JPS63205706A - 円弧加工制御方式 - Google Patents

円弧加工制御方式

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JPS63205706A
JPS63205706A JP3774187A JP3774187A JPS63205706A JP S63205706 A JPS63205706 A JP S63205706A JP 3774187 A JP3774187 A JP 3774187A JP 3774187 A JP3774187 A JP 3774187A JP S63205706 A JPS63205706 A JP S63205706A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circular arc
position coordinate
segment
ideal circular
arc
Prior art date
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Pending
Application number
JP3774187A
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English (en)
Inventor
Toshiyuki Kitano
俊幸 北野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Yaskawa Electric Manufacturing Co Ltd filed Critical Yaskawa Electric Manufacturing Co Ltd
Priority to JP3774187A priority Critical patent/JPS63205706A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は数値制御装置の加工制御方式に関し、特に計数
型微分解析器(以下、DDAと称する)の原理を用いる
数値制御装置の円弧加工制御方式〔従来の技術〕 従来、数値制御装置の加工制御方式としては、位置決め
制御や連続径路制御に対する関数発生のため、DDA方
式が多く使用されているが、この場合、パルス単位で演
算していたために処理できる量に限界があった。このた
め、演算をパルス単位ではなく、セグメント単位(ある
単位時間中のパルス数単位)で実行することにより、高
速化することが知られている。
第4図は、この従来のセグメント演算方式により円弧加
工を行なうときの説明図であり、目的とする一定半径の
理想円弧1上の点S。を演算の始点とすると、1セグメ
ント演算後の加工具の制御位置は、始点S。における接
線上の点S、として算出される。
次に、この算出方法を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の円弧加工制御方式に用いられる軌跡補
正演算の説明図であるが、以下の従来方式の説明にも用
いる。
第1図は、加工すべき円弧1の加工開始点を座標原点G
として画かれており、図中の各点の座標を次の通りとす
る。
円弧1上の加工中の点A(ただし、誤差は0とする)−
(x+ 、y+ )、 点Aにおける1セグメント演算の結果、算出された点B
”” (X2 、 y2)、 円弧1の属する円の中心0と点Bを結ぶ線分篩と円弧1
との交点c”’ (X3 、 y3)。
また、点Aを通りy軸に平行する線とX軸との交点をF
、点Bを通りy軸に平行な線と、点Cおよび点Aを通り
X軸に平行な線との交点を、それぞれDおよびEとし、
円弧1の半径をRとする。
線分nは点Aにおける円弧1の接線であり1.40AB
は直角であるので、 ZABE =fOAE =ZAOF の関係より、△At)Fと△ABEは相似である。した
がって、線分nのX軸方向成分肩およびy軸方向成分E
Bは、それぞれ F 八E= ABx =                
           ・軸 (1)A となる。そこで、セグメント演算のため定められたある
単位時間中のパルス数をFとすると、1セグメント長■
はパルス数Fに相当し、肩の長さく×2−×1)および
EBの長さくy2  y+)は、それぞれ今回のX軸方
向の増分パルス数D×およびy軸方向の増分パルス数D
Yに相当し、またtの長さくy、)および評の長さくX
、)は、それぞれ、加工開始点Gから点Aに至るまでの
y軸方向増分パルス数DYの総和ΣDYおよびX軸方向
増分パルス数DXの総和ΣOxに相当するため、式(1
)、(2)から、それぞれ次の関数発生式(3)、(0
を得ることができる。
(ただし、Roは半径Rに対応するパルス数)このよう
にして、今回以降の各増分パルス数DX、 DYは、単
位時間中のパルス数Fと、それまでの増分パルス数の総
和ΣDX、ΣDY、および円弧半径R8を用いて、式(
3)、(4)にしたがい次々にくり返し演算することに
より、得ることができる。
なお、第1図、第3図および第4図におけるセグメント
の大きさは、説明の便宜上、大きく表現されており、セ
グメントを充分小さくすることにより円弧1を近似する
ことができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上述した従来方式により、演算すると、
第1図中の線分託の長さεだけ、各セグメント演算毎に
理想円弧1とのずれが生じるのは避けることができない
。第5図はこの状況を示しており、始点S0から演算(
すなわち、加工)を開始して理想円弧1に対する実際の
軌跡6を表わしたものである。
本発明の目的は、上述したセグメント演算方式を実行し
ても、補正を加えることにより理想円弧の軌跡が得られ
る円弧加工制御方式を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の円弧加工制御方式は、DDA方式によるセグメ
ント演算方式を用いて1セグメント分の加工具の移動を
行うべき次の位置座標を求め、該位置座標点と加工目標
である理想円弧の属する円の中心を結ぶ線上における、
該位置座標点の理想円弧からのずれ量を算出し、該位置
座標点の座標を該ずれ量だけ補正する軌跡補正演算を行
っている。
〔作用〕
上述した第1図を参照して、本発明の演算手順を説明す
る。
上述したように、加工中の点Aにおけるセグメント演算
の結果、式(3)、(4)により増分パルス数DX、 
DYが得られ、加工開始点(原点)GからA(xl 、
y+ )に至るまでの増分パルス数の総和ΣDX、ΣD
Yにそれぞれ加算されて、点B(x2゜y2)が得られ
る。そこで、点B(x2.3/2)における次のセグメ
ント演算においては、このΣDχ+DX 、ΣDY+D
’lの演算結果がそれぞれ新しいΣDX、  ΣDYと
される。
点B(x2.y2)における理想円弧1からのずれ量6
はOB−Rで計算されるので、ε=    −x22+
y22−R・−(5)となり、直径Rおよびずれ量εに
対応するパルス数をそれぞれRO1ε0とすると式(5
)を書き換えて、 6o−o−DX  ÷ ΣDY2− RO−(6)が得
られる。
ここでずれ量ε。が求められたので、これをX軸方向成
分とy軸方向成分にそれぞれ分解すると、 X軸方向成分■: y軸方向成分BD: となる。
したがって、これを点B(X2.372)における前記
増分パルス数の総和ΣDX、ΣDYに加減することによ
り、理想円弧上1の点C(X3 、3/3 )の位置を
得ることができる。
(実施例) 本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第2図は本発明の加工制御方式の一実施例において用い
られる関数演算装置2の構成と演算の手順を示すブロッ
ク図、第3図は本実施例により実際に円弧加工制御を行
なった例を示す説明図である。上述した第1図も同時に
参照する。
演算装置2は、DDA方式により1セグメント毎に、前
段目標位置データPO5X、 PO5Yから、X軸方向
およびy軸方向の増分パルス数DX、 DYをそれぞれ
発生する関数発生部3と、入力された増分パルス数DX
、 DYに、理想円弧1との間の軌跡のずれ量ε。を計
算して補正を行う軌跡補正部4とから構成され、1セグ
メント演算の都度、X軸方向およびy軸方向の補正され
た目標位置データposx。
PO5Yをそれぞれ算出して出力する。各関数式の演算
については既に説明したので省略する。
次に、第3図を参照して、本実施例により演算を行なっ
た実際の例につき説明する。
演算に用いられるパルス数については、通常、1パルス
に1−の長さが対応しており、本発明においては長さを
パルス数で表示するものとする。
半径100の円弧5を描く場合、原点G (0,0)を
始点とし、1セグメントに対応するはらい出しパルス数
Fを30とすると、始点G(0,0)では、Σ[1X=
O1ΣDY= 0 であるから、関数発生部3は式(3)、(4)により演
算を行ない、 が得られ、したがって、X軸方向の増分パルス数0×と
してOパルスが、yIId1方向の増分パルス数OYと
して30パルスがそれぞれ出力されることとなるが、こ
れは明らかに理想円弧5上にのっていない。次に、この
DX (= O) 、 DY (=30)を入力した軌
跡補正部4は、次のように各増分パルス数の総和ΣDX
、ΣDYの計算を行ない、次の新しい増分パルス数の総
和ΣDY、ΣDYに更新する。
ΣDX+DX  :  O+0=O−+  ΣDXΣD
Y+DY   :  0 +30=30  → ΣDY
次に、この更新された増分パルス数の総和ΣDX、ΣD
Yを用いて式(6)によりずれの量ε。を計算し、 。−÷  Y−vt 。
:F■U]Pコr−too = 4.4が得られる。さ
らに、このずれ量6゜を用いて式(7)、(8)からず
れのX軸およびy軸方向成分を算出して、この補正値に
より各増分パルス数の総和ΣDX、Σ0Yを次のように
補正する。
以上の補正演算が終って、それぞれの値が今回の目標位
置を定めるデータposx、 posyとして出力され
る。
補正さレタXDX:4 −+  PO5X補正されたΣ
DY:29  → PO5Yここで理想円弧5とのずれ
を検算すると、F丁防]P1F= 100.2846 となり、誤差は未補正のときの4.4に比し大幅に減少
して1パルス以内である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、DDA方式によるセグメ
ント演算を行ない、その際に発生する理想円弧とのずれ
量を、その都度算出して補正することにより、目標の円
弧軌跡から軌跡ずれを起すことなく理想的な円弧加工を
行うことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の円弧加工制御方式による軌道補正演算
の説明図、第2図は本発明の一実施例において用いられ
る関数演算装置2の構成と演算の手順を示すブロック図
、第3図は本実施例により実際に円弧加工制御を行なっ
た例を示す説明図、第4図は軌跡ずれの補正を伴わない
従来方式の説明図、第5図は第4図の従来方式により円
弧加工したときの実際の軌跡を示す図である。 1 ・・・ 理想円弧、  2 ・・・ 関数演算装置
、3 ・・・ 関数発生部、4 ・・・ 軌跡補正部、
5 ・・・ 円弧(加工例)、 F−1セグメントのパルス数、 DX  −・・ X軸方向の増分パルス数、oy−y軸
方向の増分パルス数、 ΣDX−x軸方向の増分パルス数の総和、ΣDY−・・
y軸方向の増分パルス数の総和、R,−・・ 円弧1の
半径(パルス数表現)、ε ・・・  軌跡のずれ量、 PO5X  −−−x軸方向目標位置データ、PO5Y
−V軸方向目標位置データ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 計数型微分解析器方式によるセグメント演算を用いる数
    値制御装置の円弧加工制御方式において、 セグメント演算方式により、1セグメント分の加工具の
    移動を行うべき次の位置座標を求め、該位置座標点と加
    工目標である理想円弧の属する円の中心を結ぶ線上にお
    ける、該位置座標点の理想円弧からのずれ量を算出し、 該位置座標点の座標を該ずれ量だけ補正することを特徴
    とする円弧加工制御方式。
JP3774187A 1987-02-23 1987-02-23 円弧加工制御方式 Pending JPS63205706A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0340004A (ja) * 1989-07-06 1991-02-20 Toshiba Mach Co Ltd Nc装置の楕円補間制御方法およびnc装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS523075A (en) * 1975-06-24 1977-01-11 Sandoz Ag Improvement relating to orgnic copounds
JPS62204311A (ja) * 1986-03-04 1987-09-09 Toshiba Mach Co Ltd 数値制御における円弧補間演算方法

Patent Citations (2)

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