JPS6322483Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6322483Y2 JPS6322483Y2 JP1982117775U JP11777582U JPS6322483Y2 JP S6322483 Y2 JPS6322483 Y2 JP S6322483Y2 JP 1982117775 U JP1982117775 U JP 1982117775U JP 11777582 U JP11777582 U JP 11777582U JP S6322483 Y2 JPS6322483 Y2 JP S6322483Y2
- Authority
- JP
- Japan
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- main body
- rivet
- measuring
- depth
- measured
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、被測定物の所定面からその面に設け
た凹部内の被測定部までの深さを測定する装置に
関する。本考案は、例えば、自動車のクラツチデ
イスク取付、固定用のリベツトの深さを測定する
場合に好適に用いることができる。
た凹部内の被測定部までの深さを測定する装置に
関する。本考案は、例えば、自動車のクラツチデ
イスク取付、固定用のリベツトの深さを測定する
場合に好適に用いることができる。
自動車用のクラツチデイスクは、デイスク周囲
の数個所において、デイスク面（フエーシング
面）に設けられた凹所をもつた孔にリベツトを打
ち込むことにより固定される。クラツチデイスク
のフエーシング面はライニングであり、デイスク
クラツチの繰り返しの使用により摩耗してゆく。
従来より、このクラツチデイスクのフエーシング
面の摩耗量を、フエーシング面からリベツト頭部
までの深さを測定することで求めていた。
の数個所において、デイスク面（フエーシング
面）に設けられた凹所をもつた孔にリベツトを打
ち込むことにより固定される。クラツチデイスク
のフエーシング面はライニングであり、デイスク
クラツチの繰り返しの使用により摩耗してゆく。
従来より、このクラツチデイスクのフエーシング
面の摩耗量を、フエーシング面からリベツト頭部
までの深さを測定することで求めていた。
従来、クラツチデイスクのリベツト深さを測定
するには、ノギス又はダイヤルゲージを用いてフ
エーシング面からリベツト頭部までの距離（深
さ）を求めていた。第５図はノギスによるリベツ
ト深さの測定を示すもので、第６図はダイヤルゲ
ージによるリベツト深さの測定を示すものであ
る。第５図において、ノギス１０の本体下端１０
ａをクラツチデイスク１２のフエーシング面１２
ａに当て、摺動ゲージの下端１０ｂをリベツト１
３の頭部１３ａに当ててリベツト深さｔを測定す
る。また、第６図では、まずダイヤルゲージ１の
測定子１ｂをクラツチデイスクのフエーシング面
１２ａに当て(A)、ゲージの指針を０にセツトした
後、測定子１ｂをリベツト頭部１３ａに当ててリ
ベツト深さｔをゲージの指針にて測定する(B)。
するには、ノギス又はダイヤルゲージを用いてフ
エーシング面からリベツト頭部までの距離（深
さ）を求めていた。第５図はノギスによるリベツ
ト深さの測定を示すもので、第６図はダイヤルゲ
ージによるリベツト深さの測定を示すものであ
る。第５図において、ノギス１０の本体下端１０
ａをクラツチデイスク１２のフエーシング面１２
ａに当て、摺動ゲージの下端１０ｂをリベツト１
３の頭部１３ａに当ててリベツト深さｔを測定す
る。また、第６図では、まずダイヤルゲージ１の
測定子１ｂをクラツチデイスクのフエーシング面
１２ａに当て(A)、ゲージの指針を０にセツトした
後、測定子１ｂをリベツト頭部１３ａに当ててリ
ベツト深さｔをゲージの指針にて測定する(B)。
リベツト深さｔは、第７図の断面図で示すよう
に、同じリベツトについても場所により深さが
t1，t2と異なる場合がある。これは、クラツチデ
イスクのフエーシング面１２ａの偏摩耗等の原因
で生ずるものであるが、従来のノギスやダイヤル
ゲージによる測定では、測定部位を規制、統一化
することが困難で、正確な深さ測定は期待できな
かつた。また、ノギスやダイヤルゲージは測定基
準面であるフエーシング面１２ａに対し垂直方向
に当てなければ正確な測定は期待できないが、従
来の測定方法では正確に垂直方向に当てることが
難かしく、リベツトの深さ測定に支障をきたすこ
とが多かつた。
に、同じリベツトについても場所により深さが
t1，t2と異なる場合がある。これは、クラツチデ
イスクのフエーシング面１２ａの偏摩耗等の原因
で生ずるものであるが、従来のノギスやダイヤル
ゲージによる測定では、測定部位を規制、統一化
することが困難で、正確な深さ測定は期待できな
かつた。また、ノギスやダイヤルゲージは測定基
準面であるフエーシング面１２ａに対し垂直方向
に当てなければ正確な測定は期待できないが、従
来の測定方法では正確に垂直方向に当てることが
難かしく、リベツトの深さ測定に支障をきたすこ
とが多かつた。
本考案はこのような問題を解決するために案出
したもので、被測定物の所定の面から該面の凹部
内の被測定部までの深さ、例えばクラツチデイス
クのフエーシング面から取付用リベツトの頭部ま
での深さを正確にしかも簡単に測定することので
きる装置を提供することを目的とする。
したもので、被測定物の所定の面から該面の凹部
内の被測定部までの深さ、例えばクラツチデイス
クのフエーシング面から取付用リベツトの頭部ま
での深さを正確にしかも簡単に測定することので
きる装置を提供することを目的とする。
このような目的を実現する本考案の深さ測定装
置は、被測定物の所定の面から該面の凹部内の被
測定部までの深さを測定する装置であつて、測定
器本体と、一端を該測定器本体に固定すると共に
他端面を前記所定面に当接可能な面とした略円筒
本体と、該円筒本体の中空部内に軸方向に摺動可
能に配置されかつ先端が前記凹部内に嵌まり込ん
で被測定部に対して付勢される略円筒ガイドと、
前記測定器本体から前記円筒ガイドの中空部内を
貫通して前記被測定部までのびる測定子とを具備
して成る。
置は、被測定物の所定の面から該面の凹部内の被
測定部までの深さを測定する装置であつて、測定
器本体と、一端を該測定器本体に固定すると共に
他端面を前記所定面に当接可能な面とした略円筒
本体と、該円筒本体の中空部内に軸方向に摺動可
能に配置されかつ先端が前記凹部内に嵌まり込ん
で被測定部に対して付勢される略円筒ガイドと、
前記測定器本体から前記円筒ガイドの中空部内を
貫通して前記被測定部までのびる測定子とを具備
して成る。
以下、添付図面を参照して本考案を詳細に説明
する。第１図及び第２図において、本考案の寸法
測定装置は、従来用いられていたダイヤルゲージ
１をそのまま利用することができる。測定装置の
本体であるダイヤルゲージ１の本体１ａは、指針
およびダイヤル目盛を有し、測定子１ｂは本体１
ａの中心を通る線上にのびていることは従来周知
である。ただし、通常のダイヤルゲージにおいて
は、測定子１ｂの先端に小さな丸みを帯びたアダ
プタに相当する部材を取り付けて使用するが、本
考案ではこのアダプタに相当する部材を取り外し
ている。これは、測定子１ｂの先端面を小さな平
面とするためである。
する。第１図及び第２図において、本考案の寸法
測定装置は、従来用いられていたダイヤルゲージ
１をそのまま利用することができる。測定装置の
本体であるダイヤルゲージ１の本体１ａは、指針
およびダイヤル目盛を有し、測定子１ｂは本体１
ａの中心を通る線上にのびていることは従来周知
である。ただし、通常のダイヤルゲージにおいて
は、測定子１ｂの先端に小さな丸みを帯びたアダ
プタに相当する部材を取り付けて使用するが、本
考案ではこのアダプタに相当する部材を取り外し
ている。これは、測定子１ｂの先端面を小さな平
面とするためである。
また、本考案では、装置本体１ａの測定子１ｂ
のまわりに固着され、この測定子１ｂとは干渉し
ない取付部２を利用し、この取付部２に固定用ね
じ３にて略円筒状本体４を取り付ける。この略円
筒状本体４はその下端面に、測定子１ｂののびる
方向と垂直な面でかつ適度の面積をもつた平面４
ａが形成されている。また、その外周にはフラン
ジ状のつば４ｂが設けてある。略円筒状本体４の
中空部内には、この略円筒状本体４とほぼ同心の
略円筒状ガイド５が摺動可能に挿入されている。
この円筒状ガイド５の外周上下に設けたフランジ
部５ａ，５ｂと円筒状本体４の中空部内壁に設け
たフランジ部４ｃとで円筒ガイド５の上下方向の
動きが規制されると共に、円筒ガイド５と取付部
２間に設置したスプリング６により円筒ガイド５
は常時下方に付勢されている。円筒ガイド５の下
部先端（即ち、下フランジ部５ｂ）は、被測定物
に設けられた凹部、実施例の場合クラツチデイス
ク１２のリベツト打込用の凹部１２ｂ（第４図、
第７図、第８図）に無理なく嵌まる程度の外径を
有する。ダイヤルゲージ１の測定子１ｂは本体１
ａから取付部２の中空部及び円筒ガイド５の中空
部にのびており、取付部２や円筒ガイド５には接
触しない構造となつている。測定子１ｂの下端測
定部は、リベツト深さを測定する場合、第８図に
示すように、リベツト頭部１３ａの溝部１３ｂの
幅ｅより大きくかつ出来る限り小さな径ｄを有す
る。
のまわりに固着され、この測定子１ｂとは干渉し
ない取付部２を利用し、この取付部２に固定用ね
じ３にて略円筒状本体４を取り付ける。この略円
筒状本体４はその下端面に、測定子１ｂののびる
方向と垂直な面でかつ適度の面積をもつた平面４
ａが形成されている。また、その外周にはフラン
ジ状のつば４ｂが設けてある。略円筒状本体４の
中空部内には、この略円筒状本体４とほぼ同心の
略円筒状ガイド５が摺動可能に挿入されている。
この円筒状ガイド５の外周上下に設けたフランジ
部５ａ，５ｂと円筒状本体４の中空部内壁に設け
たフランジ部４ｃとで円筒ガイド５の上下方向の
動きが規制されると共に、円筒ガイド５と取付部
２間に設置したスプリング６により円筒ガイド５
は常時下方に付勢されている。円筒ガイド５の下
部先端（即ち、下フランジ部５ｂ）は、被測定物
に設けられた凹部、実施例の場合クラツチデイス
ク１２のリベツト打込用の凹部１２ｂ（第４図、
第７図、第８図）に無理なく嵌まる程度の外径を
有する。ダイヤルゲージ１の測定子１ｂは本体１
ａから取付部２の中空部及び円筒ガイド５の中空
部にのびており、取付部２や円筒ガイド５には接
触しない構造となつている。測定子１ｂの下端測
定部は、リベツト深さを測定する場合、第８図に
示すように、リベツト頭部１３ａの溝部１３ｂの
幅ｅより大きくかつ出来る限り小さな径ｄを有す
る。
非測定状態では、ダイヤルゲージ１の測定子１
ｂは勿論のこと、円筒ガイド５の下端部も円筒状
本体４の下端面４ａから下方に突き出している。
自動車用クラツチデイスク１２のリベツト１３の
深さを測定する場合、まず、第３図に示すよう
に、基準となる平面、例えば定盤１５に円筒状本
体４の下端面４ａを密接させる。この場合におい
て、クラツチデイスク１２のフエーシング面１２
ａは摩耗により粗面になつているので、基準とな
る平面として用いるのは好ましくない。第３図の
状態では、測定子１ｂの下端及び円筒ガイド５の
下端面は、円筒状本体４の下端面４ａと同一平面
となり、この位置を規準としてダイヤルゲージ１
の目盛合わせをする。次に、この測定装置をリベ
ツト打込個所に持つて来て、第４図に示すよう
に、円筒ガイド５の下部５ｂをフエーシング面１
２ａに設けられたリベツト打込用の凹部１２ｂに
嵌める。また、同時に、円筒状本体４の下端面４
ａをフエーシング面１２ａに密接させる。この状
態において、ダイヤルゲージ１の位置、即ち測定
子１ｂの位置が円筒ガイド５により所定位置に位
置決めされる。換言すれば、測定子１ｂの位置が
リベツト打込用の凹部１２ｂの中心又はリベツト
１３の頭部１３ａの中心に位置決めされる。ま
た、円筒状本体４の下端面４ａがフエーシング面
１２ａに密接することにより、測定子１ｂはフエ
ーシング面１２ａに対して垂直となる。測定子１
ｂはダイヤルゲージ１に内蔵されたスプリング
（図示せず）によりリベツト１３の頭部１３ａに
接触するまで移動し、所定面であるフエーシング
面１２ａから被測定部であるリベツト頭部１３ａ
までの距離（深さ）がダイヤルゲージ本体１ａに
表示される。なお、円筒状本体４の外周のフラン
ジ状つば４ｂは、その下端面４ａをフエーシング
面１２ａに密接する際にこの円筒状本体４に力を
加えるのに使用する。なお、第４図の状態で、円
筒ガイド５は位置決めに必要なわずかなストロー
クだけ下方に動けば十分である。リベツト打込用
凹部１２ｂが浅い場合は円筒ガイド５の下端もリ
ベツト頭部１３ａに接触するが、このリベツト１
３によりスプリング６に抗して上方に押されるの
で、リベツト深さの測定には支障はない。
ｂは勿論のこと、円筒ガイド５の下端部も円筒状
本体４の下端面４ａから下方に突き出している。
自動車用クラツチデイスク１２のリベツト１３の
深さを測定する場合、まず、第３図に示すよう
に、基準となる平面、例えば定盤１５に円筒状本
体４の下端面４ａを密接させる。この場合におい
て、クラツチデイスク１２のフエーシング面１２
ａは摩耗により粗面になつているので、基準とな
る平面として用いるのは好ましくない。第３図の
状態では、測定子１ｂの下端及び円筒ガイド５の
下端面は、円筒状本体４の下端面４ａと同一平面
となり、この位置を規準としてダイヤルゲージ１
の目盛合わせをする。次に、この測定装置をリベ
ツト打込個所に持つて来て、第４図に示すよう
に、円筒ガイド５の下部５ｂをフエーシング面１
２ａに設けられたリベツト打込用の凹部１２ｂに
嵌める。また、同時に、円筒状本体４の下端面４
ａをフエーシング面１２ａに密接させる。この状
態において、ダイヤルゲージ１の位置、即ち測定
子１ｂの位置が円筒ガイド５により所定位置に位
置決めされる。換言すれば、測定子１ｂの位置が
リベツト打込用の凹部１２ｂの中心又はリベツト
１３の頭部１３ａの中心に位置決めされる。ま
た、円筒状本体４の下端面４ａがフエーシング面
１２ａに密接することにより、測定子１ｂはフエ
ーシング面１２ａに対して垂直となる。測定子１
ｂはダイヤルゲージ１に内蔵されたスプリング
（図示せず）によりリベツト１３の頭部１３ａに
接触するまで移動し、所定面であるフエーシング
面１２ａから被測定部であるリベツト頭部１３ａ
までの距離（深さ）がダイヤルゲージ本体１ａに
表示される。なお、円筒状本体４の外周のフラン
ジ状つば４ｂは、その下端面４ａをフエーシング
面１２ａに密接する際にこの円筒状本体４に力を
加えるのに使用する。なお、第４図の状態で、円
筒ガイド５は位置決めに必要なわずかなストロー
クだけ下方に動けば十分である。リベツト打込用
凹部１２ｂが浅い場合は円筒ガイド５の下端もリ
ベツト頭部１３ａに接触するが、このリベツト１
３によりスプリング６に抗して上方に押されるの
で、リベツト深さの測定には支障はない。
以上説明したように、本考案では、深さ測定装
置（ダイヤルゲージ）がクラツチデイスクのフエ
ーシング面１２ａに対して正確に垂直に配置され
かつ凹部の所定位置に位置決めがなされるので、
測定子１ｂによる被測定部位が規制され、正確な
測定が期待できる。これにより、クラツチデイス
クのフエーシング面１２ａの摩耗量を簡単に求め
ることができる。また、本考案は、従来周知のダ
イヤルゲージをそのまま利用して構成でき、測定
作業もきわめて容易かつ迅速に行なえる利点があ
る。
置（ダイヤルゲージ）がクラツチデイスクのフエ
ーシング面１２ａに対して正確に垂直に配置され
かつ凹部の所定位置に位置決めがなされるので、
測定子１ｂによる被測定部位が規制され、正確な
測定が期待できる。これにより、クラツチデイス
クのフエーシング面１２ａの摩耗量を簡単に求め
ることができる。また、本考案は、従来周知のダ
イヤルゲージをそのまま利用して構成でき、測定
作業もきわめて容易かつ迅速に行なえる利点があ
る。
第１図は第２図−線における本考案の寸法
測定装置の縦断面図、第２図はその装置の下方か
らの外観斜視図、第３図は目盛合わせをする状態
の断面図、第４図はリベツト深さを測定する状態
の断面図、第５図は従来のノギスによるリベツト
深さ測定を示す図、第６図は従来のダイヤルゲー
ジによるリベツト深さ測定を示す図、第７図は第
５図の線−におけるリベツト打込用凹部の詳
細な断面図、第８図はダイヤルゲージの測定子と
リベツトとの関係を示す図である。 １……装置本体（ダイヤルゲージ）、１ｂ……
測定子、４……円筒状本体、４ａ……下端面、５
……円筒ガイド、６……スプリング、１２……被
測定物（クラツチデイスク）、１２ａ……所定面
（フエーシング面）、１２ｂ……リベツト打込用凹
部、１３……リベツト、１３ａ……リベツト頭
部、１５……定盤面。
測定装置の縦断面図、第２図はその装置の下方か
らの外観斜視図、第３図は目盛合わせをする状態
の断面図、第４図はリベツト深さを測定する状態
の断面図、第５図は従来のノギスによるリベツト
深さ測定を示す図、第６図は従来のダイヤルゲー
ジによるリベツト深さ測定を示す図、第７図は第
５図の線−におけるリベツト打込用凹部の詳
細な断面図、第８図はダイヤルゲージの測定子と
リベツトとの関係を示す図である。 １……装置本体（ダイヤルゲージ）、１ｂ……
測定子、４……円筒状本体、４ａ……下端面、５
……円筒ガイド、６……スプリング、１２……被
測定物（クラツチデイスク）、１２ａ……所定面
（フエーシング面）、１２ｂ……リベツト打込用凹
部、１３……リベツト、１３ａ……リベツト頭
部、１５……定盤面。
Claims (1)
- 被測定物の所定の面から、該面の凹部内の被測
定部までの深さを測定する装置であつて、測定器
本体１と、一端を該測定器本体に固定すると共に
他端面を前記所定の面に当接可能な面とした略円
筒本体４と、該円筒本体の中空部内に略同心に配
置されかつ先端が前記凹部内に嵌まり込んで被測
定部に対して付勢される略円筒ガイド５と、前記
測定器本体から前記円筒ガイドの中空部内を貫通
して前記被測定部まで延びる測定子１ｂとを具備
して成る、深さを測定する装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11777582U JPS5923604U (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 深さを測定する装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11777582U JPS5923604U (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 深さを測定する装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923604U JPS5923604U (ja) | 1984-02-14 |
| JPS6322483Y2 true JPS6322483Y2 (ja) | 1988-06-21 |
Family
ID=30270978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11777582U Granted JPS5923604U (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 深さを測定する装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923604U (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4544916B2 (ja) * | 2004-06-03 | 2010-09-15 | 日本クラウンコルク株式会社 | 物品の表面深さ測定装置と測定方法 |
| JP4555628B2 (ja) * | 2004-08-12 | 2010-10-06 | 日本クラウンコルク株式会社 | キャップの絞り深さゲージ及びその測定方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4720253U (ja) * | 1971-01-25 | 1972-11-07 |
-
1982
- 1982-08-04 JP JP11777582U patent/JPS5923604U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5923604U (ja) | 1984-02-14 |
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