JPH01315153A - プローバのウェハ搭載部材 - Google Patents

プローバのウェハ搭載部材

Info

Publication number
JPH01315153A
JPH01315153A JP3772189A JP3772189A JPH01315153A JP H01315153 A JPH01315153 A JP H01315153A JP 3772189 A JP3772189 A JP 3772189A JP 3772189 A JP3772189 A JP 3772189A JP H01315153 A JPH01315153 A JP H01315153A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chuck top
housing
wafer
mounting member
prober
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3772189A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2587289B2 (ja
Inventor
Wataru Karasawa
唐沢 渉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP1037721A priority Critical patent/JP2587289B2/ja
Publication of JPH01315153A publication Critical patent/JPH01315153A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2587289B2 publication Critical patent/JP2587289B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明はプローバにおいてウェハを搭載し駆動するため
のウェハ搭載部材に係り、特にウェハ測定精度の向上を
図ったこの種のウェハ搭載部材に関する。
(従来の技術及び発明が解決しようとする課題)一般に
プローバは、チャックトップ上に搭載されたウェハを所
定方向に駆動しながら、ウェハ上のチップの電気的特性
を測定する装置であるが。
このようなプローバにおいてウェハを駆動するために、
ウェハはチャックトップを含むウェハ搭載部材上に固定
され、ウェハ搭載部材をXYステージ等により所定方向
に駆動している。従来、このウェハ搭載部材は第2図に
示すように、主としてチャックトップ10及び機構部で
ある筺体20から成り、筺体20は駆動源であるXYス
テージ、モータ30等に接続される。チャックトップ1
0はウェハの裏面に電圧をかけて測定することが可能な
ように、導電性の良い材料から成り一般には金属材料に
金メツキを施したものが用いられる。そしてやはり金属
材料から形成される筺体20との絶縁のためチャックト
ップ10と筺体20との間には約1++m程度の絶縁性
マイラー板40を介挿し、絶縁性材料からなる止め具5
0で両者を固定しである。
ところで、このような構成の従来のウェハ搭載部材にお
いては、ウェハ裏面に2000〜3000 V程度の高
電圧をかける場合、マイラー板40では耐えられず絶縁
破壊を起こすおそれがあった。又、そのような高電圧で
ないにしても、チャックトップ10と筺体20とは一種
のコンデンサーを形成しており、その距離はマイラー板
40の厚みで決まる小ささであるため、コンデンサーと
して容量Cが大きく、チャックトップ10にかけた電圧
がなまる(鈍い直線にならない)という現象が生じてい
た。
本発明は上記従来の難点に鑑みなされたもので、プロー
バにおける高電圧測定及び高精度測定を可能とするウェ
ハ搭載部材を提供せんとするものである。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) このような目的を達成するために本発明のウェハ搭載部
材は、駆動源に接続される被駆動部、該被駆動部に固着
される筺体及び該筺体に固着されるチャックトップから
成り、前記筺体は絶縁材料により形成されていることを
特徴とする。
(実施例) 以下5本発明の実施例を図面に基き説明する。
第1図はウェハ搭載部材の全体を示す図面で、ウェハ搭
載部材は導電性のチャックトップ1.セラミック等の絶
縁材料からなる筺体2及び金属材料からなる被駆動部3
から構成される。被駆動部3はウェハ(図示せず)をθ
(回転)方向及びZ(下方)方向に駆動するための駆動
源であるモータ4に連結され、その上部に筺体2を止め
具5によって固定する。筺体2は約50程度の厚みを有
し、その上部にチャックトップ1を止め具6によって固
定する。止め具5,6は共に金属性材料であっても絶縁
材料であってもどちらでもよい。このように構成される
ウェハ搭載部材はチャックトップ1に電圧を印加して測
定する場合、チャックトップ1とプローバ内部の金属部
材とは筺体2によって絶縁され且つ隔てられているので
、印加電圧がなまることなく安定した測定が行われる。
尚、筺体2の形状は本実施例に限定されるものではなく
、円筒形など特許請求の範囲に記載される範囲において
自由に変更できる。
〔発明の効果〕
以上の実施例からも明らかなように、本発明のウェハ搭
載部材においてはチャックトップに続く機構部品そのも
の(筺体)をセラミック等絶縁材料で構成したので、高
電圧の測定にも耐えられ且つ高精度の測定が可能となっ
た。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のウェハ搭載部材を示す図、第2図は従
来のウェハ搭載部材を示す図である。 1・・・チャックトップ 2・・・筺体 3・・・被駆動部 4・・・モータ(駆動源) 特許出願人  東京エレクトロン株式会社第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  駆動源に接続される被駆動部、該被駆動部に固着され
    る筺体及び該筺体に固着されるチャックトップから成り
    、前記筺体は絶縁材料により形成されていることを特徴
    とするウェハ搭載部材。
JP1037721A 1989-02-17 1989-02-17 ウェハプロ−バ Expired - Lifetime JP2587289B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1037721A JP2587289B2 (ja) 1989-02-17 1989-02-17 ウェハプロ−バ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1037721A JP2587289B2 (ja) 1989-02-17 1989-02-17 ウェハプロ−バ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01315153A true JPH01315153A (ja) 1989-12-20
JP2587289B2 JP2587289B2 (ja) 1997-03-05

Family

ID=12505372

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1037721A Expired - Lifetime JP2587289B2 (ja) 1989-02-17 1989-02-17 ウェハプロ−バ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2587289B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005286107A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Sumitomo Electric Ind Ltd 加熱装置
JP2008306215A (ja) * 2000-09-05 2008-12-18 Cascade Microtech Inc プローブステーション用チャック

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3536251B2 (ja) 1999-08-25 2004-06-07 イビデン株式会社 ウエハプローバ
WO2002091457A1 (fr) 1999-12-09 2002-11-14 Ibiden Co., Ltd. Plaque ceramique pour appareil de production/controle de semi-conducteurs

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62291937A (ja) * 1986-06-12 1987-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd プロ−バ

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62291937A (ja) * 1986-06-12 1987-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd プロ−バ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008306215A (ja) * 2000-09-05 2008-12-18 Cascade Microtech Inc プローブステーション用チャック
JP2005286107A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Sumitomo Electric Ind Ltd 加熱装置
JP4686996B2 (ja) * 2004-03-30 2011-05-25 住友電気工業株式会社 加熱装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2587289B2 (ja) 1997-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU2117101A (en) Non-invasive electrical measurement of semiconductor wafers
JPH01315153A (ja) プローバのウェハ搭載部材
CN111596154A (zh) 一种测试小试样变温电性能的辅助夹具
JPS63138745A (ja) プロ−バ用載置台の構造
JPS62123801A (ja) 同軸型フイルタ
JP2004063486A (ja) プローバのチャック機構
JPS6472079A (en) Electrical characteristic measuring instrument
JPH08178998A (ja) 絶縁破壊電圧測定装置
JP2901781B2 (ja) 半導体装置の検査方法
JPS62291937A (ja) プロ−バ
JPH05312833A (ja) プローブカード
JPH11132988A (ja) き裂測定用ゲージの探触子
JPS61159748A (ja) トラツプ分布測定方法
Andrä et al. Current measurements based on thin-film magnetoresistive sensors
SU1377787A1 (ru) Устройство дл измерени ЭДС Холла в области пространственного зар да
SU1629860A1 (ru) Преобразователь ток-частота
JPH02166746A (ja) 測定装置
KR20030042128A (ko) 전자부품 측정장치
JP2002257876A (ja) 四探針抵抗測定装置用管理試料および四探針抵抗測定装置の管理方法
JPH01128536A (ja) 半導体素子測定用プローブ
JPS60249065A (ja) 抵抗測定用プロ−ブ
SU622211A1 (ru) Кассета дл электролитической обработки радиодеталей
SU1490461A1 (ru) Устройство дл контрол формы поверхностей
JPS6474460A (en) Testing method for through-hole
JPH11121826A (ja) 圧電トランス電源