JPS63217214A - 3次元位置計測装置 - Google Patents

3次元位置計測装置

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JPS63217214A
JPS63217214A JP5092187A JP5092187A JPS63217214A JP S63217214 A JPS63217214 A JP S63217214A JP 5092187 A JP5092187 A JP 5092187A JP 5092187 A JP5092187 A JP 5092187A JP S63217214 A JPS63217214 A JP S63217214A
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JP
Japan
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image
dimensional position
spot light
light
stored
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Pending
Application number
JP5092187A
Other languages
English (en)
Inventor
Keiichi Kenmochi
圭一 見持
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は両眼立体視法により対象物の3次元位置を計測
する3次元位置計測装置に関する。
〔従来の技術〕
物体の3次元位置を非接触で計測する装置として、両眼
立体視法が知られており、例えば移動ロボットの視角セ
ンサや無人搬送車の障害物検出センサ等に適用されてい
る。この3次元位置計測装置は第6図に示すように2台
のテレビカメラ1゜2をそれぞれ光軸がx、y平面上に
あり、かつy軸と平行になるように設置して対象物3を
W&像し、これらのテレビカメラ1.2から得られる画
像信号に基いて対象物3の3次元位置を求めるものであ
る。
即ち、第6図の構成において、2台のテレビカメラ1.
2により対象物3を1lil像すると、対象物3上のあ
る点Pは第7図に示すようにそれぞれのテレビカメラ1
.2で得られた画像IL、IR上の点PL (XL I
 yL )r点PR(XR,VR)に結像される。従っ
て、点Pの座標、つまり奥行き0LA−dは次式で求め
られる。
d=Q−f/ (XL  XR)   ・”・” (1
)さらに、必要ならばX、Z座標も単純な幾何学的性質
を用いて計算できる。ここで、5.6はテレビカメラ1
,2の光軸、OL、ORは各テレビカメラ1.2の撮像
レンズ中心であり、fはそれらのレンズの焦点距離であ
る。又、OL 、CRは各テレビカメラ1.2で得られ
た画像IL、IR上の中心位置であり、(XL I V
 L ) * n (X R*VR>はそれらの画像上
に取った座標軸である。
このようにして求められた点Pに対して一方のテレビカ
メラ1で得られた像PLに対応する他方のテレビカメラ
2で得られた像PRを探すには、粗密検索、弛緩法や動
的計画法等が用いられているが、何れの方法においても
第8図に示すように画像lL上の点a1に対応する画像
IR上の点を水平走査線ILに対するIR上で検索する
ようにしている。
従って、第8図において点a1に対応する点はその点a
1が存在するエツジの特徴が良く似ているエツジ上の点
として点b1が選ばれる。ここで、エツジとは画像上で
明るさが急変する部分であり、対象物の輪郭や稜に対応
する部分である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、このような従来の3次元位置計測装置において
は、第8図に示すように輪郭や稜に当たるエツジ部分が
存在する対象物の場合にはこのエツジ部分で対象物面の
明るさが急変するので3次元位置の計測が可能であるが
、例えば円筒形や球形のようにエツジ部分の存在しない
対象物の場合にはその曲面の明るさが急変しないので、
その対象物の輪郭や位置しか分らない。
従って、3次元位置としては情報量が不十分であり、計
測装置として適用範囲が限定されてしまう。また、計測
データから対象物の形を識別しようとしても曲面部分の
検出が困難であり、物体を認識する必要のある装置への
応用は難しい。
本発明は上記したような従来の問題点を解決すべくなさ
れたもので、両眼立体視法で対象物の3次元位置を計測
するに当り、明るさに変化のない。
つまりエツジが検出できない平面や曲面に対してもその
面上の点の3次元位置を計測することができる3次元位
置計測装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明はこの目的を達成するために、平行な光軸上に設
けられ対象物を撮像する第1及び第2の撮像手段と、こ
れら第1及び第2の撮像手段により得られたそれぞれの
画像信号に基いて前記対象物の3次元位置を計測する装
置において、前記第1及び第2の撮像手段により撮像さ
れたそれぞれの対象物の画像間で3次元位置を対応付け
るための特徴点を表わすスポット光を前記対象物に対し
て放射状に投影する投光装置を備えたことを特徴として
いる。
〔作用) 本発明による3次元位置計測装置においては、投光装置
から対象物上に放射状のスポット光が投影されると、こ
のスポット光は第1及び第2の撮像手段により対象物の
像と共に観測される。そして、これらのスポット光は対
象物面上に明るさの変化をもたらすので、これらをエツ
ジと同様の特徴点として検出することが可能となり、前
記第1及び第2の躍像手段によりl1ll像されたそれ
ぞれの対象物の画像間で3次元位置を対応付けることが
できる。
〔実施例〕
以下本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明による3次元位置計測装置の構成例を示
すものである。第1図において、1.2は平行な光軸上
に撮像手段として設けられた第1及び第2のテレビカメ
ラ、3はこれら第1及び第2のテレビカメラ1.2によ
って撮像される対象物、4は第1及び第2のテレビカメ
ラ1.2の間に設けられ、対象物3に対して放射状のス
ポット光を投影する投光装置である。この投光装置4は
第2図に示すようにレーザ発振器5からのレーザ光6を
シート状に並べられた光ファイバを直交させた透過型回
折格子7に照射することにより、多数の放射状に拡がる
回折光8が生成されるようにしたもので、ホストコンピ
ュータ30からの指令によりオン/オフ可能になってい
る。
一方、11.21は第1及び第2のテレビカメラ1.2
で得られた画像信号をディジタル信号に変換するA/D
変換器、12.13はA/D変換器11で変換されたデ
ィジタル信号を格納する画像メモリ、22.23はA/
D変換器21で変換されたディジタル信号を格納する画
像メモリであり、その一方の画像メモリ12と22は対
象物3にスポット光が投影されている時に撮像された画
像情報を格納し、また他方の画像メモリ13と23は対
象物3のスポット光が投影されていない時にWi像され
た画像情報を格納するものである。
また14は画像メモリ12.13の画像情報が入力され
る特徴抽出回路、24は画像メモリ22゜23の画像情
報が入力される特徴抽出回路であり、これらの特徴抽出
回路14.24は画像情報から明るさの変化を検出し、
対象物3の輪郭や稜線に当たるエツジや放射状のスポッ
ト光9を特徴点として抽出するものである。さらに31
は特徴抽出回路14.24から出力される左右の画像の
エツジやスポット光を対応付けるための特徴点の対応が
取れた点をもとにその点の3次元位置を計算する3次元
座標計算回路で、この3次元座標計算回路31で求めら
れた3次元座標情報はホストコンピュータ30に記憶さ
れるようになっている。
次にこのように構成された3次元位置計測装置の作用に
ついて述べる。
今、ホストコンピュータ30からの指令により投光装置
4がオン/オフ制(社)されているものとする。したが
って、投光装置4がオン制御されているときは投光装置
4から放射状に拡がる回折光8により対象物3に多数の
放射状のスポット光9が投影される。このとき第1及び
第2のテレビカメラ1.2により撮像された対象物3の
画像信号はA/D変換器11.21によりそれぞれディ
ジタル信号に変換されて画像メモリ12.22に格納さ
れる。また、投光装[4がオフのとき、つまり対象物3
に対して放射状のスポット光が投影されていないときに
第1及び第2のテレビカメラ1゜2で撮像された対象物
3の画像信号は前述同様にA/D変換器11.21によ
りそれぞれディジタル信号に変換されて画像メモリ13
.23に格納される。これら画像メモリ12.13に格
納された画像情報が特徴抽出回路14に、また画像メモ
リ22,23に格納された画像情報が特徴抽出回路24
にそれぞれ加えられると、これら特徴抽出回路14.2
4では画像情報から明るさの変化を検出し、対象物3の
輪郭や稜線に当たるエツジや放射状のスポット光9を抽
出する。ここで、対象物3だけの特徴抽出には画像メモ
リ13,23に格納されている画像情報を用いれば良く
、放射状のスポット光9だけを検出する場合は画像メモ
リ12.22の画像情報から画像メモリ13.23の画
像情報を減じることにより、放射状のスポット光のみが
抽出される。このようにして抽出された特徴抽出回路1
4.24の出力が3次元座標計算回路31に加えられる
と、この3次元座標計算回路31では左右の画像のエツ
ジやスポット光を対応付けるための特徴点として対応付
けを行ない、対応が取れた点をもとに前述した(1)式
で対象物3の上の3次元座標を計算し、これをホストコ
ンピュータ30の記憶部に記憶する。
この場合、放射状のスポット光9は第1及び第2のテレ
ビカメラ1,2の画面上では第3図のように映っている
。つまり、投光814をオフにした時の画像との差を取
っているので、対象物の画像が消え、スポット光9のみ
の画像となる。
これら左右の画像から対応付けを行なう手法としては前
述したように種々あるが、ここでは本発明の要旨に直接
関係がないので言及しないことにする。
しかし、左右の対応する水平走査II!40上に多数の
点が存在すると、誤った対応付けを行なってしまう、い
わゆる誤対応が生じる可能性があり、その結果誤った位
置計測となり、信頼性が低下する。
そこで、第4図に示すように透過型回折格子7の光ファ
イバの方向をy軸の回りに角度Δeだけ回転させると、
第5因に示すような画像が得られる。したがって、1本
の水平走査線41上には1本だけしか存在しなくなるの
で対応付けが容易になり、誤対応の発生がなくなる。
このように投光装置4により対象物3に対して放射状の
スポット光を投影したときと投影しないときの画像情報
を用いて対象物3の輪郭や稜線に当たるエツジや放射状
のスポット光9を特徴点として抽出するようにしたので
、対象物の平面上や又曲面を含む対象物であってもそれ
らの面上に得られるスポット光による多数の特徴点をも
とに左右の画像の対応付けを行なうことができ、対象物
3の面上の多数の点の3次元位置を決定することができ
る。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、平行な光軸上に設け
られ対象物をm像する第1及び第2の撮像手段と、これ
ら第1及び第2の撮像手段により得られたそれぞれの画
像信号に基いて前記対象物の3次元位置を計測する装置
において、前記第1及び第2の撮像手段により撮像され
たそれぞれの対象物の画像間で3次元位置を対応付ける
ための特徴点を表わすスポット光を前記対象物に対して
放射状に投影する投光装置を設ける構成としたので、両
眼立体視法だけでは対象物の輪郭や積の部分の3次元位
置しか決定できないが、放射状のスポット光が対象物面
上で対応付けのための特徴点となるため、平面や曲面上
の多数の点の3次元位置を計測することができる3次元
位置計測装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1因は本発明による3次元位置計測装置の一実施例を
示す構成図、第2図は同実施例における投光装置の構成
図、第3図乃至第5図は同実施例1.2・・・・・・第
1及び第2のテレビカメラ、3・・・・・・対象物、4
・・・・・・投光装置、5・・・・・・レーザ発撮器、
6・・・・・・レーザ光、7・・・・・・透過型回折格
子、8・・・・・・放射状に拡がる回折光、9・・・・
・・放射状のスポット光、11.12・・・・・・A/
D変換器、12.13゜22.23・・・・・・画像メ
モリ、14.24・・・・・・特徴抽出回路、30・・
・・・・ホストコンピュータ、31・・・・・・3次元
座標計算回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 第3図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 平行な光軸上に設けられ対象物を撮像する第1及び第2
    の撮像手段と、これら第1及び第2の撮像手段により得
    られたそれぞれの画像信号に基いて前記対象物の3次元
    位置を計測する装置において、前記第1及び第2の画像
    手段により撮像されたそれぞれの対象物の画像間で3次
    元位置を対応付けるための特徴点を表わすスポット光を
    前記対象物に対して放射状に投影する投光装置を備えた
    ことを特徴とする3次元位置測定装置。
JP5092187A 1987-03-05 1987-03-05 3次元位置計測装置 Pending JPS63217214A (ja)

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JP5092187A JPS63217214A (ja) 1987-03-05 1987-03-05 3次元位置計測装置

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JP5092187A JPS63217214A (ja) 1987-03-05 1987-03-05 3次元位置計測装置

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JPS63217214A true JPS63217214A (ja) 1988-09-09

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ID=12872262

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JP5092187A Pending JPS63217214A (ja) 1987-03-05 1987-03-05 3次元位置計測装置

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0526640A (ja) * 1991-07-25 1993-02-02 Toshiba Corp リード形状計測装置
US5394183A (en) * 1992-05-05 1995-02-28 Milliken Research Corporation Method and apparatus for entering coordinates into a computer
WO2008075632A1 (ja) * 2006-12-19 2008-06-26 Panasonic Corporation 複眼測距装置の検査方法および検査装置並びにそれに用いるチャート
CN102607526A (zh) * 2012-01-03 2012-07-25 西安电子科技大学 双介质下基于双目视觉的目标姿态测量方法
CN103630118A (zh) * 2013-11-22 2014-03-12 中国科学院光电研究院 一种立体高光谱成像装置
CN103712572A (zh) * 2013-12-18 2014-04-09 同济大学 结构光源与相机结合的物体轮廓三维坐标测量装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0526640A (ja) * 1991-07-25 1993-02-02 Toshiba Corp リード形状計測装置
US5394183A (en) * 1992-05-05 1995-02-28 Milliken Research Corporation Method and apparatus for entering coordinates into a computer
WO2008075632A1 (ja) * 2006-12-19 2008-06-26 Panasonic Corporation 複眼測距装置の検査方法および検査装置並びにそれに用いるチャート
CN102607526A (zh) * 2012-01-03 2012-07-25 西安电子科技大学 双介质下基于双目视觉的目标姿态测量方法
CN103630118A (zh) * 2013-11-22 2014-03-12 中国科学院光电研究院 一种立体高光谱成像装置
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