JPS6320862A - リ−ドフレ−ム原板及びリ−ドフレ−ム - Google Patents

リ−ドフレ−ム原板及びリ−ドフレ−ム

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JPS6320862A
JPS6320862A JP16465686A JP16465686A JPS6320862A JP S6320862 A JPS6320862 A JP S6320862A JP 16465686 A JP16465686 A JP 16465686A JP 16465686 A JP16465686 A JP 16465686A JP S6320862 A JPS6320862 A JP S6320862A
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JP
Japan
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lead frame
original plate
alloy
diffraction intensity
etching
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JP16465686A
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Emiko Higashinakagaha
東中川 恵美子
Koichi Tejima
手島 光一
Shinzo Sugai
菅井 晋三
Hisaharu Sakurai
桜井 寿春
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕□ (産業上の利用分野) 本発明は電子部品材料に関し、更に詳しくは、民生用製
品、例えば半導体装置のリードフレームの材料として有
用な電子部品材料に関する。
(従来の技術) 民生用製品例えば半導体装置には、高出力で多機能を有
することが要求されているが、それと並んで高い生産性
をもって低価格で製造されることも必要である。
この要求を満1°ために種々の製造方法が開発されてい
るが、それらのうち、樹脂モールドにする方法は可成り
有用な方法である。
しかしながら、この方法には次のような問題がありその
解決が求められている。
すなわち、上記方法にはマウンl〜工程、半導体素子と
リード線とのポンディング工程が不可欠の工程として含
まれるが、問題は、重要な部品であるリードフレームに
関することである。
一般にリードフレームは、表面酸化が少ないこと、引張
り強度が大きいこと、延性が充分で曲げ加工性に富むこ
と、高温特性例えば250’C以上の温度における機械
的強度が優れていること、半田との濡れ性や耐候性が充
分であること、更にはエツチング性が良好であり、ブレ
ス打法き性やプレス曲げ性のような加工性が優れること
、などの条件を満たしていることが、装造:価格及び製
品特性の点からいって極めて有利である。
このような各種の特性を比較的よく満しているというこ
とから、従来リードフレームの材料としては、42 N
i−Fe合金が広く使用されていた。
しかしながら近年、フラットパッケージにみられるよう
にリードフレームの多ピン化が進んでいる。このため、
リードフレームには精度よく微細なエツチングが必要と
なっている。
前述した従来の428i−Fe合金ではエツチング性の
点で多ピン化に伴う上記要求に対応できなくなっている
このため、軟質でエツチング性も良好な銅合金がリード
フレーム材料として多用されはじめているが、しかしこ
の材料は熱膨張係数がシリコンチップと適合せず、しか
もあまりに軟質であるためプレス成形後に変形を起し易
いという欠点がある。
(発明が解決しようとする問題点) かくして、リードフレームのような電子部品の材料、と
りわけフラットパッケージのリードフレーム用の材料に
は、■、エツチング性が優れること、■、プレス加工時
に加工硬化を起し加工後の変形が少ないこと、そして、
■、低熱膨張性であること、などが解決すべき特性上の
主要な課題として浮上している。
そして最近では、低熱膨張性であり、エツチングがし易
く、プレス加工も容易でかつ加工硬化する材料として、
Ni−Fe系合金がリードフレーム材として注目を集め
ている。
本発明は、電子部品に求められる上記■〜■の特性項一
、とりわけCの項目が向上したN1−re系合金材料と
その製造方法の提供を目的とする。
(発明の構成〕 (問題点を解決するための手段) 本発明者らは上記目的を達成すべく鋭意研究を重ねる過
程で、上記特性、とりわけ■のエツチング性の向上に関
して考察を加えた。まず、゛エツチング性が悪いという
“ことは、エツチング時゛に形成された孔はその内壁に
大小不規則な欠は部分が生じて、いわゆる不規則な“ガ
サ穴゛′となることをもって判断されている。それゆえ
、エツチング性が悪い材料には設計基準が求める微細な
エツチング仕上りを施せなくなるのである。
このことは、材料を構成する金属組織の種類と均一性、
結晶粒度の大小、結晶方位の集合性など□に起因する問
題であると考えられる。そこで、本発明者らは、上記各
因子がリードフレーム材料に求められる特性に与える影
響について種々検討した。同時に、■の項目、■の項目
の好適な条件の探索ということも明確に考察対象として
すえて研究を重ね、本発明の材料とその製造方法を開発
するに到った。
すなわち、本発明の電子部品原板は、リードフレームと
して使用されるNi25〜45重量%、および残部がF
eと不可避的不純物から成る合金及びそれに準するFe
−旧合金、銅又は銅合金等の面心立方格子構造の合金で
あって、原板面のX線回折強度で(200・)回折強度
が(220)回折強度の2倍以上であることを特徴とす
るリードフレーム原板笈びこのリードフレーム原板にエ
ツチングによりパターン形成されてなることを特徴とす
るリードフレームである。
(作 用) 上述の如く得られた原板はフォトエツチングにより所定
のリードフレームの形に形成し、しかる後にプレス加工
により所定のリードフレームとするのであるが、ここで
エツチングで微細な形状を形成する為に、上記原板の板
面の結晶方位を(100)とすることが大切であり、本
発明は従来の原板の結晶方位が不揃であった為にエツチ
ングで形成されたリードフレームの形状が端部でだれが
出来てしまっていたことに注目して成立したものである
即ち、原板の結晶方位が(100)に揃っているとエツ
チングされ易い結晶面が(100)であることから、形
成されたリードフレームはその端部の形状のきれがよい
。又、不揃いであると、エツチングされ易い結晶粒とエ
ツチングされ難い結晶粒とが混在しエツチング速度に差
が生じ、リードフレームの端部のきれが悪い。形状も不
均一となる。リードフレーム原板のX線回折を行い、(
200)回折強度I (2g□) 、 (220)回折
強度I   を測定し、なるパラメータhを導入すると
h≧2の時はエツチングで形成したリードフレームの形
状が良く、hく2の時はリードフレームの端部の形状が
乱れていた。
本発明材料であるFe−Ni系の場合は、次の工程を経
て製造することができる。
第1の工程は、上記した各成分の所定aを融解し、その
融液から所定組成の合金インゴットを調製する工程であ
る。これは、常用の真空溶解法を適用して行ってもよい
し、エレクトロスラグ溶解法でもよい。
第2の工程は、得られた合金インゴットに圧延処理を施
す工程である。この工程で重要なことは、最終圧延は冷
延であり、その冷延時の圧延率が40%以上でおるとい
うことである。この工程で、基本的には(110)面へ
の結晶方位の集合度合が調節される。圧延率が40%未
満の場合には、投入される加工エネルギーが小さいので
、インゴット内の結晶5格を(110)面に配向せしめ
ることが困難であり、更には、次段の焼鈍処理(第3の
工程)において成長する(100)再結晶粒が発達しづ
らい。
即ち、冷間圧延により(110)が発達すればする程第
3の工程の再結晶で(ioo)が発達するのである。
その加工、率は好ましくは80%以上である。
第3の工程は、第2工程で得られた冷延処理材に再結晶
温度以上の焼鈍処理を施して、所定の結晶粒度にすると
同時に原板表面の結晶を(ioo)に揃えることにある
焼鈍温度は500〜:200℃である。温度が500℃
未満の場合には上記した焼鈍効果が充分に発現せず、ま
た1200℃を越えた温度の場合は、結晶粒度が大きく
なり、エツチング性が悪くなる。好ましくは、150〜
1100℃である。
第4の工程では、第3の工程で得られた焼鈍処理材は通
常熱変形しているので、この熱変形を修正して平板に調
整する圧延工程である。このときの圧延率は30%以下
に制御される。
圧延率が30%より大きい場合は、既に形成されている
結晶方位の(100)面への集合状態が破壊されるから
である。好ましくは20%以下である。
なお、本発明に係わるリードフレーム材料としては面心
立方格子を形成するFe−Ni系例えば42N r−F
e、面心立方格子を形成する銅並びに銅合金例えば純銅
、Zu−Ni−Cu、 5u−Cu 、 Fe−3u−
Cu、 Ni−3u−Cu、 Fe−Cu、 Cr−2
r−Cu、 Cr−Ti−Cu、等である。
(実施例) 実施例1 Ni42%、残部Feなる溶解原料を真空溶解法で調整
した合金インゴットを用意した。このインゴットを熱間
鍛造し、更に熱間圧延した。この時板面の結晶方位は(
100)に揃っており、パラメータhは208であった
。ついで89%の冷圧率で冷間圧延を行い、板面の結晶
方位を(110)に揃えた。
この時パラメータhは0.03であった。ついで圧延材
を焼鈍炉に入れ、1 X 1O−4TOrr 800°
Cで焼鈍したところ、結晶軸は回転し、板面の結晶面は
(100)に揃った。この時のパラメータhは158で
あった。ついて2.4%の調整圧延を行った所、板面の
結晶面(ioo)の集合を示すパラメータhは65とな
った。
得られた板材の両表面にフォトレジストを塗布し、これ
を乾燥したのち、ここに基準のフレームパターンを形成
したフィルムを密着させフォトレジストを露光・現像し
て未露光部分のフォトレジストを溶解除去した。ついで
残置フォトレジストをバーニングして硬化させたのち、
20%塩化第二鉄溶液でエツチングし、しかるのちに残
置レジストを熱アルカリで除去してリードフレームを製
作した。各リードの幅は1m、各リード間の間隔は0.
5mであった。各リードの側面を顕微鏡観察したところ
、ガサ穴はなかった。
このリードフレームに1000人の銅めっきを施したの
ち更に全面に2−の銀めっきを施した。ついで、ここに
銀ペーストを用いてシリコンチップをダイポンドし、更
に150〜300°Cの温度で金ワイヤをボンディング
したのち、全体をエポキシ樹脂で封止し150°Cでキ
ュア処理を施した。最後に、所定のプレス機で各リード
の折り曲げ加工を行ったところ、全リードは設計基準油
りに加工され、しかも加工後の変形は認められず良好で
めった。
実施例2 Cr0.6重量%、ZrO,3重量%、残部Cuを溶解
し、鍛造・熱間圧延の後、冷間圧延で0.25厚の薄い
リボンを作成し、600 ’Cで再結晶させたリードフ
レーム厚板の板面の(100)の集合の度合を示すパラ
メータhは35となっており、実施例1と同様に良好な
リードフレームを得た。
[発明の効果] 以上の説明でわかる通り、本発明のリードフレームは、
エツチング性が良好で微細なエツチング成形をすること
ができる。そのことにより、リードフレームをエポキシ
樹脂で封止した後の各リードの耐湿性が向上する。
代理人 弁理士 則 近 憲 氾 同    竹 花 喜久男

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)面心立方格子構造の合金から成り、かつ原板面の
    X線回折強度で{200}回折強度が{220}回折強
    度の2倍以上であることを特徴とするリードフレーム原
    板。
  2. (2)Fe−Ni合金から成ることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載のリードフレーム原板。
  3. (3)銅又は銅基合金より成ることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載のリードフレーム原板。
  4. (4)面心立方格子構造の合金から成り、かつ原板面の
    X線回折強度で{200}回折強度が{220}回折強
    度の2倍以上であるリードフレーム原板に、エッチング
    によりパターン形成されてなることを特徴とするリード
    フレーム。
  5. (5)Fe−Ni系合金から成ることを特徴とする特許
    請求の範囲第4項記載のリードフレーム。
  6. (6)銅又銅基合金より成ることを特徴とする特許請求
    の範囲第4項記載のリードフレーム。
JP61164656A 1986-07-15 1986-07-15 リ−ドフレ−ム原板及びリ−ドフレ−ム Expired - Lifetime JPH0810743B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60171148A (ja) * 1984-02-16 1985-09-04 出光石油化学株式会社 多層フイルム
EP0700085A3 (en) * 1994-08-29 1996-07-17 Tadahiro Ohmi Lead frame and lead frame material

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6173356A (ja) * 1984-09-18 1986-04-15 Hitachi Metals Ltd リ−ドフレ−ム部材

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