JPS63236977A - 半導体装置のソケツト - Google Patents
半導体装置のソケツトInfo
- Publication number
- JPS63236977A JPS63236977A JP7281287A JP7281287A JPS63236977A JP S63236977 A JPS63236977 A JP S63236977A JP 7281287 A JP7281287 A JP 7281287A JP 7281287 A JP7281287 A JP 7281287A JP S63236977 A JPS63236977 A JP S63236977A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- guide plate
- external electrode
- lead
- socket
- electrode lead
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 15
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体装置の電気的特性(特に直流特性)
の測定の際に用いる半導体装置のソケットに関するもの
である。
の測定の際に用いる半導体装置のソケットに関するもの
である。
第3図は従来の半導体装置のソケットを示す縦断面図で
あり、図において、1は被測定用トランジスタ、2はこ
のトランジスタ1の外部電極リード、3は絶縁物からな
る収納体、4はこの収納体3に収納された金属からなる
接触子、5は収納体3を固定する基板、6はこの基板5
より貫通し収納体3に納められた接触子4と導通した測
定回路端子である。また、第2図はこのソケットの横断
面図である。
あり、図において、1は被測定用トランジスタ、2はこ
のトランジスタ1の外部電極リード、3は絶縁物からな
る収納体、4はこの収納体3に収納された金属からなる
接触子、5は収納体3を固定する基板、6はこの基板5
より貫通し収納体3に納められた接触子4と導通した測
定回路端子である。また、第2図はこのソケットの横断
面図である。
次に動作について説明する。基板5に取付けられた収納
体3にはトランジスタ1の各外部電極2に対応した金属
接触子4が収納されており、このソケットに上方より被
測定トランジスタ1の外部電極リード2を挿入し、測定
回路とは上記接触子4と導通した測定端子6を経て接続
する。
体3にはトランジスタ1の各外部電極2に対応した金属
接触子4が収納されており、このソケットに上方より被
測定トランジスタ1の外部電極リード2を挿入し、測定
回路とは上記接触子4と導通した測定端子6を経て接続
する。
従来の半導体装置のソケットでは、トランジス夕の外部
電極リードの上方からの挿入に対して接触子の弾性力が
強かったり、各接触子の弾性力にバラツキがあったりす
る等により、トランジスタの電極リードがスムーズに挿
入されず、電極リードが曲がったり、また、電極リード
に傷が入ったりするなどの問題点があった。
電極リードの上方からの挿入に対して接触子の弾性力が
強かったり、各接触子の弾性力にバラツキがあったりす
る等により、トランジスタの電極リードがスムーズに挿
入されず、電極リードが曲がったり、また、電極リード
に傷が入ったりするなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、電極リードがスムーズに挿入できるとともに
、電極リードへの傷を軽減することのできる半導体装置
のソケットを得ることを目的とする。
たもので、電極リードがスムーズに挿入できるとともに
、電極リードへの傷を軽減することのできる半導体装置
のソケットを得ることを目的とする。
この発明に係る半導体装置のソケットは、被測定装置の
外部電極リードを収納体に挿入するときのガイドとなる
下方に向かう突起部を有するリードガイド板と、このガ
イド板を収納体との締め合いにより押し下げるための回
転リングとを設け、ガイド板を押し下げたときにその突
起部により接触子と上記外部電極リードとの良好な接触
を得るようにしたものである。
外部電極リードを収納体に挿入するときのガイドとなる
下方に向かう突起部を有するリードガイド板と、このガ
イド板を収納体との締め合いにより押し下げるための回
転リングとを設け、ガイド板を押し下げたときにその突
起部により接触子と上記外部電極リードとの良好な接触
を得るようにしたものである。
この発明においては、突起部を有するリードガイド板を
回転リングと収納体との締め合いによって押し下げたと
きに、ガイド板の突起部によって接触子と被測定装置の
外部電極リードとが良好に接触されるようにしたことに
より、被測定装置の外部電極リードをスムーズに挿入す
ることができる。
回転リングと収納体との締め合いによって押し下げたと
きに、ガイド板の突起部によって接触子と被測定装置の
外部電極リードとが良好に接触されるようにしたことに
より、被測定装置の外部電極リードをスムーズに挿入す
ることができる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第3図は本発明の一実施例による半導体装置のソケット
を示す縦断面図であり、第4図はその横断面図である。
を示す縦断面図であり、第4図はその横断面図である。
これらの図において、1は被測定用トランジスタ、2は
このトランジスタ1の外部電極リード、3は絶縁物から
なる収納体であり、そめ外周にはネジが切られている。
このトランジスタ1の外部電極リード、3は絶縁物から
なる収納体であり、そめ外周にはネジが切られている。
4はこの収納体3に収納される接触子であり、先端が斜
めにカットされている。5は基板、6は測定回路端子、
7は絶縁物からなるリードガイド板、8はこのリードガ
イド板7に下向きに形成された鋭角の突起部、9は収納
体3とかみ合う回転リングである。
めにカットされている。5は基板、6は測定回路端子、
7は絶縁物からなるリードガイド板、8はこのリードガ
イド板7に下向きに形成された鋭角の突起部、9は収納
体3とかみ合う回転リングである。
この実施例では、トランジスタ1の外部電極リード2は
リードガイド板7を通して上方より挿入され、収納体3
の所定の接触子部に位置する0次に、回転リング9を回
転させながら収納体3と締め合わせることによりガイド
板7が押し下げられ、−そのガイド板7の鋭角の突起部
8が接触子4の鋭角部とかみ合い、上記外部電極リード
2は収納体3の内側面に接触子4によって強く押しつけ
られるようになり、外部電極リード2と接触子4との良
好な電気的接触が保持されることになる。
リードガイド板7を通して上方より挿入され、収納体3
の所定の接触子部に位置する0次に、回転リング9を回
転させながら収納体3と締め合わせることによりガイド
板7が押し下げられ、−そのガイド板7の鋭角の突起部
8が接触子4の鋭角部とかみ合い、上記外部電極リード
2は収納体3の内側面に接触子4によって強く押しつけ
られるようになり、外部電極リード2と接触子4との良
好な電気的接触が保持されることになる。
このような本実施例によるソケットを用いれば、トラン
ジスタの電極リード2をスムーズに挿入することができ
、電極リード2が曲がったり、傷付いたりすることはな
い。
ジスタの電極リード2をスムーズに挿入することができ
、電極リード2が曲がったり、傷付いたりすることはな
い。
また、被測定トランジスタ1の取外しは、上記回転リン
グ9を逆に回すとガイド板7の突起部8と接触子4との
かみ合いによる電極リード2の締付けが緩くなり、この
状態で被測定トランジスタ1を上方へ引き抜くことによ
り容易に行うことができる。
グ9を逆に回すとガイド板7の突起部8と接触子4との
かみ合いによる電極リード2の締付けが緩くなり、この
状態で被測定トランジスタ1を上方へ引き抜くことによ
り容易に行うことができる。
以上のように、この発明に係る半導体装置のソケットに
よれば、回転リングを回してリードガイド板を押し下げ
たときにその突起部により接触子と被測定装置の外部電
橋リードとの良好な電気的接触が得られるようにしたの
で、被測定装置の外部電極リードをスムーズに挿入する
ことができ、電極リードの曲がり、傷の発生を軽減でき
る。
よれば、回転リングを回してリードガイド板を押し下げ
たときにその突起部により接触子と被測定装置の外部電
橋リードとの良好な電気的接触が得られるようにしたの
で、被測定装置の外部電極リードをスムーズに挿入する
ことができ、電極リードの曲がり、傷の発生を軽減でき
る。
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置のソケッ
トを示す縦断面図、第2図はその横断面図、第3図は従
来の半導体装置のソケットを示す縦断面図、第4図はそ
の横断面図である。 1は被測定用トランジスタ、2は外部電極リード、3は
収納体、4は接触子、5は基板、6は測定回路端子、7
はリードガイド板、8は突起部、9は回転リング。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 第1図 第2図 第3図 第4図 9.3〃クン2
トを示す縦断面図、第2図はその横断面図、第3図は従
来の半導体装置のソケットを示す縦断面図、第4図はそ
の横断面図である。 1は被測定用トランジスタ、2は外部電極リード、3は
収納体、4は接触子、5は基板、6は測定回路端子、7
はリードガイド板、8は突起部、9は回転リング。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 第1図 第2図 第3図 第4図 9.3〃クン2
Claims (1)
- (1)半導体装置を基板に接続して電気的特性を測る際
に用いる半導体装置のソケットにおいて、被測定装置の
外部電極リードを収納するための収納体と、 上記外部電極リードを上記収納体に挿入するときのガイ
ドとなる下方に向かう突起部を有するリードガイド板と
、 上記収納体との締め合いにより上記ガイド板を押し下げ
るための回転リングと、 上記ガイド板が押し下げられた状態で、該ガイド板の突
起部により上記外部電極リードと良好な接触を持つよう
接触せられる接触子とを備えたことを特徴とする半導体
装置のソケット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7281287A JPS63236977A (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 半導体装置のソケツト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7281287A JPS63236977A (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 半導体装置のソケツト |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63236977A true JPS63236977A (ja) | 1988-10-03 |
Family
ID=13500191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7281287A Pending JPS63236977A (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 半導体装置のソケツト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63236977A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5038101A (en) * | 1990-03-15 | 1991-08-06 | R.H. Murphy Co., Inc. | Carriers for electrical components in transistor outline packages |
-
1987
- 1987-03-25 JP JP7281287A patent/JPS63236977A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5038101A (en) * | 1990-03-15 | 1991-08-06 | R.H. Murphy Co., Inc. | Carriers for electrical components in transistor outline packages |
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