号の信号
強度は、オエハのエツチング処理を繰り返すに従い、第
2図(b)に示すn枚目のウェハの処理によって得られ
る電気信号の信号強度のように弱(なる。ここで、nお
よびmは正の整数であり、n>mである。
理によって得られる光電変換器1からの電気信号の信号
強度は、オエハのエツチング処理を繰り返すに従い、第
2図(b)に示すn枚目のウェハの処理によって得られ
る電気信号の信号強度のように弱(なる。ここで、nお
よびmは正の整数であり、n>mである。
すなわち、第2図(a)に示すn −m枚目、例えば1
枚目のウェハを処理したときの時間tl後のエツチング
中の信号強度Vl(n−m)およびエツチング終了時の
信号強度Vb(n−m )は、第2図(b)に示すn枚
目1例えば10枚目のウェハを処理したときの時間tl
後のエツチング中の信号強度vanおよびエツチング終
了後の信号強度Vbnのように減少するとともに、n−
m枚目のときの信号強度の差vc(n−m)はn枚目の
ときの信号強度の差■cnのように小さくなる。ここで
、 V((n−m) =Va(n−m) −Vb(n−m)
・・曲filvcn= van−Vbn
・・・・・・・・・・・・・・・ (2)であ
る。
枚目のウェハを処理したときの時間tl後のエツチング
中の信号強度Vl(n−m)およびエツチング終了時の
信号強度Vb(n−m )は、第2図(b)に示すn枚
目1例えば10枚目のウェハを処理したときの時間tl
後のエツチング中の信号強度vanおよびエツチング終
了後の信号強度Vbnのように減少するとともに、n−
m枚目のときの信号強度の差vc(n−m)はn枚目の
ときの信号強度の差■cnのように小さくなる。ここで
、 V((n−m) =Va(n−m) −Vb(n−m)
・・曲filvcn= van−Vbn
・・・・・・・・・・・・・・・ (2)であ
る。
また、これらの間には一般式として、
を仮定する。これは次のように変形できる。
さらに、(2)式は(4)より
となる。
通常、光電変換器lによって変換された電気信号はその
ままではエツチング中とエツチング終了時との信号強度
の差が小さく終点判定しにくいので、光電変換器!から
の電気信号をオフセットし。
ままではエツチング中とエツチング終了時との信号強度
の差が小さく終点判定しにくいので、光電変換器!から
の電気信号をオフセットし。
増幅してエツチング中とエツチング終了時との信号強度
の差を大きくして終点判定なしやすくしている。このと
きのオフセット値や増幅のためのゲイン値は最初に設定
され、これによって補正された電気信号は第3図に示す
ようになる。第3図はペンレコーダ17に出力されたn
−m枚目1例えば1枚目のウェハの処理時の出力電圧
である。
の差を大きくして終点判定なしやすくしている。このと
きのオフセット値や増幅のためのゲイン値は最初に設定
され、これによって補正された電気信号は第3図に示す
ようになる。第3図はペンレコーダ17に出力されたn
−m枚目1例えば1枚目のウェハの処理時の出力電圧
である。
第2図(a)に示すオフセット値Voff(n−m)
(例えば、1枚目ウェハ処理時)から時間11後のエツ
チング中の信号強度までの間を増幅率G(n−m)で増
幅した値が第3図の出力電圧Vf(n−m)であり、第
2図(a)に示すオフセット値Voff(n−m)から
エツチング終了時の信号強度までの間を増幅率G(n−
m)で増幅した値が第3図の出力電圧Vg(n−m)
である。このときの関係式は次のようになる。
(例えば、1枚目ウェハ処理時)から時間11後のエツ
チング中の信号強度までの間を増幅率G(n−m)で増
幅した値が第3図の出力電圧Vf(n−m)であり、第
2図(a)に示すオフセット値Voff(n−m)から
エツチング終了時の信号強度までの間を増幅率G(n−
m)で増幅した値が第3図の出力電圧Vg(n−m)
である。このときの関係式は次のようになる。
Vf(n−m) =(Va(n−m)−Voff(n−
m))×G(n−m)・・・・・・・・・・・−・・
+61Vg(n−m)=(Vb(n−m) Voff
(n−m))×G(n−m)・・・・・・・・・・・・
・・・ (7)ここで、n枚目のウェハの処理時にも、
入力される電気信号なn −tn枚−目の処理時と同様
のオフセット値Voff(n−m)でオフセットした後
、同様の増幅率G(n−m)で増幅すると、増幅した値
は第4図に示す時間t1に達するまでの出力電圧のよう
になり、第3図に示す1枚目のウェハのときとは減少し
てしまう。そこで第4図に示すように、時間tl後は増
幅率を変えて出力電圧Vfnが第3図の出力電圧Vf(
n−m) に近くなるように増幅する。
m))×G(n−m)・・・・・・・・・・・−・・
+61Vg(n−m)=(Vb(n−m) Voff
(n−m))×G(n−m)・・・・・・・・・・・・
・・・ (7)ここで、n枚目のウェハの処理時にも、
入力される電気信号なn −tn枚−目の処理時と同様
のオフセット値Voff(n−m)でオフセットした後
、同様の増幅率G(n−m)で増幅すると、増幅した値
は第4図に示す時間t1に達するまでの出力電圧のよう
になり、第3図に示す1枚目のウェハのときとは減少し
てしまう。そこで第4図に示すように、時間tl後は増
幅率を変えて出力電圧Vfnが第3図の出力電圧Vf(
n−m) に近くなるように増幅する。
しかし、第2図に示すようにn枚目のウェハでは信号強
度の差vcnは小さくなっているので、第4図に示すよ
うにエツチング後の出力電圧vgnとエツチング中の出
力電圧Vfnとの差は第3図に示すn−m枚目のときの
差よりも小さく、終点判定がしにくくなる。
度の差vcnは小さくなっているので、第4図に示すよ
うにエツチング後の出力電圧vgnとエツチング中の出
力電圧Vfnとの差は第3図に示すn−m枚目のときの
差よりも小さく、終点判定がしにくくなる。
そこで、n枚目のウェハの処理時にも、第5図に示すよ
うにエツチング中の出力電圧Vfnとエツチング終了時
の出力電圧Vgnとの差が第3図に示すn−m枚目のと
きの差と同じになるようにする必要がある。ここで、第
2図(b)に示すオフセラと値voffn (n枚目ウ
ェハの処理時)から時間tI後のエツチング中の信号強
度までの間を増幅率GnC増幅した値が第5図の出力電
圧Vfnであり、第2図(b)に示すオフセット値Vo
ffnからエツチング終了時の信号強度までの間を増幅
率Gnで増幅した値が第5図の出力電圧vgnである。
うにエツチング中の出力電圧Vfnとエツチング終了時
の出力電圧Vgnとの差が第3図に示すn−m枚目のと
きの差と同じになるようにする必要がある。ここで、第
2図(b)に示すオフセラと値voffn (n枚目ウ
ェハの処理時)から時間tI後のエツチング中の信号強
度までの間を増幅率GnC増幅した値が第5図の出力電
圧Vfnであり、第2図(b)に示すオフセット値Vo
ffnからエツチング終了時の信号強度までの間を増幅
率Gnで増幅した値が第5図の出力電圧vgnである。
このときの関係式は次のようになる。
Vfn = (Van Voffn ) X Gn
=−−t81Vgn = (Vbn Voffn
) X Gn −−−(91また。n−m枚目の出
力電圧とn枚目の出力電圧との間には ’Vf(n−m) =Vfn ・・・・・
・・・・・・・・・・・・曲 filVg(n−□)=
■gn ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・ αDの関係を持たせるので、この関係は0
α、al)式からVf(n−m)−Vg(n−m) =
Vfn−Vgn −・・ α力のように表わせる。
=−−t81Vgn = (Vbn Voffn
) X Gn −−−(91また。n−m枚目の出
力電圧とn枚目の出力電圧との間には ’Vf(n−m) =Vfn ・・・・・
・・・・・・・・・・・・曲 filVg(n−□)=
■gn ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・ αDの関係を持たせるので、この関係は0
α、al)式からVf(n−m)−Vg(n−m) =
Vfn−Vgn −・・ α力のように表わせる。
そこで、本発明はαOないしく121式の関係が得られ
るように、n枚目の処理時のオフセット値Voffnお
よびゲイン値Gnを求める。
るように、n枚目の処理時のオフセット値Voffnお
よびゲイン値Gnを求める。
ゲイン値Gnは次のようにして求まる。まず、02式を
基に(6)ないしく9)式を代入し、まとめると(V’
、1(n−m) −Vb(n−m) ) 0G(n−m
)=(vafl−Vbn)・Gn ・・・・・・
・・・・・・・・・ 旧となり、これをil+、 +2
1式で置き換えるとvc(n−m) ・G(1−41
) =Vc1 ′″Onしたがって。
基に(6)ないしく9)式を代入し、まとめると(V’
、1(n−m) −Vb(n−m) ) 0G(n−m
)=(vafl−Vbn)・Gn ・・・・・・
・・・・・・・・・ 旧となり、これをil+、 +2
1式で置き換えるとvc(n−m) ・G(1−41
) =Vc1 ′″Onしたがって。
となり、これにIl+、 151式を代入すれば。
・・・・・・・・・ σ5)
が得られる。なお、ここで、関数f(n) を決定す
るには、数学的帰納法によりそれまでのウェハ処理枚数
に応じて、例えば、n−2次以下の多項式にすれば良い
(ここで、mを変数とした場合には、f(n)の代わり
にf(n、 m)を用いる。)。
るには、数学的帰納法によりそれまでのウェハ処理枚数
に応じて、例えば、n−2次以下の多項式にすれば良い
(ここで、mを変数とした場合には、f(n)の代わり
にf(n、 m)を用いる。)。
本実施例では関数f (n) を実験により確認した
ところ、 n = 2の場合、f(2)”l: n = 3の場合、f(3)=c となった。
ところ、 n = 2の場合、f(2)”l: n = 3の場合、f(3)=c となった。
よって、帰納法により
f(k)=C
f(k+1) =C
となることが明らかで、f(n)=Cと決定する。
なお1本実験での実際は、c=lであり、(31式はf
(n)=1で次の関係があった。
(n)=1で次の関係があった。
また、09式にf(n)=1 を代入するとゲイン値は
となる。
となる。
オフセット値Voffnは(9)式を変形することによ
り求まる。すなわち、 ここで、VfnはVf(n−m)で良い。
り求まる。すなわち、 ここで、VfnはVf(n−m)で良い。
二のようにして求めたn枚目の処理時のオフセット値お
よびゲイン値により、光電変換器lから入力される電気
信号を補正することによって、n枚目の処理時にもペン
レコーダ16に表示される時間t1以後の出力電圧は第
5図に示すように、n−m枚目の処理時のときの出力電
圧と同じになる。
よびゲイン値により、光電変換器lから入力される電気
信号を補正することによって、n枚目の処理時にもペン
レコーダ16に表示される時間t1以後の出力電圧は第
5図に示すように、n−m枚目の処理時のときの出力電
圧と同じになる。
補正値算出手段13によりて算出したオフセット値は、
オフセット調整用D/A変換器5を介してアナログ値に
変換されて減算器3に入力され、光電変換器1からの電
気信号に減算される。また。
オフセット調整用D/A変換器5を介してアナログ値に
変換されて減算器3に入力され、光電変換器1からの電
気信号に減算される。また。
補正値算出手段13によって算出したゲイン値は、ゲイ
ンアンプ4に入力され、減算器3から出力された電気信
号を増幅する。
ンアンプ4に入力され、減算器3から出力された電気信
号を増幅する。
なお、この場合入力値補正手段6は減算器3およびゲイ
ンアンプ3で成り、終点判定手段11.記憶手段稔およ
び補正値算出手段13はマイクロコンピュータ14内に
構成されたものである。
ンアンプ3で成り、終点判定手段11.記憶手段稔およ
び補正値算出手段13はマイクロコンピュータ14内に
構成されたものである。
上記構成の装置によって、第6図に示すステップによっ
てエツチング終点利足が行われる。
てエツチング終点利足が行われる。
まず、製品となるべきウェハのエツチング処理を連続的
に行う餌に、サンプルウェハなエツチング処理し、その
ときの発光を採光して光電変換器1によりて電気信号に
変換し入力するとともに、ペンレコーダ17に表示され
る出力電圧の波形を見ながら、オフセット調整用可変抵
抗器8およびゲイン設定用可変抵抗器7を調整して、オ
フセット値およびゲイン値を設定し、終点判定に適した
波形となるように初期設定を行う(これをステップ20
に示す。)。
に行う餌に、サンプルウェハなエツチング処理し、その
ときの発光を採光して光電変換器1によりて電気信号に
変換し入力するとともに、ペンレコーダ17に表示され
る出力電圧の波形を見ながら、オフセット調整用可変抵
抗器8およびゲイン設定用可変抵抗器7を調整して、オ
フセット値およびゲイン値を設定し、終点判定に適した
波形となるように初期設定を行う(これをステップ20
に示す。)。
次に、この初期設定のときに入力した光電変換器lから
のそのままの電気信号を記憶手段化に記憶させておくと
ともに、初期設定で決められたオフセット値、ゲイン値
および該値によって補正された時間11時の増幅信号値
を記憶手段丘に記憶させておく(これをステップ21に
示す。)、なお、二の場合に記憶する光電変換器lから
のそのままの電気信号は時間11時およびエツチング終
了時の電気信号を記憶している。
のそのままの電気信号を記憶手段化に記憶させておくと
ともに、初期設定で決められたオフセット値、ゲイン値
および該値によって補正された時間11時の増幅信号値
を記憶手段丘に記憶させておく(これをステップ21に
示す。)、なお、二の場合に記憶する光電変換器lから
のそのままの電気信号は時間11時およびエツチング終
了時の電気信号を記憶している。
次に、これから製品となるクエへのエツチング処理を開
始しくこれをステップ22に示す。)、処理時の発光を
採光して光電変換器lによって電気信号に変換して入力
する(これをステップ23に示す。)。このとき減算器
3およびゲインアンプ4は、記憶手段12に記憶してお
いた初期設定時のオフセット値およびゲイン値で設定さ
れ、光電変換器lからの電気信号を補正して、ペンレコ
ーダ17に出力する。
始しくこれをステップ22に示す。)、処理時の発光を
採光して光電変換器lによって電気信号に変換して入力
する(これをステップ23に示す。)。このとき減算器
3およびゲインアンプ4は、記憶手段12に記憶してお
いた初期設定時のオフセット値およびゲイン値で設定さ
れ、光電変換器lからの電気信号を補正して、ペンレコ
ーダ17に出力する。
ここで、放電開始からの時間がtlでな(、また時間t
1に達していない場合はステップ23に戻る −
(これをステウプ24.25に示す。)。
1に達していない場合はステップ23に戻る −
(これをステウプ24.25に示す。)。
次に、放電開始からの時間がtlになったら、光電変換
器1から送られる時間11時そのままの電気信号値を補
正値算出手段13に取り込むとともに、記憶手段化に記
憶してあった時間11時およびエツチング終了時の光電
変換器lからのそのままの電気信号値、ゲイン値および
補正された時間11時の増幅信号値を補正ma出手段1
3に読み込ませ、補正値算出手段Bによってゲイン値お
よびオフセット幼を算出する(これをステップ24,2
6.27に示す。)。
器1から送られる時間11時そのままの電気信号値を補
正値算出手段13に取り込むとともに、記憶手段化に記
憶してあった時間11時およびエツチング終了時の光電
変換器lからのそのままの電気信号値、ゲイン値および
補正された時間11時の増幅信号値を補正ma出手段1
3に読み込ませ、補正値算出手段Bによってゲイン値お
よびオフセット幼を算出する(これをステップ24,2
6.27に示す。)。
補正値算出手段13で算出されたオフセット値およびゲ
イン値は減算器3およびゲインアンプ4に送られ、それ
ぞれの値を算出値に再設定する(これをステップ28に
示す。)。これにより、終点判定手段11に入力される
時間を重恩後の価は、初めのものと同じものになる。
イン値は減算器3およびゲインアンプ4に送られ、それ
ぞれの値を算出値に再設定する(これをステップ28に
示す。)。これにより、終点判定手段11に入力される
時間を重恩後の価は、初めのものと同じものになる。
このときに算出されたオフセット値およびゲイン値なら
びに時間11時の光電変換器1からそのまま入力される
電気信号値は記憶手段化に記憶させておき(これをステ
ップ29に示す。)、後の処理時の補正値算出に用いた
り、同じく後の処理時の時間t1までの補正値に使用す
る。
びに時間11時の光電変換器1からそのまま入力される
電気信号値は記憶手段化に記憶させておき(これをステ
ップ29に示す。)、後の処理時の補正値算出に用いた
り、同じく後の処理時の時間t1までの補正値に使用す
る。
このように、初期時の波形と同じに補正された電気信号
によって、公知の終点判定手段を用いた終点判定手段に
よりエツチング終点を判定する(これをステップ30に
示す。)。まだ、エツチング終点に達していない場合は
ステップ22に戻り、処理を続行する。処理時間が11
を越しているときは補正値の算出は行なわず、ステップ
30に進む(これをステップ24.25に示す。)。
によって、公知の終点判定手段を用いた終点判定手段に
よりエツチング終点を判定する(これをステップ30に
示す。)。まだ、エツチング終点に達していない場合は
ステップ22に戻り、処理を続行する。処理時間が11
を越しているときは補正値の算出は行なわず、ステップ
30に進む(これをステップ24.25に示す。)。
終点判定が終わったら、エツチング終了時の光電変換器
lからのそのままの電気信号値を記憶手段に記憶させて
おき(これをステップ31に示ス。)、後の処理時の補
正値算出に用いる。
lからのそのままの電気信号値を記憶手段に記憶させて
おき(これをステップ31に示ス。)、後の処理時の補
正値算出に用いる。
終点判定が終わり、処理されたウェハが処理室から搬送
され、また次に新しいウェハの処理がある場合にはステ
ップ22に戻り、ない場合には終わる(これをステップ
32に示す。)。この場合、ウェハ処理を繰り返えすと
きには、Hに処理したときのデータが残り、ウェハ処理
とともに順次書き換えられるようになっている。
され、また次に新しいウェハの処理がある場合にはステ
ップ22に戻り、ない場合には終わる(これをステップ
32に示す。)。この場合、ウェハ処理を繰り返えすと
きには、Hに処理したときのデータが残り、ウェハ処理
とともに順次書き換えられるようになっている。
以上1本−実施例によれば、初期設定時に補正した電気
信号の波形と同じ波形のものを、毎回の処理時に得るこ
とができるので、エツチング終点判定が容易になるとと
もに、一定したエツチング終点判定ができ、同一プロセ
ス中のウェハの品質が均一になるという効果がある糎 なお、本−実施例ではエツチング時の光量が増加する場
合について述べたが、逆にエツチング時の光量が減少す
るものであっても良い。
信号の波形と同じ波形のものを、毎回の処理時に得るこ
とができるので、エツチング終点判定が容易になるとと
もに、一定したエツチング終点判定ができ、同一プロセ
ス中のウェハの品質が均一になるという効果がある糎 なお、本−実施例ではエツチング時の光量が増加する場
合について述べたが、逆にエツチング時の光量が減少す
るものであっても良い。
また、本−実施例のn−m枚目は、n枚目の1校訂でも
良いし複数枚前でも良いことは言うまでもないが、さら
に、n−m枚目が最初のもので固定されていても、任意
のもので固定されていても同様の効果を得ることができ
る。
良いし複数枚前でも良いことは言うまでもないが、さら
に、n−m枚目が最初のもので固定されていても、任意
のもので固定されていても同様の効果を得ることができ
る。
本発明によれば、エツチング処理が繰り返し行なわれて
、発光検出部から採光する発光量が減少しても、初期の
エツチング終点悔定と同じように容易に判定することが
できるという効果がある。
、発光検出部から採光する発光量が減少しても、初期の
エツチング終点悔定と同じように容易に判定することが
できるという効果がある。
第1図は不発゛明の一実施例であるエツチング終点判定
装置を示すブロック図、第2図(a)はn−m枚目の処
理時に光電変換器で変換された電気信号の波形を示す図
、第2図(b)はn枚目の処理時に光電変換器で変換さ
れた電気信号の波形を示す図、第3図はn −m枚目の
処理時に電気信号を補正したときの波形を示す図、tJ
44図はn枚目の処理時に訂回補正した電気信号をその
まま増幅したときの波形を示す図、第5図はn枚目の処
理時に本発明によって補正したときの波形を示す図、第
6図は第1図の作用を示すフローチャート図である。 l・・・・・・光電変換器、6・・・・・・入力値補正
手段、11・・・・・・終点判定手段、12・・・・・
・記憶手段、 13・・相補正値算出手段 代理人 弁理士 小 川 勝 男 (a)′12図 (bン 第3図 第4図 ′A5図 ゛
装置を示すブロック図、第2図(a)はn−m枚目の処
理時に光電変換器で変換された電気信号の波形を示す図
、第2図(b)はn枚目の処理時に光電変換器で変換さ
れた電気信号の波形を示す図、第3図はn −m枚目の
処理時に電気信号を補正したときの波形を示す図、tJ
44図はn枚目の処理時に訂回補正した電気信号をその
まま増幅したときの波形を示す図、第5図はn枚目の処
理時に本発明によって補正したときの波形を示す図、第
6図は第1図の作用を示すフローチャート図である。 l・・・・・・光電変換器、6・・・・・・入力値補正
手段、11・・・・・・終点判定手段、12・・・・・
・記憶手段、 13・・相補正値算出手段 代理人 弁理士 小 川 勝 男 (a)′12図 (bン 第3図 第4図 ′A5図 ゛
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、エッチング処理時の発光量を電気信号に変換する電
気信号変換手段と、 該電気信号変換手段によって入力した電気信号値および
該電気信号価の補正を行うオフセット値、ゲイン値を記
憶する記憶手段と、 現処理以前の処理時のときのエッチング中およびエッチ
ング終了時の電気信号と、該処理時のゲイン値と、現処
理時のエッチング中の電気信号とを基に現処理時のオフ
セット値およびゲイン値を再設定する補正値算出手段と
、 該補正値算出手段によって再設定されたオフセット値お
よびゲイン値により現処理時に入力する電気信号を補正
する入力補正手段と、 該入力値補正手段によって補正された電気信号の波形に
よりエッチング終点を判定する終点判定手段と、 を具備することを特徴とするエッチング終点判定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63067413A JP2821132B2 (ja) | 1988-03-23 | 1988-03-23 | エッチング終点判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63067413A JP2821132B2 (ja) | 1988-03-23 | 1988-03-23 | エッチング終点判定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01241127A true JPH01241127A (ja) | 1989-09-26 |
JP2821132B2 JP2821132B2 (ja) | 1998-11-05 |
Family
ID=13344200
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63067413A Expired - Lifetime JP2821132B2 (ja) | 1988-03-23 | 1988-03-23 | エッチング終点判定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2821132B2 (ja) |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58110678A (ja) * | 1981-12-24 | 1983-07-01 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | エツチング方法 |
JPS5928340A (ja) * | 1982-08-09 | 1984-02-15 | Hitachi Ltd | エッチング終点検出方法 |
JPS5994423A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-31 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
JPS61220332A (ja) * | 1985-03-27 | 1986-09-30 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
JPS6228430U (ja) * | 1985-07-31 | 1987-02-20 | ||
JPS6265424A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-24 | Hitachi Ltd | エツチング終点検出方法 |
JPS6318835U (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-08 | ||
JPS63254732A (ja) * | 1987-04-13 | 1988-10-21 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
-
1988
- 1988-03-23 JP JP63067413A patent/JP2821132B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58110678A (ja) * | 1981-12-24 | 1983-07-01 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | エツチング方法 |
JPS5928340A (ja) * | 1982-08-09 | 1984-02-15 | Hitachi Ltd | エッチング終点検出方法 |
JPS5994423A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-31 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
JPS61220332A (ja) * | 1985-03-27 | 1986-09-30 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
JPS6228430U (ja) * | 1985-07-31 | 1987-02-20 | ||
JPS6265424A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-24 | Hitachi Ltd | エツチング終点検出方法 |
JPS6318835U (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-08 | ||
JPS63254732A (ja) * | 1987-04-13 | 1988-10-21 | Hitachi Ltd | エッチング終点判定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2821132B2 (ja) | 1998-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3683486B2 (ja) | 多段低オフセット高速回復の比較器システム及び方法 | |
US5118378A (en) | Apparatus for detecting an end point of etching | |
JPH08214220A (ja) | ディジタルブラッククランプ | |
JP2795765B2 (ja) | アナログ−ディジタル変換器及びアナログ−ディジタル変換の線形化処理方法 | |
JP6998995B2 (ja) | 固体撮像装置、その制御方法、撮像システム及びカメラ | |
JPH01120116A (ja) | アナログ信号の引き伸ばし方法とこの方法を実施するための装置 | |
JPH07114195B2 (ja) | エッチング終点判定方法 | |
JPH0364216A (ja) | アナログ信号を正確にディジタル化するための方法と装置 | |
JPH01241127A (ja) | エッチング終点判定方法 | |
JP2003264462A (ja) | 電圧補正回路、並びに、電圧補正機能付き増幅器及びこれを用いたスイッチング電源装置 | |
US20150219590A1 (en) | Air-fuel ratio detection device | |
JPH08189940A (ja) | ディジタル測定器 | |
JP4220708B2 (ja) | 電圧補正回路、並びに、電圧補正機能付き増幅器及びこれを用いたスイッチング電源装置 | |
JPH06125228A (ja) | オフセット電圧補正回路 | |
JPH0563572A (ja) | 自動ゲイン切替機能付信号処理装置 | |
JPS60205949A (ja) | 粒子線測定装置の動作点自動設定方法 | |
JPH0234576Y2 (ja) | ||
JPS6393115A (ja) | 終点判定方法 | |
JPS6029025A (ja) | A−d変換器のオフセット・ドリフト補正回路 | |
JP3437960B2 (ja) | A/d変換装置 | |
JP2753399B2 (ja) | トンネル顕微鏡のスペクトロスコピーにおける誤差補正方式 | |
KR100532372B1 (ko) | 광학 시스템의 오프셋 제거장치 및 그 방법 | |
JPH05343964A (ja) | 信号変換回路 | |
SU1518727A1 (ru) | Фотоэлектрический анализатор количества и размеров частиц | |
JP2754934B2 (ja) | クランプ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070828 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828 Year of fee payment: 10 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828 Year of fee payment: 10 |