JPS63197083A - 記憶素子モジユ−ル - Google Patents

記憶素子モジユ−ル

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JPS63197083A
JPS63197083A JP62030012A JP3001287A JPS63197083A JP S63197083 A JPS63197083 A JP S63197083A JP 62030012 A JP62030012 A JP 62030012A JP 3001287 A JP3001287 A JP 3001287A JP S63197083 A JPS63197083 A JP S63197083A
Authority
JP
Japan
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memory
module
programmable
chip
terminal
Prior art date
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Pending
Application number
JP62030012A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Shinohara
尋史 篠原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

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  • Memory System (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は複数のメモリチップを実装した記憶素子モジ
ュールに関するものである。
〔従来の技術〕
従来の記憶素子モジュール(以下、メモリモジュールと
呼称する)の−例を第10図に示し説明する。
なお、以下では、4個のメモリチップを用いて構成した
256に語×4ピント構成のメモリモジュ−ルを例にし
て説明する。
図において、1cはモジュール基板、2はモジュールを
外部とべ気的かつ機械的に接続するモジュール端子、9
a、9b、9c、9dはモジュール基板1c上に実装さ
れたメモリチップである。
そして、このメモリチップ9a〜9dはモジュール基板
1cの内部または表面の配線(以下、モジュール基板の
内部または表面の配線を単に配線と記す)により相互接
続され、また、モジュール端子2とも接続される。なお
、AO”A17は18個のアドレスである。
メモリモジュールの接続図を第11図に示す。
この第11図において第10図と同一符号のものは相当
部分を示し、メモリチップ9a〜9dは256に語×1
ビット構成であシ、電源VT)D + Vsst書き込
み制御RAW、18個のアドレスAO−AI ? +チ
ップセレクトC8および入出力データDQの各端子を持
つ。これらのうち、電源VDD * ”88と書き込み
制御RAWおよび18個のアドレスA 6−A17なら
びにチップセレクトC8は全メモリチップ9a〜9dと
モジュール端子2が配線で共通接続され、入出力データ
DQは各メモリチップ別個に入出力データの配線D(h
 + DQ2 + DQ3 + DQ4によpモジュー
ル端子2と接続されている。
そして、チップセレクトC8端子はメモリシステムを拡
張する場合に使用する端子で、ここに′L”信号を印加
するとチップは選択されデータの書き込み読み出しが可
能になるが、ここに”H”信号を印加するとチップは非
選択されデータの書き込み読み出しが禁止される。また
、通常のメモリチップは、内部のチップセレクトC8信
号によりチップ非選択時にはアドレスバッファ、行デコ
ーダ、入力回路、出力回路などが不活性化され、消費電
力を削減する。
つぎに動作について説明する。
まず、メモリモジュールが非選択の場合は、モジュール
端子のチンプセレク)C8を′H”にすれば、その信号
が全チップのチップセレクト面端子に伝わシ、全チップ
がチップ非選択となる。つぎに、メモリモジュールを選
択して書き込みまたは読み出しを行なう場合には、モジ
ュール端子のチンプセレク)C8を”L”にすれば、同
様に全チップがチップ選択となる。そこで、モジュール
端子のアドレスA、〜A17と書き込み制御R/Wを状
況に応じて設定すれば、各メモリチップ9a〜9dの同
じアドレスにデータを書き込みまたは読み出しすること
ができる。そして、各メモリチップ9a〜9dのDQ端
子は別個にモジュール端子に配線で接続されているので
、4ビツトの異なるデータをモジュール端子から並列に
入出力することができる。
したがって、256に語×1ビットのメモリチップを4
個(9a〜9d )用いて256に語×4ピントのメモ
リモジュールが構成される。
第12図は他の従来のメモリモジュールの構成の一例を
示す図である。
この第12図において第10図と同一符号のものは相当
部分を示し、1dは配線が変更されたモジュール基板、
10a〜10dは64に語×4ビット構成のメモリチッ
プ、11はデコーダチップである。
メモリモジュールの接続図を第13図に示す。
この第13図において第11図と同一符号のものは相当
部分を示し、電源VDD r vS S %書き込み制
御RAWとアドレスの一部分AO”A15は第11図と
同様に全メモリチップ10a〜10dとモジュール端子
2が配線によって共通接続されている。また、入出力デ
ータの配線D(h〜DQ4も第11図と同様に共通接続
されている。そして、モジュール端子の他のアドレスA
1g + A17とチップセレクトC8はデコーダチッ
プ11の入力端子に配線で接続され、このデコーダチッ
プ11の出力端子C81〜C84は各メモリチップ10
a〜10dの西端子に配線で別個に接続される。
つぎに動作についてデコーダチップの論理図である第1
4図を参照して説明する。
まず、メモリモジュールが非選択の場合は、モジュール
端子2のチップセレクトC8e ”H”にする。第14
図よシ、4つのオア回路の出力はすべて”H”となシ、
デコーダチップ11の出力端子cSl−cs4はすべて
′H”となる。したがって、メモリチップ10a〜10
dはすべてチップ非選択となる。
つぎに、メモリモジュールが選択の場合には、モジュー
ル端子2のチップセレクトcsを″L”にする。この場
合、アドレスAl 6 * Al ?の2進データに応
じて、出力端子C84%C8,の何れか1つが′″L”
となシ、他の3個は′H”となる。そして、アドレスA
□6tA17が”L”、”L”だと出力端子面。
”H”、”L”だと出力端子C3st“L”、”H”だ
と出力端子C82,”H”、”H”だと出力端子C3,
がそれぞれL”になる。この結果、4個のメモリチップ
10q〜10dのうち1個のみチップ選択となって書き
込み読み出し可能となシ、他の3個はチップ非選択とな
る。ここで、入出力データの配線DQl〜DQ4は共通
接続しているが、メモリチップ間で相互干渉しない。
したがって、64に語×4ピントのメモリチップk 4
 @(10a 〜10d)用い、デコーダチップ110
機能に助けられて、256に語×4ビットのメモリモジ
ュールが構成される。
なお、このメモリモジュールでは、一度に1個のメモリ
チップしかチップ選択にならず、他はチップ非選択なの
で、全体の消費電力が削減できる利点がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記の第10図に示すような従来のメモリモジュールで
は、モジュール選択時にすべてのメモリチップ9a〜9
dがチップ選択となシ、消費電力の削減がなされないと
いう問題点があった。また、モジュール化によう、語数
は増えず、ビット数のみ増加するので、IM語×1ビッ
トのように1ビツト構成のモジュールは得られないとい
う問題点があった。
また、上記第12図に示すような従来のメモリモジュー
ルでは、デコーダチップ11を追加する必要があるので
、材料コストおよび組み立てコストが高くなり、部品点
数およびモジュール基板1d上での接点数の増大によシ
信頼性の低下を招くという問題点があった。さらに、デ
コーダチップ11r Q ) における遅延時間のために、メモリモジュールの動作速
度が遅くなるという問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、低消費電力で安価にでき、また、高信頼性にして
高速でかつ小型の記憶素子モジュールを得ることを目的
とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明による記憶素子モジュールは、メモリモジュー
ル基板とこのメモリモジュール基板内部または表面に設
けられた配線を備え、上記メモリモジュール基板上に少
なくとも一組のプログラム可能な記憶素子を実装した記
憶素子モジュールであって、そのプログラム可能な記憶
素子はプログラム回路と、このプログラム回路に接続さ
れる一組の素子選択入力端子とデータ出力端子を備え、
上記一組のプログラム可能な記憶素子は互いに異なる状
態にプログラムされ、上記一組の素子選択入力端子とデ
ータ出力端子は上記配線により共通接続されているもの
である。
〔作用〕
(O) この発明においては、プログラム可能なメモリチップの
うち、プログラムされた論理回路の部分は従来例におけ
るデコーダチップの働きをする。
〔実施例〕
以下、図面に基づきこの発明の実施例全詳細に説明する
第1図はこの発明によるメモリモジュール(記憶素子モ
ジュール)の一実施例を示す構成図である。
図において、1aはモジュール基板、3a、3b。
3c 、 3dはこのモジュール基板1a上に実装され
互いに異なる状態にプログラムされたプログラム可能な
記憶素子であるメモリチップで、このメモリチップ3a
〜3dは64に語×4ピント構成である。2はモジュー
ル端子である。■DD、vssは電源を示し、R/Wは
書き込み制御、AO−A17はアドレス、CSはチップ
セレクト、DQr + DQx + DQ3yDQ4は
入出力データの配線(モジュール端子)を示す。
第2図にこのモジュールの接続図金示す。
電源VI)I) 、 Vssと書き込み制御RAWおよ
びアドレスA6−A15はもとより、アドレスA16.
A17とチンプセレク)C8および入出力データの配線
(モジュール端子) DQl”DQnも配線によシ、メ
モリチップ38〜3dとモジュール端子2が共通接続さ
れている。
そして、信号のうち、アドレスA16 + At 7と
チップセレクトC8はメモリチップ3a〜3dの一部分
に形成されたプログラム可能な論理回路4a〜4dに接
続される。この部分を詳しく示したのが第3図である。
この第3図に示すプログラム可能な論理回路4a〜4d
を合わせると、前述の従来例で用いたデコーダチップ1
1と同じ論理回路を構成する。C3intはプログラム
可能な論理回路4a〜4dの出力である。なお、A16
.A17はアドレス、C8はチップセレクトである。
第4図にプログラム可能なメモリチップ3の構成を示す
。このプログラム可能なメモリチップ3はプログラム可
能な論理回路4を備え、その出力C3intの機能は前
述の従来例で示したメモリチップ9a〜9d、10a〜
10dのi端子の機能に相当する。また、プログラム可
能な記憶素子であるメモリチップ3a〜3dは不純物を
ドープされた半導体を主たる構成要素として機能を果す
。そして、上記メモリテップ3a〜3dは半導体を主な
構成要素とする半導体チップまたはパッケージにアセン
ブリされた半導体チップである。
この第4図において、31.32はアドレスバッファ、
33は行デコーダ、34は列デコーダ、35はマルチプ
レクサ、36は入力回路、37は出力回路である。そし
て、38はメモリセル配列を示し、39は内部書き込み
可能、310は内部出力可能を示す。
つぎにこの発明の実施例の動作全説明する。
まず、メモリモジュールが非選択の場合は、モジュール
端子のチップセレクトC8を”H”にする。
すると、第3図に示すプログラム可能な論理回路4a〜
4dの各出力C3intはすべて”H″となシ、プログ
ラム可能なメモリチップ38〜3dはすべてチップ非選
択となシ、どのメモリチップへも書き込み読み出しは禁
止される。したがって、他のメモリモジュールまたはメ
モリチップとの組み合わせによるメモリシステムの拡張
は可能である。
つぎに、メモリモジュールが選択の場合には、モジュー
ル端子2のチップセレクトCを9L”にし、アドレスA
O=A17と書き込み制御R/Wを状況に応じて設定す
る。そして、アドレスA1gとA17の2進値の組み合
わせに対応して、プログラム可能な論理回路4a〜4d
の何れか1個の出力C3intが”L”になり、他の3
@の出力C3intがH”になる。そして、アドレスA
16 * AX 7がL”。
”L”だと論理回路4dX ′H”l’lL”だと論理
回路4C1”L”、”H”だと論理回路4b、′″H”
、′H”だと論理回路4aの各出力C3intがそれぞ
れ”L”になる。この結果、“L”のC3intに対応
したプログラム可能なメモリチップ3a〜3dの何れか
1 (ilのメモリチップがチップ選択となシ、このメ
モリチップに書き込み読み出しが可能である。ここで、
他のメモリチップはテップ非選択なので、入出力データ
の配線(モジュール端子)DQ+〜DQ4を共通接続し
ても、メモリチップ間の相互干渉はない。そしてチップ
選択となったメモリチップ内のアドレスはAo〜AI5
で決められる。この結果アドレスAO”A17の2 =
256に通シのアドレスの組み合わせに対して、4メモ
リチツプのいずれか1個のメモリチップの2 =64に
のアドレスのどれかが1対1対応をなす。
そして、書き込みか読み出しかは、書き込み制御R/W
で決められる。この書き込み制御R/’Wが′L”なら
ば書き込み、′H”ならば読み出しである。
書き込みデータはモジュール端子DQI〜DQ4に4ピ
ント並列に外部から与えられ、読み出しデータはチップ
選択されたメモリチップのモジュール端子DQI−DQ
4から4ビット並列に出力され、モジュール端子DQ1
〜DQ4に伝達する。
このようにして、このメモリモジュールは1個の256
に語×4ピント構成のメモリチップと同等の動作を行な
う。そして、モジュール選択時に1個のメモリチップし
かチップ選択にならないので低消費電力化が可能である
。また、デコーダテンプが不要なので、材料コストおよ
び組み立てコストが安くなる。さらに、部品点数および
モジュール基板1a上での接点が少ないので、高信頼性
が得られる。さらにまた、論理回路4はチップ内にある
ので、そこでの遅延時間は短かく、高速化の防げになら
ない。また、部品点数が少ない分だけモジュールサイズ
も小さくできる。
つぎに、プログラム可能な論理回路の構成を第5図に示
し、その動作を説明する。
第5図はこのプログラム可能な論理回路の一例を示す回
路図である。
図において、5a、5b、5cはプログラム回路、Bl
 + B2 + B3はこのプログラム回路5a、5b
、5cにそれぞれ接続される素子選択入力端子、Dはデ
ータ出力端子である。そして、この素子選択入力端子B
l s J t B3はこれまでの例ではアドレスA1
6 + AI?、チップセレクトO8に対応し、データ
出力端子りはこれまでの例では出力C3intに対応す
る。
そして、プログラム回路5a、5b、6cは、素子選択
入力端子B1 t B2 、Bs t−それぞれの入力
とし、C1,C2,C3を出力する。このプログラム回
路5a〜5cの各出力01〜C3は論理回路の入力に接
続され、データ出力端子りは論理回路の出力に接続され
る。
このように、プログラム可能なメモリチップ(記憶素子
)3a〜3dは、プログラム回路5a〜5cとこのプロ
グラム回路5a〜5cにそれぞれ接続される素子選択入
力端子81〜B3とデータ出力端子Df、備え、この1
組のプログラム可能なメモリチップ(記憶素子)は互い
に異なる状態にプログラムされ、1組の素子選択入力端
子B1%B3とデータ出力端子りは配線によシ共通接続
されている。
プログラム回路5a〜5cの各出力C1(i=1〜3)
の論理値はプログラム回路5a〜5cにプログラムされ
た状態によシ、素子選択入力端子Bi(i=1〜3)と
同値(Ci=Bi)または逆値(Ci−罰)のどちらか
となる。例えば、プログラム可能な論理回路4aではC
I =Bl t C2=W2 + C3:= B3であ
る。
プログラム回路の実施例を第6図に示し説明する。
図において、6はヒユーズであシ、まず、このヒユーズ
6がショートしていると、点Cが′L”。
点dが′H”となり、点すがCiと接続される。そして
、論理値では、b = B iなのでCi = B i
である。
つぎに、ヒユーズ6がオープンだと、点cが“H”、点
dが′L”となり、点aがctと接続される。そして、
論理値ではa = B iなのでC1=Biである。
ここで、ヒユーズ6の材料としては、半導体表面に絶縁
物を介して形成したポリSiまたはポリStと金属化合
物または金属があシ、プログラム方法として、レーザ光
線照射による溶断法が知られている。
プログラム回路の他の実施例全第7図に示す。
図において、7a、7bは二者択一の半導体チップ内配
線で、プログラムによシ切シ替る配線を示す。そして、
この半導体チップ内配線7aを用いるとC1=Biとな
シ、半導体チップ内配線7b i(lυ) 用いるとC1=Biとなる。ここで、半導体チップ内配
線とは、半導体基板表面に不純物全ドープして形成した
導電領域または半導体基板表面上に絶縁膜を介して形成
したポリシリコン、単結晶シリコン、金属、金属とシリ
コンの化合物、または、これらの層間絶縁膜に設けられ
た開孔中の導電物を指す。そして、プログラムは、これ
らの配線層の形状または配線層にドープする不純物の種
類と量または開孔の有無の一部を変更することによシ行
なう。
以上の説明から明らかなように、プログラム回路は、出
力端子を持ち、この出力端子の状態によりプログラム可
能な記憶素子(メモリチップ)は、書き込みと読み出し
の一方もしくは両方の動作が許容または禁止され、素子
選択入力端子のとる論理値に応じて、一組のプログラム
可能な記憶素子のうち多くとも1個のみ上記動作が許容
され、他は動作が禁止されるようプログラム回路がプロ
グラムされてなるように構成されている。
なお、上記実施例では、メモリモジュールとメモリチッ
プがそれぞれ256に語×4ビット構成、64に語×4
ビット構成のものを示したが、語数とビット数がメモリ
モジュールの方がメモリチップよシ大きいか等しければ
他の値であってもよい。
例えば、第1図でプログラム可能なメモリチップ3aに
16に語×4ビット構成のものを使用すれば、メモリモ
ジュールとして208に語×4ビット構成のものが得ら
れる。
また、上記実施例では、共通接続の配線はすべてモジュ
ール端子に接続されているものを示した。
しかし、この発明の他の実施例である第8図に構成図、
第9図に接続図を示した例のように、コントロールチッ
プ8をも実装したモシュールテハ、メモリチップを共通
接続する配線の一部はコントロールチップ8に接続され
、モジュール端子2には接続されていない。
なお、この第8図において、1bはモジュール基板、3
3〜3dはプログラム可能なメモリチップで、すべて異
なる状態にプログラムされている。
第9図において第2図と同一符号のものは相当部分を示
し、cs、 、 C8,はテップセレクトである。
また、上記実施例では、モジュール基板にメモリチップ
を実装する方式については言及しなかったが、直接実装
する方式と、メモリチップ全−担チツブキャリアなどの
パンケージにアセンブリした後にモジュール基板に実装
する方式とがある。
また、上記実施例では、データ入出力端子が共通のもの
を示したが、入力専用と出力専用の2種類の端子に分か
れていてもよく、読み出し専用メモリでは出力専用のみ
である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば、異なる状態に
プログラムされたプログラム可能なメモリチップをモジ
ュール基板に実装し、モジュール基板表面および内部の
配線で共通接続したので、低消費電力で安価にでき、ま
た、高信頼性にして高速でかつ小型のメモリモジュール
(記憶素子モジュール)が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による記憶素子モジュールの一実施例
を示す構成図、第2図はモジュールの接続図、第3図は
第2図におけるプログラム可能な論理回路に係る部分の
詳細を示す構成図、第4図は第2図におけるプログラム
可能なメモリチップに係る部分の詳細を示す構成図、第
5図はプログラム可能な論理回路の一例を示す回路図、
第6図はプログラム回路の実施例を示す回路図、第7図
はプログラム回路の他の実施例を示す回路図、第8図お
よび第9図はこの発明の他の実施例を示す構成図、第1
0図は従来の記憶素子モジュールの一例を示す構成図、
第11図および第12図は記憶素子モジュールの接続図
および構成図、第13図は記憶素子モジュールの接続図
、第14図はデコーダチップの論理回路図である。 1a〜1d・・・・モジュール基板、21111φ令モ
ジユール端子、3a〜3d @−・やプログラム可能な
メモリチップ(記憶素子)、4・・・・プログラム可能
な論理回路、5・・・・プログラム回路。 第1図 1(1ニー1;’ニー1し11ネ之 3q〜3d :  プログラム−巧有ゼなメモリテ・ソ
7°(零と刊瞼、童子) 第2図 健f!田腸 噴 /、 ta 第3図 第5図 5q〜5c: デロヂラムω路 81〜B3:  素チ亙オX入力嶋子 D: デー7七カ瑞5 5FJ 呻 回 第6図 第10図 第11図 第12図 第13図 第14図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)メモリモジュール基板とこのメモリモジュール基
    板の内部または表面に設けられた配線を備え、前記メモ
    リモジュール基板上に少なくとも一組のプログラム可能
    な記憶素子を実装した記憶素子モジュールにおいて、前
    記プログラム可能な記憶素子はプログラム回路とこのプ
    ログラム回路に接続される一組の素子選択入力端子とデ
    ータ出力端子を備え、前記一組のプログラム可能な記憶
    素子は互いに異なる状態にプログラムされ、前記一組の
    素子選択入力端子とデータ出力端子は前記配線により共
    通接続されていることを特徴とする記憶素子モジュール
  2. (2)プログラム回路は、出力端子を持ち、この出力端
    子の状態によりプログラム可能な記憶素子は書き込みと
    読み出しの一方もしくは両方の動作が許容または禁止さ
    れ、素子選択入力端子のとる論理値に応じて一組のプロ
    グラム可能な記憶素子のうち多くとも1個のみ前記動作
    が許容され他は動作が禁止されるよう前記プログラム回
    路がプログラムされてなることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の記憶素子モジュール。
  3. (3)プログラム可能な記憶素子が不純物をドープされ
    た半導体を主な構成要素とする半導体チップまたはパッ
    ケージにアセンブリされた該半導体チップであることを
    特徴とする特許請求の範囲第2項記載の記憶素子モジュ
    ール。
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