JPS63193842U - - Google Patents

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JPS63193842U
JPS63193842U JP8441287U JP8441287U JPS63193842U JP S63193842 U JPS63193842 U JP S63193842U JP 8441287 U JP8441287 U JP 8441287U JP 8441287 U JP8441287 U JP 8441287U JP S63193842 U JPS63193842 U JP S63193842U
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JP
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light
sample
light beam
sample stage
branching device
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Application number
JP8441287U
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の構成を示すブロツ
ク図であり、第2図は本考案による判別実験結果
の線図である。 1……半導体素子試料、2……試料台、3……
フレーム台、4……投射光ビーム、5……投射光
通路、6……反射光ビーム、7……反射光通路、
8……光源、9……光分岐装置、10,11……
導光管、13……受光素子、14……比較器、1
5……制御器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体素子試料を保持する試料台と;該試料台
    を固定し、また試料の表面及び裏面にそれぞれ等
    角度で光ビームを投射できるような2つの投射光
    通路と、試料の表面及び裏面で反射された光ビー
    ムを通す反射光通路とをもつフレーム台と;光ビ
    ームを発生する光源と;該光源から発せられた光
    ビームを等量に2分する光分岐装置と;前記光源
    から発せられた光ビームを前記光分岐装置に導く
    導光管及び前記光分岐装置で2分された光ビーム
    を前記フレーム台の2つの投射光通路入口に導く
    導光管と;前記2つの反射光通路を通過した反射
    光ビームをそれぞれ集光するレンズと;この集光
    された反射光ビームの光量をそれぞれ電気量に変
    換する受光素子と;該2つの受光素子の電気出力
    を比較して大小を判定する比較器と;該比較器の
    判定信号により前記試料台から移動される試料を
    表裏別に区分けする制御器とを備えたことを特徴
    とする非接触方式の半導体素子表裏面判別装置。
JP8441287U 1987-05-30 1987-05-30 Pending JPS63193842U (ja)

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JPS63193842U true JPS63193842U (ja) 1988-12-14

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ID=30938888

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JP8441287U Pending JPS63193842U (ja) 1987-05-30 1987-05-30

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130005227A (ko) * 2011-07-05 2013-01-15 가부시기가이샤 디스코 사파이어 기판의 가공 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130005227A (ko) * 2011-07-05 2013-01-15 가부시기가이샤 디스코 사파이어 기판의 가공 방법
KR101876578B1 (ko) * 2011-07-05 2018-07-09 가부시기가이샤 디스코 사파이어 기판의 가공 방법

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