JPS63200957A - カムシャフトにおける２つもしくはそれ以上のカムを研削する方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はカムシャフトにおける２つもしくはそれ以上の
カムを研削する方法に関し、この方法では以下の工程が
とられる。

ａ）工作物主軸台における第１の軸線を中心にして回転
可能な連行体と心理台との間のセツティング部内にカム
シャフトを張設固定（緊締）する工程と、 ｂ）規定された回転角度と時間とに応じてカムシャフト
を回転させる工程と、 Ｃ）回転している研削砥石車を研削しようとする第１の
カムに向って第１の軸線に対し垂直な第２の軸線の方向
で摺動させる工程と、 ｄ）研削砥石車がカムと係合状態にある間に、この研削
砥石車の回転角度と摺動運動行程とを、予め数値制御ユ
ニット内に与えられたカムの目標輪郭形状の極座標に応
じて調整する工程と、Ｃ）プロセス目標値からの偏倚を
検出する工程と、ｆ）予め与えられた摺動運動行程を測
定された偏倚に相当する修正値だけ修正する工程。

［従来の技術］ このような形式による方法は、ドイツ連邦共和国方法第
２６２１４３０号明細書から既に公知となっている。

この公知の方法では、詳しくは説明されてない形式によ
って研削砥石車の実際直径値が検出され、検出された測
定値は電子制御ユニットに伝送され、この電子制御ユニ
ットが、当初プログラミングされた研削砥石車直径値と
実際に検出された直径値との差から研削往復台の摺動運
動行程ならびにカムシャフトの回転角度位置に関する修
正信号を生せしめる。

従ってこの公知の方法で考慮されうる障害値は次のよう
なものに限られる。即ち、研削砥石車が加工工程の経過
につれて摩滅したり、或いは一般に所定の期間をおいて
行われる砥石車表面の目直し工程に基いてその直径が減
少したりすることによって生ずる障害値のみである。研
削されたカムの実際輪郭値と目標輪郭値とのずれ、つま
り偏倚を生ぜしめるようなその他のプロセス値は、考慮
の対象にされないままである。しかもこの公知の方法に
おいては、研削砥石車の直径を検出する際に砥石車を停
止させる必要があるので、カムシャフトのカムを加工す
るのに不必要なロスタイムが生ずる。

定期刊行物「工場および操業Ｊ　　（Ｗｅｒｋｓｔａｔ
ｔ　ｕｎｄ　　Ｂ　ｅｔｒｉｅｂ）第１１８号（１９８
５年）第４４３頁〜第４４８頁には、プロセスコンピュ
ータによって制御される形式のカム研削加工法が示され
ている。この公知の方法では、先づ初めにＣＮＣ研削盤
を制御するためのプログラムが作成されるが、生産しよ
うとする工作物の幾何学形状に関する明細はこのプログ
ラムに含まれている。次いでこのように作成されたプロ
グラムによって、試験運転で工作物、例えばカムが研削
される。研削されたこのカムのサンプルは、その形状誤
差、つまり予め理論的に設定されたカム隆起部の幾何学
形状から偏倚を検出され、理想的なカム形状からのこの
カムの偏倚を示す測定記録リストが作成される。この場
合、単に理想的なカム形状からの偏倚のみが検出される
に過ぎないので、カムの絶対的な寸法は測定されない。

検出された偏倚値は作成したプログラムを修正するため
に利用され、必要とされるならば第２のザンプル研削工
程において、修正されたプログラムが理想的なカム形状
に申分なく近似したカムを製作するのに適しているか否
かの検証が行われる。

理想的なカム形状からの偏倚が所定の公差内にあること
が示されると、上述形式により１１回乃至複数回に亘っ
て修正されたプログラムが連続的な大量生産での使用に
供される。

従ってこの公知の方法は、最終的にほぼ理想的な形状の
カムを提供することが出来るという利点を有してはいる
ものの、まだ２つの点が考慮されないでいる。

その第１の点は、この方法では理想的な形状で製作され
たカムに所望の絶対寸法をも与えることが保証されない
ことであり、その原因は、既に述べたように、プログラ
ムの修正に当り理想的なカム形状からの相対的偏倚しか
修正されないことにある。第２の点は、研削盤を出産体
制で使用する際に初めて生ずるような変動がこの方法に
よっては考慮され得ないことである。

これに類する他の方法は、前掲の定期刊行物「工場およ
び操業」第１１９号（１９８６年）の第６５５頁〜第６
６０頁と別の定期刊行物ｒｗｔＴ業的製作ジャーナルＪ
　　（ｗｔ　　Ｚｅｉｔｓｃｈｒｉｆｔ　ｆｕｒ　１ｎ
ｄｕｓｔｒｉｅｌ　Ｉｅ　Ｆ　ｅｒｔｉｇｕｎｇ）第７
６号（１９８６年）の第３４３頁〜第３４８頁とにも記
載されている。

カムを監視プログラムにより研削するこれらの所謂ＣＮ
Ｃ研削法の場合にも、理想的なカム形状からの相対的な
偏倚が考慮されるに過ぎず、このことは「プログラミン
グの場」の枠内、つまり量産体制になって初めて用いら
れるプログラムを準備するという枠内でのみ行われる。

［発明が解決しようとする問題点］ そこで本発明の課題とするところは、冒頭に述べた形式
による方法に改良を加えて、所望の幾何学形状に関する
絶対値をも考慮しうるようにする一方、この方法をカム
シャフトの大金生産に実際に応用する際に初めて生ずる
ような影響値をもこの方向で考慮出来るようにする点に
ある。

［問題点を解決するための手段］ 上記の課題を解決すべく提案された本発明の方法によれ
ば、研削された第１のカムにおける被研削輪郭の寸法が
測定され、この測定により検出された測定値と輪郭寸法
の目標値との間の偏倚が測定され、摺動運動行程が、こ
れらの偏倚値に応じて修正ファクターで較正され、次い
で第２の及びそれ以下のカムが同じセツティング部内で
研削されるようになっている。

［発明の作用と効果〕 このような措置がとられるならば、前述した本発明の課
題は完全に解決される。

つまり本発明によれば、カムシャフトにおける研削され
た第１のカムの絶対的な寸法を厳密に測定することに基
いて、研削されたカムの寸法を所定の値から偏倚させる
ような全ての影響値を考慮することが出来る。従って本
発明による方法は、提供されたカムシャフト粗材がどの
ような絶対寸法を有しているかとは体系的に無関係であ
る。何故ならば、本発明による方法ではカム粗材が単に
その理想的なカム形状に研削されるのみならず、予め定
められた所定の寸法も正確に与えられるからである。こ
のことは公知技術の場合と異り次のようにして、即ち、
研削工程自体が行われている間に、つまりカムシャフト
が緊締された状態で、研削された第１のカムの絶対的な
寸法をチェックし、必要とされる場合にはこのカムシャ
フトにおける別のカムを研削するための修正値を検出し
て考慮するという形式で達成される。この測定および修
正プロセス内には、カムシャフトが同じセッティング位
置を占めているので、本発明による方法はいわば「イン
・プロセス法」であり、これに対して冒頭に述べた形式
による公知の方法は準備段階の範時にあると言える。即
ち換言すれば、公知の方法は研削盤自体の制御プログラ
ムを作成する際に応用される方法である。

従って本発明の方法によれば、冒頭に述べた従来公知の
方法とは全く異って、研削砥石車の直径変動をも含む全
ゆる影響値を考慮の対象とすることが出来、しかもこの
場合、加工プロセスの中断を余儀なくされることはない
。何故ならば、カムの停止している又は低速回転してい
る表面には通常の測定センサをセットすることが難なく
達成されるからであり、このことは例えば研削砥石車の
表面では当然行われない。従って研削砥石車も停止させ
る必要がないので、現代の精密研削盤における極めて高
い回転数を著しく低下させて時間的なロスを惹起するこ
ともなくなる。

更に本発明によれば、修正ファクターを用いた較正、つ
まり単純な積を出すことにより容易に検出され、摺動運
動行程のみが制御されるのに対し、回転角度と時間との
関係（Ｃ−軸線）は影響を受けないままである。

本発明の有利な構成様式では、測定値としてカム基底円
直径が検出されるか、或いはカムの隆起値が検出される
。

この措置が特に有利であるのは、これら２つの値がカム
を特性づける値であって、これらの値からはカムの輪郭
を研削加工する際の極座標制御値を導き出すことが出来
るからであり、更にこれらのカム特性値は簡単な測定装
置によって検出されうるからである。

本発明による方法の第１変化実施例では、第１のカムが
完全に研削加工されてから連行体の回転運動により所定
の回転位置にもたらされ、測定値はこの所定の回転位置
で測定センサにより検出される。

この措置の利点は、特に簡単な測定センサを用いること
が出来ることであり、測定を行うためには、この測定セ
ンサを所定の不作用位置から定常の測定位置に移動させ
さえすればよい。

本発明による方法の第２変化実施例では、第１のカムが
完全に研削加工されてから連行体により有利には３６０
°回転せしめられ、この場合、測定センサは回転運動中
に研削された輪郭に当接され、その測定値は測定センサ
の信号における時間的経過から検出される。

このようなやり方の利点は、測定センサに課される幾分
高い条件、つまりこれらの測定センサが回転運動を行う
カムの輪郭に追従しうるように支承されていなければな
らないという条件を甘受しさえすれば、輪郭寸法におけ
る極く僅かな変動ですら検出可能であり、更に、全く遊
びがないとは言えない測定センサによる定常的な測定に
際して生ずる可能性のあるエラーをも検出しうるので、
かなり高い測定精度が保証されるところにある。

本発明による方法の特に有利な１実施態様によれば、研
削しようとする第２のカムと研削砥石車とが互いに整合
された位置にもたらされる間に、予め与えられた摺動運
動行程をその都度の修正値に応じて修正することが出来
る。

つまりこの措置の利点は、いわゆるカムシャフトの「定
サイクル」中に、換言すれば研削作業を処理済みの第１
のカムから次の第２のカムに切換える間に、補整操作が
行われるので、従来のようなロスタイムが生じないとこ
ろにある。

本発明におけるその他の利点は、この明細書および添付
の図面から明らかである。

なお、前述した本発明の各特徴ならびに後述の各特徴が
、単にその都度示された組合せでのみならず他の組合せ
でも或いはそれぞれ単独にでも、本発明の枠を逸脱する
ことな〈実施可能であることは言を俟たない。

［実施例］ 次に添付図面に示した実施例につき本発明の詳細な説明
する。

第１図および第２図には、符号１でカム研削盤全体が示
されており、カムシャフト２のカムはこの研削盤１によ
って研削加工される。カムシャフト２は、Ｃ−軸線３と
称するシャフト縦軸線を中心にして回動可能である。そ
のために、カムシャフト２は片側で工作物主軸台４の連
行体５内に緊締されており、反対側では心押台６内に支
承されている。

カム１１はＣ−軸線３と平行なその表面の輪郭を研削加
工される。そのため研削往復台１５上には回転する研削
砥石車１６が配置されており、この場合、研削往復台１
５は第１の駆動システム１７によりＣ−軸線３に対し垂
直な所謂Ｘ−軸線１８に沿って摺動可能である。

研削往復台１５には長さ測定装置２０が連結されており
、この装置からの出力信号は電子的な制御ユニット２１
に伝送可能である。

カム１１の範囲には、例えば上位の測定センサ２６と下
位の測定センサ２７とを有するプロフィル測定装置２５
が設けられており、これらの測定センサ２６，２７は互
いに向き合った箇所（点）でカム１１に係合する。プロ
フィル測定装置２５が出来るだけスペースをとらないよ
うに構成されうるようにすると同時に互いに隣接する各
カム１１ａ、ｌｌｂ、ｌｉｅ、ｌｌｄ…又は連行体５に
突き当たることがないようにするためには、測定フィー
ラ２６．２７がクランク状に折曲げられていると有利で
ある。

プロフィル測定装置２５は、第２の駆動システム２８に
よりＸ−軸線１８と平行な２−軸線２９に沿って移動可
能である。

プロフィル測定装置２５からの出力信号は測定ユニット
３３に伝送され、これが電子制御装置２１に伝送される
前に測定ユニット３３の増幅器３４とアナログ・デジタ
ル変換器３５内を通される。

これによって増幅されデジタル化されたプロフィル／ｊ
ＦＪ定装置２５の測定値はコンピュータユニット３８に
達するが、更に長さ測定装置２０からの測定信号もこの
コンピュータユニット３８に伝送される。またこのコン
ピュータユニット３８は数値制御ユニット３９とも作用
結合状態にあり、数値制御ユニット３９内にはカム１１
の目標輪郭を規定する極座標データがファイルされてい
る。

コンピュータユニット３８のアウトプットはデジタル・
アナログ変換器４０に接続されており、この変換器は増
幅器４１を介して研削往復台１５のための第１の駆動シ
ステム１７に作用する。

第３図には、カム１１の輪郭特性を示す測定値を検出す
るための第１の実施態様が拡大して示されている。周知
のように、通常のカムにおける輪郭は大きな直径の基底
円（ベースサークル）と小さな直径の従円（エビサイク
ル）とから構成されており、この場合、基底円と従円と
は互いに隔てられ、各日に対する接線を介して互いに結
合されている。この場合の特性を示す測定値としては、
基底円直径ｄＧと最大隆起値Ｅとが用いられ、この最大
隆起値とは、基底円と従円の頂点との間の距離である。

第３図に示されているように、測定センサ２６゜２７を
適宜に調節するならば、基底円直径ｄＧの２分の１に相
当する測定値Ａと、基底円直径ｄＧ及び隆起値Ｅの２分
の１、つまりｄＧ十Ｅ／２に相当する測定値Ｂとを検出
することが出来る。

第４図に示された調節方式の場合にも、そのトータルが
基底円直径ｄＧに相当す、る２つの？ｌ１１Ｊ定信号Ａ
を同じようにして得ることが出来る。これに対し第５図
に示された第３の調節方式では、第３図の場合とは逆の
値が生ずる。

ところで、第３図または第４図に示された定常的な測定
により所望の両特性値ｄＧまたはｄＧ＋Ｅをそれぞれ別
個に検出することが可能であると同時に、第３図〜第５
図による３つの測定を全て実施することも可能であり、
その場合は適宜な比較を行うことにより万が−の測定誤
差を検出することが出来る。

更にカム１１を低速回転させることも可能であって、そ
の場合は測定センサ２６．２７が弾性的に支承され、カ
ム輪郭上における測定センサの当接点はカム１１に従っ
て変動する。この場合は、測定センサ２６．２７による
測定値の時間的な経過乃至その最小値と最大値とから特
性値ｄＧ及びｄＧ及びＥを検出することが出来る。

本発明によれば、測定値の補整を行うためには測定値ｄ
Ｇと測定値ｄＧ及びＥとのいづれか一方で充分である。

この場合の第１の実施例は、第６図のフローチャートに
概略的に示されている。

第１のブロック５０内には、１の測定サイクルで基底円
直径の成る一定の実際値として（ｄＧｉｓｔｉ）が検出
された状態が示されており、そのためには、第３図〜第
５図に示したいづれか１つのポジションがとられ、その
都度の測定値Ａが評価されている。第２のブロック５１
は、このようにして測定された実際値（ｄＧｉｓｔ　ｉ
　）が予め定められた目標値（ｄＧｓｏｌｌ）と合致す
るか否かの間を象徴している。この間が否定された場合
には、第３のブロック５２内に差値ΔｄＧが生ぜしめら
れる。この差値ΔＧは第４のブロック５３内で較正され
るが、そのためには０．１〜１．５の定ファクターＫが
差値ΔＧに乗ぜられる。その結果として得られた修正値
Δｘは、出力目標値（ｘ　ａｓｏｌｌ）に加えられるか
又はこれから減じられ、従って研削往復台１５の摺動運
動行程を規定する新たな出力目標値（ｘ’　ａｓｏｌｌ
　）が生ぜしめられる。

第７図にも同じような形式でフローチャートが示されて
いるが、この場合は測定値として基礎円直径ｄＧの代り
に基礎円直径ｄＧと隆起値Ｅとが選ばれている。然しそ
の作用形式は第６図の場合と全く同じであり、各ブロッ
クにはそれぞれａを付した同一符号が用いられている。

第８図では、研削砥石車１６がＸ−軸線１８に沿ってど
のように押出されるか、またどのようにして研削工程を
順次実施していくかが行程と時間とに関連したダイアグ
ラムに示されている。

このグラフにおける出発点、つまり第１の粗材寸法は、
破線６０と第１の作業点６１とによってあられされてい
る。研削往復台１５は、研削砥石車１６と共にこの第１
の作業点６１からＣ−軸線３に向って移動し、この場合
、第２の作業点６２と第３の作業点６３と第４の作業点
６４は、それぞれその手前に位置する特性曲線のプラト
一部で各粗研削および微研削工程を示している。第４の
作業点６４を経て符号６５のところに達すると、所定の
目標寸法が得られる。この最後の研削工程は、第８図に
示した実施例の場合、１２秒間継続し、次いで、第５の
作業点６６に達すると、１つの研削インターバル６７が
終了する。

後続の測定インターバル６８においては、既述した形式
（第３図−第５図）によりカム１１の輪郭が測定される
が、その間研削砥石車１６は、例えば第５の作業点６６
のＸ−位置を保ち続ける。

測定インターバル６８の終了点では、研削砥石車１６が
修正インターバル７０における第６の作業点６９から再
び第７の作業点７１にまで戻り制御され、この作業点７
１はＸ一方向で見て第１の粗相寸法６０のところから丁
度修正値に相当する（Δｘ）なる距離を有しており、従
ってこの修正値は第６図または第７図に関連して述べた
方法により検出されたものである。

このようにして得られた第２の粗材寸法７２は、第８図
の実施例では第１の粗材寸法６０より小さいので、加工
しようとする第２のカムｌｌｂ並びにそれ以後の全ての
カムｌｉｅ、ｌｉｄ…はこの修正された第２の粗材寸法
７２を基準にして加工されることになる。

カム研削盤１における種々の調整作業は、第８図に示し
た工程が行われている間に実施することが出来る。

本発明による方法の第１変化実施例では、カム１１の輪
郭測定が次のように、つまりプロフィル測定装置２５が
第２の駆動システム２８によりカム１１に接近せしめら
れる一方、カム１１の最後の回転が研削インターバル６
７の終りにおける第５の作業点６６に達する直前に終了
せしめられるようにして開始される。所望の測定はその
直後に引続き回転しているカム１１において行われ、研
削往復台１５は第８図に第６の作業点６９と第７の作業
点７１とで示されたように引戻される。他方これと同時
に、図示されてない摺動装置がカムシャフト２を「サイ
クル運動させる」、つまり第２図の図平面で見てカムシ
ャフト２を左手方向に１つのカム間隔分だけ摺動させる
ので、研削砥石車１６は次に加工しようとするカムｌｌ
ａ、１１ｂ…と整合される。

これに対し本発明による方法の第２の変化実施例では、
第６の作業点６つに達した際に研削砥石車１６がカム１
１から離反せしめられ、更に例えば第３図〜第５図から
明らかなように、カム１１が規定の相対回動により測定
回転位置にもたらされる。この実施例の場合も、プロフ
ィル測定装置２５は矢張り第２の駆動システム２８を操
作することによって先づ初めはカム１１に接近せしめら
れ、次いで再びこれから離反せしめられる。

本発明による方法を実施するため、この変化例において
、例えば第１の粗材寸法６０の位置にまで引き戻された
研削砥石車１６は、カムシャフト２が走査されると同時
に修正値（Δｘ）が計算される間に、この修正値（Δｘ
）だけ第７の作業点７１で第２粗材寸法７２に達するよ
うに移動可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明によるカム研削盤の全体を極めて簡略
に示した図、 第２図は、第１図の研削盤の１部を示す平面図、第３図
、第４図及び第５図は、１つのカムについてその測定値
を取出す状態を示す３つの位相図、第６図及び第７図は
、本発明による方法の実施態様を説明するための２つの
フローチャート、第８図は、本発明による方法を実施す
る際に研削往復台が摺動する行程を説明するための行程
と時間とに関連したタイアゲラムである。 （符号一覧） １………カム研削盤２………カム シャフト３………Ｃ−軸線 ３・・・・・・・・・Ｃ−軸線 ４………工作物主軸台５………連行 体 ６………心押台 １１、ｌｌａ、ｌｌｂ、ｌｉｅ、１１ｄ−カ　ム１５…
…研削往復台 １６……研削砥石車 １７……第１の駆動システム１８…… Ｘ−軸線 ２０……長さ測定装置 ２１…………電子的な制御装置２５…………プロフィル
測定装置２６．２７…測定センサ２６．２７・・・測定
センサ ２８…………第２の駆動システム２９…………Ｚ−軸線
３３…………測定ユニット３４…………増幅器３５……
……アナログ・デジタル変換器３８…………コンピュー
タユニ ット３９…………数値制御ユニット４０…………デジタ
ル・アナログ変換器４１…………増幅器５０〜５３…ブ
ロック ４０・・・・・・・・・・・・デジタル・アナログ変換
器４１・・・・・・・・・・・・増幅器 ５０〜５３・・・ブロック ６０…………第１の粗材寸法を示す破線６１〜６４…作
業点 ６５…………目標寸法に達する位置６６…………作業点
６７…………研削インターバル６８ …………測定インターバル６９…………作業点７０……
…修正インターバル７１………作業点６９・・・・・・
・・・・・・作業点 ７０・・・・・・・・・修正インターバル７１・・・・
・・・・・作業点 ７２………第２の粗材寸法Ａ、Ｂ……測定センサによる
測定値Ｅ…………カムの最大隆起値ｄＧ………カムの基
底円直径Ｋ…………定ファクターΔｘ………修正値 Ｋ・・・・・・・・・・・・定ファクターΔＸ・・・・
・・・・・修正値 ′″〜 代理人　弁理士　田辺　徹　／） ＦＩＧ、Ｓ Ｆｉｇ、７

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　カムシャフトにおける２つもしくはそれ以上のカム
   を研削する方法であって、 ａ）工作物主軸台（４）における第１の軸線（Ｃ−軸線
   ３）を中心にして回転可能な連行体（５）と心押台（６
   ）との間のセッティング部内にカムシャフト（２）を張
   設固定する工程と、 ｂ）規定された回転角度と時間とに応じてカムシャフト
   （２）を回転させる工程と、 ｃ）回転している研削砥石車（１６）を研削しようとす
   る第１のカム（１１）に向って第１の軸線（Ｃ−軸線３
   ）に対し垂直な第２の軸線（Ｘ−軸線１８）の方向で摺
   動させる工程と、 ｄ）研削砥石車（１６）がカム（１１）と係合状態にあ
   る間に、この研削砥石車（１６）の回転角度と摺動運動
   行程（ｘ）とを、予め数値制御ユニット（３９）内に与
   えられたカム（１１）の目標輪郭形状の極座標に応じて
   調整する工程と、ｅ）プロセス目標値からの偏倚を検出
   する工程と、ｆ）予め与えられた摺動運動行程（ｘｓｏ
   ｌｌ）を測定された偏倚に相当する修正値（Δｘ）だけ
   修正する工程を含み、 研削された第１のカム（１１）における被研削輪郭の寸
   法（ｄＧ）、（Ｅ）を測定し、この測定により検出され
   た測定値（ｄＧｉｓｔ）、（ｄＧｉｓｔ）及び（Ｅｉｓ
   ｔ）と輪郭寸法の目標値（ｄＧｓｏｌｌ）、（ｄＧｓｏ
   ｌｌ）及び（Ｅｓｏｌｌ）との間の偏倚（ΔｄＧ）、（
   ΔｄＧ）及び（ΔＥ）を測定し、これらの偏倚値（Δｄ
   Ｇ）、（ΔｄＧ）、（ΔＥ）に応じて摺動運動行程（ｘ
   ）を修正ファクター（Ｋ）で較正し、次いで第２の及び
   それ以下のカム（１１ａ）、（１１ｂ）、（１１ｃ）、
   （１１ｄ）…を同じセッティング部内で研削することを
   特徴とする方法。 ２　測定値としてカム（１１）の基底円直径（ｄＧ）を
   用いることを特徴とする請求項（１）に記載の方法。 ３　測定値としてカム（１１）の基底円直径（ｄＧ）及
   び突出値（Ｅ）を用いることを特徴とする請求項（１）
   に記載の方法。 ４　第１のカム（１１）をその完全な研削処理後に連行
   体（５）の回転運動により所定の回転位置にもたらし、
   この所定の回転位置における測定値（ｄＧ）、（ｄＧ）
   及び（Ｅ）を測定センサ（２６）、（２７）によって測
   定することを特徴とする請求項（１）〜（３）のいづれ
   か１項に記載の方法。 ５　第１のカム（１１）をその完全な研削処理後に連行
   体（５）によって有利には３６０゜回転させ、この場合
   、回転運動中には測定センサ（２６）、（２７）が研削
   された輪郭面に当接しているようにし、測定センサ（２
   ６）、（２７）の信号の時間経過特性から測定値（ｄＧ
   ）、（ｄＧ）、（Ｅ）を検出することを特徴とする請求
   項（１）〜（３）のいづれか１項に記載の方法。 ６　研削しようとする第２のカム（１１ａ）と研削砥石
   車（１６）とが互いに整合された位置にもたらされる間
   に、予め与えられた摺動運動行程（ｘｓｏｌｌ）を修正
   値（Δｘ）だけ修正することを特徴とする請求項（１）
   〜（５）のいづれか１項に記載の方法。