JPS63188888A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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Publication number
JPS63188888A
JPS63188888A JP62020715A JP2071587A JPS63188888A JP S63188888 A JPS63188888 A JP S63188888A JP 62020715 A JP62020715 A JP 62020715A JP 2071587 A JP2071587 A JP 2071587A JP S63188888 A JPS63188888 A JP S63188888A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bit line
precharge
data input
level
bit
Prior art date
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Pending
Application number
JP62020715A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideto Hidaka
秀人 日高
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP62020715A priority Critical patent/JPS63188888A/ja
Publication of JPS63188888A publication Critical patent/JPS63188888A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、半導体記憶装置における高集積化のための
改良に関し、特に、ビット線のプリチャージのための構
成の改良に関する。
[従来の技術] 第4図は、従来の半導体記憶装置の一例としてのダイナ
ミック型MO8RAMのメモリアレイ周辺の回路図であ
って、ビット線対1つ分だけを取出して描いたものであ
る。第4図において、BL、BL:対をなすビット線 S、A、:センスアンプ Ilo、Ilo:対をなすデータ入出力線T3.T4:
コラム選択用トランスファゲートC1,C2:メモリセ
ルキャパシタ TG1.TG2 :メモリセル選択用のトランスファゲ
ート WLO,WLl :ワード線 T1.T2 :ビット線プリチャージ用のトランジスタ φp「:ピット線プリチャージ信号 VIIL:ビット線プリチャージ電源 φS:センス信号 φS:センス信号(φSの反転信号) N1:コラムデコーダの出力ノード である。
第5図は、第4図に示したセンスアンプS、A。
の具体的な回路例を示す図であり、また、第6図は、コ
ラムデコーダの回路例を示す図である。コラムデコーダ
は、第6図に示すように、入力アドレス信号y1. y
J、 ykのすべてが゛′H″レベルになると、その出
力ノードN1が“H”レベルとなり、ビット線選択信号
を出力するように構成されている。
第7図は、第4図ないし第6図に示す従来のダイナミッ
ク型MO8RAMの動作を説明するための動作タイミン
グ図である。第4図ないし第7図を参照して、従来回路
の動作について説明する。
信号RASが“H”レベルのスタンドバイ状態では、ビ
ット線プリチャージ信号φprも゛H″レベルであり、
トランジスタT1.T2がオンして、ビット線対BL、
8mは、プリチャージ電位VaL  (Va L−1/
2Vcc<VccはtliW位)) にプリチャージさ
れる。
RASが1 L Nレベルになり、RAMがアクティブ
サイクルに入ると、RASの立ち下がりエツジでラッチ
されたロウアドレスに従って選択されるワード111W
LO,WLIが立ち上がる。よって、対応するメモリセ
ルC1,C2に蓄積されていた電荷がビット線対81.
BL上に現われる。
この後、センス信号φSが゛H″レベル、反転センス信
号φSが゛L″レベルになり、センスアンプS、A、が
活性されて、ビット線対BL、BLの電位の検知および
増幅が行なわれる。
さらにその後、CASが立ち下がると、その立ち下がり
エツジでラッチされたコラムアドレスに従って選択され
るコラムデコーダ出力が゛H°ルベルになり、対応する
ビット線対BL、BLのデータが入出力線上に読出され
る。
そして、RASが再び゛H″レベルになると、すべての
信号がリセットされ、ビット線対BL。
BLはプリチャージ状態に戻る。
[発明が解決しようとする問題点コ 従来の半導体記憶装置は、以上のように構成されている
ので、第4図に示すように、各ビット線ごとに、ビット
線プリチャージ用のトランジスタを設けるとともに、プ
リチャージ電源用の配線を施す必要があって、これが半
導体記憶装置のチップ面積の縮小化の妨げになっている
という問題点があった。
この発明は、そのような問題点を解消するためになされ
たもので、各ビット線ごとに、ビット線プリチャージ用
のトランジスタ等の素子やプリチャージ電源配線を設け
ずにビット線のプリチャージが行なえるようにして、半
導体記憶装置のチップ面積の縮小を可能にすることを目
的としている。
[問題点を解決するための手段] この発明に係る半導体記憶装置は、データ入出力線から
コラム選択用のトランスファゲートを介してビット線の
プリチャージを行なうようにしたものである。
[作用] この発明では、ビット線プリチャージ期間に、コラム選
択用のトランスファゲートをすべて接続状態にし、デー
タ入出力線をビット線プリチャージ電圧にすることによ
って、ビット線のプリチャージを行なう。
[発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図は、この発明の一実施例に係るダイナミック型M
O8RAMのメモリアレイ周辺の回路図である。
第1図の回路を第4図で説明した従来の回路と比較して
みた場合の特徴は、データ入出力線対I10、I/σに
トランジスタT5.T6を介してビット線プリチャージ
用1111 V a Lが接続され、トランジスタT5
.T6のオン−オフの切換えがビット線プリチャージ信
号φprで行なえるようにされていることである。また
、従来回路においては、各ビット線BL、SLごとに設
けられていたビット線プリチャージ用トランジスタT1
.T2ならびにビット綿プリチャージ用電源配線VaL
が無くされていることである。
このようにした結果、全体として回路が簡略化でき、チ
ップ面積を小さくすることが可能である。
なお、その他の構成は、第4図で説明した従来のものと
同じであり、対応部分には同一の参照記号を付して、こ
こでの説明は省略する。
第2図は、第1図におけるコラムデコーダの回路構成例
を示す図である。入力アドレス信号y1゜yJ、 yk
のレベルの如何にかかわらず、プリチャージ信号φp「
が゛H″レベルであれば、インバータ11の出力ノード
はL”レベルになり、ナントゲート12の出力ノードN
1は″H”レベルとなる。
他方、プリチャージ信号φprが“′L”レベルのとき
は、インバータ11の出力ノードは゛H″レベルであり
、ナントゲート12の出力ノードN1は、ナントゲート
13の出力ノードが“L IIレベルのときにのみ“H
″レベル選択状態になる。
ナントゲート13の出力ノードが“L”レベルとなるの
は、入力アドレス信号y1. yJ、 ykのすべてが
H”レベルのときである。よって、この回路で構成され
たコラムデコーダは、プリチャージ信号φprがL”で
あれば、通常の動作を正常に行なうことが理解できる。
第3図は、上記この発明の一実施例に係るダイナミック
型MO8RAMの動作を説明するためのタイミング図で
ある。
次に、第1図ないし第3図を参照して、この発明の一実
施例の動作について説明をする。
信号RASが“H”レベルのスタンドバイ状態では、プ
リチャージ信号φprも“H11レベルとなり、データ
入出力線対I10.I10は、トランジスタT5.T6
を介してピット線プリチャージ電位■aLになる。
また、プリチャージ信号φprがHIIレベルであるこ
とから、第2図で説明したように、コラムデコーダの出
力ノードN1はすべて“HIIレベルとなり、すべての
ビット線対BL、BLは、データ入出力線対I10.I
10からコラム選択ゲートT3.74を介してプリチャ
ージ電位VILLにプリチャージされる。このように、
データ入出力線対I10.I10を用いてプリチャージ
できるのは、ダイナミック型RAMにおいては、スタン
ドバイ状態では、データ入出力線対I10.I/σは、
データ入出力のためには使用されないからである。
次いで、RASが“L”レベルになると、プリチャージ
信号φprが“L ITレベルになってプリチャージ状
態が解除される。そしてその後の動作は、既に説明した
従来の装置と同様に通常の動作となる。
さらに、CASが°゛L″L″レベルと、上記従来の回
路と同様に、コラムが選択され、ビット線対BL、BL
からデータ入出力線対I10.17万へのデータの入出
力動作が行なわれるが、このとき、コラムデコーダ回路
は、第2図において説明したように従来の回路と同様に
入力アドレス信号yl、 yJ、 ykに基づいて動作
をする。
なお、この実施例においては、すべてのビット線対が、
同一のデータ入出力線対I10.I10を共有する場合
について説明したが、ビット線対が、所定の群ごとに別
のデータ入出力線対を有する場合であっても、この発明
を適用できることを申し添えておく。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、ビット線ごとに、ビ
ット線プリチャージ用の素子およびプリチャージ電源配
線を設ける必要がなくなり、半導体記憶装置の高集積化
が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例に係るダイナミック型M
O8RAMのメモリアレイ周辺の回路図である。第2図
は、コラムデコーダの回路構成例を示す図である。第3
図は、この発明の一実施例の動作を説明するためのタイ
ミング図である。 第4図は、従来のダイナミック型MO8RAMのメモリ
アレイ周辺の回路図である。第5図は、従来の装置にお
けるセンスアンプの回路構成例を示す図である。第6図
は、従来の装置におけるコラムデコーダの回路構成を示
す図である。第7図は、従来の装置の動作を説明するた
めのタイミング図である。 図に# いT、BL、Blj;El:’ットit、S、
A。 はセンスアンプ、Ilo、Iloはデータ入出力線、T
3.T4はコラム選択用トランスファゲート、φprは
ピット線プリチャージ信号、T5.T6はトランジスタ
、VIILはビット線プリチャージ電位または配線を示
す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数のメモリセルと、前記複数のメモリセルへデ
    ータの入出力用に設けられた複数のビット線対と、デー
    タ入出力線と、前記各ビット線対とデータ入出力線との
    間に接続され、前記ビット線対とデータ入出力線との間
    のデータの移動を制御する複数のスイッチング手段と、
    前記複数のスイッチング手段を選択的に切換えて、該ス
    イッチング手段によって選択されたビット線対をデータ
    入出力線に接続させるコラムデコーダとを備えた半導体
    記憶装置において、 前記スイッチング手段を接続状態にし、前記データ入出
    力線を介して前記複数のビット線対のプリチャージを行
    なうプリチャージ手段を設けたことを特徴とする、半導
    体記憶装置。
JP62020715A 1987-01-30 1987-01-30 半導体記憶装置 Pending JPS63188888A (ja)

Priority Applications (1)

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JP62020715A JPS63188888A (ja) 1987-01-30 1987-01-30 半導体記憶装置

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Publication Number Publication Date
JPS63188888A true JPS63188888A (ja) 1988-08-04

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ID=12034854

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62020715A Pending JPS63188888A (ja) 1987-01-30 1987-01-30 半導体記憶装置

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JP (1) JPS63188888A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02146180A (ja) * 1988-11-28 1990-06-05 Nec Corp 半導体メモリ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02146180A (ja) * 1988-11-28 1990-06-05 Nec Corp 半導体メモリ装置

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