JPS63249912A - 磁気ヘツド - Google Patents

磁気ヘツド

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JPS63249912A
JPS63249912A JP8289987A JP8289987A JPS63249912A JP S63249912 A JPS63249912 A JP S63249912A JP 8289987 A JP8289987 A JP 8289987A JP 8289987 A JP8289987 A JP 8289987A JP S63249912 A JPS63249912 A JP S63249912A
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JP
Japan
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thin film
magnetic
wear resistance
glass
thin
Prior art date
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Pending
Application number
JP8289987A
Other languages
English (en)
Inventor
Michio Yanagi
道男 柳
Yukihiko Takita
幸彦 瀧田
Tetsuya Sato
哲也 佐藤
Kimihiro Sasaki
佐々木 公博
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Canon Electronics Inc
Original Assignee
Canon Electronics Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は磁気記録媒体に磁気コアを摺接して情報の記録
又は再生を行なう磁気ヘッドに関し、特に突き合わせ面
に金属磁性薄膜を成膜した強磁性酸化物から成る一対の
磁気コア半体を磁気ギャップを介し突き合わせガラス溶
着により接合して成る磁気コアを有したいわゆる複合型
の磁気ヘッドに関するものである。
[従来の技術] 第4図はこの種の複合型の磁気ヘッドとしてVTRのビ
デオ用ヘッドの磁気コアの構造を示している。
図示のようにこの磁気コアは一対の磁気コア半体1.1
を磁気ギャップGを介し突き合わせ、接合して構成され
ている。磁気コア半体1.1はそれぞれ強磁性体酸化物
のフェライトから成り、その突き合わせ面の磁気キャッ
プGの両側部分には磁気ギャップのトラック幅を決める
トラック溝1aが形成されている。又一方の磁気コア半
体1 ゛の突き合わせ面の中央部には巻線窓1bが形成
されている。更に磁気コア半体1.1のそれぞれの突き
合わせ面において磁気ギャップGに面するギャップ形成
面には高飽和磁束密度の金属磁性薄膜2が成膜されてい
る。そして磁気コア半体1゜1は磁気ギャップGを介し
突き合わせられ、それぞれのトラック溝1aに充填され
た溶着ガラス3の溶着により接合される。この磁気コア
に巻線窓1bを介して不図示のコイル巻線を巻回して磁
気ヘッドが構成される。
[発明が解決しようとする問題点] ところで第4図の磁気コアは複合型の中でも最も構造の
簡単なものであり、金属磁性薄膜2の成膜面と磁気ギャ
ップGとが平行になっている。このような構造によると
磁気コア半体1.1の強磁性酸化物部分と金属磁性薄膜
2の界面がいわゆる疑似ギャップとして働き、記録時に
記録信号以外の信号を拾い、再生特性でうねりを生じて
しまう(コンタ−効果)ため、いろいろ工夫がなされて
いる。
その1つの方法として、金属磁性薄膜2としてセンダス
トR膜よりコンタ−効果の発生が少ないアモルファス薄
膜を用いる構造が採用されている。
しかしながらこの構造によると、薄膜のアモルファスが
結晶化温度を有するため、磁気コア半体1.1を接合す
るためのガラス溶着はこの結晶化温度以下で、通常は結
晶化温度よりも50℃から70°C位低い温度で行なわ
なければならないという制約がある。例えば薄膜のアモ
ルファスとしてCO系アモルファスのC○−Nb−Zr
で各々の原子パーセントが82−12−6のものを用い
た場合にはその結晶化温度は570 ’C!となる。こ
の場合ガラス溶着の温度は490°C〜500°Cが上
限となる。
ところがこのような温度で磁気コア半体1.1を溶着で
きる低融点の溶着ガラスはPbをかなり多く含むものと
なり、ガラス溶着の温度を下げると溶着ガラスの強度、
硬度が下り、磁気コアの耐摩耗性が悪くなってしまう。
例えば溶着ガラスの硬度を比較すると、作業温度730
°Cの溶着ガラスではビッカーズ硬度が480であるの
に対して、作業温度が480°Cのガラスではビッカー
ズ硬度が270と大幅に落ちてしまう。このため磁気テ
ープ走行試験を行なうと溶着ガラス部のみが摩耗しやす
く偏摩耗を生じてしまう。
一方このような複合型の磁気コアでは溶着ガラス3と金
属磁性薄膜2とが反応し、金属磁性薄膜2が溶着ガラス
3により浸食される現象が起り、磁気ギャップGのI・
ラック幅が正確にでなくなる問題がある。このため従来
よりトラックの両サイド即ち金属磁性薄膜2と溶着ガラ
ス3の界面及び磁気コア半体lの強磁性酸化物部分と溶
着ガラス3の界面に保護膜を成膜する構造が採用されて
いる。
しかしながらこのような保護膜は金属磁性薄膜を浸食さ
れるのを防ぐためのものであり、耐摩耗性については考
慮されておらず不充分であった。
[問題点を解決するための手段] このような問題点を解決するため本発明によれば、突き
合わせ面に金属磁性薄膜を成膜した強磁性酸化物からな
る一対の磁気コア半体を磁気ギャップを介し突き合わせ
、ガラス溶着により接合してなる磁気コアを有した磁気
ヘッドにおいて、前記強磁性酸化物と溶着ガラスの界面
および前記金属磁性薄膜と溶着ガラスの界面に前記金属
磁性薄膜より耐摩耗性の高い薄膜を成膜した構造を採用
した。
[作 用コ このような構造によれば上に述べた耐摩耗性の高い薄膜
を介して磁気コアの耐摩耗性を向上できる。尚金属磁性
薄膜がアモルファス薄膜の場合にはその耐摩耗性は同薄
膜に対して用いられる溶着ガラスより高くなるのでその
場合の上に述べた耐摩耗性の高い薄膜の耐摩耗性は溶着
ガラスの耐摩耗性よりも高くなることになる。
[実施例] 以下、第1図〜第4図を参照して本発明の実施例の詳細
を説明する。尚ここでは先に述べたVTRのビデオ用ヘ
ッドの磁気コアの構造を実施例として例示しており、木
実施例の磁気コアの基本的な構造は先に述べた従来例と
共通でありその説明は省略する。尚磁気コア半体1.1
は強磁性酸化物のフェライトから成り、金属磁性薄膜2
としてアモルファス薄膜を成膜されているものとする。
木実施例では上に述べたような基本的な構造に加えて、
第1図に磁気ギャップGの周辺部を拡大して示すように
、トラック溝la内において、金属磁性薄膜(アモルフ
ァス薄膜)2と溶着ガラス(低融点ガラス)3との界面
及び磁気コア半体1のフェライト部分と溶着ガラス3と
の界面に耐摩耗性が金属磁性薄膜2よりも高い薄膜4を
成膜し、これにより磁気コアの耐摩耗性の向上を図れる
ものとする。
このような薄膜4の材料としては、上に述べたように耐
摩耗性が高いと共に溶着ガラス3の低融点ガラスとのぬ
れ性が良好でありしかも低融点ガラスと反応しにくい材
料であることが必要である。ぬれ性が良好であれば溶着
温度を下げることができる。
このような薄膜4の好ましい材料としては金属あるいは
その酸化物があげられ、具体的には例えばCr 、 C
r 2O3 、 S i O2、T i 。
TiO2,A72O3及びT a 2O5等があげられ
る。これらの材料について酎摩耗性、ガラスとのぬれ性
及びガラスとの反応性を調べた結果を以下に述べておく
まず酎摩耗性からいうとAj22O3 、Cr2O3、
Crが硬く、次にSiO2 、Ta2O5+TiO2が
これに続き最後にTiの順となった。
又溶着ガラスとのぬれ性についてはぬれ性試験としてそ
れぞれの材料からそれぞれ薄膜を形成し、各薄膜と溶着
ガラスとの接触角を測定した。
すなわちそれぞれの薄膜上にPbO−3i02−Aj!
2O3−B2O3系の溶着ガラスをのせ、窒素ガス中に
て490°Cの温度で30分間加熱した後冷却して溶着
ガラスを薄膜上に融着し、薄膜とガラス材との接触角を
測定した。その結果は次の表のようになった。
周知のように接触角が小さい程ぬれ性が良い。
従ってこの表から接触角が小さくぬれ性が良いのはCr
 、 Cr 2O3 + T I+ T iO2fある
ことがわかる。
また溶着ガラスとの反応性を調べたところ最も良好なの
はCr、Cr2O3であり、次にTi。
TiO2という順であった。
このように各材料により長所は異なる。そこで第2図の
薄膜4としては1種類の薄膜を1層成膜するのではなく
、上に述べた各材料の薄膜を組み合わせ複数層積層して
成膜するのがそれぞれの長所を生かせて好ましい。
この組み合わせの好ましい具体例を第2図と第3図に第
1図の磁気ギャップ部の拡大図として示す。
第2図の構造では第1図の薄膜4としてCr2O3N膜
5とCr薄膜6とを積層して成膜している。また第3図
の構造では薄膜4としてSiO2薄膜7とCr薄膜8を
積層して成膜している。それぞれにおいて溶着ガラス3
と反応しにくいCr薄膜6ないし8を溶着ガラス3と接
する側とする。
この組み合わせにおいてそれぞれの薄膜を選んだ理由と
しては、まずCr薄膜6ないし8については溶着ガラス
3から金属磁性薄膜2を保護するのに最適であるからで
ある。又Cr2O3については耐摩耗性に債れる点から
選んだ。又SiO2についてはフェライトと同程度の硬
度をもつことから選んだ。
このような構造によれば薄膜5,6ないし7゜8の耐摩
耗性が金属磁性薄膜2より高いことにより即ち低融点ガ
ラスの溶着ガラス3よりも酎摩耗性が高いことにより磁
気コアの耐摩耗性を向上することができる。又Cr薄膜
6ないし8を介して溶着ガラス3の浸食から金属磁性薄
膜2を保護することができ、トラック幅の精度を保てる
。更にCr薄膜6ないし8のガラスとのぬれ性が良いこ
とにより溶着ガラス3として低融点ガラスを用いること
ができ、アモルファスとしての金属磁性薄膜2の磁気特
性を良好に保つことができる。
尚第2図の構造の場合Cr2O3薄膜5は極めて摩耗し
にくくその厚さによっては周りの部分より出っ張りを生
じ問題となる。そこでCr2O3薄膜5はあまり厚くせ
ずその膜厚は0.57pm〜11Lmが適当である。ま
たこの場合のCrFJ膜6の膜厚は1gm以下では耐摩
耗性の効果がなく、3gmを越えると両薄膜5.6の部
分が残って出っ張ってしまうので1gm〜3gmの範囲
内が適当である。
又第3図の構造の場合にはCr薄膜8の膜厚の増加と共
に磁気コアの耐摩耗性は向上するが5t02薄膜7を1
gm成膜した上にCr薄膜8を5ルm以上の膜厚で成膜
するとCr薄膜8の部分が摩耗しないで残って突き出で
しまうので都合が良くない。又CrR膜8の膜厚が24
.mより少ないと従来例に比べて耐摩耗性の効果が現れ
ない。そこでCr薄膜8の膜厚はSiO2薄膜7のIB
mに対して2gm〜4pmの範囲内が適当である。
尚以上の説明では金属磁性薄膜2はアモルファス薄膜と
したが、アモルファスでなくても良いのは勿論である。
又VTRのビデオ用ヘッド以外の複合型磁気コアについ
ても」−述のような構造を適用して同様の効果を期待で
きるのも勿論である。
[発明の効果] 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、突き
合わせ面に金属磁性薄膜を成膜した強磁性酸化物からな
る一対の磁気コア半体を磁気ギャップを介し突き合わせ
、ガラス溶着により接合してなる磁気コアを有した磁気
ヘッドにおいて、前記強磁性酸化物と溶着ガラスの界面
および前記金属磁性薄膜と溶着ガラスの界面に前記金属
磁性薄膜より耐摩耗性の高い薄膜を成膜した構造を採用
したので、簡単で安価に実施できる構造により磁気コア
の耐摩耗性を向上し磁気ヘッドの耐久性を向上できると
いう優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例としての磁気ヘッドの磁気コ
アの磁気ギヤツブ部周辺の平面図、第2図及び第3図は
それぞれ異なる実施例による第1図の磁気ギャップ部の
拡大図、第4図は本発明が適用される複合型磁気ヘッド
の磁気コアの概略構造を示す斜視図である。 l・・・磁気コア半体  2・・・金属磁性薄膜3・・
・溶着ガラス   4・・・高耐摩耗性の薄膜5・−C
r2O3薄膜 6.8・・・Cr薄膜  7・・・SiO2薄膜 z 第4図 第1図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)突き合わせ面に金属磁性薄膜を成膜した強磁性酸化
    物からなる一対の磁気コア半体を磁気ギャップを介し突
    き合わせ、ガラス溶着により接合してなる磁気コアを有
    した磁気ヘッドにおいて、前記強磁性酸化物と溶着ガラ
    スの界面および前記金属磁性薄膜と溶着ガラスの界面に
    前記金属磁性薄膜より耐摩耗性の高い薄膜を成膜したこ
    とを特徴とする磁気ヘッド。 2)前記の耐摩耗性の高い薄膜としてCr薄膜とSiO
    _2薄膜を積層して成膜し、その場合前記Cr薄膜を溶
    着ガラスと接する側に成膜したことを特徴とする特許請
    求の範囲第1項に記載の磁気ヘッド。 3)前記の耐摩耗性の高い薄膜としてCr薄膜とCr_
    2O_3薄膜を積層して成膜し、その場合前記Cr薄膜
    を溶着ガラスと接する側に成膜したことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項に記載の磁気ヘッド。
JP8289987A 1987-04-06 1987-04-06 磁気ヘツド Pending JPS63249912A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0602567A2 (en) * 1992-12-14 1994-06-22 Sony Corporation Magnetic transducer head

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0602567A2 (en) * 1992-12-14 1994-06-22 Sony Corporation Magnetic transducer head
EP0602567B1 (en) * 1992-12-14 1998-03-11 Sony Corporation Method for preparing a magnetic head

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