JPS63216259A - 走査電子顕微鏡 - Google Patents

走査電子顕微鏡

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Publication number
JPS63216259A
JPS63216259A JP4933087A JP4933087A JPS63216259A JP S63216259 A JPS63216259 A JP S63216259A JP 4933087 A JP4933087 A JP 4933087A JP 4933087 A JP4933087 A JP 4933087A JP S63216259 A JPS63216259 A JP S63216259A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
image
scanning
observe
Prior art date
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Pending
Application number
JP4933087A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Hirata
平田 義弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
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Publication of JPS63216259A publication Critical patent/JPS63216259A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は走査電子顕微鏡に関し、特に試料よりの検出信
号を微分するための微分回路を備えた走査電子顕微鏡に
関する。
[従来の技術] 走査電子顕微鏡においては、第3図(a)に示すような
通常の試料像を表示した後、検出器よりの信号を微分回
路に導入して微分し、この微分信号を陰極線管に輝度信
号として導入することにより、第3図(1))の口に示
すような輪郭部の強調された試料像を表示することが行
なわれている。
尚、説明を簡単にするため、観察中の試料像が第3図イ
に示すような円形の輪郭を有するものとする。この像の
表示にあたっては、走査電子顕微鏡の走査信号発生回路
より第2図(a)に示す水平走査信号が発生し、この走
査信号に同期して陰極線管の水平走査が行なわれ、検出
信号として第2図(C)に示す信号が得られる。尚、第
2図(b)は水平ブランキング信号を示している。
[発明が解決しようとする問題点1 前記検出信号は微分回路に供給されて第2図(d)に示
す信号に変換されるが、微分回路の時定数は、低速走査
となる写真撮影時に最適な微分信@像が得られるように
、比較的大きな値に設定されている。しかしながら、写
真撮影するための視野選択の段階では、肉眼の残像効果
で対応できる程度の速い走査速度で微分像を観察するの
が常である。そのため、前回の水平走査の際に微分回路
のコンデンサに充電された電荷が放電されない内に次の
水平走査が開始されるため、第2図(d)の期間への部
分に示すような信号の尾引きが発生し、陰極線管の画面
には第3図(b)においてハで示すような影が表示され
てしまう。
本発明はこのような従来の欠点を解決し、速い走査速度
で微分信号像を観察する場合に、上述した信号の尾引き
に基づく影が表示されないようにした走査電子顕微鏡を
提供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段] そのため、本発明は試料上において電子線を走査するた
めの手段と、該走査に伴って試料より得られる検出信号
を微分するための微分回路とを備え、該微分回路の出力
信号を前記電子線の走査に周期走査される陰極線管に輝
度信号として導入して試料像の輪郭を強調した像を表示
するようにした走査電子顕微鏡において、前記陰極線管
の水平走査の帰線期間のみ自動的に前記微分回路の時定
数を零にするための回路を備えたことを特徴としている
[実施例] 以下、図面に基づき本発明の実施例を詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示すもので、図中1は電子
銃、2は集束レンズ、3は対物レンズ、4は走査用偏向
器、5は試料、6は電子線、7は走査信号発生回路、8
はブランキング信号発生回路、9は二次電子検出器、1
0は増幅器である。
11は微分回路であり、11a、11bは各々微分回路
11を構成するコンデンサ′及び抵抗である。
12はコンデンサ11aの充放電を制御するための開閉
スイッチ回路であり、開閉スイッチ回路12には前記ブ
ランキング信号発生回路8よりのブランキング信号が開
閉を制御する信号として送られている。13は信号選択
スイッチ、14は加算回路であり、加算回路14にはブ
ランキング信号発生回路8の出力信号と信号選択スイッ
チ13によって選択された信号が送られている。15は
映像増幅器、16は陰極線管、16dは陰極線管16の
偏向器である。
このような構成において、まず最初に信号選択スイッチ
13をa端子側に接続し、走査信号発生回路7よりの第
2図(a)に示す水平走査信号及び垂直走査信号(図示
せず)を偏向器4及び16dに送り、試料5を二次元的
に走査する。このとき、前記水平走査信号の発生に基づ
いて、ブランキング信号発生回路8より第2図(b)に
示すような水平ブランキング信号が発生し、加算回路1
4に送られる。前記走査に伴って第2図(C)に示すよ
うな信号が二次電子検出器9より検出されるが、この検
出信号は信号選択スイッチ13を介して加口回路14に
送られるため、陰極線管16には第3図(a>に示すよ
うな像が表示される。
次に、輪郭を強調した像を観察するため、信号選択スイ
ッチ13をbl子側に接続する。そこで、前回と同様に
試料5と陰極線管16を周期走査する。この走査によっ
ても検出器9より第2図(C)に示す信号が検出される
が、この信号は微分回路11に送られて微分される。と
ころで、前記開閉スイッチ回路12にはブランキング信
号発生回路8より、第2図(b)に示ず水平ブランキン
グ信号が送られており、開閉スイッチ回路12は帰線期
間のみ閉状態となる。そのため、陰極線管16の像表示
期間に微分回路11のコンデンサ11aに充電された電
荷は、帰線期間に速やかに放電される。従つ゛て、微分
回路11の出力信号は第2図(e)に示すようになり、
第2図(d)の△に示した信号の尾引き部分は消失する
。そのため、陰極!!管16に表示される輪郭強調惟は
第4図に示すようになり、尾引きによる影の部分が消失
乃至は抑圧された見易い像となる。
上述した実施例は本発明の一実施例に過ぎず、変形して
実施することができる。
例えば、上述した実施例においては、水平帰線期間のみ
微分回路の時定数を零にするため、コンデン+j11 
a#両端を帰線期間のみショートするようにしたが、抵
抗11bの両端をショートするように構成しても良い。
[発明の効果コ 上述した説明から明らかなように、微分回路の時定数を
写真蹟影に適した比較的大きな値に設定すると共に、比
較的速い走査速度で試料を走査して輪郭像を肉眼観察す
る際に、本発明においては、水平帰線期間のみ自動的に
微分回路の時定数を零にするための回路を備えているた
め、信号の尾引きに基づく影を消失さけた見易い像を表
示することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すための図、第2図は第
1図に示した実施例装置の動作を説明するための信号図
、第3図は従来の欠点を説明するための院極線管画像図
、第4図は本発明の詳細な説明するための陰極線管画像
図である。 1:電子銃     2:集束レンズ 3二対物レンズ   走査用偏向コイル5:試料   
   6:電子線 7:走査信号発生回路 8ニブランキング信号発生回路 9:二次電子検出器 10.15:増幅器11:微分回
路   11a:コンデンサ11b:抵抗    12
:開閉スイッチ回路13:信号選択スイッチ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試料上において電子線を走査するための手段と、該走査
    に伴って試料より得られる検出信号を微分するための微
    分回路とを備え、該微分回路の出力信号を前記電子線の
    走査に周期走査される陰極線管に輝度信号として導入し
    て試料像の輪郭を強調した像を表示するようにした走査
    電子顕微鏡において、前記陰極線管の水平走査の帰線期
    間のみ自動的に前記微分回路の時定数を零にするための
    回路を備えたことを特徴とする走査電子顕微鏡。
JP4933087A 1987-03-04 1987-03-04 走査電子顕微鏡 Pending JPS63216259A (ja)

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