JPS63234585A - 半導体レ−ザアレイ装置 - Google Patents

半導体レ−ザアレイ装置

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JPS63234585A
JPS63234585A JP6942287A JP6942287A JPS63234585A JP S63234585 A JPS63234585 A JP S63234585A JP 6942287 A JP6942287 A JP 6942287A JP 6942287 A JP6942287 A JP 6942287A JP S63234585 A JPS63234585 A JP S63234585A
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JP
Japan
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waveguide
semiconductor laser
photodiode
laser array
array device
Prior art date
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Pending
Application number
JP6942287A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Sogo
十河 敏雄
Akira Hattori
亮 服部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS63234585A publication Critical patent/JPS63234585A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/026Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
    • H01S5/0262Photo-diodes, e.g. transceiver devices, bidirectional devices
    • H01S5/0264Photo-diodes, e.g. transceiver devices, bidirectional devices for monitoring the laser-output
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4031Edge-emitting structures

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体レーザアレイ装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
第5図は従来の2点半導体レーザアレイ装置の模式図で
あり、図において、1は半導体レーザチップ、2.3は
半導体レーザチップ1に形成されたpn接合を含む導波
路、6は前記導波路2.3のpn接合を電気的に分離す
るためのアレイ分離溝、4.5は前記導波路2.3にそ
れぞれ形成された電極、7は前記半導体レーザチップ1
を取りつけた金属放熱ブロック、8は前記導波路2.3
より放出された裏面光(モニタ用レーザ光)を受光する
ためのフォトダイオードチップであり、9は前記フォト
ダイオードチップ8に形成された受光面である。10は
前記金属放熱ブロック7とフォトダイオードチップ8を
組立てるためのベースである。図中では簡略化のため半
導体レーザチップ1に形成されるべき一方の電極、フォ
トダイオードチップ8の電極、リード線、半田材などは
省略されている。
次に動作について説明する。
電極4.5を金属放熱ブロック7を通じて半導体レーザ
アレイ装着に電流を流すことにより半導体レーザチップ
1は導波路2.3でレーザ発振する。導波路2.3のレ
ーザ光出力は、電極4.5を流れる電流を変化させるこ
とにより別々に制御され、2点ビームレーザアレイとし
て使用される。通常レーザ光は図の上方より取り出され
使用される。一方、下方に放出された光は、フォトダイ
オードチップ8の受光面9で受光され、半導体レーザの
光出力を制御するためにモニタ用レーザ光として使用さ
れる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の半導体レーサアレイ装置は、以上のように構成さ
れているので、両方の導波路2.3より出たモニタ用レ
ーザ光は一つのフォトダイオードチップ8で受光される
ため、このフォトダイオードチップ8の出力を使って2
つの導波路2.3より出たレーザ光を別々に制御するこ
とはできない問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、各レーザ光が別々にフォトダイオード出力
で制御できるとともに、有効にモニタ用レーザ光を利用
することができる半導体レーザアレイ装置を得ることを
目的とする。
〔問題点を解決するための手段) この発明に係る半導体レーザアレイ装置は、半導体レー
ザアレイを形成する半導体レーザチップの各導波路の一
部に各導波路をそれぞれ横断するようにモニタ用レーザ
光を受光するための導波路分離溝を形成し、これらの導
波路分離溝を被うように受光用のそれぞれのフォトダイ
オードを対応させてフォトダイオードチップを設置した
ものである。
〔作用〕
この発明における半導体レーザアレイ装置は、導波路の
一部に形成された各導波路分離溝を被うようにそれぞれ
のフォトダイオードを対応させてフォトダイオードチッ
プを設置し、これらのフォトダイオードにより、半導体
レーザアレイ装置を形成する個々のモニタ用レーザ光を
別々に分離して受光することにより各レーザ光出力を別
々に制御することかてぎる。
(実施例) 以下、この発明の一実施例について説明する。
第1図はこの発明の一実施例を示す半導体レーザアレイ
装置の斜視図であり、第2図は、第1図の上面図、第3
図は同じく正面図である。第1図〜第3図において、第
5図と同一符号は同じものを示し、11.12は前記半
導体レーザチップ1の一部に導波路2.3をそれぞれ横
断するように掘られた凹形状の導波路分離溝で、通常、
化学エツチング、またはりアクティブエツチングにより
形成される。導波路分離溝11.12の一方の面は半導
体レーザチップ1の導波路2.3の一方の共振器端面1
3.14として形成される。また、導波路分離溝11.
12の他方の面は反射面15.16として形成され、共
振器端面13,14から出射したモニタ用レーザ光をフ
ォトダイオードチップ17のそれぞれのフォトダイオー
ドの受光面18.19へ効率よく入射せしめるためのも
のである。フォトダイオードチップ17は、導波路分離
溝11.12を被うように、すなわち、フォトダイオー
ドチップ17の両フォトダイオードの二つの受光面18
.19がそれぞれ導波路分離溝11.12上に位置する
ように載置される。
20は前記フォトダイオードチップ17の電極である。
21.22は前記半導体レーザチップ1の上に設けた電
極で、フォトダイオードチップ17の両フォトダイオー
ドの受光面18.19の電極を外部に取り出すためのも
のである。23は前記フォトダイオードチップ17の両
面の共通電極である。
次に、この発明の実施例の動作について説明する。
それぞれ形成された導波路2.3を含むpn接合には電
極4,5と23を通じて電流が流され、導波路2.3で
図の左端りの共振器端面と導波路分離溝11.12の一
方の面の共振器端面13゜14の間でレーザ発振する。
主レーザビームは前記左端りの共振器端面より放出され
レーザ光出力として使用される。一方、導波路分離溝1
1.12の共振器端面13.14より放出されたそれぞ
れのモニタ用レーザ光は導波路分離溝11.12の他方
の面の反射面15.16で反射し、フォトダイオードチ
ップ17の両フォトダイオードの受光面18.19でそ
れぞれ受光される。
このように、それぞれのモニタ用レーザ光は独立したフ
ォトダイオードチップ17の両フォトダイオードの受光
面18.19で分離して受光され、互いに他方のフォト
ダイオードチップ17の両フォトダイオードの受光面1
9.18には光が到達しないので、それぞれレーザ光出
力の独立したモニタ光として使用することかできる。し
たがって、このフォトダイオードチップ17の両フォト
ダイオードの出力を使用して、半導体レーザアレイ装置
を形成するそれぞれの半導体レーザの光出力を独立して
制御することができる。
なお、上記実施例では、2点半導体レーザアレイ装置に
ついて説明した力へこれに限らず1点またはさらに多く
の多点半導体レーザアレイ装置にも適用することがてぎ
る。
また、導波路分離溝11.12の他方の面の反射面15
.16を第4図に示すように斜めにすることにより、共
振器端面13,14より出たモニタ用レーザ光を有効に
反射させてフォトダイオードチップ17のフォトダイオ
ードの受光面18゜19に受光させることができ、また
、斜めに形成した反射面15.16に金属板、樹脂等で
作成した鏡を挿入することによりフォトダイオードチッ
プ17のフォトダイオードの受光面18.19への受光
量を増加させることもできる。
また、導波路分離溝11.+2の中にシリコン樹脂、エ
ポキシ樹脂などの透明樹脂を注入しておくことにより、
フォトダイオードチップ17のフォトダイオードの受光
面18.19に有効にレーザ光を取り入れることができ
る。
また、フォトダイオードチップ17は半導体レーザチッ
プ1に半田材もしくは導電樹脂で接着することができ、
シリコン樹脂、エポキシ樹脂などの接着材で接着しても
よい。また、導波路分離溝11.12の中に注入された
シリコン樹脂、エポキシ樹脂て同時に接着してもよい。
さらに、上記実施例では、フォトダイオードチップ17
は半導体レーザチップ1に直接電気的に接続させたが、
酸化膜、窒化膜などで絶縁した上に金属電極を形成して
電気的に絶縁してもよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明は、各導波路の一部に各
導波路を横断するように導波路分離溝をそれぞれ形成し
、これらの導波路分離溝に形成された一方の面を共振器
端面とし、他方の面を反射面とし、導波路分離溝の上に
この導波路分離溝を被うようにフォトダイオードチップ
を設置したので、各導波路分離溝内の共振器端面から放
出されるモニタ用レーザ光はとなり合うそれぞれと干渉
することがなく、フォトダイオードチップの各フォトダ
イオードの受光面に入射することができる。したかって
、それぞれのモニタ用レーザ光により、半導体レーザア
レイ装置のレーザ光出力をそれぞれ独立して制御するこ
とができる利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す半導体レーザアレイ
装置の斜視図、第2図は、第1図の上面図、第3図は、
第1図の正面図、第4図はこの発明の他の実施例を示す
側面図、第5図は従来の半導体レーザアレイ装置を示す
斜視図である。 図において、1は半導体レーザチップ、2.3は導波路
、4.5は半導体レーザチップの電極、6はアレイ分離
溝、11.12は導波路分離溝、13.14は共振器端
面、15.16は反射面、17はフォトダイオードチッ
プ、18.19はフォトダイオードの受光面、20,2
1.22はlK極、23は共通電極である。 なお、各図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄    (外2名)第1図 第2図 ]6.]ソ フォトダイオードの欠光面第3図 第4図 Zj  1 13(14)11 15(16)第5図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の導波路を有し、これら各導波路間が分離溝
    により電気的に分離された半導体レーザアレイを構成す
    る半導体レーザチップと、前記半導体レーザチップの各
    導波路の一方の出射端から放出されるモニタ用レーザ光
    を受光するフォトダイオードを備えた半導体レーザアレ
    イ装置において、前記各導波路を横断するように一方の
    面を共振器端面とし、他方の面を反射面とする導波路分
    離溝をそれぞれ形成し、前記各導波路分離溝の上にこれ
    らの導波路分離溝を被うようにそれぞれのフォトダイオ
    ードを対応させてフォトダイオードチップを設置したこ
    とを特徴とする半導体レーザアレイ装置。
  2. (2)導波路分離溝内の反射面は、所要角度傾斜せしめ
    たことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の半
    導体レーザアレイ装置。
  3. (3)所要角度傾斜させて形成した反射面に、金属板、
    樹脂などからなる鏡を挿入したことを特徴とする特許請
    求の範囲第(2)項記載の半導体レーザアレイ装置。
  4. (4)導波路分離溝内にエポキシ樹脂、シリコン樹脂な
    どの透明樹脂を注入したことを特徴とする特許請求の範
    囲第(1)項乃至第(3)項のいずれかに記載の半導体
    レーザアレイ装置。
JP6942287A 1987-03-23 1987-03-23 半導体レ−ザアレイ装置 Pending JPS63234585A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009081762A1 (ja) * 2007-12-21 2009-07-02 Sanyo Electric Co., Ltd. 窒化物系半導体発光ダイオード、窒化物系半導体レーザ素子およびそれらの製造方法ならびに窒化物系半導体層の形成方法
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JP2012198566A (ja) * 2012-06-15 2012-10-18 Kyocera Corp 光伝送基板とその製造方法、複合光伝送基板ならびに光モジュール

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