JPS63204523A - 光ヘツド装置 - Google Patents

光ヘツド装置

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JPS63204523A
JPS63204523A JP62035894A JP3589487A JPS63204523A JP S63204523 A JPS63204523 A JP S63204523A JP 62035894 A JP62035894 A JP 62035894A JP 3589487 A JP3589487 A JP 3589487A JP S63204523 A JPS63204523 A JP S63204523A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
light beam
objective lens
information carrier
sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP62035894A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuo Kuwayama
桑山 哲郎
Hideki Tanaka
秀樹 田中
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS63204523A publication Critical patent/JPS63204523A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、ディスク形状、カード形状あるいはテープ形
状の情報担体面に光源からの光を照射し、情報の読出し
および占き込みを行なう光ヘッド装置に関し、特に光源
からの非平行光束を対物レンズを介して情報10体面に
集光し、情報担体面の光軸方向の移動に対応した適ちな
量だけ対物レンズを光軸方向に駆動し、情報担体上に十
分小さな光スポットを作り出すオートフォーカス動作を
行なう光ヘッド装置に関する。
[従来の技術] 情報担体に情報を記録し、あるいは記録された情報を読
出す光ヘッドにおいて、光ヘッドの小型軽hi化および
部品点数の百q減による信頼性の向−Fまたはコストダ
ウンのため、半導体レーザー等の光源からの光束中に配
置;シされていたコリメーターレンズを省略し、有限距
離結像の対物レンズを用いた光ヘッド装置が開発されて
いる。
第6図は、この有限系対物レンズを用いた光ヘッド装置
の従来例を示す構成図である。
同図において、半導体レーザーlから射出した発散光束
はビームスプリッタ−2を透過して有限系対物レンズ3
に入射し、その有効径4により有効口径に制限を受けた
後、収束光束となって情報相体の透明基板9に入射し、
情報担体面lO上に微小スポットを生じる。このとき生
じるスポットの強度が1/e2直径dは、対物レンズ3
の収差が上方に補正されていると、次式で与えられる。
入 d=0.87−  ・・・・・・ (1)nBIn  
ψ0 ここで入は光源からの光束の波長、nは透明基板9の屈
折率であり、角度ψ0は最周辺光束が光軸となす角度で
ある。
いま、基板9が面ブレにより光軸方向にXだけ変位した
とすると、対物レンズ3は、情報担体面lO上に光源1
の像が正確に生じるように適当な量だけ移動する必要が
ある。このとき対物レンズ3は有限距離の結像光学系で
あるために、光源lの情報記録面10への結像倍率も変
化し、同時にレンズ3から情f4JJ′g体面10まで
の距離文oも交1に変化する。
情報担体面10で反射された光束は対物レンズ3を透過
した後、ビームスプリッタ−2で反射されてセンサーレ
ンズ5を通り、センサー6に入射する。センサーレンズ
5はたとえば凹レンズであり、フォーカスエラーの発生
に伴なって発生するセンサー6]二での光束移動、IM
を増幅する機能を有している。
[発明が解決しようとする問題点] 今、0′S6図において、情報担体面10が10’に移
動し、夫々の状態で、情報担体面10−ヒに最小スポッ
トを生じるように対物レンズ3の位置を3′の位置に調
整すると、センサー6」二での光束の広がりは図示の実
線71から71′へと変化し、フォーカスエラー検出に
悪影響を生じてしまう。
第7図(a)および第7図(b)を用いて、この悪影響
について説明する。第7図(a)は、同心円形の光検出
器6を用いてフォーカスエラー検出を行なっている状態
を示したものである。この光検出器6は図中太い実線で
示す内側センサー61と外側センサー62からなり、光
検出器ヒの光束は夫々のセンサー出力の差をとることに
よりフォーカスエラー信号の検出が行なわれる0図中の
細い実&!;171内の斜線部は情報担体面10が基準
位とにあり、対物レンズ3が合焦位置にあるときのセン
サー上の光束の広がりを示している。
ffS7図(b)は情報担体位置(横軸)に対するフォ
ーカスエラー信号の出力(縦軸)を示した図であり、図
中の実線88は、情報担体面lOが合焦位tから移動し
たときに検出されるフォーカスエラー信号を示している
0合焦点近傍では位置の変化にほぼ比例したフォーカス
エラー信号が検出され、この信号はサーボ回路(不図示
)に入力されてフォーカスサーボが行なわれる。
一方、第6図において情報担体10がlO′に移動し、
対物レンズ3が合焦位置3′に移動したときの光束は、
第7図Ca)における破線71′に示す広がりとなる。
このとき、光検出器61からの出力は、光検出器62か
らの出力よりも相対的に大きくなる。
このときのフォーカスエラー信号は第7図(b)の破線
88′に示すようにF丁あるいは左右方向にずれを生じ
る。フォーカスサーボ回路は、フォーカスエラー信号が
Oとなる様にフィードバックをかけるので、この結果1
合焦位置から外れた位置にオートフォーカス制御が行な
われてしまい、ディスク」−のスポットは大きくなって
しまう、これは読取信号の変調度低下、周波数特性の悪
化、さらには隣接トラックからのもれ込みの増大による
ジッターIUlの増大、エラー率の増加を招いてしまう
。情報担体が近づいたとき、すなわち第7図(a)にお
いて71″のときも同様で、フォーカスエラー信号は第
7図(h)の−魚類!!a88゛′となり、合焦位置変
動を生じてしまう。
[問題点を解決するための手段] 本発明の[1的は、上記従来技術の問題点に鑑み、有限
結像系対物レンズを用いた光ヘッド装置において、情報
担体位置の移動にかかわらず合焦位置に対して正確なフ
ォーカスサーボが行なわれる光へ一2ド装置を提供する
ことにある。
以上のような目的は、光源からの非平行光束を対物レン
ズを介して情報担体面に集光し、その情報担体面より反
射された光束を光検出器に導いてフォーカスエラー検出
を行なう光ヘッド装置において、前記情報担体面を反射
した光束の光検出器への光路中にその光束形状を制限す
る絞りを設けたことを特徴とする光ヘッド装置により達
成される。
[作  用] 上記のような光ヘッド装置によれば、 光源から発せられた発散光束は前記対物レンズを介して
情報担体面に集光され、そこで反射された光束は、前記
光検出器に導かれる途中に前記絞りにより光束の径が適
当な大きさ、適当な形状に制限されることになる。この
制限により、対物レンズの駆動による合焦位置変動を押
さえることができる。
[実施例] 以下、本発明に係る光ヘッド装置について具体的な実施
例に基づき詳細に説明する。
第1図は本発明の光ヘッド装置の第1実施例を示す概略
構成図である。同図において、半導体レーザー光源1か
らの発散光束はビームスプリッタ−2を透過した後1円
形の開口絞り11により有効径の制限を受け、対物レン
ズ3に入射する。
対物レンズ3は情報担体面10の動きに対応して、最小
の光スポットを前記情報担体面に形成するように駆動さ
れる。この結果、情報担体面9からの反射光はそのまま
光路を逆進し、開口11と一致した太さの光束としてビ
ームスプリッタ−2に入射する。ビームスプリッタ−2
で反射された光束はセンサーレンズ5に入射した後、セ
ンサー6に入射する。
本実施例では光源lに対して固定した位置に絞り11が
配、没されている。このため、情報担体10がlO′に
移動し、対物レンズ3が3′に移動したときにも1合焦
位置にあればセンサー6に入射する光束71の太さは変
化しない。
第2図(a)および第2図(b)を用いて本発明の効果
をより詳細に説明する。
第2図(a)は、本発明におけるセンサー6上の光検出
部と光束の関係を示した図である。内側の光検出部61
と外側の光検出部62からの出力は減算器69により差
をとられ、フォーカスエラー信号となる。斜線部71は
合焦時の光束を示したものである0本実施例においては
情報担体の位置によらず、合焦時には同一の大きさの光
束71が生じる。いま、センサー6の光軸方向位置を調
節して1合焦時の61からの出力と62からの出力が一
致する様にしておくと、フォーカスエラー信号は合焦時
にはいつでも0となる。
第2図(b)は情報担体が合焦位置から外れたときに生
じるフォーカスエラーの特性を示した図であり、横軸は
情報担体の位置、縦軸はフォーカスエラー信号の出力を
示している0図中の実線88は情%J!Vl!体が基準
位置近傍に配置しであるときのフォーカスエラー検出特
性を示したものであり、破線88’、−・点鎖線88″
はそれぞれ情報担体が基準位置より一1am、+l履鵬
の位置にあるときのフォーカスエラー検出特性を示した
ものである0図示の様に1合焦点においていずれの検出
特性もフォーカスエラー信号は0となる。また、わずか
にフォーカスエラー検出感度が変化するが、これは実用
1全く問題が無い。
なお1本発明の副次的な作用として、光源から対物レン
ズに入射する光州が一定になるという利点がある。第6
図図示の従来例においては、対物レンズ3の有効径4に
より光源lから対物レンズ3に入射する光驕が制限され
ているため、対物レンズの位けによって対物レンズに入
射する光綴が変化してしまう、この光は変化の影響は、
原理的には全信号出力の和信号で割算をすることにより
除去することができるが、現実には各センサーアンプの
非線型性、DCバイアス分分箸等々より゛心気的にAF
動作点のドリフトを生じる恐れがある。これに対し本発
明の第1の実施例の構成は光検出器に入射する光量をほ
ぼ一定に保つことができ信号の安定性を高めることがで
きる。
次に1本発明の第2の実施例を詔3図を用いて説明する
0本実施例においては、情fg担体10に入射する光束
の広がりが対物レンズ3の有効径4により制限されてい
る。一方ビームスプリッター2のセンサー6側の射出端
面2aには円形の開口11が取付けられている。この開
口11の大きさは、対物レンズ3が最も遠い位置3′に
移動したときにも光束径制限の機能を果たすように定め
られている。この結果、対物レンズ3の位こによらず、
センサー6に入射する光束71の太さは同一となる。
本実施例では、情報担体10に投射する光束の光量が対
物レンズ3の有効径4でのみ制限されるので、光量の利
用効率を無用に低下させることが無い、また、第1の実
施例のように固定した開口11を投光光束中に配設した
場合には情+g担体tの光スポットの大きさは倍率変動
に比例して変動し、スポットの大きさ変動が大きかった
のに対し、第3図図示の第2の実施例ではこのスボッI
・径変動がある程度減少するという特長がある。なお、
当然のことながら、開口11をセンサーレンズ5のビー
ムスプリッタ−側に設けること、あるいはビームスプリ
ッタ−2とセンサーレンズ5の間に設けることも1桂能
である。
以Iム前記の二つの実施例においてフォーカスエラー検
出法として同心円形の光センサーを用いたものを示した
が、本発明は他の種々のフォーカスエラー検出法と組合
せることが可能である。
そのような−例として、ナイフェツジ法によるフォーカ
スエラー検出法と組合せた本発明の第3の実施例を第4
図に示す。
第4図において、半導体レーザー1から射出された光束
はプリズム型ビームスプリッタ−20の第一面に形成さ
れたハーフミラ−面20aで反射され、対物レンズ3に
入射する。情報担体面lOで反射された光束は対物レン
ズ3を透過した後、再びハーフミラ−而20aからプリ
ズム20内に力I:折して入射する。プリズム20の底
面20bには3つに分割された平面鏡あるいは凸面鏡2
2゜23.24が配設されている。該反射面22,23
.24は相互に微少角だけ傾斜角が異なり、夫々の面に
入射した光束を相互に微少な角度だけ異った角度に反射
する0反射面22,23.24は略円断面の入射光束に
対応した有効部と、周辺のマスク部25より構成されて
いる。
マスク部25には吸収塗料が塗布されていて入射光束を
吸収するか、あるいは反射防止コーティングが行なわれ
ていて入射光が下に通過するようになっている。この結
果、有効径が制限された光来はハーフミラ−而20aで
全反射された後、プリズム20の第3の而20cを通過
して空気中に射出し、センサー6に入射する。つまりマ
スク部25がT111記実施例における開口11の働き
をしていることになる。センサー6上の光検出部6G。
63はそれぞれ反射面23.24からの光束を検出し、
オートトラッキングが行なわれる。また。
反射面22で反射された光束は光検出部64と光検出部
65の境界にスポットを形成する。情報担体面lOの光
軸方向の動きに伴いセンサー6上のその光スポットは収
束あるいは発散する。この結果、光検出部と64と光検
出部65との出方の差をとることによりフォーカスエラ
ー検出が達成される。
第5図を用いて第4図の実施例における本発明の効果を
さらに説IJ1する。
第5図(a)は、ナイフェツジ法のフォーカスエラー検
出の光スポットが光検出部64.65上に生じた様子を
模式的にあられした図である。
本実施例では、対物レンズ3が最も遠くなり、光束広が
りが最小となった状態に合わせて開[1の大きさが定め
られている。この結果、合焦状y8では光検出部64お
よび光検出部65上に生じる光束の大きさは一定であり
、必ず0のフォーカスエラー信号が得られる。一方、本
発明における開口絞り(即ち、マスク部25)を用いな
い場合には、第5図(b)の71 、71 ’ 、 7
1 ”に示すように、′たとえ合焦状態であっても光束
の広がりが変化してしまう。この光束の広がりの変化は
フォーカスエラ一時と完全に相似であり、特別な補正1
段を用いること無しに誤った合焦位置にフォーカスサー
ボがかかるのを防止することはできない。
以−に、同心円法およびナイフェツジ法によるフォーカ
スエラー検出法を例にとって本発明の原理および効果を
説明したが、本発明と組合せることのできるフォーカス
エラー検出法はこれら以外にも多数存在する。たとえば
短回状の光検出部を多数配列し、内側と外側の光検出器
からの出力差をとってフォーカスエラー検出を行なう方
法等においても1本発明は全く同様に適用できる。
また、開口の形状も円形、半円形以外に長方形、IF方
形等、種々のものが使用可tEである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光ヘッド装置の第1実施例を説明する
光ヘッド装置の光学配置図である。 第2図(a)、(b)は本発明の第1実施例の効果を説
明するための図で、それぞれ光検出器上の光束とフォー
カスエラー検出特性をあられした図である。 第3図は本発明の第2実施例をあられす光ヘッド装置の
光学配置図である。 第4図は末完151の第3実施例をあられす光ヘッド装
置の斜視図である。 第5図(a)、(b)はそれぞれ本発明の第3実施例の
効果を説明するための図で、光検出器上の光束をあられ
す図である。 第6図は従来例の光ヘッド装置の光学配置をあられす図
である。 第7図(a)、(b)はそれぞれ従来例の問題点を説明
する図である。 l二本導体レーザー光源 2:ビームスプリッタ− 3:有限結像系対物レンズ 9:情報担体基板 lO二情報担体面 5:センサーレンズ 6:センサー 61〜6o :センサーLの光検出部 71:基酵位置で合焦時の光束の広がり11:開口 20ニブリズム型ビームスプリツタ− 21:ハーフミラ−面 22.23,24:分割された反射面 代理人   弁理士   山下穣平 第1図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源からの非平行光束を対物レンズを介して情報
    担体面に集光し、その情報担体面より反射された光束を
    光検出器に導いてフォーカスエラー検出を行なう光ヘッ
    ド装置において、前記情報担体面を反射した光束の前記
    光検出器への光路中にその光束形状を制限する絞りを設
    けたことを特徴とする光ヘッド装置。
  2. (2)前記絞りは前記情報担体より前記光検出器に至る
    光束にのみ機能し、前記光源から前記対物レンズに至る
    光束には機能しない位置に配設されていることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の光ヘッド装置。
  3. (3)前記絞りは、前記光源からの前記情報担体へ向か
    う光束と前記情報担体から前記光検出器へ向かう光束を
    分離する光分割器と一体に構成されていることを特徴と
    する特許請求の範囲第2項記載の光ヘッド装置。
JP62035894A 1987-02-20 1987-02-20 光ヘツド装置 Pending JPS63204523A (ja)

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JP62035894A JPS63204523A (ja) 1987-02-20 1987-02-20 光ヘツド装置

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JP (1) JPS63204523A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0289235A (ja) * 1988-09-27 1990-03-29 Canon Inc 光ヘッド
JPH06180854A (ja) * 1992-12-11 1994-06-28 Alps Electric Co Ltd 光ヘッド装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0289235A (ja) * 1988-09-27 1990-03-29 Canon Inc 光ヘッド
JPH06180854A (ja) * 1992-12-11 1994-06-28 Alps Electric Co Ltd 光ヘッド装置

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