JPS63251917A - 磁気デイスク - Google Patents
磁気デイスクInfo
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- JPS63251917A JPS63251917A JP62086006A JP8600687A JPS63251917A JP S63251917 A JPS63251917 A JP S63251917A JP 62086006 A JP62086006 A JP 62086006A JP 8600687 A JP8600687 A JP 8600687A JP S63251917 A JPS63251917 A JP S63251917A
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Landscapes
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は高密度磁気記録に適した強磁性金属薄膜を磁気
記録層とする磁気ディスクに関する。
記録層とする磁気ディスクに関する。
従来の技術
磁気記録の高密度化の進歩は著しいものがあり、強磁性
微粒子を結合剤で分散固定した、飽和磁束密度の低い磁
気記録層から、高い飽和磁束密度で薄型化した強磁性金
属薄膜を磁気記録層とした磁気ディスクへの移行がはじ
まっている。現状では、ハードディスクで、Go−Ni
のスパッタ膜、Co−N1−Pの無電解メッキ膜等が
一部実用化になっているに過ぎず、この媒体もSiOつ
等やカーボン膜等の厚い保護膜が配されており、本来の
高密度記録特性を十分発揮してるとこまで進んでいない
。
微粒子を結合剤で分散固定した、飽和磁束密度の低い磁
気記録層から、高い飽和磁束密度で薄型化した強磁性金
属薄膜を磁気記録層とした磁気ディスクへの移行がはじ
まっている。現状では、ハードディスクで、Go−Ni
のスパッタ膜、Co−N1−Pの無電解メッキ膜等が
一部実用化になっているに過ぎず、この媒体もSiOつ
等やカーボン膜等の厚い保護膜が配されており、本来の
高密度記録特性を十分発揮してるとこまで進んでいない
。
最近では、垂直方向に残留磁化を保持できる、いわゆる
高密度化に有利な垂直磁気記録を含め、Co−Cr、
Go−Ta、 Co −W、 Go−Mo、 Go−R
u、 Go−Pt。
高密度化に有利な垂直磁気記録を含め、Co−Cr、
Go−Ta、 Co −W、 Go−Mo、 Go−R
u、 Go−Pt。
Go−V、 Co−0r−Wb、 Go−Ni−0,G
o−Ni−Pr。
o−Ni−Pr。
Go−Or−Re等のCo系合金薄膜が広範囲に渡り検
討され、トライポロジー的見地から各種の保護膜と組み
合わせ、耐久性の向上と記録密度の向上を目指した開発
が進められている〔特公昭68−91号公報、特公昭6
1−53770号公報、特開昭61−77128号公報
、同61−194625゜同61−220116.同6
1−220118゜同60−57535.同61−19
4824.同61−137219.同60−93634
.同61−269219.特公昭61−61444号公
報〕。
討され、トライポロジー的見地から各種の保護膜と組み
合わせ、耐久性の向上と記録密度の向上を目指した開発
が進められている〔特公昭68−91号公報、特公昭6
1−53770号公報、特開昭61−77128号公報
、同61−194625゜同61−220116.同6
1−220118゜同60−57535.同61−19
4824.同61−137219.同60−93634
.同61−269219.特公昭61−61444号公
報〕。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら上記した構成では、短波長化が進むと、ス
ペーシング損失が無視できなくなるために、磁気記録層
自身の耐久性を改良する必要があり、本発明はかかる事
情に濫みなされたもので、耐久性と短波長出力の両者を
共に改良した磁気ディスクを提供するものである。
ペーシング損失が無視できなくなるために、磁気記録層
自身の耐久性を改良する必要があり、本発明はかかる事
情に濫みなされたもので、耐久性と短波長出力の両者を
共に改良した磁気ディスクを提供するものである。
問題点を解決するための手段
上記した問題点を解決するため、本発明の磁気ディスク
は、強磁性金属薄膜が周方向に配向した針状微粒子を核
とした突起を有するようにしたものである。
は、強磁性金属薄膜が周方向に配向した針状微粒子を核
とした突起を有するようにしたものである。
作用
本発明の磁気ディスクは、上記した構成により、磁気ヘ
ッドとの高速摺接で受ける応力が、周方向に配列した針
状微粒子によシ形成される突起で分散するため、破壊に
至らないのと、摺動が安定化するので、雑音も改善され
、保護膜が薄くできることから短波長出力も改善され、
優れたO/N と耐久性が同時に得られることになる
。
ッドとの高速摺接で受ける応力が、周方向に配列した針
状微粒子によシ形成される突起で分散するため、破壊に
至らないのと、摺動が安定化するので、雑音も改善され
、保護膜が薄くできることから短波長出力も改善され、
優れたO/N と耐久性が同時に得られることになる
。
実施例
以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について、
詳しく説明する。第1図は本発明の第1の実施例の磁気
ディスクの拡大断面図である。第1図で1は、ポリエチ
レンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ
フェニレンサルファイド、ポリイミド、ム#−Mg合金
等の非磁性基板で2は、酸化鉄、窒化鉄等の針状微粒子
を周方向に配向させて配列固定した微粒子塗布層で、針
状微粒子は保磁力は5o(Os)以下が好ましく、長径
が500人〜5000人、好ましくは、600人〜15
00人で、長径/短径=2〜15の範囲が好ましい。配
向は、微粒子を塗布後、磁場配向するのが確実である。
詳しく説明する。第1図は本発明の第1の実施例の磁気
ディスクの拡大断面図である。第1図で1は、ポリエチ
レンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ
フェニレンサルファイド、ポリイミド、ム#−Mg合金
等の非磁性基板で2は、酸化鉄、窒化鉄等の針状微粒子
を周方向に配向させて配列固定した微粒子塗布層で、針
状微粒子は保磁力は5o(Os)以下が好ましく、長径
が500人〜5000人、好ましくは、600人〜15
00人で、長径/短径=2〜15の範囲が好ましい。配
向は、微粒子を塗布後、磁場配向するのが確実である。
針状微粒子の密度は105〜10 ケ/iの範囲が好ま
しい。3はCo−Ni、 Go−Ni−Pr、 co−
Pt、 Go−Rh、 Go−Ru。
しい。3はCo−Ni、 Go−Ni−Pr、 co−
Pt、 Go−Rh、 Go−Ru。
Co−Re、 Co−0,Co−Ni−0,Co−0r
、 Go−Or−Wb。
、 Go−Or−Wb。
Co−0r−Ta、 Co−Ti、 Co−Mo、 G
o−W等の電子ビーム蒸着膜、スパッタリング膜などか
ら成る強磁性金属薄膜から構成される磁気記録層で、4
は、アスカ−ボン膜、 Mob2スパッタ膜などとの組
み合わせから成る保護層で、スペーシング損失の点から
100Å以下で構成するのが好ましく、本発明の磁気記
録層の耐久性はそれを可能にするものである。
o−W等の電子ビーム蒸着膜、スパッタリング膜などか
ら成る強磁性金属薄膜から構成される磁気記録層で、4
は、アスカ−ボン膜、 Mob2スパッタ膜などとの組
み合わせから成る保護層で、スペーシング損失の点から
100Å以下で構成するのが好ましく、本発明の磁気記
録層の耐久性はそれを可能にするものである。
第2因は本発明の第2の実施例の磁気ディスクの拡大断
面図である。第2図で6は、非磁性基板で6は、強磁性
金属薄膜からなる第1磁気記録層、7は、針状微粒子を
周方向に配向して固定した微粒子塗布層で、配向の方法
として、第1磁気記録層に記録パターンを形成し、その
漏えい磁界を利用して、塗布時に配向する方法が第1の
実施例でのべた方法に加えて採用できるものである。8
は第2磁気記録層で、9は保護層である。6と8は同一
の材料系で構成する必要はないのであるが、格別の目的
がない限り、第1の実施例でのべたような強磁性金属薄
膜を分割して第1.第2磁気記録層として構成すればよ
い。
面図である。第2図で6は、非磁性基板で6は、強磁性
金属薄膜からなる第1磁気記録層、7は、針状微粒子を
周方向に配向して固定した微粒子塗布層で、配向の方法
として、第1磁気記録層に記録パターンを形成し、その
漏えい磁界を利用して、塗布時に配向する方法が第1の
実施例でのべた方法に加えて採用できるものである。8
は第2磁気記録層で、9は保護層である。6と8は同一
の材料系で構成する必要はないのであるが、格別の目的
がない限り、第1の実施例でのべたような強磁性金属薄
膜を分割して第1.第2磁気記録層として構成すればよ
い。
以下更に具体的に第1.第2の実施例を比較例との対比
で説明する。
で説明する。
厚み30μmのポリエチレンテレフタレートフィルムを
非磁性基板として準備し、最終的に5インチの磁気ディ
スクが得られるように、円板状に加工して、長径670
人、短径120人の保磁力5o(Os )o酸化鉄微粒
子を、3X10 /y/aAとなるように塗布し、5
00(6e )の磁場で周方向に配向してポリエステ
ル樹脂(平均厚み40人)で固定した微粒子塗布層を配
し、その上に、1a、s e (MHz)、 1.2
(KW) 、 Ar圧3.5X10 (Torr)の
高周波スパッタリングにより、Go−Or (Cr :
2awt%)垂直磁化膜を 。
非磁性基板として準備し、最終的に5インチの磁気ディ
スクが得られるように、円板状に加工して、長径670
人、短径120人の保磁力5o(Os )o酸化鉄微粒
子を、3X10 /y/aAとなるように塗布し、5
00(6e )の磁場で周方向に配向してポリエステ
ル樹脂(平均厚み40人)で固定した微粒子塗布層を配
し、その上に、1a、s e (MHz)、 1.2
(KW) 、 Ar圧3.5X10 (Torr)の
高周波スパッタリングにより、Go−Or (Cr :
2awt%)垂直磁化膜を 。
0.14μm形成し、更にパーフロロオクタン酸を60
人真空蒸着して、6インチの磁気ディスク(ディスク人
)を製造した。
人真空蒸着して、6インチの磁気ディスク(ディスク人
)を製造した。
同じく厚み30μmのポリエチレンテレフタレートフィ
ルム上に、先ずディスク人と同じスパッタリング条件で
G o −Or垂直磁化膜t−0,08μm形成しトラ
ック幅26μm1ギヤツプ長0.25μmのフェライト
ヘッドで、0.8μmの記録を行い、その上に、ディス
ク人と同じ微粒子を塗布し、その上更に第2磁気記録層
として、o、o eμmCo−Cr垂直磁化膜を形成し
、パーフロロオクタン酸を50人真空蒸着し、5インチ
の磁気ディスク(ディスクB)を製造した。
ルム上に、先ずディスク人と同じスパッタリング条件で
G o −Or垂直磁化膜t−0,08μm形成しトラ
ック幅26μm1ギヤツプ長0.25μmのフェライト
ヘッドで、0.8μmの記録を行い、その上に、ディス
ク人と同じ微粒子を塗布し、その上更に第2磁気記録層
として、o、o eμmCo−Cr垂直磁化膜を形成し
、パーフロロオクタン酸を50人真空蒸着し、5インチ
の磁気ディスク(ディスクB)を製造した。
比較例としては、厚み30μmのポリエチレンテレフタ
レートフィルム上に高さが約120人のミミズ状の水溶
性高分子塗布層を配した非磁性基板上に、ディスク人と
同じ条件でCo−Cr垂直磁化膜を0.14μm形成し
、その上に200人のアモルファスカーボン膜を配L、
更’ICバー 7 o o オクタン酸を約6o人真空
蒸着して、6インチの磁気ディスク(ディスクC)を製
造した。
レートフィルム上に高さが約120人のミミズ状の水溶
性高分子塗布層を配した非磁性基板上に、ディスク人と
同じ条件でCo−Cr垂直磁化膜を0.14μm形成し
、その上に200人のアモルファスカーボン膜を配L、
更’ICバー 7 o o オクタン酸を約6o人真空
蒸着して、6インチの磁気ディスク(ディスクC)を製
造した。
ディスク人、B、Cを用い、ギャップ長0.15μ賑ト
ラック幅10μmのフェライトヘッドを用い、記録波長
0.4μmを記録再生し、比較した。
ラック幅10μmのフェライトヘッドを用い、記録波長
0.4μmを記録再生し、比較した。
初期のC/Nは、比轄例fI:o(dB)とすると、デ
ィスク人、ディスクBはそれぞれ4.5(dB)、6.
7(dB)良好であり、ステル状態で3時間後のC/N
i比較すると、ディスクCは、初期から2〜a(dB)
低下していたのに対して、ディスク人。
ィスク人、ディスクBはそれぞれ4.5(dB)、6.
7(dB)良好であり、ステル状態で3時間後のC/N
i比較すると、ディスクCは、初期から2〜a(dB)
低下していたのに対して、ディスク人。
Bは、o、5(dB)程度の低下があるだけで何ら支障
のないレベルであった。
のないレベルであった。
発明の効果
以上のように本発明によれば、C/Nと耐久性を共に改
良した高密度磁気記録用の磁気ディスクが得られるとい
ったすぐれた効果がある。
良した高密度磁気記録用の磁気ディスクが得られるとい
ったすぐれた効果がある。
第1図は本発明の第1の実施例の磁気ディスクを示す断
面図、第2図は第2の実施例の磁気ディスクの拡大断面
図である。 1.6・・・・・・非磁性基板、2.7・・・・・・微
粒子塗布層、3,6.8・・・・・・磁気記録層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図
面図、第2図は第2の実施例の磁気ディスクの拡大断面
図である。 1.6・・・・・・非磁性基板、2.7・・・・・・微
粒子塗布層、3,6.8・・・・・・磁気記録層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図
Claims (1)
- 強磁性金属薄膜が、周方向に配向した針状微粒子を核と
した突起を有することを特徴とする磁気ディスク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62086006A JPS63251917A (ja) | 1987-04-08 | 1987-04-08 | 磁気デイスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62086006A JPS63251917A (ja) | 1987-04-08 | 1987-04-08 | 磁気デイスク |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63251917A true JPS63251917A (ja) | 1988-10-19 |
Family
ID=13874609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62086006A Pending JPS63251917A (ja) | 1987-04-08 | 1987-04-08 | 磁気デイスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63251917A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60102947U (ja) * | 1983-12-20 | 1985-07-13 | 東芝テック株式会社 | 印字装置の筐体 |
JPS60173350U (ja) * | 1984-04-27 | 1985-11-16 | 日本電気株式会社 | キ−ボ−ド |
JPS6290488A (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-24 | 株式会社日立製作所 | 扉開閉構造 |
-
1987
- 1987-04-08 JP JP62086006A patent/JPS63251917A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60102947U (ja) * | 1983-12-20 | 1985-07-13 | 東芝テック株式会社 | 印字装置の筐体 |
JPS60173350U (ja) * | 1984-04-27 | 1985-11-16 | 日本電気株式会社 | キ−ボ−ド |
JPS6290488A (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-24 | 株式会社日立製作所 | 扉開閉構造 |
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